JP5894657B1 - X線検査装置 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明の一実施形態に係るX線検査装置の外観を図1に示す。このX線検査装置10は、食品等の商品の生産ラインにおいて商品中の異物の有無の検査を行う装置であって、連続的に搬送されてくる商品に対してX線を照射して、商品を透過したX線量を基に商品に異物が含まれているか否かの判断を行う。X線検査装置10では、検出対象異物として、0.5mm程度の小さな異物も想定している。
(2−1)シールドボックス
シールドボックス11は、開口11aを両側面に有している。開口11aは、商品Gを搬出入するための開口部である。このシールドボックス11の中に、コンベア12の一部、X線照射器13、ラインセンサ組立体14、制御コンピュータ20などが収容されている。
コンベア12は、シールドボックス11内において商品Gを搬送するものであり、図4に示すコンベアモータ12aにより駆動する。コンベア12による搬送速度は、制御コンピュータ20によるコンベアモータ12aのインバータ制御により、細かく制御される。
X線照射器13は、図2に示すように、コンベア12の中央部の上方に配置されているX線源であり、下方のラインセンサ組立体14に向けてX線(図2等の記号XRを参照)を照射する。すなわち、X線照射器13は、下方にあるコンベア12に載って搬送されている検査対象の商品Gに対してX線を照射する。
LCDモニタ30は、フルドット表示の液晶ディスプレイであって、X線画像や異物有無の判断結果を表示する。また、LCDモニタ30は、タッチパネル機能も有しており、初期設定や異物検査に関するパラメータ入力などを促す画面の表示も行う。
制御コンピュータ20は、図4に示すように、CPU21を搭載するとともに、このCPU21が制御する主記憶部としてROM22、RAM23、及びHDD(ハードディスクドライブ)25を搭載している。CPU21、ROM22、RAM23、HDD25などは、アドレスバス,データバス等のバスラインを介して相互に接続されている。CPU21は、制御プログラムを実行させることで、X線画像作成部21a、異物有無検査部21b、表示制御部21cといった機能部としての役割を果たす。
ラインセンサ組立体14は、図2に示すようにコンベア12の下方に配置されており、X線照射器13から下方に照射され商品Gやコンベア12を透過してくるX線を検出し、その検出信号を生成して制御コンピュータ20に提供するアセンブリーである。
第1〜第4検出ユニット41〜44は、同様の構成を持つ複数のユニットであり、それぞれ、セラミック基板51と、検出本体52と、シンチレータ53とを有している。
金属製の架台45は、第1〜第4検出ユニット41〜44を支持する支持部材である。図5、図6等に示すように、金属製の架台45の上に、第1〜第4検出ユニット41〜44と、後述するカバー板46およびスリット形成板47と、が載せられ、それらが架台45と固定板48とによって挟持される。
カバー板46は、4つの第1〜第4検出ユニット41〜44の複数の素子60を上から覆う板状部材である。このカバー板46は、カーボン製であり、セラミック基板51よりもX線の吸収率が低い。
スリット形成板47は、左右に並ぶ上述の第1〜第4検出ユニット41〜44のセラミック基板51とカバー板46とを上から覆うように配置される金属製のプレートである。この1枚のスリット形成板47は、4つのセラミック基板51と、1つのカバー板46との上に載り、それらを架台45の上面に押さえつける。すなわち、第1〜第4検出ユニット41〜44は、1つの架台45と、1つのスリット形成板47とに挟まれる。
(3−1)X線画像作成
制御コンピュータ20のX線画像作成部21aは、商品GがX線照射領域(図2のハッチング部分を参照)を通過するときに、ラインセンサ組立体14の各素子60からの検出信号であるX線透視像信号(図3参照)を細かい時間間隔で取得して、それらのX線透視像信号を基にして商品GのX線画像を作成する。具体的には、異物が存在しない場合の素子60の出力と異物が存在する場合の素子60の出力との差をとって、その差から商品GのX線画像を作成する。
制御コンピュータ20の異物有無検査部21bは、得られたX線画像から、商品Gへの異物混入の有無を判断する。幾つかの判断方式を有しているが、例えば、被検出物の大まかな厚さに沿って基準レベル(しきい値)を設定し、像がそれよりも暗くなったときに商品G内に異物が混入していると判断する。異物有無検査部21bは、各判断方式で判断した結果、いずれかの方式での判断において異物混入有りと判断されれば、その商品Gに異物が混入していると判断する。この場合、制御コンピュータ20は、LCDモニタ30に不良品表示を行うとともに、振分装置70に振り分けの指示を送る。
次に、図7A,図7B〜図10A,図10Bを参照して、ラインセンサ組立体の組み立て工程の一部を説明する。
(5−1)
X線検査装置10では、ラインセンサ組立体14において、複数の素子60がシンチレータ53のX線照射器13の側に配置されているので、X線が素子60に直接入射し、所定エネルギー帯域のX線が素子60によって検出される。また、所定エネルギー帯域よりも高いエネルギー帯域のX線についても、シンチレータ53によって所定波長帯域の可視光線に変換されるため、素子60によって検出される。このため、第1〜第4検出ユニット41〜44は、広いエネルギー帯域のX線を検出することができている。
X線検査装置10では、ラインセンサ組立体14において、第1〜第4検出ユニット41〜44を並べる構成を採っているが、仮に全ての素子60を1つのユニットに含める構成を採るとすれば、そのユニットが大きくなり、組立性が悪化するなど製造コストが上昇してしまう。
X線検査装置10では、複数の素子60をシンチレータ53のX線照射器13の側に配置した第1〜第4検出ユニット41〜44を、それらの長手方向である前後方向に並べているが、並べ方によっては、隣接するユニットの境界において、素子60やシンチレータ53の連続性が断たれる恐れがある。
X線検査装置10では、ラインセンサ組立体14の第1〜第4検出ユニット41〜44において、検出本体52およびシンチレータ53を支持する基台として、プラスチック製の基板に比べて高硬度のセラミック基板51を採用している。このため、隣接する第1〜第4検出ユニット41〜44のセラミック基板51を接触させて両者の相対位置を固定した後に、セラミック基板51が変形して素子60やシンチレータ53の連続性が崩れるといった現象が生じない。
X線検査装置10では、ラインセンサ組立体14の第1〜第4検出ユニット41〜44それぞれにおいて、セラミック基板51の前後方向の長さと、検出本体52の前後方向の長さと、シンチレータ53の前後方向の長さとが等しくなっている。そして、図9に示すように、セラミック基板51の前後の端面が、隣接する第1〜第4検出ユニット41〜44のセラミック基板51の前後の端面と接するように、第1〜第4検出ユニット41〜44を順に並べている。これにより、各第1〜第4検出ユニット41〜44のシンチレータ53も検出本体52の素子60も、第1〜第4検出ユニット41〜44の境界において自然に隙間なく並ぶ。すなわち、組み立て工程が簡易化されており、製造コストも下がっている。
X線検査装置10では、ラインセンサ組立体14の第1〜第4検出ユニット41〜44それぞれにおいて、素子60が、セラミック基板51の左側端面51cから左側に突出するオーバーハング部52bに配置されている。このため、上からX線照射器13、素子60、シンチレータ53という並びを採るラインセンサ組立体14においても、X線照射器13と素子60との間にセラミック基板51が存在しない状態が実現できている(図6参照)。
X線検査装置10では、ラインセンサ組立体14において、検出本体52のオーバーハング部52bに素子60を配置したため、何も対策をしなければ、素子60の上に塵埃が溜まって付着してしまう恐れがある。そこで、X線検査装置10では、カバー板46で素子60を上から覆って、塵埃によって素子60の感度が落ちることを抑制している。また、X線吸収率がセラミック基板51よりも低いカーボン製のカバー板46を採用しているため、X線照射器13の出力を上げることなく検出感度を保つことができている。
X線検査装置10では、ラインセンサ組立体14において、第1〜第4検出ユニット41〜44を支持する架台45、複数の素子60を上から覆うカバー板46、それぞれが、第1〜第4検出ユニット41〜44の各セラミック基板51の側面に接触する接触面を有している。具体的には、架台45の段差側面45bが各セラミック基板51の右側端面51bに接触し、カバー板46の本体部46aの右側端面46cが、各セラミック基板51の左側端面51cに接触する。これにより、第1〜第4検出ユニット41〜44の各セラミック基板51が左右方向(X方向)に位置決めされ、それによって各セラミック基板51に支えられるシンチレータ53および検出本体52の素子60も正確に位置決めされている。このため、X線検査装置10では、隣接する2つの検出ユニットのシンチレータ53および検出本体52が隙間なく並び、素子60やシンチレータ53の連続性が確保されている。
X線検査装置10のラインセンサ組立体14では、スリット形成板47のスリット47aを通ったX線が素子60やシンチレータ53に入るため、X線の検出状態が安定する。また、スリット形成板47と、架台45との間で上下に挟まれることで、第1〜第4検出ユニット41〜44が保持されている。このため、シンチレータ53および検出本体52が隙間なく並んだ状態で、確実に架台45に第1〜第4検出ユニット41〜44が支持された状態を保つことができる。
13 X線照射器(X線源)
14 ラインセンサ組立体(検出部)
20 制御コンピュータ
21a X線画像作成部(画像作成部)
21b 異物有無検査部(検査部)
41 第1検出ユニット
42 第2検出ユニット
43 第3検出ユニット
44 第4検出ユニット
45 架台(支持部材)
45b 段差側面(第1側面接触部)
45c 段差側面
46 カバー板(カバー部材)
46c カバー板の右側端面(第2側面接触部)
47 スリット形成板(スリット形成部材)
47a スリット
51 セラミック基板(基台)
51b セラミック基板の右側端面(基台の第1側面)
51c セラミック基板の左側端面(基台の第2側面)
52 検出本体
52a 検出本体の固定部
52b 検出本体のオーバーハング部
53 シンチレータ
60 素子
Claims (7)
- 検査対象の物品に対してX線を照射するX線源と、
所定エネルギー帯域のX線および所定波長帯域の可視光線を検出して信号を生成する検出部と、
前記検出部が生成した信号に基づいて画像を作成する画像作成部と、
前記画像作成部が作成した画像に基づいて前記物品の検査を行う検査部と、
を備え、
前記検出部は、複数の検出ユニットを有し、
複数の前記検出ユニットは、それぞれ、
前記所定エネルギー帯域よりも高いエネルギー帯域のX線を吸収することによって前記所定波長帯域の可視光線を放射する、所定方向に延びるシンチレータと、
前記シンチレータの前記X線源の側に配置され前記所定方向に並ぶ複数の素子を含み、前記複数の素子が、前記所定エネルギー帯域のX線および前記所定波長帯域の可視光線に対して感度を持ち前記信号を生成する、検出本体と、
前記シンチレータおよび前記検出本体を支える基台と、
を有し、
前記検出部において、前記検出ユニットの前記シンチレータおよび前記検出本体が、隣接する前記検出ユニットの前記シンチレータおよび前記検出本体に、隙間なく並ぶように、複数の前記検出ユニットが前記所定方向に並べられる、
X線検査装置。 - 前記基台は、セラミック製である、
請求項1に記載のX線検査装置。 - 複数の前記検出ユニットにおいて、前記シンチレータ、前記検出本体および前記基台は、前記所定方向の長さが等しい、
請求項1又は2に記載のX線検査装置。 - 前記検出本体は、前記基台に固定される固定部と、前記基台の端から突出するオーバーハング部とを有し、
前記複数の素子は、前記オーバーハング部に含まれる、
請求項1から3のいずれかに記載のX線検査装置。 - 前記X線源は、前記複数の素子の上方に位置しており、
前記検出部は、
前記複数の素子を上から覆う、前記基台よりも前記X線の吸収率が低いカバー部材、
をさらに有する、
請求項4に記載のX線検査装置。 - 前記検出部は、複数の前記検出ユニットを支持する支持部材、をさらに有し、
前記支持部材は、複数の前記検出ユニットの前記基台の第1側面に接触する第1側面接触部を有し、
前記カバー部材は、複数の前記検出ユニットの前記基台の前記第1側面と対向する第2側面に接触する第2側面接触部を有し、
複数の前記検出ユニットの前記基台は、前記支持部材の前記第1側面接触部および前記カバー部材の前記第2側面接触部によって位置決めされる、
請求項5に記載のX線検査装置。 - 前記検出部は、
複数の前記検出ユニットを支持する支持部材と、
前記X線源と複数の前記検出ユニットとの間に配置され、前記X線が通るスリットが形成された、スリット形成部材と、
をさらに有し、
複数の前記検出ユニットは、前記支持部材および前記スリット形成部材に挟まれる、
請求項1から3のいずれかに記載のX線検査装置。
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