JP5861640B2 - 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 - Google Patents
表面プラズモン共鳴蛍光分析装置及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 Download PDFInfo
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- 238000002198 surface plasmon resonance spectroscopy Methods 0.000 title claims description 85
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 33
- 238000012921 fluorescence analysis Methods 0.000 title claims description 18
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 314
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 209
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 209
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 127
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 63
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims description 61
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 22
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 15
- 239000012488 sample solution Substances 0.000 claims description 6
- 239000010408 film Substances 0.000 description 196
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 103
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 61
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 33
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 29
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 17
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 17
- 230000008569 process Effects 0.000 description 15
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 12
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 9
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 9
- 210000004369 blood Anatomy 0.000 description 8
- 239000008280 blood Substances 0.000 description 8
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 8
- 238000007781 pre-processing Methods 0.000 description 8
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 7
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 7
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 6
- 238000013461 design Methods 0.000 description 5
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 5
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 5
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 5
- 239000012491 analyte Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 239000011358 absorbing material Substances 0.000 description 3
- 239000000427 antigen Substances 0.000 description 3
- 102000036639 antigens Human genes 0.000 description 3
- 108091007433 antigens Proteins 0.000 description 3
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 3
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 3
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 210000000601 blood cell Anatomy 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 2
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 2
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 2
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 102000004169 proteins and genes Human genes 0.000 description 2
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N Silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 1
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000004166 bioassay Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 238000011049 filling Methods 0.000 description 1
- 238000001506 fluorescence spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 239000007850 fluorescent dye Substances 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000002372 labelling Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
- G01N21/553—Attenuated total reflection and using surface plasmons
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/648—Specially adapted constructive features of fluorimeters using evanescent coupling or surface plasmon coupling for the excitation of fluorescence
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- Health & Medical Sciences (AREA)
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
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- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
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Description
患者から血液等が採取され、この採取された血液等が試薬チップに注入される。この血液等が注入された試薬チップが分析装置10の前処理部にセットされる。制御処理部14は、このセットされた試薬チップの血液等の前処理(血球分離や希釈、混合等)を前処理部によって行い、試料液を生成する。次に、分析チップ50が前処理部に設置されると、制御処理部14は、前処理の終わった試料液を前処理部によって分析チップ50の流路58内に注入し、金属膜55の表面に固定された捕捉体56に検体(特定の抗原)を捕捉させる。即ち、前処理部は、捕捉体56と検体とを反応させる。本実施形態では、捕捉体56が、蛍光物質(本実施形態では、蛍光色素)が標識された検体を捕捉しているが、これに限定されない。例えば、捕捉体56が検体を捕捉した後に分析チップ50に蛍光物質が注入されることにより、この蛍光物質が捕捉体56に捕捉された状態の検体に対して標識されてもよい。
一方、励起光源(本実施形態では、レーザーダイオード)22は、波長変動の少ない安定的な波長の出力光を出力させるために、温調回路25によって常に温調されて定温に維持される。これは、波長がずれると表面プラズモン共鳴条件やエバネッセント波(増強電場)のしみ出し量が変化するため、血液中のタンパク質等を定量する装置において必須である。維持温度になるまでに時間がかかるため、通常、励起光源22は、分析装置10の電源投入時から温調回路25によって常に温度維持される。
分析チップ50がチップ保持部12に保持されると、制御処理部14は、当該分析チップ50における最適な表面プラズモン共鳴条件の走査(共鳴角走査)を行う。そして、この走査の結果に基づき、制御処理部14は、金属膜55において生じる増強電場の電場強度が最も大きくなる入射角(励起入射角θ1)で励起光αが金属膜55に入射するように、反射部材36の位置決め(第1の位置決め)を行う(ステップS2)。
反射部材36の第1の位置決めが終わると、制御処理部14は、金属膜55への励起光αの照射位置(入射位置)が光測定部40の測定領域の中心部となるように、反射部材36の位置決め(第2の位置決め)を行う(ステップS3)。
次に、励起光αがプリズム51中を進行する際に複屈折が生じるため、制御処理部14は、この複屈折を測定する(ステップS4)。そして、制御処理部14は、検体に標識された蛍光物質からの励起蛍光の測定の際に前記複屈折を考慮することにより、検体の測定精度を向上させる。詳しくは、複屈折は、媒体中を光が透過する際に生じる。光が樹脂等の誘電体を透過する場合に複屈折が大きくなる。この複屈折は、媒体中の密度差等によって生じ、この密度差は媒体の成形時に生じる。そのため、個々のプリズム51によって複屈折の度合いが異なる。複屈折によりプリズム51中を進む励起光αに位相回転が生じ、金属膜55に対してP波だけ入射させたいにも関わらず、この複屈折による位相回転によって励起光αにS波成分が生じる。この複屈折によって生じたS波成分の量に応じて増強電場によって励起された励起蛍光の光量が減少する。そのため、制御処理部14がこの減少分を補正することにより、分析装置10における検体の検出精度及び感度が向上する。
次に、制御処理部14は、第1の位置決め及び第2の位置決めが行われた状態の反射部材36に対して光源部21により励起光αを照射する。これにより、励起光αが金属膜55に表面プラズモン共鳴を生じさせる。この表面プラズモン共鳴に基づく増強電場によって金属膜55の捕捉体56に捕捉された検体に標識された蛍光物質が励起して蛍光(励起蛍光)を発する。そして、制御処理部14は、光測定部40により励起蛍光の測定を行う(ステップS5)。
以上のようにして制御処理部14は、複屈折の影響等を取り除いた真の励起蛍光の光量Hを求めた後、これを検体番号と関連付けて記憶する(ステップS6)。そして、制御処理部14は、その他の記憶を消去する。また、制御処理部14は、この検体番号と関連付けて記憶した励起蛍光の光量Hに基づく情報を表示部16に出力する。表示部16は、前記光量Hに基づく情報を表示する。
以上の実施形態をまとめると、以下の通りである。
Claims (7)
- 検体に付された蛍光物質が表面プラズモン共鳴に基づく電場により励起されて発した蛍光を測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置であって、
所定の面上に金属膜が形成されたプリズムを含む分析チップを着脱できるように保持可能なチップ保持部と、
前記金属膜に表面プラズモン共鳴を生じさせるための励起光を射出する光源部と、
前記光源部からの励起光を反射する反射面を有する反射部材と、前記反射部材を駆動する駆動部とを有し、前記光源部から射出された励起光を反射することにより、当該励起光を前記チップ保持部に保持された状態の前記分析チップのプリズム内に入射させる入射経路調整部と、
前記励起光が前記金属膜によって反射されることにより、当該金属膜における前記プリズムと反対の面側で生じる光の強度を測定可能な光測定部と、
前記駆動部と前記光測定部とを制御する制御部と、を備え、
前記駆動部は、前記反射部材の位置を変更すると共に前記プリズム内に入射した励起光が前記金属膜の特定の位置において反射されるように前記反射面の向きを調整し、前記金属膜に対する前記反射面の向きを保ちつつ前記反射部材を前記金属膜における前記励起光の反射面と直交する方向に移動させることができ、
前記制御部は、前記駆動部によって前記反射部材の位置の変更と前記反射面の向きの調整とを行うことにより、前記励起光の前記金属膜への入射角を変えながら前記光測定部によって前記反対の面側において生じる光の強度を測定した後、前記光測定部において最大光量が検出されたときの反射部材の位置及び反射面の向きとなるように、前記駆動部によって前記反射部材の第1位置決めを行い、前記第1の位置決めを行った後、前記駆動部により前記反射部材を前記金属膜における前記励起光の反射面と直交する方向に沿って移動させると共に前記光測定部によって前記反対の面側に生じる光の強度を測定し、この測定結果に基づいて前記直交する方向における反射部材の第2の位置決めを行うことを特徴とする表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 検体に付された蛍光物質が表面プラズモン共鳴に基づく電場により励起されて発した蛍光を測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析装置であって、
所定の面上に金属膜が形成されたプリズムと、
前記金属膜に表面プラズモン共鳴を生じさせるための励起光を射出する光源部と、
前記光源部からの励起光を反射する反射面を有する反射部材と、前記反射部材を駆動する駆動部とを有し、前記光源部から射出された励起光を反射することにより、当該励起光を前記プリズム内に入射させる入射経路調整部と、
前記励起光が前記金属膜によって反射されることにより、当該金属膜における前記プリズムと反対の面側で生じる光の強度を測定可能な光測定部と、
前記駆動部と前記光測定部とを制御する制御部と、を備え、
前記駆動部は、前記反射部材の位置を変更すると共に前記プリズム内に入射した励起光が前記金属膜の特定の位置において反射されるように前記反射面の向きを調整し、前記金属膜に対する前記反射面の向きを保ちつつ前記反射部材を前記金属膜における前記励起光の反射面と直交する方向に移動させることができ、
前記制御部は、前記駆動部によって前記反射部材の位置の変更と前記反射面の向きの調整とを行うことにより、前記励起光の前記金属膜への入射角を変えながら前記光測定部によって前記反対の面側において生じる光の強度を測定した後、前記光測定部において最大光量が検出されたときの反射部材の位置及び反射面の向きとなるように、前記駆動部によって前記反射部材の第1位置決めを行い、前記第1の位置決めを行った後、前記駆動部により前記反射部材を前記金属膜における前記励起光の反射面と直交する方向に沿って移動させると共に前記光測定部によって前記反対の面側に生じる光の強度を測定し、この測定結果に基づいて前記直交する方向における反射部材の第2の位置決めを行うことを特徴とする表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記制御部は、前記励起光の前記金属膜への入射角の範囲である第1の範囲内において前記入射角を断続的に変えながら各入射角における前記反対の面側に生じる光の強度を測定する第1の走査を行い、この第1の走査の結果に基づく第2の範囲内において前記入射角を前記第1の走査より小さい間隔で断続的に、若しくは前記入射角を連続的に変えつつ、前記反対の面側の光の強度を測定する第2走査を行って前記最大光量を求め、
前記第2の範囲は、前記第1の範囲に含まれることを特徴とする請求項1又は2に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。 - 前記制御部は、特定のプリズムに対する前記第2の範囲を記憶し、異なるプリズムに対して前記第1の走査を行うことなく前記記憶した第2の範囲に基づいて前記第2の走査を行って前記最大光量を求めることを特徴とする請求項3に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
- 前記制御部は、前記反射部材の位置と、その位置において前記反射面で反射された励起光が前記プリズム内に入射して前記金属膜の特定の位置に到達する前記反射面の向きと、を対応づけてテーブルとして記憶し、このテーブルに基づいて前記反射部材の第1の位置決めを行うことを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
- 前記反射部材は、誘電体多層膜鏡であることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の表面プラズモン共鳴蛍光分析装置。
- 検体に付された蛍光物質が表面プラズモン共鳴に基づく電場により励起されて発した光を測定する表面プラズモン共鳴蛍光分析方法であって、
所定の面上に金属膜が形成されたプリズムを用意し、前記金属膜上に前記検体を含む試料液を流す準備工程と、
前記金属膜に表面プラズモン共鳴を生じさせるための励起光を所定の方向に射出する励起光射出工程と、
前記励起光を反射する反射面を有する反射部材の位置の変更と、前記反射面の向きの調整と、を行うことにより、前記反射面によって反射されてプリズム内に入射した励起光が前記金属膜の特定の位置において反射した状態を保ちながら前記励起光の金属膜への入射角を変更すると共に、前記励起光が前記金属膜によって反射されることにより当該金属膜における前記プリズムと反対の面側において生じる光の強度を測定する共鳴角走査工程と、
前記走査工程において最大光量が測定されたときの前記反射部材の位置及び前記反射面の向きとなるように前記反射部材の位置決めを行う第1の位置決め工程と、
前記第1の位置決めを行った後、前記金属膜に対する前記反射面の向きを保ちつつ前記反射部材を前記金属膜における前記励起光の反射面と直交する方向に移動させると共に前記光測定部によって前記反対の面側に生じる光の強度を測定し、この測定結果に基づいて前記直交する方向における反射部材の第2の位置決めを行う第2の位置決め工程と、を備えることを特徴とする表面プラズモン共鳴蛍光分析方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012536190A JP5861640B2 (ja) | 2010-09-30 | 2011-09-26 | 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010221506 | 2010-09-30 | ||
JP2010221506 | 2010-09-30 | ||
PCT/JP2011/005362 WO2012042805A1 (ja) | 2010-09-30 | 2011-09-26 | 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 |
JP2012536190A JP5861640B2 (ja) | 2010-09-30 | 2011-09-26 | 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2012042805A1 JPWO2012042805A1 (ja) | 2014-02-03 |
JP5861640B2 true JP5861640B2 (ja) | 2016-02-16 |
Family
ID=45892297
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012536190A Active JP5861640B2 (ja) | 2010-09-30 | 2011-09-26 | 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置及び表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9006686B2 (ja) |
EP (1) | EP2623958B1 (ja) |
JP (1) | JP5861640B2 (ja) |
WO (1) | WO2012042805A1 (ja) |
Families Citing this family (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP3023772B1 (en) | 2013-07-18 | 2019-08-21 | Konica Minolta, Inc. | Surface plasmon resonance fluorescence analysis device and surface plasmon resonance fluorescence analysis method |
JP6241163B2 (ja) * | 2013-09-18 | 2017-12-06 | コニカミノルタ株式会社 | 表面プラズモン共鳴蛍光分析装置および表面プラズモン共鳴蛍光分析方法 |
US11215613B2 (en) | 2013-10-31 | 2022-01-04 | Konica Minolta, Inc. | Detection device, detection method using said detection device, and detection chip used in said detection device |
EP3104168B1 (en) * | 2014-02-05 | 2019-01-16 | Konica Minolta, Inc. | Surface plasmon resonance fluorescence analysis device and surface plasmon resonance fluorescence analysis method |
WO2015129615A1 (ja) * | 2014-02-25 | 2015-09-03 | コニカミノルタ株式会社 | 測定方法および測定装置 |
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- 2011-09-26 WO PCT/JP2011/005362 patent/WO2012042805A1/ja active Application Filing
- 2011-09-26 JP JP2012536190A patent/JP5861640B2/ja active Active
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Publication number | Publication date |
---|---|
US20130175457A1 (en) | 2013-07-11 |
WO2012042805A1 (ja) | 2012-04-05 |
EP2623958B1 (en) | 2017-08-16 |
EP2623958A1 (en) | 2013-08-07 |
JPWO2012042805A1 (ja) | 2014-02-03 |
EP2623958A4 (en) | 2015-09-09 |
US9006686B2 (en) | 2015-04-14 |
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