JP5838081B2 - 光特性ムラ測定装置及び光特性ムラ測定方法 - Google Patents
光特性ムラ測定装置及び光特性ムラ測定方法 Download PDFInfo
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Description
110 撮像部
120,427 パーソナルコンピュータ
121 記憶部
122 補正演算部
200 測定対象物
200−1〜200−5 LED実装基板
211 LED光源
400 配光測定装置
401 補正値測定用LED光源
410 光源支持部
411 水平回転ステージ
412,422 直立アーム
413 垂直回転ステージ
420 計測部
421 XYステージ
423 受光器
424 光ファイバ
425 分光器
426 信号線
Claims (12)
- 配列された複数の測定対象物の表面にそれぞれ複数個ずつ設けられた測定点を撮像して、該測定点から入射された光の特性値を検出する撮像部と、
前記測定点の中から、前記測定対象物毎に基準測定点を定めて、他の測定点の前記特性値を、該測定点から前記撮像部へ入射される光の放射角が、対応する該基準測定点の該入射角と同一であるときの値に補正する処理を実行するための、補正用データを記憶する記憶部と、
前記補正用データを用いて、前記他の測定点の前記特性値を補正する補正演算部と、を備え、
補正後の該他の測定点の該特性値を、対応する前記基準測定点の該特性値と比較することで、該測定対象物毎の光特性ムラを測定する、
ことを特徴とする光特性ムラ測定装置。 - 前記補正用データは、
前記放射角を変化させながら配光測定用光源の前記特性値をそれぞれ測定し、
これら複数の測定結果を用いて、前記基準となる放射角における前記測定結果と他の放射角における前記測定結果との比をそれぞれ演算する、
ことで生成されることを特徴とする請求項1に記載の光特性ムラ測定装置。 - いずれか2個の前記測定点に対応する前記測定結果及び前記放射角を用いて、他のいずれかの前記測定点に対応する前記補正用データを演算することを特徴とする請求項2に記載の光特性ムラ測定装置。
- 前記撮像部が、全ての前記測定対象物の全ての前記測定点を同時に撮像することを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の光特性ムラ測定装置。
- 前記配列された複数の測定対象物の内、所定本数の該測定対象物のみに光放射を行わせた状態で、前記撮像部が、該所定本数の測定対象物の全ての前記測定点を同時に撮像した後、該所定本数の測定対象物の光放射を終了させる処理を繰り返すことにより、全ての該測定対象物の全ての前記測定点を撮像することを特徴とする請求項1乃至3の何れかに記載の光特性ムラ測定装置。
- 前記配列された複数の測定対象物は、整列配置された状態で一体に製造された、複数本のLED実装基板であることを特徴とする請求項1乃至5の何れかに記載の光特性ムラ測定装置。
- 配列された複数の測定対象物の表面にそれぞれ複数個ずつ設けられた測定点を撮像部で撮像して、該測定点から入射された光の特性値を検出する撮像ステップと、
前記測定点の中から、前記測定対象物毎に基準測定点を定めて、他の測定点の前記特性値を、該測定点から前記撮像部へ入射される光の放射角が、対応する該基準測定点の該入射角と同一であるときの値に補正する補正演算ステップと、
補正後の該他の測定点の該特性値を、対応する前記基準測定点の該特性値と比較する光特性ムラ演算ステップと、
を有する光特性ムラ測定方法。 - 前記補正用データは、
前記放射角を変化させながら配光測定用光源の前記特性値をそれぞれ測定し、
これら複数の測定結果を用いて、前記基準となる放射角における前記測定結果と他の放射角における前記測定結果との比をそれぞれ演算する、
ことで生成されることを特徴とする請求項7に記載の光特性ムラ測定方法。 - いずれか2個の前記測定点に対応する前記測定結果及び前記放射角を用いて、他のいずれかの前記測定点に対応する前記補正用データを演算することを特徴とする請求項8に記載の光特性ムラ測定方法。
- 前記撮像ステップが、全ての前記測定対象物の全ての前記測定点を同時に撮像するステップであることを特徴とする請求項7乃至9の何れかに記載の光特性ムラ測定方法。
- 前記撮像ステップが、前記配列された複数の測定対象物の内、所定本数の該測定対象物のみに光放射を行わせた状態で、該所定本数の測定対象物の全ての前記測定点を同時に撮像した後、該所定本数の測定対象物の光放射を終了させる処理を繰り返すことにより、全ての該測定対象物の全ての前記測定点を撮像するステップであることを特徴とする請求項7乃至9の何れかに記載の光特性ムラ測定方法。
- 前記配列された複数の測定対象物は、整列配置された状態で一体に製造された、複数本のLED実装基板であることを特徴とする請求項7乃至11の何れかに記載の光特性ムラ測定方法。
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