JP5995165B2 - 表示装置の検査方法、検査装置及び製造方法 - Google Patents
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Description
本発明者は、従来の高解像度の撮像装置を用いた表示ムラの検査及び表示ムラ補正に関し、以下の問題が生じることを見出した。
本実施の形態では、本発明に係る表示装置の検査方法、検査装置、当該検査方法を含む製造方法、ならびに、当該製造方法により製造された表示装置を説明する。特に、本発明の表示装置の製造方法の要部である、補正前の表示パネルの輝度ばらつきを画素レベルで取得する工程について詳細に説明する。なお、本発明の表示装置の製造方法に含まれる補正パラメータ生成工程では、上記補正前の輝度ばらつきの取得工程で取得された表示パネルの輝度ばらつきに基づいて、表示パネルの輝度ムラを補正するための補正パラメータが生成される。生成された補正パラメータは、当該表示装置が出荷された後の表示動作にて使用される。ここで、上記輝度ばらつきの取得工程で取得された表示パネルの輝度ばらつきに基づいて補正パラメータを生成する具体例としては、取得された輝度ばらつきである各画素における輝度偏差の大きさに対応して、画素ごとの輝度ゲインまたは画素ごとの電圧オフセットを補正パラメータとして決定することが挙げられる。上記決定された輝度ゲインまたは電圧オフセットが、補正前の映像信号データに乗算または加算されることで補正された映像信号データが、最終的にデータ電圧に変換され、各画素へ供給されることにより、本発明の表示装置は、表示ムラが解消された画像を表示することが可能となる。
本実施の形態では、実施の形態1で示された画素輝度ばらつきの取得工程に対して、撮像装置による撮像工程は同じであるが、撮像された輝度データの加工工程が異なる。
本実施の形態では、本発明の表示装置の製造方法により取得された画素輝度ばらつきを基に生成された補正パラメータを用いて、表示装置が表示パネルを表示動作させる場合について説明する。
2 情報処理装置
3 高解像度用撮像装置
4 低解像度用撮像装置
5 ステージ
11 表示パネル
12 制御回路
21 演算部
22 記憶部
23 通信部
111 走査線駆動回路
112 データ線駆動回路
113 表示部
121 メモリ
601 補正ブロック
602 変換ブロック
611 画素位置検出部
612 映像−輝度変換部
613 乗算部
614 輝度−電圧変換部
615 駆動回路用タイミングコントローラ
Claims (11)
- 発光素子を含む画素が行列状に配置された表示部と、画素列ごとに配置され前記画素にデータ電圧を伝達するデータ線とを備える表示装置における、前記表示部の輝度ムラを検査する検査方法であって、
複数の前記データ線を介して複数の前記画素に同一の前記データ電圧を供給し、複数の前記発光素子を発光させる発光ステップと、
前記発光ステップで前記発光素子を発光させた前記表示部を、インターライン型の高解像度用撮像装置を用いて画素単位で撮像し、前記画素単位の輝度情報である第1輝度データを取得する高解像度撮像ステップと、
前記発光ステップで前記発光素子を発光させた前記表示部を、前記高解像度用撮像装置で撮像した解像度よりも低解像度で撮像し、複数の画素ごとの輝度情報である第2輝度データを取得する低解像度撮像ステップと、
前記表示部の表示領域を複数の分割エリアに区分けする領域分割ステップと、
前記複数の分割エリアのそれぞれに含まれる複数の前記画素ごとに前記第1輝度データの前記輝度情報を平均して前記分割エリア内で同一の輝度情報とした平均輝度データを前記分割エリアごとに算出するエリア輝度算出ステップと、
画素ごとに前記第1輝度データに前記第2輝度データを乗算し、かつ、当該画素を含む前記分割エリアの前記平均輝度データで除算することにより、前記表示部に起因する輝度ばらつきを反映した画素単位の輝度情報である第3輝度データを画素ごとに算出する画素輝度算出ステップとを含む
表示装置の検査方法。 - 前記画素輝度算出ステップでは、
前記平均輝度データで前記第1輝度データを画素単位で除算して高解像度輝度比データを算出し、
前記第2輝度データを前記第1輝度データのデータサイズにリサイズし、当該リサイズされた前記第2輝度データを前記高解像度輝度比データに乗算する
請求項1に記載の表示装置の検査方法。 - 前記画素輝度算出ステップでは、
前記平均輝度データを前記第2輝度データのデータサイズにリサイズし、当該リサイズされた前記平均輝度データで前記第2輝度データを除算して低解像度輝度比データを算出し、
前記低解像度輝度比データを前記第1輝度データのデータサイズにリサイズし、当該リサイズされた前記低解像度輝度比データを前記第1輝度データに乗算する
請求項1に記載の表示装置の検査方法。 - 前記画素輝度算出ステップでは、
隣接する前記分割エリアの境界領域の前記平均輝度データをスムージングする
請求項2または3に記載の表示装置の検査方法。 - 前記画素輝度算出ステップでは、
前記画素を、当該画素から当該画素を含む分割エリアの中心位置までの距離と、当該画素から隣接する前記分割エリアの中心位置までの距離との比に応じて当該画素の輝度データをスムージングする
請求項2または3に記載の表示装置の検査方法。 - 前記発光ステップでは、前記表示部の全画素を一斉に点灯させ、
前記高解像度撮像ステップでは、前記高解像度用撮像装置の解像度を、前記表示部の画素数の解像度に対して同レベル以上に設定して、前記画素ごとの輝度データを取得する
請求項1に記載の表示装置の検査方法。 - 前記発光ステップでは、点灯させる画素を変更して複数回にわたり間引き点灯させることにより前記表示部の全画素を点灯させ、
前記高解像度撮像ステップでは、前記高解像度用撮像装置の解像度を、前記表示部の画素数の解像度に対して同レベル以上に設定して、前記間引き点灯のたびに撮像し、当該撮像された複数の画像を合成して前記画素ごとの輝度データを取得する
請求項1に記載の表示装置の検査方法。 - 前記発光ステップでは、前記表示部の全画素を一斉に点灯させ、
前記低解像度撮像ステップでは、前記表示部の画素数よりも撮像装置の解像度を低く設定して、前記第2輝度データを取得する
請求項6または7に記載の表示装置の検査方法。 - 前記発光ステップでは、点灯させる画素を変更して複数回にわたり間引き点灯させることにより前記表示部の全画素を点灯させ、
前記低解像度撮像ステップでは、前記表示部の画素数よりも撮像装置の解像度を低く設定して前記間引き点灯のたびに撮像し、当該撮像された複数の画像を平均化して、前記第2輝度データを取得する
請求項6または7に記載の表示装置の検査方法。 - 請求項1〜9のいずれか1項に記載の表示装置の検査方法を含む表示装置の製造方法であって、
さらに、
前記画素輝度算出ステップにおいて算出された前記第3輝度データに基づいて、前記画素ごとの補正パラメータを生成する補正パラメータ生成ステップと、
各画素の前記補正パラメータを、前記表示部に用いられる所定のメモリに書き込む書き込みステップとを含む
表示装置の製造方法。 - 発光素子を含む画素が行列状に配置された表示部と、画素列ごとに配置され前記画素にデータ電圧を伝達するデータ線とを備える表示装置における、前記表示部の輝度ムラを検査する検査装置であって、
インターライン型の高解像度用撮像装置と、
前記高解像度用撮像装置で撮像した解像度よりも低解像度で撮像する低解像度用撮像装置と、
前記表示部を制御する制御部とを備え、
前記制御部は、
前記発光素子を同一のデータ電圧で発光させた前記表示部を、前記高解像度用撮像装置を用いて画素単位で撮像して、前記画素単位の輝度情報である第1輝度データを取得し、
前記発光素子を発光させた前記表示部を、前記低解像度用撮像装置で撮像し、複数の画素ごとの輝度情報である第2輝度データを取得し、
前記表示部の表示領域を複数の分割エリアに区分けし、前記複数の分割エリアのそれぞれに含まれる複数の前記画素ごとに前記第1輝度データの前記輝度情報を平均して前記分割エリア内で同一の輝度情報とした平均輝度データを前記分割エリアごとに算出し、
画素ごとに前記第1輝度データに前記第2輝度データを乗算し、かつ、当該画素を含む前記分割エリアの前記平均輝度データで除算することにより、前記表示部に起因する輝度ばらつきを反映した画素単位の輝度情報である第3輝度データを画素ごとに算出する
表示装置の検査装置。
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