JP5823023B2 - 素子収納用パッケージ - Google Patents

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Description

本発明は、素子を実装・収納して実装構造体として機能させる素子収納用パッケージに関する。
近年、機器の小型化とともに、IC、発光ダイオード、圧電素子または水晶振動子等の素子を実装することが可能な小型の素子収納用パッケージが開発されている。そして、レーザーダイオードまたはフォトダイオード等の光半導体素子を実装することが可能な光半導体用パッケージが提案されている(例えば、特開2006−66867号公報)。なお、特開2006−66867号公報で提案された電子部品収納用パッケージは、金属製の基体と、基体上に設けられた入出力端子と、入出力端子の上面および下面のそれぞれに設けられた複数のリード端子と、を含んで構成されている。
特開2006−66867号公報で提案された電子部品収納用パッケージでは、実装される素子の高性能化に伴い、入出力端子に設けられるリード端子の数を増加させようとしたとき、パッケージを大型化しないと、実現することが困難である。そして、パッケージ自体を大型化した場合は、電子部品収納用パッケージが実装される機器までも大型化してしまう虞がある。
本発明は、パッケージ自体を大型化せずに、リード端子の数を増加させることが可能な素子収納用パッケージを提供することを目的とする。
本発明の一実施形態に係る素子収納用パッケージは、上面に素子の実装領域を有する矩形状の基板と、前記基板上に前記実装領域の外周に沿って設けられた、一部に切欠きを有する枠体と、前記切欠きに設けられた、前記枠体で囲まれる領域から前記枠体で囲まれない領域にまで延在する入出力端子とを備えている。前記入出力端子は、第1絶縁層と、前記第1絶縁層上に積層された第2絶縁層と、前記第2絶縁層上に積層された第3絶縁層とを含んでいる。前記第1絶縁層は、前記第2絶縁層および前記第3絶縁層よりも前記枠体外に延在している。前記第2絶縁層は、前記第3絶縁層よりも前記枠体外に延在している。前記第1絶縁層の上面に、所定電位に設定される複数の第1端子が設けられている。前記第1絶縁層の下面に、所定電位に設定される複数の第2端子が設けられている。前記第2絶縁層の上面に、交流信号が流れる複数の第3端子が設けられている。
本発明の一実施形態に係る素子収納用パッケージの概観斜視図であって、入出力端子の後方から入出力端子の前方を見た上方斜視図である。 本発明の一実施形態に係る素子収納用パッケージの概観斜視図であって、入出力端子の前方から入出力端子の後方を見た上方斜視図である。 図2のA部分を拡大した入出力端子の斜視図である。 本発明の一実施形態に係る素子収納用パッケージの平面図である。 図4のB部分を拡大した入出力端子の平面図である。 本発明の一実施形態に係る素子収納用パッケージの側面図である。 一変形例に係る素子収納用パッケージの側面図である。 図1に相当する概観斜視図であって、貫通孔に保持部材と光透過性部材とが設けられた上方斜視図である。 図2に相当する概観斜視図であって、貫通孔に保持部材と光透過性部材とが設けられた上方斜視図である。
以下、本発明の一実施形態に係る素子収納用パッケージについて、図面を参照しながら説明する。
<素子収納用パッケージの構成>
素子収納用パッケージ1は、例えば、半導体素子、トランジスタ、ダイオードまたはサイリスタ等の能動素子、あるいは抵抗器、コンデンサ、太陽電池、圧電素子、水晶振動子またはセラミック発振子等の受動素子からなる素子を実装するのに用いるものである。素子収納用パッケージ1では、高耐圧化、大電流化または高速・高周波化に対応している素子を実装して機能させるのに適しており、素子の一例として半導体素子を実装するものである。また、素子収納用パッケージ1は、上面に素子の実装領域Rを有する矩形状の基板2と、基板2上であって実装領域Rの外周に沿って形成され、一部に切欠きCを有する枠体3と、切欠きCに設けられ、枠体3で囲まれる領域から枠体3で囲まれない領域にまで延在する入出力端子4と、を備えている。
基板2は、矩形状の金属板であって、例えば、銅、鉄、タングステン、モリブデン、ニッケルまたはコバルト等の金属材料、あるいはこれらの金属材料を含有する合金から成る。なお、基板2の熱伝導率は、例えば15W/(m・K)以上450W/(m・K)以下に設定されている。基板2の熱膨張係数は、例えば3×10−6/K以上28×10−6/K以下に設定されている。
また、基板2は、溶融した金属材料を型枠に鋳込んで固化させたインゴットに対して、従来周知の圧延加工または打ち抜き加工等の金属加工法を用いることで、所定形状に製作される。なお、基板2は、平面視したときの一辺の長さは、例えば5mm以上50mm以下に設定されている。また、基板2の上下方向の厚みは、例えば0.3mm以上5mm以下に設定されている。
また、基板2の表面は、酸化腐食を防止するために、電気めっき法または無電解めっき法を用いて、ニッケルまたは金等の金属層が形成されている。なお、金属層の厚みは、例えば0.5μm以上9μm以下に設定されている。
枠体3は、実装領域Rの外周に沿って接続され、実装領域Rに実装される素子を外部から保護するための部材である。枠体3は、平面視したときに四角形状に形成された枠状の一部を切り欠いた形状である。また、枠体3は、切欠きCに入出力端子4が設けられる。また、枠体3は、切欠きCと対向する箇所に貫通孔Hが設けられてもよい。なお、枠体3は、ろう材を介して基板2にろう付けされる。
また、枠体3は、例えば、銅、鉄、タングステン、モリブデン、ニッケルまたはコバルト等の金属材料、あるいはこれらの金属材料を含有する合金から成る。枠体3は、枠体3内で素子から発生する熱を効率良く枠体3の外部に放熱する機能を備えている。なお、枠体3の熱伝導率は、例えば15W/(m・K)以上450W/(m・K)以下に設定されている。枠体3の熱膨張係数は、例えば3×10−6/K以上28×10−6/K以下に設定されている。
また、枠体3は、平面視したときに基板2に対応する大きさであって、一辺の長さが、例えば5mm以上50mm以下に設定されている。また、枠体3の切欠きCを除いた、上下の厚みは、例えば1mm以上10mm以下に設定されている。また、枠体3の切欠きCを含めた、上下の厚みは、例えば5mm以上20mm以下に設定されている。また、枠体3を平面視したときの枠の厚みは、例えば0.5mm以上3mm以下に設定されている。
枠体3の切欠きCに、入出力端子4が設けられる。また、枠体3の貫通孔Hが形成されている箇所に、外部に設ける光ファイバから伝わる光を枠体3内部にまで通す光透過性部材が設けられている。貫通孔Hには、例えば、レンズ、プラスチック、ガラスまたはサファイア基板等の光透過性部材11を嵌め込むことが可能な保持部材12が設けられる。保持部材12は、枠体3外部から光透過性部材11近傍にまで光ファイバの先端を近付けて、保持するものであってもよい。
枠体3は、切欠きCに対向する箇所に貫通孔Hが形成されている。そして、図8または図9に示すように、貫通孔Hに光透過性部材11を保持した保持部材12が設けられている。光透過性部材11は、枠体3内に光半導体素子を実装した場合に、光半導体素子が発する光の通る高さ位置に設けられている。そして、素子が光半導体素子の場合は、光透過性部材11の光軸と一致する実装領域Rに配置される。保持部材12は、例えば、銅、タングステン、鉄、ニッケルまたはコバルト等の金属、あるいはこれらの金属を複数種含む合金から成る。
光透過性部材11は、貫通孔Hを封止するように保持部材12に設けられている。光透過性部材11は、光を透過させるとともに、枠体3内の気密性を保つための機能を備えている。そして、光透過性部材11は、光半導体素子から発せられる光信号を集光或いは平行光に変換する機能を有している。そのため、光透過性部材11は、光半導体素子から発せられる光信号の光軸を調整することができる。
また、入出力端子4は、光透過性部材11と対向する切欠きCに設けられてもよい。その結果、光透過性部材11や光ファイバが保持される貫通孔Hの光軸に対して垂直方向の素子収納用パッケージ1の長さを抑制し、素子収納用パッケージ1を小型化することができる。よって、素子収納用パッケージ1は、外部回路基板に高密度に実装することができる。また、枠体3や入出力端子4は、光透過性部材11や光ファイバが保持される貫通孔Hの光軸に対し、平面視で線対称に設けられることが好ましい。その結果、基板2や枠体3、入出力端子4の熱膨張係数差や熱応力によって生じる素子収納用パッケージ1の変形は、貫通孔Hの光軸に対して平面視で線対称となることから、貫通孔Hの光軸に対して光軸のずれが抑制される。よって、素子収納用パッケージ1は、内部に収納された光半導体素子と光ファイバとの光入出力を円滑に行なうことができる。
また、枠体3上には、枠体3の上面に沿ってシールリング5が設けられている。シールリング5は、枠体3内を覆うように蓋体を設けるときに、蓋体を接続するものである。なお、シールリング5は、蓋体とのシーム溶接性に優れた、例えば銅、タングステン、鉄、ニッケルまたはコバルト等の金属、あるいはこれらの金属を複数種含む合金からなる。
入出力端子4は、枠体3の切欠きCに設ける部材である。入出力端子4は、複数の絶縁層を積層した構造であって、第1絶縁層4aと、第1絶縁層4a上に積層された第2絶縁層4bと、第2絶縁層4b上に積層された第3絶縁層4cとを含んでいる。さらに、入出力端子4は、第1絶縁層4aの下面に第4絶縁層4dを設けている。
第1絶縁層4aは、第2絶縁層4bおよび第3絶縁層4cよりも枠体3外に延在して、第2絶縁層4bは、第3絶縁層4cよりも枠体3外に延在している。また、第4絶縁層4dは、第2絶縁層4bよりも枠体3外に延在しているが、第1絶縁層4aよりは延在していない。さらに、第1絶縁層4aの上面に所定電位に設定される複数の第1端子6と、第1絶縁層4aの下面に所定電位に設定される複数の第2端子7と、第2絶縁層4bの上面に交流信号が流れる複数の第3端子8が設けられる。
第1絶縁層4a、第2絶縁層4bおよび第3絶縁層4cは、絶縁材料であって、例えば、酸化アルミニウム質焼結体、ムライト質焼結体、炭化珪素質焼結体、窒化アルミニウム質焼結体、窒化珪素質焼結体またはガラスセラミックス等のセラミック材料から成る。また、第1端子6、第2端子7および第3端子8が設けられる、第1絶縁層4aの上面、第1絶縁層4aの下面および第2絶縁層4bの上面には、各端子と接続される金属層9が形成される。また、金属層9は、各端子に対応して第1絶縁層4aおよび第2絶縁層4bに形成されている。また、第3絶縁層4cの上面および第4絶縁層4dの下面には、枠体3をろう材を介して接続するためのメタライズパターンが形成されている。金属層9およびメタライズパターンは、例えば、タングステン、モリブデンまたはマンガン等の高融点金属材料から成る。なお、セラミック材料から構成された第1絶縁層4a、第2絶縁層4bおよび第3絶縁層4cの熱膨張係数は、例えば3×10−6/K以上8×10−6/K以下に設定されている。
ここで、入出力端子4の作製方法について説明する。焼成前の未硬化の第1絶縁層4aの上下面および第2絶縁層4bの上面に、例えば、スクリーン印刷法等の厚膜形成技術、あるいは蒸着法、スパッタリング法等の薄膜形成技術を用いて、複数の金属層9を形成する。さらに、第3絶縁層4cの上面および第4絶縁層4dの下面には、金属層9と同様に、メタライズパターンが形成される。そして、第1絶縁層4a、第2絶縁層4b、第3絶縁層4cおよび第4絶縁層4dを積層した状態で同時に焼成する。このようにして、入出力端子4を作製することができる。金属層9は、第1絶縁層4aの上面の一端から他端にかけて設けられ、第1絶縁層4aの下面の一端から他端にかけて設けられ、第2絶縁層4bの上面の一端から他端にかけて設けられる。メタライズパターンは、第3絶縁層4cの上面および第4絶縁層4dの下面において枠体3と接続される個所に形成される。
焼成後の入出力端子4は、第1絶縁層4a、第2絶縁層4b、第3絶縁層4cおよび第4絶縁層4dが一体となる。そして、入出力端子4を平面視したときに、枠体3で囲まれる内外にまで延在されて金属層9が設けられる。その結果、枠体3内の素子と枠体3外の外部の電子機器とを金属層9を介して電気的に接続することができる。
第1端子6、第2端子7および第3端子8は、外部の電子機器と電気的に接続するための部材である。第1端子6、第2端子7および第3端子8は、ろう材を介して金属層9に接続される。そして、第1端子6、第2端子7および第3端子8のそれぞれは、金属層9と電気的に接続される。
また、金属層9は各端子に対応して設けられている。金属層9は、隣接する複数の第1端子6、隣接する複数の第2端子7および隣接する複数の第3端子8の各端子同士が間を空けて、電気的に絶縁して設けられている。
第1端子6および第2端子7は、例えば、グランドや直流電圧等の定まった値となる所定電位に設定される。また、第3端子8は、交流信号としての高周波信号が流れるように設定される。
ここでは、第1端子6の一部を接地導体用の端子とし、第2端子7の一部を直流電圧用の端子とする。第1端子6の一部は接地導体用、第2端子7の一部は直流電圧用、第3端子8は交流信号用なので、特に第3端子8の下方で第2端子7との間に接地導体用となる第1端子6が設けられることにより、第2端子7に複数の異なる値の直流電圧が印加される場合においても、第3端子8からの電界分布は第3端子8と距離が近い第1端子6との間に生じ易くなる。その結果、第3端子8と第2端子7との間で生じる電界分布や容量成分、共振現象が抑制される。そして、第3端子8は、所望の特性インピーダンスを維持することができ、第3端子8を介して交流信号を円滑に入出力することができる。
複数の第3端子8のそれぞれは、図5に示すように、平面視して複数の第1端子6同士の間に配置され、第3端子8と、隣接する第1端子6との間隔が同一となるように配置されている。即ち、第3端子8は、平面視して複数の第1端子6同士の間の中央部に配置されている。
仮に、第3端子8と第1端子6とが、平面視して重なるように配置されていたとすると、第1端子6と第3端子8との間隔が小さくなることから、第1端子6と第3端子8との電磁界結合が強くなり、それに伴って生じる静電容量の変動によって第3端子8のインピーダンスに不整合が、また第1端子6と第3端子8との電磁界結合によって共振現象が生じやすい。また、第1端子6と第3端子8との間隔が小さくなるに伴って増加する容量成分を小さくするために、第1端子6や第3端子8の大きさを小さくした場合には、第1端子6や第3端子8と入出力端子4、外部回路基板との接合部における接合強度や接合性が劣化する。その結果、第3端子8を伝送する交流信号が効率よく伝送されにくい。さらに、第3端子8を伝送する交流信号に雑音信号が加わりやすい。また、第1端子6や第3端子8と入出力端子4、外部基板との間で接合不良が生じやすい。その結果、素子収納用パッケージ1に収納される素子と第3端子8に接続される外部回路基板との間で、交流信号からなる高周波信号を正常かつ正確に入出力することができないという問題が発生しやすい。
さらに、第3端子8とこれに隣接する第1端子6との間隔が、平面視して同一とならないように配置されていたとすると、第3端子8とこれに隣接する第1端子6との間隔が同一とならず、第3端子8と、隣接する第1端子6との電磁界分布は、第3端子8の長さ方向に沿った、第2絶縁板4bに対する垂直面に対して対称となり難く、第3端子8と、隣接する第1端子6との間における電磁界分布に偏りが生じる。
そこで、第3端子8を第1端子6と重ならないように配置し、第3端子8と第1端子6との距離を長くするとともに、第3端子8とこれに隣接する第1端子6との間隔を同一にする。これにより、第3端子8と第1端子6との電磁界結合によって生じる第3端子8におけるインピーダンスの不整合や、第1端子6と第3端子8との電磁界結合によって生じる共振現象を抑制することができ、第3端子8で伝送する交流信号を効率よく伝送することができる。その結果、第3端子8で伝送する交流信号に雑音信号が加わり難くなり、素子収納用パッケージ1に収納される素子と第3端子8に接続される外部回路基板との間で、交流信号からなる高周波信号を正常かつ正確に入出力することができる。
また、複数の第3端子8のそれぞれは、平面視して複数の第2端子7同士の間に配置され、第3端子8とこれに隣接する第1端子6との間隔が同一となるように配置されている。即ち、第3端子8は、平面視して複数の第1端子6同士の間の中央部に配置されている。
第3端子8を第2端子7と重ならないように配置し、第3端子8と第2端子7との距離を長くするとともに、第3端子8とこれに隣接する第2端子7との間隔を同一に配置する。その結果、第3端子8と第2端子7との電磁界結合によって生じる第3端子8におけるインピーダンスの不整合や、第2端子7と第3端子8との電磁界結合によって生じる共振現象を抑制することができる。そして、第3端子8で伝送される交流信号が効率よく伝送されるとともに雑音信号が加わり難くなり、素子収納用パッケージ1に収納される素子と第3端子8に接続される外部回路基板との間で交流信号からなる高周波信号を正常かつ正確に入出力することができる。
第1端子6、第2端子7および第3端子8は、図6に示すように、基板2の上面に沿って平面方向に延在している。また、第1端子6と第2端子7との上下方向の間の距離は、例えば0.3mm以上3mm以下であって、一定になるように設定されている。そして、第1端子6と第2端子7との上下方向の間の距離は一定であって、外部の上下面に配線パターンが形成されたフレキシブルプリント基板を第1端子6と第2端子7の間に挟むことができる。さらに、第1端子6および第2端子7のそれぞれは、フレキシブルプリント基板の上下面に形成された配線パターンに対して電気的に接続される。
複数の第2端子7は、図6に示すように、平面視して複数の第1端子6よりも枠体3外に延在している。外部のフレキシブルプリント基板は、第2端子7が第1端子6よりも延在していることで、第2端子7の上面に当てて、第2端子7の上面に沿って第1端子6と第2端子7の間に介在するように滑らせることができることから、フレキシブルプリント基板を第1端子6と第2端子7の間に設置しやすくなり、フレキシブルプリント基板を入出力端子4に電気的に接続するために要する時間を短縮することができる。そして、フレキシブルプリント基板を第1端子6と第2端子7の間に挟むことができ、その後、半田を介して第1端子6および第2端子7をフレキシブルプリント基板の上下面に形成された配線パターンに電気的に接続することができる。
また、複数の第1端子6は、平面視して複数の第2端子7よりも枠体3外に延在させてもよい。第1端子6が第2端子7よりも延在していることで、例えば、貫通孔Hの反対方向から入出力端子4を側面視した際の各端子の位置に対応した貫通部が形成され、貫通部と電気的に接続される配線パターンが形成されたフレキシブルプリント基板を、貫通孔Hの反対方向から各端子を貫通部に挿入し、一括して各端子に電気的に接続する場合には、第2端子7および第3端子8との間隔が小さい第1端子6を最初に貫通部に挿入することにより、第1端子6に対応した第2端子7および第3端子8が挿入される貫通部の位置ずれを小さくすることができる。さらに、第1端子6を貫通部に挿入した後に第2端子7を貫通部に挿入することで、貫通部に対する位置合わせが第1端子6および第2端子7で行われ、第3端子8と貫通部との位置ずれをさらに小さくすることができる。その結果、第3端子8が貫通部に挿入されないことにより生じる電気的な接続不良や変形を抑制することができるとともに、第1端子6が貫通部に挿入されることによって第2端子7および第3端子8に対応した貫通孔が位置合わせされ、一括して各端子をフレキシブルプリント基板に電気的に接続することができることにより、実装構造体の製造リードタイムを大幅に短縮することができる。
本実施形態によれば、複数種の端子を入出力端子4に対して、高さ位置を異ならせて配置することができ、パッケージ自体を大型化せずに、リード端子の数を増加させることができる。また、第3端子8とこれに隣接する第1端子6および第2端子7との電磁界結合に起因した第3端子8におけるインピーダンスの不整合や、第1端子6および第2端子7と第3端子8との電磁界結合に起因した共振現象が抑制され、第3端子8で伝送する交流信号が効率よく伝送されるとともに雑音信号が加わり難くなり、素子収納用パッケージ1に収納される素子と第3端子8に接続される外部回路基板との間で交流信号からなる高周波信号を正常かつ正確に入出力することができる。
<素子収納用パッケージの製造方法>
ここで、図1または図2に示す素子収納用パッケージ1の製造方法を説明する。まず、基板2、枠体3および入出力端子4のそれぞれを準備する。基板2および枠体3のそれぞれは、溶融した金属材料を型枠に鋳込んだ固化させたインゴットに対して、金属加工法を用いることで、所定形状に製作される。
入出力端子4は、各絶縁層に対応するセラミックグリーンシートをそれぞれ準備する。次に、セラミックグリーンシートに、例えばスクリーン印刷法を用いて、モリブデンやマンガンを含有した有機溶剤を塗布した金属ペーストからなる金属層9が形成される。そして、入出力端子4は、積層されたセラミックグリーンシートを焼成することで形成される。さらに、スクリーン印刷法を用いて枠体3との接合面となる入出力端子4の表面にメタライズパターンを形成する。さらに、各種の端子を入出力端子4の金属層9にろう材で接続する。このようにして、入出力端子4を作製することができる。また、準備した枠体3は、枠体3の貫通孔Hに、光透過性部材11を実装した保持部材12をろう材を介して嵌めて接続する。
次に、準備した基板2、枠体3および入出力端子4のそれぞれをろう材を介して接続する。具体的に、基板2上に入出力端子4を載置するとともに、入出力端子4が切欠きCに挿入されるように枠体3を基板2上に載置し、ろう材を介して一括して接続する。このようにして、素子収納用パッケージ1を作製することができる。さらに、素子収納用パッケージ1の実装領域Rに絶縁性の配線基板を設け、この配線基板に半田を介して素子を実装し、ボンディングワイヤを介して素子と配線基板と入出力端子4とを電気的に接続した後に、素子収納用パッケージを蓋体で覆うことで、実装構造体を作製することができる。
<変形例>
本発明は上述の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。以下、本実施形態の変形例について説明する。なお、本実施形態の変形例に係る素子収納用パッケージおよび実装構造体のうち、本実施形態に係る素子収納用パッケージ1および実装構造体と同様な部分については、同一の符号を付して適宜説明を省略する。図7は、一変形例に係る素子収納用パッケージ1の側面図であって、図6に相当する図面である。
上記実施形態では、第2端子7が第1端子6よりも枠体3外に向かって延在して設けられた構造であったが、これに限られない。例えば、図7に示すように、第1端子6の枠体3の外側の一端が第2端子7の枠体3の外側の一端よりも枠体3外に向かって延在した構造であってもよい。
この変形例においては、入出力端子4の第1絶縁層4aの露出した上面に第1端子6を設け、入出力端子4の第1絶縁層4aの露出した下面に第2端子7を設ける。そして、第1端子6の一端は、第2端子7の一端よりも枠体3外に向かって、より延在するように設けられている。即ち、第1端子6の一端は、第2端子7の一端よりも枠体3外に向かって延在している。一方、第1端子6の他端は、平面視して第2端子7の他端と重なるように配置されている。なお、第1端子6の一端および第2端子7の一端の差は、例えば1mm以上5mm以下に設定されている。
このように第1端子6の一端が第2端子7の一端よりも枠体3外に向かって延在していることで、第1端子6の上方から第1端子6に向かって外部の部材が接近して接触することになっても、第1端子6から第2端子7の方向に力が作用したとしても、第1端子6の先端部が第2端子7に接触する虞が低減される。このように第1端子6の一端が第2端子7の一端よりも枠体3外に向かって延在していることで、第1端子6の上方から第1端子6に向かって外部の部材が接近して接触することによって、第1端子6から第2端子7の方向に力が作用したとしても、第1端子6の先端部が第2端子7に接触する虞が抑制される。即ち、第1端子6の先端部が、第1端子6と第2端子7の間隔だけ第2端子7の方向に撓むか、または変形したとしても、第1端子6の先端部が第2端子7に接触しにくい。しかし、第1端子6の一端が第2端子7の一端よりも枠体3外に向かって延在していない場合には、第1端子6の先端部が第1端子6と第2端子7の間隔だけ第2端子7の方向に撓むか、または変形すると、第1端子6の先端部が第2端子7に接触しやすい。よって、第1端子6の一端が第2端子7の一端よりも枠体3外に向かって延在している場合には、第1端子7から第2端子8の方向に作用される力によって第1端子6が第2端子7に接触しにくくなる。
また、第1端子6の一端が第2端子7の一端よりも枠体3外に向かって延在していることで、第1端子6の一端を間に挟むように上下からプローブを当てやすくなるので、第1端子6の導通チェックを容易に行なうことができる。仮に、第2端子7が第1端子6よりも長い場合は、第1端子6を上下から挟むことが難しく、第2端子7とプローブが接触しやすくなる。そこで、第1端子6を第2端子7よりも長くすることで、第1端子6の導通チェックを容易にすることができる。
また、第1端子6が、第2端子7および第3端子8よりも長いため、撓みやすいフレキシブル基板10に第1端子6を一番最初に接続しやすくすることができる。撓みやすいフレキシブル基板10と入出力端子4とを接続するには、第1端子6を導通孔p1に挿入した後、撓んだフレキシブル基板10の導通孔p2、p3を第2端子7、第3端子8に対して位置合わせする。そして、第2端子7を導通孔p2に挿入し、さらに第3端子8を導通孔p3に挿入して、各端子をフレキシブル基板10に接続することができる。仮に、第2端子7または第3端子8が第1端子6よりも長い場合は、フレキシブル基板10に各端子を挿入する順番が、第2端子7または第3端子8が最初になるため、各端子を変形しやすいフレキシブル基板10の導通孔に挿入する位置合わせが難しくなる。そこで、第1端子6を第2端子7および第3端子8よりも長くすることで、第1端子6を最初に導通孔p1に挿入して、第2端子7および第3端子8の導通孔に対する位置合わせを容易にすることができる。
また、第1端子6、第2端子7および第3端子8の垂直方向における間隔は、第1端子6、第2端子7および第3端子8の長さが短くなるにつれて広くなるように設けられてもよい。これにより、第1端子6、第2端子7および第3端子8の間に位置するフレキシブル基板10は、第1端子6、第2端子7および第3端子8の間隔が広くなるに従って変位できる幅が大きくなる。その結果、第1端子6、第2端子7および第3端子8の長さの差に起因してフレキシブル基板10に生じる応力は、第1端子6、第2端子7および第3端子8の間隔に応じて大きくなるフレキシブル基板10の変位によって緩和される。よって、フレキシブル基板10の一部に応力が集中することが抑制される。

Claims (8)

  1. 上面に素子の実装領域を有する矩形状の基板と、
    前記基板上に前記実装領域の外周に沿って設けられた、一部に切欠きを有する枠体と、
    前記切欠きに設けられた、前記枠体で囲まれる領域から前記枠体で囲まれない領域にまで延在する入出力端子とを備え、
    前記入出力端子は、第1絶縁層と、前記第1絶縁層上に積層された第2絶縁層と、前記第2絶縁層上に積層された第3絶縁層とを含んでおり、
    前記第1絶縁層は前記第2絶縁層および前記第3絶縁層よりも前記枠体外に延在して、前記第2絶縁層は前記第3絶縁層よりも前記枠体外に延在しているとともに、前記第1絶縁層の上面に所定電位に設定される複数の第1端子が、前記第1絶縁層の下面に所定電位に設定される複数の第2端子が、前記第2絶縁層の上面に交流信号が流れる複数の第3端子がそれぞれ設けられていることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  2. 請求項1に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記複数の第3端子のそれぞれは、前記複数の第1端子同士の間に配置されていることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  3. 請求項2に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記複数の第1端子と前記複数の第2端子とは、上下に重なっていることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  4. 請求項3に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記複数の第1端子の一端は、前記複数の第2端子の一端よりも前記枠体外に向かって延在していることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  5. 請求項1に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記第1端子は、接地導体用端子であって、前記第2端子は直流電圧用端子であることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  6. 請求項1に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記枠体は、前記切欠きと対向する箇所に貫通孔が形成されており、
    前記貫通孔に光透過性部材を保持した保持部材が設けられていることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  7. 請求項6に記載の素子収納用パッケージであって、
    前記素子は光半導体素子であって、前記光透過性部材の光軸と一致する前記実装領域に配置されることを特徴とする素子収納用パッケージ。
  8. 請求項1ないし請求項7のいずれかに記載の素子収納用パッケージであって、
    前記入出力端子は、フレキシブル基板と電気的に接続されることを特徴とする素子収納用パッケージ。
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