JP5809628B2 - カメラアレイ及びコンパクトな組み込み照明装置を備えた高速光学検査システム - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 59
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 42
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 112
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 4
- 230000007723 transport mechanism Effects 0.000 claims description 3
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 6
- 238000003491 array Methods 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/8901—Optical details; Scanning details
- G01N21/8903—Optical details; Scanning details using a multiple detector array
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N2021/845—Objects on a conveyor
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8806—Specially adapted optical and illumination features
- G01N2021/8838—Stroboscopic illumination; synchronised illumination
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/956—Inspecting patterns on the surface of objects
- G01N2021/95638—Inspecting patterns on the surface of objects for PCB's
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
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Description
様々な電子装置において使用されるプリント回路板の製造においては、多くの場合、自動化電子部品アセンブリ機が使用される。そのような自動電子部品アセンブリ機は、多くの場合、プリント回路板に類似する他の装置を加工するためにも使用される。たとえば、太陽電池(ソーラーセル)の製造は、多くの場合、導電トレースをプリントするために類似した機械を使用する。加工される基板にかかわらず、加工そのものは一般にかなり迅速に稼働することを求められる。急速又は高速製造は、完成された基板のコストが最小化されることを保証する。しかし、基板が製造される速度は、加工によって生じるスクラップ又は欠陥の許容可能レベルとで釣り合わなければならない。たとえばプリント回路板はきわめて複雑で小さなものであることがあり、一つの回路板が膨大な数の部品及び、ひいては膨大な数の電気接続を有することもある。プリント回路板は今や大量生産されている。そのようなプリント回路板は、非常に高価である、及び/又は高価な機器において使用されることがあるため、高い品質、高い信頼性及び最小限のスクラップで正確に製造されることが重要である。残念ながら、利用可能な製造方法のせいで、それでもいくらかのレベルのスクラップ及び不合格品が生じる。プリント回路板における一般的な欠陥としては、回路板上の部品の配置の不正確さがあり、それは、部品が回路板中で正しく電気接続されていないことを意味することがある。もう一つの一般的な欠陥は、誤った部品が回路板上の所与の位置に配置された場合に起こる。さらには、部品は、単に存在しない場合もあるし、誤った電気極性で配置される場合もある。さらには、他の誤りが、一つ以上の部品と回路板との間の電気接続を妨げる、又は他のやり方で阻止することもある。なおさらには、はんだペースト付着が不十分であるならば、それが劣悪な接続を招くおそれもある。さらには、はんだペーストが多すぎるならば、そのような状態が短絡などを招くおそれもある。
図面を参照しながら本発明の実施態様を一般に説明する。図面の様々な特徴を指すために多くの参照番号が使用されている。わかりやすくするため、参照番号の一覧を以下に記す。
参照番号:
2 カメラ
4 カメラアレイ
10 プリント回路板
11 小さなワークピース
14 ベルト
18 モータ
20 エンコーダ
22 プログラマブルロジックコントローラ
24 パネルセンサ
26 ワークピース輸送コンベヤ
30 カメラ視野
32 カメラアレイ視野
33 カメラアレイ視野
34 カメラアレイ視野
35 カメラアレイ視野
41 照明装置
42 照明装置
43 照明装置
44 照明装置
45 照明装置
46 LED
48 線光源
50 アパーチャ
52 拡散板
54 ミラー
56 アパーチャ
57 混合チャンバ
58 上アパーチャ板
60 光源
62 平行光線束
64 ライトパイプ
65 ライトパイプ照明装置
66 ライトパイプ側壁
67 ミラー
68 ライトパイプ出口アパーチャ
69 ライトパイプ入口アパーチャ
70 反射面(側壁内面)
71 検査アプリケーションプログラム
72 コンベヤインタフェース
76 システムコンピュータ
80 主エレクトロニクスボード
82 画像メモリ
83 ストロボアセンブリ
84 ストロボボード
86 ストロボモニタ
87 フラッシュランプ(暗視野光源)
88 フラッシュランプ(曇天光源)
92 検査システム
94 光学検査センサ
本発明の実施態様は一般に、高価で精巧な動作制御ハードウェアの必要なしに多重照明画像の高速取得を行う検査システム及び方法を提供する。異なる照明タイプを用いて取得された画像の処理が検査結果をかなり高めることができる。
Claims (25)
- 検査されるフィーチャを含むワークピースを検査するための光学検査システムであって、
ワークピースをノンストップで輸送するように構成されたワークピース輸送機構、
第一のストロボ照明野タイプ及び第二のストロボ照明野タイプを提供するように構成された照明装置であって、フィーチャに近い第一端及び前記第一端とは反対側にあり、前記第一端から離間した第二端を有し、少なくとも一つの反射性側壁を有するライトパイプを含み、前記第一端が出口アパーチャを有し、前記第二端が少なくとも一つの第二端アパーチャを有して、それらを通して前記フィーチャの視認を提供する照明装置、
前記フィーチャをデジタル式に画像化するように構成され、第一のストロボ照明野タイプを用いて前記フィーチャの第一の複数の画像を生成し、第二のストロボ照明野タイプを用いて前記フィーチャの第二の複数の画像を生成するように構成されているカメラアレイ、及び
前記照明装置及び前記カメラアレイに操作可能に結合され、前記第一及び第二の複数の画像の少なくともいくつかを記憶し、他の装置に提供するように構成されている処理装置を含み、
前記反射性側壁は、前記ライトパイプを通過する光線の仰角を維持する一方で、方位角方向に拡散させる
光学検査システム。 - 前記カメラアレイの第一の複数のカメラが非テレセントリック光学素子を含み、前記第一の複数のカメラが、ワークピース移動方向に対して垂直な軸に沿って互いに整列している、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記カメラアレイの第二の複数のカメラが非テレセントリック光学素子を含み、前記第二の複数のカメラが、ワークピース移動方向に対して垂直な軸に沿って互いに整列しているが、ワークピース移動方向において前記第一の複数のカメラから離間している、請求項2記載の光学検査システム。
- 前記カメラアレイが、
ワークピース移動方向に対して垂直な軸に沿って互いに整列しており、互いに重複しない視野を有する、テレセントリック光学素子を有する第一の複数のカメラ、
ワークピース移動方向に対して垂直な軸に沿って互いに整列しており、互いに重複しない視野を有する、テレセントリック光学素子を有する第二の複数のカメラ
を含み、前記第一及び第二の複数のカメラが、ワークピース移動方向に対して垂直な方向に互い違いに位置する視野を有する、請求項1記載の光学検査システム。 - 前記アレイ中の各カメラの視野の少なくとも一部分が、前記アレイ中の他のカメラと重複しないように、前記第一及び第二の複数のカメラが互い違いに配置されている、請求項4記載の光学検査システム。
- 前記処理装置へのワークピース移動の指標を提供するための、前記ワークピース輸送機構に操作可能に結合されたエンコーダをさらに含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記指標が約100ミクロンの解像度を有する、請求項6記載の光学検査システム。
- 前記照明装置が少なくとも一つのアーク灯を含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記照明装置が少なくとも一つの発光ダイオードを含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記ライトパイプが複数の反射性側壁を含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記少なくとも一つの反射性側壁が、照明を方位角方向に混合しながらも照明仰角を保存する湾曲した反射面を含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記照明装置が、照明の少なくとも一部分を所望の光源仰角に反射させるように配置された少なくとも一つのミラーを含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記少なくとも一つのミラーが、前記照明の一部分を前記少なくとも一つの反射性側壁に向けて所望の仰角で反射させるように傾けられている、請求項12記載の光学検査システム。
- 前記カメラアレイが、前記ライトパイプの前記第二端の近くに取り付けられ、少なくとも一つの第二端アパーチャを通して前記フィーチャを見るように構成されている、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記照明装置が、前記第二端の近くに配置された照明混合チャンバを含み、前記混合チャンバ及び前記ライトパイプが、少なくとも一つの第二端アパーチャそれぞれと整列した少なくとも一つの拡散板アパーチャを有する半透明の拡散板によって分けられている、請求項14記載の光学検査システム。
- 曇天光源が、ストロボ照明を前記混合チャンバの中に導入するように構成されている、請求項15記載の光学検査システム。
- 第一の暗視野光源が、ストロボ照明を前記拡散板と前記第一端との間で前記ライトパイプの中に導入するように構成されている、請求項16記載の光学検査システム。
- さらなる照明を前記拡散板と前記第一端との間で前記ライトパイプの中に導入するように構成された第二の暗視野光源をさらに含む、請求項17記載の光学検査システム。
- 前記混合チャンバが複数の反射面を含む、請求項15記載の光学検査システム。
- 前記処理装置が、前記カメラアレイの各カメラからの複数の画像を記憶するように構成されたランダムアクセスメモリを含む、請求項1記載の光学検査システム。
- 前記ランダムアクセスメモリが、前記第一及び第二の複数の画像それぞれに関して前記ワークピース全体を表すための数の画像を記憶するのに十分である容量を有する、請求項20記載の光学検査システム。
- 前記カメラアレイ中の各カメラが約5メガピクセルの解像度を有し、前記ランダムアクセスメモリが約2.0ギガバイトの容量を有する、請求項21記載の光学検査システム。
- 前記処理装置が、記憶された画像を前記他の装置に提供するための高速データ転送バスを含む、請求項21記載の光学検査システム。
- 前記処理装置が、記憶された画像を前記他の装置に提供しながら同時に前記カメラアレイから画像を取得し、記憶するように構成されている、請求項23記載の光学検査システム。
- 前記他の装置が、少なくとも部分的に前記第一及び第二の複数の画像に基づいて前記ワークピース上の前記フィーチャに関する検査結果を提供するように構成されている、請求項23記載の光学検査システム。
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US24467109P | 2009-09-22 | 2009-09-22 | |
US24461609P | 2009-09-22 | 2009-09-22 | |
US61/244,671 | 2009-09-22 | ||
US61/244,616 | 2009-09-22 | ||
PCT/US2010/049617 WO2011037903A1 (en) | 2009-09-22 | 2010-09-21 | High speed optical inspection system with camera array and compact, integrated illuminator |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013505464A JP2013505464A (ja) | 2013-02-14 |
JP2013505464A5 JP2013505464A5 (ja) | 2013-10-10 |
JP5809628B2 true JP5809628B2 (ja) | 2015-11-11 |
Family
ID=43086315
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012530968A Withdrawn JP2013505465A (ja) | 2009-09-22 | 2010-09-21 | 高速高解像度三次元太陽電池検査システム |
JP2012530966A Expired - Fee Related JP5809628B2 (ja) | 2009-09-22 | 2010-09-21 | カメラアレイ及びコンパクトな組み込み照明装置を備えた高速光学検査システム |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012530968A Withdrawn JP2013505465A (ja) | 2009-09-22 | 2010-09-21 | 高速高解像度三次元太陽電池検査システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP2013505465A (ja) |
KR (1) | KR20120084738A (ja) |
CN (2) | CN102498387A (ja) |
DE (1) | DE112010003742T5 (ja) |
WO (2) | WO2011037903A1 (ja) |
Families Citing this family (29)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20120133920A1 (en) * | 2009-09-22 | 2012-05-31 | Skunes Timothy A | High speed, high resolution, three dimensional printed circuit board inspection system |
CN102253051A (zh) * | 2011-05-03 | 2011-11-23 | 3i***公司 | 一种线扫描探测器检测太阳能电池片缺陷的*** |
CN103076330A (zh) * | 2013-01-05 | 2013-05-01 | 王锦峰 | 多面阵相机aoi设备及其拍摄图像方法 |
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KR101351000B1 (ko) * | 2013-04-10 | 2014-01-15 | 주식회사 미루시스템즈 | 복수 개의 검사 모드를 가지는 인라인 카메라 검사 장치 |
US10126252B2 (en) | 2013-04-29 | 2018-11-13 | Cyberoptics Corporation | Enhanced illumination control for three-dimensional imaging |
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-
2010
- 2010-09-21 JP JP2012530968A patent/JP2013505465A/ja not_active Withdrawn
- 2010-09-21 CN CN2010800418027A patent/CN102498387A/zh active Pending
- 2010-09-21 CN CN201080042290.6A patent/CN102656444B/zh active Active
- 2010-09-21 WO PCT/US2010/049617 patent/WO2011037903A1/en active Application Filing
- 2010-09-21 KR KR1020127009863A patent/KR20120084738A/ko not_active Application Discontinuation
- 2010-09-21 WO PCT/US2010/049619 patent/WO2011037905A1/en active Application Filing
- 2010-09-21 JP JP2012530966A patent/JP5809628B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2010-09-21 DE DE112010003742T patent/DE112010003742T5/de not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE112010003742T5 (de) | 2013-06-06 |
KR20120084738A (ko) | 2012-07-30 |
WO2011037905A1 (en) | 2011-03-31 |
WO2011037903A1 (en) | 2011-03-31 |
CN102656444A (zh) | 2012-09-05 |
JP2013505464A (ja) | 2013-02-14 |
CN102498387A (zh) | 2012-06-13 |
CN102656444B (zh) | 2016-08-03 |
JP2013505465A (ja) | 2013-02-14 |
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