JP5801566B2 - 回転角度検出装置 - Google Patents

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Description

本発明は、被検出部から生じる磁場を検出軸上に配置された磁気感知素子で検出し、各磁気感知素子での検出結果に基づき被検出部の回転位置を特定する回転角度検出装置に関する。
この種の回転角度検出装置は、下記の特許文献1〜2に開示されている。特許文献1の回転角度検出装置は、円環状に形成されてシャフトが挿通された磁石と、シャフトの回転中心からシャフトの回転面に沿って互いに直交して延びる各軸線上に配置された磁気センサ(検出素子)とを備えている。特許文献2の角度検出装置は、円環状に形成されてシャフトが挿通された回転部材と、回転部材の外周面と向き合わせて配置された磁性プレートと、シャフトの軸方向及び経方向に互いに直交して磁性プレート上を延びる各軸線上に配置された検出素子とを備えている。これらの装置では、磁石や回転部材と一体となって回転するシャフトの回転角度が、各検出素子で検出された磁気変化に基づき特定される。詳しくは、各軸線(X軸、Y軸)上に配置された検出素子で検出された磁束密度の比に基づき、回転角度が検出される。この検出結果を回転軸に比例して直線状に変化するように変換して検出結果が出力されるようになっている。
特開2007−263585号公報 特開2008−292466号公報
特許文献1には、磁石の磁気センサが置かれる側とは反対の他端側にヨークを配置するとともに軸方向に磁石を着磁することで軸方向の磁力を高め、軸方向からの外乱磁場の影響を極力抑える構成が開示されている。また、特許文献2には一対の検出素子の出力電圧の差分を算出して磁束を検出することで軸方向(いわゆるZ軸方向)の外乱磁場の影響を受けない構成が開示されている。特許文献2に記載の回転角度検出装置は、一対の磁気センサの検出信号を差動演算することにより角度を検出(差動検出)する。差動検出することにより軸方向(Z軸方向)の外乱磁場の影響を物理的に抑えることができ、いわゆる角度検出時のノイズが抑えられる。そのため、検出精度を向上するには有効である。しかし、各軸線上に配置された磁気センサ(検出素子)間での特性バラツキ等により、回転角度検出装置から出力される検出結果には図5(b)に示すようにうねりが生じる。このような特性の回転角度検出装置を用いて回転角度を検出するには、このうねりの範囲を避けて検出する必要があり、直線性(リニアリティ)の得られる狭い回転角度範囲でしか検出できない。
本発明は、上記した点に鑑み、回転角度を差動検出により検出する角度検出方法に関し、出力直線性(リニアリティ)の得られる回転角度範囲を広げ、より広い回転範囲で回転角度を検出できる回転角度検出装置を提供することを目的とする。
このような課題を解決するために、本発明の回転角度検出装置は、回転位置の検出対象に取り付けられる被検出部と、該被検出部に対向して配置されて、前記被検出部の回転面に平行に延びた感磁面を有する集磁板と、該集磁板の感磁面に平行に延びて前記被検出部の回転軸の軸方向と直交する第1検出軸上に配置され、該第1検出軸の延伸方向の磁束成分を検出する第1磁気感知素子と、該第1検出軸と交差して前記集磁板の感磁面に平行に延びて前記回転軸の軸方向と直交する第2検出軸上に配置され、該第2検出軸の延伸方向の磁束成分を検出する第2磁気感知素子と、前記第1磁気感知素子及び前記第2磁気感知素子での検出結果に基づき、前記検出対象の回転位置に応じた信号を出力する信号出力部とを備え、前記被検出部は、前記被検出部は、磁石と磁性体とが前記回転面の延伸方向に沿って並ぶように連結されて構成されており、前記回転軸に対して当該被検出部の中心が一致するように配置され、前記被検出部から生じる磁場を前記回転軸から前記回転面の延伸方向に偏らせていることを特徴とする。
また、本発明は、前記磁石が、前記磁性体と連結される縁部に、前記磁性体との間に間隙を形成する間隙形成部を備えることを特徴とする。
また、本発明は、前記磁性体がヨークであり、前記磁石は、前記回転軸の軸方向に沿って分極された磁石から構成されていることを特徴とする。
本発明によれば、被検出部から生じる磁場を被検出部の回転面の延伸方向に偏らせ、磁気感知素子にて検出される磁束成分に偏りを持たせることで、磁気感知素子間でのバラツキ(磁束成分)をフィルタリングすることが出来る。これにより、差動検出による誤差の少ない検出結果を得るとともに、出力直線性(リニアリティ)をより広い回転角度範囲で得ることができる。
本発明の一実施形態の回転角度検出装置を示す断面図である。 回転角度検出装置の被検出部を示す斜視図である。 (a)は被検出部とホールICとの位置関係を示す平面図,(b) は本発明の回転位置検出装置のホールICで検出される磁束の状態を示す図である。 (a) は従来の回転位置検出装置のホールICで検出される磁束の状態を示す図,(b) は ホールICで検出される外乱磁場の磁束の成分を示す図である。 従来の回転角度検出装置での検出結果のリニアリティを示す図である。 図1の回転角度検出装置での検出結果のリニアリティを示す図である。 被検出部の変形例を示す第1の図である。 被検出部の変形例を示す第2の図である。 被検出部の変形例を示す第3の図である。 被検出部の変形例を示す第4の図である。 被検出部の変形例を示す第5の図である。
以下、図面を参照して、本発明の一実施形態を説明する。図1は、本実施形態の回転角度検出装置1を示す断面図である。なお、以下の説明で用いる上下の各方向は説明に用いる各図に示している。この上下は説明のために記載したものであり、実際の配置と異なることもある。
図1に示すように、回転角度検出装置1は、スロットル装置のスロットルボディ(不図示)に取り付けられるハウジング2と、スロットル装置のスロットルシャフトSに取り付けられるロータ3とを備えている。
ロータ3は、スロットルシャフトSの端部に装着される有底円筒状のロータ本体31と、ロータ本体31の下端部に形成された収容部32とを備えている。ロータ本体31は、嵌合穴30の上端開口部からスロットルシャフトSの端部が挿入されて、スロットルシャフトSに連結される。収容部32は、収容室32aを下面に開口させて、被検出部4を収容している。
ハウジング2は、ロータ3を収容する収容室20を上面に開口させている。収容室20内には、磁場検出部5が搭載された基板50が被検出部4の回転軸の軸方向に配置されている。磁場検出部5は、被検出部4の回転面に平行に延びた感磁面を有する集磁板51と集磁板51の感磁面と平行かつ被検出部4の回転軸の軸方向と直交する軸上に配置されるホール素子52を有している。磁場検出部5は、たとえば、ホールICであり、四角箱状を呈した本体の側面から複数の端子を延出させており、これらの端子が基板50上の回路に接続されている。
図2に示すように、被検出部4は、半円形の平板状を呈した磁性体であるヨーク41と、半円環形の平板状を呈した磁石42とが、直線状に延びた端面で互いに吸引されて密着した状態で構成され、回転面の延伸方向(いわゆる被検出部4の回転軸と交差する方向)にそって磁力によって吸引連結されている。ヨーク41は磁性体であれば良いが、特に透磁率の高い部材が好ましい。本実施形態においては、ヨーク41として鉄材を用いている。ヨーク41と磁石42との間には、磁石42の直線状の縁部に形成された間隙形成部42aにより、間隙が形成されている。収容室32aに収容された被検出部4は、被検出部4の軸心がスロットルシャフトSの軸心と一致するように配置されており、スロットルシャフトSの回転に従い被検出部4の軸心を中心として回転する。
図3に示すように、磁場検出部であるホールIC5には、磁気感知素子であるホール素子52a〜52dの4つのホール素子52が設けられている。以下、説明に用いるX軸方向およびY軸方向は図3に示しているが、説明のために記載したものであり、実際の配置と異なることもある。また、ホールIC5には、被検出部4の回転面に平行な円板状の感磁面を呈した集磁板51が搭載されている。ホール素子52a〜52dは、集磁板51の中心Oを中心として環状に配置されており、ホール素子52a〜52dの中心部が集磁板51の周縁に位置している。ホール素子52a,52cは、中心Oを挟んで対向して配置され、中心Oから互いに等しい間隔を置いてY軸方向(第1検出軸または第2検出軸)に並んでいる。ホール素子52b,52dは、中心Oを挟んで対向して配置され、中心Oから互いに等しい間隔を置いてX軸方向(第2検出軸または第1検出軸)に並んでいる。ホールIC5は、集磁板51の中心Oが被検出部4の回転軸と一致するように、被検出部4の下面に集磁板51の上面を向き合わせて対向して配置されている。
次に、ホールIC5の検出方法について説明する。図4(a)は、従来の回転角度検出装置におけるホールIC5に印加される磁束の状態を表している。図4(a)に示すように、ホールIC5は、印加された磁束のX軸の延伸方向のX成分Bx,Y軸の延伸方向のY成分Byを集磁板51で被検出部4の回転軸方向のZ成分に変換して検出し、印加された磁束のZ軸方向(回転軸の軸方向)のZ成分Bz(Bz1,Bz2)と共に、一方のホール素子52で磁束成分B1として、他方のホール素子52で磁束成分B2として検出する。したがって、磁束成分B1、B2は、
B1=B+Bz
B2=−B−Bz=−(B+Bz)
|B1|=|B2|
で表され、印加された磁場の大きさに比例した値になる。
ここで、Bは、X成分Bx又はY成分ByがZ成分に変換された磁束成分である。
ホールIC5には、図3(a)に示すように、4つのホール素子52a〜52dが設けられており、ホールIC5に内蔵された信号出力部は、ホール素子52aと他方のホール素子52cで検出した磁束成分B1と磁束成分B2との差に基づき、Z成分Bzを含むY成分Byを、ホール素子52b,52dでそれぞれ検出した磁束成分B1と磁束成分B2との差に基づき、Z成分Bzを含むX成分Bxをそれぞれ算出する。
Bx=B1−B2=2Bx+2Bz
By=B1−B2=2By+2Bz
ここで、Bxは、X成分BxがZ成分に変換された磁束成分であり、Byは、Y成分ByがZ成分に変換された磁束成分である。
そして、信号出力部は、算出したX成分BxとY成分Byとの比に基づき、中心Oを基準とする被検出部4の回転位置を特定し、回転位置に応じた信号を出力する。このとき、X成分Bx,Y成分Byは、実際にはそれぞれZ成分Bzを含むが、X成分Bx,Y成分Byの双方に同様に寄与しているため検出値には影響しない。
図4(b)は、被検出部の磁石によって印加される磁場と異なる外乱磁場が存在する磁束の状態を表している。X軸方向に沿って配置したホール素子52b,52dにZ軸方向に外乱磁場が印加されるとホール素子52b,52dにZ軸方向に沿う磁束のZ成分Bz’が発生する。発生する磁束のZ成分Bz’は、ホール素子52b,52dで同じ方向として検出されるため、以下の計算式で表されるように、磁束成分B1と磁束成分B2とを差動演算することでZ成分Bz’の外乱磁場の影響を相殺できる。
Bx=B1−B2=Bx+Bz+Bz’−(−Bx−Bz+Bz’)=2Bx+2Bz
By=B1−B2=By+Bz+Bz’−(−By−Bz+Bz’)=2By+2Bz
図5(a)は、従来の回転角度検出装置に用いられる半円環状の磁石420が組み合わされた円環状の被検出部40であり、図5(b)は、上記従来の被検出部40を用いた回転角度検出装置での回転角度の検出結果のリニアリティを示す図である。図6(a)は、本発明の被検出部4であり、半円形の平板状を呈したヨーク41と、半円環形の平板状を呈した磁石42とを、直線状に延びた端面同士を連結して構成されている。図6(b)は、被検出部4を用いた回転角度検出装置1での回転角度の検出結果のリニアリティを示す図である。
図5(b),図6(b)に示すリニアリティは、被検出部40,4が図5(a),図6(a)に示す0度の状態から中心Oを中心に時計回りに回転した際に実際に得られた検出結果のズレを、実際の被検出部40,4の回転角度との関係で示すものである。リニアリティは、実測値が目論見値に対してどの程度ズレているかを示すものであり、0(%)では、実測値と目論見値が一致している状態を示しており、0(%)から離れる程、実測値の目論見値からのズレが大きくなることを示している。ホールIC5での検出結果は、0度〜360度までの被検出部40,4の回転角度に比例して本来直線状に変化するはずであるが、実際の検出結果ではこの直線に対してズレ(誤差)が生じる。
従来の回転角度検出装置では、図5(b)に示すように、検出結果のリニアリティには、180度の周期でカーブを描くようにしてうねりが生じる。これに対し、回転角度検出装置1での検出結果のリニアリティは、被検出部4が1周(360度)回転する際に、図6(b)に示すように360度の周期でカーブを描くようにしてうねりが生じる。
上述の差動検出方法では、外乱磁場の影響を抑制できる反面、一対のホール素子を用いて磁場成分を検出するため、ホール素子の位置や感度の違い等の要因によりホール素子間の検出バラツキが生じ、結果として、リニアリティには狭い周期でうねりが生じる。リニアリティにうねりが生じる場合、精度の良い回転角度検出が困難である。また、規則的にうねりが生じる場合は、リニアリティが直線状に変化するうねりの山と谷との間の範囲で、このズレを補正することも可能であるが、その場合、回転角度を検出できる角度範囲が限定される。
本実施形態の回転角度検出装置1では、半円環状の磁石42に半円形のヨーク41を組み合わせて被検出部4を構成することで、被検出部4から生じる磁場が中心Oから被検出部4の回転面の延伸方向に偏った状態となる。この構成において、ホールIC5に印加される磁束の状態を図3(b)に示す。
ホール素子52に印加されるZ軸方向(回転軸の軸方向)の磁束のZ成分Bz(Bz1,Bz2)は、一対のホール素子52(X軸方向に沿って配置したホール素子52b,52d)において、磁束成分Bz1,Bz2が互いに同じ方向の磁束として印加される。したがって、ホール素子52b,52dで検出される磁束成分B1,B2は、
B1=B−Bz1
B2=−B−Bz2=−(B+Bz2)
|B1|−|B2|=|Bz1+Bz2|
で表され、磁束成分B1とB2では磁束の大きさが(Bz1+Bz2)分の差が生じる。
図4(a)から理解されるように、従来の回転角度検出装置では磁束成分B1,B2は、磁束の作用する向きは異なり、磁束の大きさは同じである。しかし、本実施形態の回転角度検出装置1では、Z軸方向に作用する磁束成分が一方向に偏っており、さらに磁束の大きさも異なるため、一対のホール素子52(52b,52d)で検出される磁束成分B1,B2の大きさに差が生じる。この磁束成分B1,B2の差(Bz1+Bz2)は、ホール素子52間の検出バラツキによる磁束成分よりも大きい。
一対のホール素子52で検出される磁束成分Bx(またはBy)は、磁束成分B1,B2の差分磁束成分とホール素子52間の検出バラツキによる磁束成分を含んで検出される。そのため、ホール素子52間の検出バラツキは、磁束成分B1,B2の差分磁束成分によりフィルタがかけられ結果としてうねりは解消される。
磁束成分B1,B2の差分磁束成分は、(Bz1+Bz2)で表されるが、この磁束成分はX軸、Y軸のどちらの検出にも同様に寄与する。そのため、算出したX成分BxとY成分Byとの比に基づき、被検出部4の回転位置を特定する回転位置検出装置1では、差分磁束成分(Bz1+Bz2)は、作用する磁束の向きが変わるまでは、検出値に直接影響されない。このため、従来生じていたホール素子52間の検出バラツキ等による狭い周期でのリニアリティのうねりを解消することができる。
本実施形態においても、作用する磁束の向きが変わる回転範囲においては、大きな周期のうねりが生じることとなるが、より広い角度範囲で角度を検出可能である。従って、回転角度検出装置1での検出結果のリニアリティが直線に近づく範囲が広がることによって、精度の高い検出結果を広い回転角度範囲で得ることができる。
つまり、従来の回転角度検出装置では、うねりの山と谷との間の約90度の範囲でリニアリティが直線状に変化することから、上記90度以下の範囲(例えば角度a〜角度bの範囲)では検出結果のズレを容易に補正し回転角度を検出することができる。本実施形態の回転角度検出装置1では、うねりの山と谷との間の約180度の範囲でリニアリティが直線状に変化することから、上記180度以下の範囲(例えば角度c〜角度dの範囲)では検出結果のズレを容易に補正し回転角度を検出することができる。上記のように従来の回転角度検出装置に対し、2倍の回転角度範囲で出力直線性(リニアリティ)を得られるため、2倍の回転角度範囲を検出することが可能となり、回転角度を検出する多くの用途に用いることができる。
上記実施形態では、半円環状の磁石42に半円形のヨーク41を組み合わせて被検出部4を構成した場合について説明したが、被検出部4から生じる磁場が中心Oから被検出部4の回転面の延伸方向に偏るのであれば、被検出部4の構成は任意である。
例えば、図7に示す被検出部4aのように、コノ字状の磁石42に矩形のヨーク41を組み合わせて構成してもよい。また、図8に示す被検出部4bのように、半円形のヨーク41と磁石42とを組み合わせて構成してもよい。また、図9に示す被検出部4cのように、矩形のヨーク41と磁石42とを組み合わせて構成してもよい。また、図10に示す被検出部4dのように、半円環状のヨーク41と磁石42とを組み合わせて構成してもよい。また、図11に示す被検出部4eのように、コノ字状のヨーク41と磁石42とを組み合わせて構成してもよい。
また、被検出部4から生じる磁場が、ホールIC5での回転角度の検出基準となる中心Oから被検出部4の回転面の延伸方向に偏るのであれば、被検出部4が軸心を挟んだ一方側と他方側とが逆磁極を被検出部4の回転面側に向けるように分極された磁石から構成されていてもよい。例えば、被検出部4が同形状の磁石42を組み合わせて構成されており、軸心を中心Oに対して被検出部4の回転面の延伸方向にずらして配置されていてもよい。
また、上記実施形態では、被検出部4をロータ3でスロットルシャフトSに固定した場合について説明したが、スロットルシャフトSと一体となって被検出部4が回転するのであれば、スロットルシャフトSへの被検出部4の固定方法は任意であり、スロットルシャフトSに被検出部4を直接固定してもよい。また、上記実施形態では、スロットルシャフトSの回転角度を検出する回転角度検出装置1に本発明を適用した場合について説明したが、ロータを取り付ける検出対象は任意である。
1 回転角度検出装置
2 ハウジング
20 収容室
3 ロータ
30 嵌合穴
31 ロータ本体
32 収容部
32a 収容室
4,4a〜4e,40 被検出部
41 ヨーク
42,420 磁石
42a 間隙形成部
5 磁場検出部(ホールIC)
50 基板
51 集磁板
52,52a〜52d ホール素子
Bx 磁束のX成分
By 磁束のY成分
Bz(Bz1,Bz2),Bz’ 磁束のZ成分
B1 磁束成分
B2 磁束成分
S スロットルシャフト

Claims (3)

  1. 回転位置の検出対象に取り付けられる被検出部と、
    該被検出部に対向して配置されて、前記被検出部の回転面に平行に延びた感磁面を有する集磁板と、
    該集磁板の感磁面に平行に延びて前記検出対象の回転軸の軸方向と直交する第1検出軸上に配置され、該第1検出軸の延伸方向の磁束成分を検出する第1磁気感知素子と、
    該第1検出軸と交差して前記集磁板の感磁面に平行に延びて前記回転軸の軸方向と直交する第2検出軸上に配置され、該第2検出軸の延伸方向の磁束成分を検出する第2磁気感知素子と、
    前記第1磁気感知素子及び前記第2磁気感知素子での検出結果に基づき、前記検出対象の回転位置に応じた信号を出力する信号出力部とを備え、
    前記被検出部は、磁石と磁性体とが前記回転面の延伸方向に沿って並ぶように連結されて構成されており、前記回転軸に対して当該被検出部の中心が一致するように配置され、前記被検出部から生じる磁場を前記回転軸から前記回転面の延伸方向に偏らせていることを特徴とする回転角度検出装置。
  2. 前記磁石は、前記磁性体と連結される縁部に、前記磁性体との間に間隙を形成する間隙形成部を備えることを特徴とする請求項1に記載の回転角度検出装置。
  3. 前記磁性体がヨークであり、前記磁石は、前記回転軸の軸方向に沿って分極されていることを特徴とする請求項1に記載の回転角度検出装置。
JP2011030019A 2011-02-15 2011-02-15 回転角度検出装置 Active JP5801566B2 (ja)

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