JP5795955B2 - 光学式変位計測装置の計測誤差補正装置および補正方法 - Google Patents
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Description
δ(2)=δ′±h・θ(1) ・・・(1)
δ(n)=δ′±h・θ(n−1) ・・・(2)
2…光学式変位計測装置
11…シミュレーション部
12…構造解析モデルデータ格納部
13…計測誤差補正部
21…照射光源
22…受光部材
31…上梁
32…下梁
41…左柱
42…右柱
B1〜B9…梁
M…建物
P1〜P8…柱
δ…推定変位
ε…しきい値
θ…推定局部回転角
Claims (6)
- 照射光源から照射された光を受光装置によって受光して、外乱による基準位置に対する計測対象位置の変位を検出する光学式変位計測装置における計測誤差を補正する光学式変位計測装置の計測誤差補正装置であって、
前記基準位置および前記計測対象位置が所定の構造体に設定されており、
前記構造体の構造解析モデルを用いて変位載荷を時刻歴上で行う構造解析を実施し、前記構造体における前記基準位置に対する前記計測対象位置の変位である構造解析変位を推定する構造解析変位推定手段と、
前記光学式変位計測装置における計測結果および推定された前記構造解析変位に基づいて、前記光学式変位計測装置の誤差を補正する誤差補正手段と、
を備えることを特徴とする光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 前記構造解析変位推定手段は、構造解析変位として、前記光学式変位計測装置の計測結果から得られる計測変位を第1構造解析変位とし、前記照射光源と前記受光装置との間の相対的な回転角である第1局部回転角を前記第1構造解析変位から求め、前記第1構造解析変位および前記第1局部回転角を用いた構造解析を行って、第2構造解析変位を推定し、
以後、第(n−1)構造解析変位から求められる第(n−1)局部回転角(n:整数)および第1構造解析変位を用いた構造解析を行って、第n構造解析変位を推定する請求項1に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 前記構造解析変位推定手段は、
第n構造解析変位と第(n−1)構造解析変位との差が所定のしきい値以下となったときに、前記第n構造解析変位を補正後の基準位置に対する計測対象位置の変位とする請求項2に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 前記構造解析変位を所定期間内における所定の単位時間ごとに算出し、
前記単位時間ごとの第n構造解析変位と第(n−1)構造解析変位との差の平均とが所定のしきい値以下となったときに、前記第n構造解析変位を補正後の基準位置に対する計測対象位置の変位とする請求項2に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 前記構造体が建物であり、
前記外乱が地震による震動である請求項1〜請求項4のうちのいずれか1項に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 照射光源から照射された光を受光装置によって受光して、外乱による基準位置に対する計測対象位置の変位を検出する光学式変位計測装置における計測誤差を補正する光学式変位計測装置の計測誤差補正方法であって、
前記基準位置および前記計測対象位置が所定の構造体に設定されており、
前記構造体の構造解析モデルを用いて変位載荷を時刻歴上で行う構造解析を実施し、前記構造体における前記基準位置に対する前記計測対象位置の変位である構造解析変位を推定する構造解析変位推定ステップと、
前記光学式変位計測装置における計測結果および推定された前記構造解析変位に基づいて、前記光学式変位計測装置の誤差を補正する計測誤差ステップと、
を備えることを特徴とする光学式変位計測装置の計測誤差補正方法。
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