JP2013122428A - 光学式変位計測装置の計測誤差補正装置および補正方法 - Google Patents
光学式変位計測装置の計測誤差補正装置および補正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2013122428A JP2013122428A JP2011271418A JP2011271418A JP2013122428A JP 2013122428 A JP2013122428 A JP 2013122428A JP 2011271418 A JP2011271418 A JP 2011271418A JP 2011271418 A JP2011271418 A JP 2011271418A JP 2013122428 A JP2013122428 A JP 2013122428A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- displacement
- measurement
- structural analysis
- optical
- error correction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
【解決手段】計測誤差補正装置は、光学式変位計測装置から送信された受光位置から層間変位などの計測変位を求め、計測層間変位に対して構造解析モデルを用いた時刻歴変位載荷解析を行う。計測変位と解析結果から得られる推定局部回転角θ(n−1)および推定変位δ(n−1)から、次の推定変位δ(n)を求める。以後、推定変位δ(n−1)と推定変位δ(n)とが収束条件を満たした場合に、推定変位δ(n)を最終推定変位と判定する。
【選択図】図3
Description
δ(2)=δ′±h・θ(1) ・・・(1)
δ(n)=δ′±h・θ(n−1) ・・・(2)
2…光学式変位計測装置
11…シミュレーション部
12…構造解析モデルデータ格納部
13…計測誤差補正部
21…照射光源
22…受光部材
31…上梁
32…下梁
41…左柱
42…右柱
B1〜B9…梁
M…建物
P1〜P8…柱
δ…推定変位
ε…しきい値
θ…推定局部回転角
Claims (6)
- 照射光源から照射された光を受光装置によって受光して、外乱による基準位置に対する計測対象位置の変位を検出する光学式変位計測装置における計測誤差を補正する光学式変位計測装置の計測誤差補正装置であって、
前記基準位置および前記計測対象位置が所定の構造体に設定されており、
前記構造体の構造解析モデルを用いて構造解析を実施し、前記構造体における前記基準位置に対する前記計測対象位置の変位である構造解析変位を推定する構造解析変位推定手段と、
前記光学式変位計測装置における計測結果および推定された前記構造解析変位に基づいて、前記光学式変位計測装置の誤差を補正する誤差補正手段と、
を備えることを特徴とする光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 前記構造解析変位推定手段は、構造解析変位として、前記光学式変位計測装置の計測結果から得られる計測変位を第1構造解析変位とし、前記照射光源と前記受光装置との間の相対的な回転角である第1局部回転角を前記第1構造解析変位から求め、前記第1構造解析変位および前記第1局部回転角を用いた構造解析を行って、第2構造解析変位を推定し、
以後、前記第(n−1)構造解析変位から求められる第(n−1)局部回転角(n:整数)および第1構造解析変位を用いた構造解析を行って、第n構造解析変位を推定する請求項1に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 前記構造解析変位推定手段は、
第n構造解析変位と第(n−1)構造解析変位との差が所定のしきい値以下となったときに、前記第n構造解析変位を補正後の基準位置に対する計測対象位置の変位とする請求項2に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 前記構造解析変位を所定期間内における所定の単位時間ごとに算出し、
前記単位時間ごとの第n構造解析変位と第(n−1)構造解析変位との差の平均とが所定のしきい値以下となったときに、前記第n構造解析変位を補正後の基準位置に対する計測対象位置の変位とする請求項2に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 前記構造体が建物であり、
前記外乱が地震による震動である請求項1〜請求項4のうちのいずれか1項に記載の光学式変位計測装置の計測誤差補正装置。 - 照射光源から照射された光を受光装置によって受光して、外乱による基準位置に対する計測対象位置の変位を検出する光学式変位計測装置における計測誤差を補正する光学式変位計測装置の計測誤差補正方法であって、
前記基準位置および前記計測対象位置が所定の構造体に設定されており、
前記構造体の構造解析モデルを用いて構造解析を実施し、前記構造体における前記基準位置に対する前記計測対象位置の変位である構造解析変位を推定する構造解析変位推定ステップと、
前記光学式変位計測装置における計測結果および推定された前記構造解析変位に基づいて、前記光学式変位計測装置の誤差を補正する計測誤差ステップと、
を備えることを特徴とする光学式変位計測装置の計測誤差補正方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011271418A JP5795955B2 (ja) | 2011-12-12 | 2011-12-12 | 光学式変位計測装置の計測誤差補正装置および補正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011271418A JP5795955B2 (ja) | 2011-12-12 | 2011-12-12 | 光学式変位計測装置の計測誤差補正装置および補正方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2013122428A true JP2013122428A (ja) | 2013-06-20 |
JP5795955B2 JP5795955B2 (ja) | 2015-10-14 |
Family
ID=48774458
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011271418A Active JP5795955B2 (ja) | 2011-12-12 | 2011-12-12 | 光学式変位計測装置の計測誤差補正装置および補正方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5795955B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104132617A (zh) * | 2014-08-22 | 2014-11-05 | 苏州北硕检测技术有限公司 | 一种激光测量中虚拟定位的cae补偿方法及装置 |
JP2016197074A (ja) * | 2015-04-06 | 2016-11-24 | 株式会社Nttファシリティーズ | 層間変位計測システム、層間変位計測方法、及びプログラム |
KR20190108037A (ko) | 2018-03-13 | 2019-09-23 | 오므론 가부시키가이샤 | 광학 계측 장치 및 광학 계측 방법 |
CN114001656A (zh) * | 2021-11-12 | 2022-02-01 | 天津希格玛微电子技术有限公司 | 光学位移检测装置的检测误差修正方法及设备 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0510846A (ja) * | 1991-07-02 | 1993-01-19 | Hitachi Ltd | 構造物の振動試験装置、振動試験方法及び振動応答解析装置 |
JP2006031068A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Hironori Nagai | 建築構造物の構造設計方法、そのプログラム、及びそのプログラムを格納した記録媒体 |
JP2008129813A (ja) * | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Hokkaido Univ | 柔軟アームを有する移動ロボット |
JP2009216402A (ja) * | 2008-03-07 | 2009-09-24 | Univ Waseda | 検出装置及び検出方法 |
JP2010061177A (ja) * | 2006-12-25 | 2010-03-18 | Osaka Univ | 有限要素解析装置、有限要素解析方法及びコンピュータプログラム |
JP2010531451A (ja) * | 2007-06-28 | 2010-09-24 | ヘキサゴン・メトロロジー・エス.ピー.エー. | 座標測定機における動的変形による測定誤差の補正 |
JP2011013095A (ja) * | 2009-07-02 | 2011-01-20 | Waseda Univ | 変位計測装置、及び変位計測方法 |
-
2011
- 2011-12-12 JP JP2011271418A patent/JP5795955B2/ja active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0510846A (ja) * | 1991-07-02 | 1993-01-19 | Hitachi Ltd | 構造物の振動試験装置、振動試験方法及び振動応答解析装置 |
JP2006031068A (ja) * | 2004-07-12 | 2006-02-02 | Hironori Nagai | 建築構造物の構造設計方法、そのプログラム、及びそのプログラムを格納した記録媒体 |
JP2008129813A (ja) * | 2006-11-20 | 2008-06-05 | Hokkaido Univ | 柔軟アームを有する移動ロボット |
JP2010061177A (ja) * | 2006-12-25 | 2010-03-18 | Osaka Univ | 有限要素解析装置、有限要素解析方法及びコンピュータプログラム |
JP2010531451A (ja) * | 2007-06-28 | 2010-09-24 | ヘキサゴン・メトロロジー・エス.ピー.エー. | 座標測定機における動的変形による測定誤差の補正 |
JP2009216402A (ja) * | 2008-03-07 | 2009-09-24 | Univ Waseda | 検出装置及び検出方法 |
JP2011013095A (ja) * | 2009-07-02 | 2011-01-20 | Waseda Univ | 変位計測装置、及び変位計測方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JPN6015002690; 畑田 朋彦,高橋 元一,鈴木 康嗣,松谷 巌,金川 清,仁田 佳宏,西谷 章: '起振機加振試験による非接触型センサを利用した実建物の層間変位計測' 日本建築学会構造系論文集 第75巻,第653号, 201007, 1257-1264, 日本建築学会 * |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN104132617A (zh) * | 2014-08-22 | 2014-11-05 | 苏州北硕检测技术有限公司 | 一种激光测量中虚拟定位的cae补偿方法及装置 |
JP2016197074A (ja) * | 2015-04-06 | 2016-11-24 | 株式会社Nttファシリティーズ | 層間変位計測システム、層間変位計測方法、及びプログラム |
KR20190108037A (ko) | 2018-03-13 | 2019-09-23 | 오므론 가부시키가이샤 | 광학 계측 장치 및 광학 계측 방법 |
CN110274543A (zh) * | 2018-03-13 | 2019-09-24 | 欧姆龙株式会社 | 光学测量装置以及光学测量方法 |
EP3543645A1 (en) | 2018-03-13 | 2019-09-25 | OMRON Corporation | Optical measurement device and optical measurement method |
US10767979B2 (en) | 2018-03-13 | 2020-09-08 | Omron Corporation | Optical measurement device and optical measurement method |
TWI723324B (zh) * | 2018-03-13 | 2021-04-01 | 日商歐姆龍股份有限公司 | 光學測量裝置以及光學測量方法 |
CN114001656A (zh) * | 2021-11-12 | 2022-02-01 | 天津希格玛微电子技术有限公司 | 光学位移检测装置的检测误差修正方法及设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP5795955B2 (ja) | 2015-10-14 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN105445756B (zh) | 构造物的安全性诊断*** | |
JP5547029B2 (ja) | 建物の損傷評価方法及び建物の損傷評価装置 | |
US10627219B2 (en) | Apparatus and methods for monitoring movement of physical structures by laser deflection | |
TWI507670B (zh) | Building safety verification system, building safety verification method and computer-readable recording medium | |
WO2018138943A1 (ja) | 剛性測定装置および剛性測定方法 | |
EP3320318B1 (en) | An optically-based interstory drift meter system for rapid assessment of the earthquake response of building structures | |
AU2017281204A1 (en) | System and method for determining the risk of failure of a structure | |
JP5795955B2 (ja) | 光学式変位計測装置の計測誤差補正装置および補正方法 | |
KR20080021300A (ko) | 라이다를 이용한 구조물 건전성 진단방법 | |
US20140012517A1 (en) | Structural damage estimation based on measurements of rotations | |
Zhou et al. | Vibration-based detection of small-scale damage on a bridge deck | |
Boumechra | Damage detection in beam and truss structures by the inverse analysis of the static response due to moving loads | |
McCallen et al. | A laser-based optical sensor for broad-band measurements of building earthquake drift | |
Xiang et al. | Identification of yield drift deformations and evaluation of the degree of damage through the direct sensing of drift displacements | |
KR101348817B1 (ko) | 인공신경망을 이용한 오류 계측값 추정 방법 및 시스템 | |
JP5556018B2 (ja) | 基準墨の位置精度の監視システム、基準墨の位置精度の監視方法 | |
US20200123891A1 (en) | Apparatus and method for predicting a derformed shape of a structure | |
KR101816418B1 (ko) | 변위 및 경사각 계측 데이터를 융합한 구조물의 변형 형상 추정 방법 | |
KR20140105345A (ko) | 불확실한 하중을 받는 보 부재의 변형률 분포 추정 장치 및 방법 | |
Toyoshi | Residual displacement and residual strain measurement for steel frame under seismic load by integrated dot centroid tracking method | |
JP6512447B2 (ja) | 建物の応答推定方法 | |
JP2020080095A (ja) | 建物情報処理装置及び建物情報処理モデル学習装置 | |
JP5615672B2 (ja) | エレベーターの地震時運転休止予測システム | |
JP2010127764A (ja) | 建物の耐震診断方法および装置 | |
JP6363539B2 (ja) | 建物の損傷部位の推定方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20140512 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20150121 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20150127 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20150323 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20150811 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20150817 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5795955 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |