JP5761956B2 - 均一な仮想温度を有する合成シリカガラス - Google Patents
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Description
Tf(t)=T+(Tf(0)−T)・exp(−t/τ) (1)
のものであることを前提としており、ここで、tは、ガラスが温度Tにされてからの経過時間であり、Tf(0)は、その瞬間のガラスのTfである。このモデルでは、緩和が時間定数τにより特徴付けられることも前提としている。所定の組成を有するガラスについて、時間定数τは、時間のみの関数であり、仮想温度Tfの関数ではない。時間定数τは、所定の粘度νの温度依存性によりTに依存すると仮定され:
τ(T)=ν(T)/α (2)
ここで、αは、材料に特異的な、温度に関係ないパラメータである。ガラスの粘度νは、例えば、ビーム曲げ技法および平行板技法などの、当該技術分野において公知の独立した技法によって測定することができる。あるいは、粘度の温度依存性は、所定の均一な冷却速度でガラスサンプルをアニールすることによって実験的に決定しても差し支えない。
ν(T)=exp(a+b/T) (3)
の指数関数により近似することができ、ここで、aおよびbは、実験データをフィッティングすることによって経験的に得られたパラメータである。粘度の強い温度依存性は、緩和速度τ(T)の同等に強い依存性へと直接的に変換される。実際の問題として、これは、通常のアニールプロセスにおいて使用した典型的な温度範囲の中の仮想温度Tfの変化速度が、数桁の大きさで変動し得ることを意味する。それゆえ、ガラス製造プロセスにとって実際的である時間枠内で低いTfを得るために、アニールスケジュールは、この変動を考慮に入れなければならない。
Claims (6)
- 均一な仮想温度を有するシリカガラスを製造する方法において、
a. シリカガラスを提供する工程であって、該シリカガラスが、歪み点Ts、仮想温度、および該仮想温度での緩和速度を有し、かつ800質量ppm未満のヒドロキシル基濃度を有し、該ヒドロキシル基濃度が少なくとも0.5ppmだけ変動するものである工程、
b. 前記シリカガラスをアニールする工程であって、該シリカガラスを、目的の仮想温度より高い第1の温度まで加熱し、該シリカガラスを前記第1の温度から、前記目的の仮想温度未満でありかつT s −40℃より高い第2の温度まで冷却し、さらに前記シリカガラスを前記第2の温度から、仮想温度が前記目的の仮想温度の20℃以内となるのに十分に遅い速度で該目的の仮想温度まで加熱することを含む工程、および
c. 前記シリカガラスを前記目的の仮想温度から、約5℃/時より速い冷却速度で前記歪み点未満の温度まで冷却する工程であって、該冷却速度が、前記目的の仮想温度での前記ガラスの緩和速度よりも速く、前記シリカガラスが、前記アニール工程の後に3℃未満しか変動しない1065℃未満の仮想温度を有し、かつ1ppm未満の屈折率均一性を有するものである工程、
を有してなる方法。 - 前記シリカガラスを第1の温度から目的の仮想温度まで冷却する工程が、該シリカガラスを、累進的に減少する冷却速度で該目的の仮想温度まで冷却する工程を含む、請求項1記載の方法。
- シリカガラスであって、1ppm未満の屈折率均一性、少なくとも0.5質量ppmだけ変動する800質量ppm未満のヒドロキシル基濃度、および3℃未満しか変動しない1065℃未満の仮想温度を有するシリカガラス。
- 前記ヒドロキシル基濃度が重水酸基濃度を含み、該重水酸基濃度が、重水素の自然に同位体依存度より大きいことを特徴とする請求項3記載のシリカガラス。
- 前記シリカガラスが25ppbまでのナトリウムを含むことを特徴とする請求項3または4記載のシリカガラス。
- 22℃の温度および193.368nmの波長で、1.560830未満の絶対屈折率を有することを特徴とする請求項3から5いずれか1項記載のシリカガラス。
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