JP5758861B2 - 熱アシスト磁気ヘッド検査方法及び熱アシスト磁気ヘッド検査装置 - Google Patents
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Description
しかしながら、このトラック幅に対し重要な要素となる近接場光の実効的な強度分布や大きさは、光学顕微鏡やSEM による表面形状では測定できないため、検査方法についてはは未解決の重要な課題である。
一方、この近接場光を検出する技術としては、近接場光に走査型のプローブを近付け、近接場光を散乱させることにより検出し形状を知ることができる「近接場光学顕微鏡(SNOM;Scanning Near-field Optical Microscopy,NSOM;Near-field Scanning Optical Microscopy,NOM;Near-field Optical Microscopyなどとも称する)」が 特許文献4に開示されている。
図1は、本発明の実施形態における磁気ヘッド素子検査装置1000のシステムの構成を示すブロック図である。磁気ヘッド素子検査装置1000は、検査部100、モニタ部200、搬送部300、及び信号処理・制御部400を備えている。
磁気ヘッド素子検査装置1000は、防音ボックス600で覆われた除振テーブル500上に、検査部100と搬送部300を配置して構成されている。
まず、検査ステップS806を実行するにあたって、前に説明したように、モニタ画面31に表示された近接場光検出光学系115のCCDカメラ525で撮像された画像をモニタしながら、AFMモードでの検査時の探針4とピンホール付ミラー522のピンホール521及び光検出器523の位置を予め調整しておく。
次に、上記実施の形態と異なる他の実施の形態について説明する。上記実施の形態と異なる点は、上記実施の形態では図7Aに示すように、熱アシスト磁気ヘッド素子部501の検査領域401をカンチレバー10で走査する際に、X方向及び−X方向にカンチレバー10で走査させたが、他の実施の形態では、図7Bに示すようにY方向及び−Y方向にカンチレバー10で走査させる。
Claims (4)
- 表面に磁性膜が形成された探針を先端部に有するカンチレバーとXY平面内で移動可能
なXYテーブルとを備えた走査型プローブ顕微鏡の前記XYテーブルに熱アシスト磁気ヘ
ッド素子を搭載し、
該XYテーブルに搭載された熱アシスト磁気ヘッド素子に形成された端子に交流電流を
供給して前記熱アシスト磁気ヘッド素子に磁界を発生させた状態で前記熱アシスト磁気ヘ
ッド素子の表面を前記走査型プローブ顕微鏡のカンチレバーの探針で第1の方向に走査し
て前記磁界の発生領域を検出し、
前記XYテーブルに搭載された熱アシスト磁気ヘッド素子に形成された近接場光発光部
に駆動電流又は駆動電圧を印加させて前記近接場光発光部から近接場光を発生させた状態
で前記熱アシスト磁気ヘッド素子の表面を前記走査型プローブ顕微鏡のカンチレバーの探
針で前記第1の方向と反対向きの第2の方向に走査して前記近接場光の発光領域を求め、
前記検出した磁界の発生領域と前記求めた近接場光の発光領域の情報に基づいて前記熱ア
シスト磁気ヘッドの良否を判定する
ことを特徴とする熱アシスト磁気ヘッド検査方法。 - 請求項1記載の熱アシスト磁気ヘッド検査方法であって、前記磁界の発生領域を検出するときには前記近接場光発光部への駆動電流又は駆動電圧の印加を停止し、前記近接場光の発光領域を求めるときには前記熱アシスト磁気ヘッド素子に形成された端子への前記交流電流の供給を停止することを特徴とする熱アシスト磁気ヘッド検査方法。
- 請求項1記載の熱アシスト磁気ヘッド検査方法であって、前記探針の表面に形成された磁性膜の上には貴金属又は貴金属を含む合金の粒子が形成されており、前記探針の一部が前記近接場光発光部で発生した近接場光中に有るときに前記貴金属又は貴金属を含む合金の粒子によって局在型表面プラズモン増強効果により増幅された散乱光を発生することを特徴とする熱アシスト磁気ヘッド検査方法。
- 請求項1記載の熱アシスト磁気ヘッド検査方法であって、前記探針を前記熱アシスト磁気ヘッド素子上に設定された検査領域の全面を1回スキャンすることにより、前記検査領域内における磁界の分布と近接場光の発光領域及びその分布を求めることを特徴とする熱アシスト磁気ヘッド検査方法。
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