JP5701743B2 - 放射線検出器、画像システム、光子を検出するための方法及びその方法を実行するコンピュータプログラム - Google Patents
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Description
a)入射光子を(これがシンチレータ材料と相互作用する場合)光学光子のバーストに変換するための少なくとも1つのシンチレータ素子。典型的には、約0.2μmから約1.0μmの波長を持つ数百から数千の光学光子のバースト又はシャワーが単一X線光子によって生成され、光学光子の数は変換されたX線光子のエネルギーに依存する。
b)光学光子の1バーストの期間内に、少なくとも2つの所定収集時間間隔の間に前述のシンチレータ素子から受け取られる光学光子の数を決定するための、少なくとも1つの"ピクセル"。"1バーストの期間"とは、この文脈において、バーストの光子束がその(初期)ピーク値の10%未満に減衰するまでの(平均)時間と定義される。この時間の典型的な値は10nsから1000ns、好ましくは45nsから115ns、最も好ましくは45nsから80nsの範囲である。好ましくは、各バーストは例えば10から50の多数の収集時間間隔においてピクセルによってサンプリングされる。ピクセルは、アナログ値ではなく数を決定して出力するので、デジタル回路を有する。
単一変換光子の検出。カウント数は例えば光学光子のバーストを時間の範囲における数の特徴的配列として分解し、これから根底にある変換光子が検出されることができる。
異なる変換光子によって生成される光学光子のパイルアップの補正。このアプローチは、特に高い光子束において、2つの連続光子が同じシンチレータ素子に連続してすぐに到達し得るため、これらの光学光子のバーストが重なってしまうことを考慮する。
所与の時間間隔(収集間隔よりもかなり長い)の間に決定される光学光子の積分数(integral number)。この積分値は、例えば入射X線ビームの強度を推定することを可能にし、従って特に単一X線光子の分解が最早不可能であるような高いX線フラックスの場合に、有益な情報を提供する。
単一変換光子のエネルギー。この情報は、該検出器がスペクトルCTにおいて適用される場合に特に必要である。これは検出された光子のバーストにおける光学光子の数(例えば総数又はピーク数)から得られる。
a)シンチレータ素子に入射する光子を光学光子のバーストに変換するステップ。
b)光学光子の1バーストの期間内に少なくとも2つの所定収集間隔の間にシンチレータ素子から受け取られる光学光子の数を決定するステップ。
1.セルはOEによって"クロックされる"。これはOE=1の場合、セルは光学光子を検出することができ、この検出は直ちに出力に渡され、OE=0の場合、セルと出力線は次の光子検出に備えて再充電される、ということを意味する。OE=0の間にダイオードに入るいかなる光子も、検出されるかどうかわからないが、この結果は次の収集段階の間に出力に渡される。
2.デューティサイクル(収集時間T1からリセット時間T0)は、OEのデユーティサイクルによって変化し得る(図3におけるクロック信号の図を参照)。(光学)光子束が低い場合、収集時間T1はリセット時間T0の何倍にもなり得る。逆に、ダイオードAPDの感度は、収集時間T1をリセット時間T0よりも小さくすることによって人為的に下げることができる。OEデューティサイクル(T1:T0)及び周波数fsは両方とも、検出されるフラックスに動的に適合されることができる。
3.典型的に、VOVはダイオードの感度を決定し、ダイオードは最大感度に達するためにVOVに完全に再充電されなければならない。しかしながら、フルレベルに達するために必要な再充電時間は、P0の設計、キャパシタンス、及びダイオードの直列抵抗に依存して、極めて長くなり得る(5‐10ns)。リセット段階を短くすることは、ダイオードを部分的にしか充電されていないままにすることになり、従って低感度のままにすることになる。そのため、リセット段階T0の期間を削減することによってセンサの感度もまた低下され得る。2)と比較して、これは一定デューティサイクルの場合、ダイオードの過電圧を低下させることが低い暗計数率をもたらし、従って高い信号対ノイズ比をもたらすという明白な利点を持つ。(同じ効果はVOVを下げることによって実現され得るが、これは論理によって許容可能なレベルにしかなされることができない。)これは、インバータがダイオードレベルをデジタル化し、従って電圧に閾値を設定するため、上記回路によって特定レベルのみに実現され得ることに留意すべきである。しかしながらダイオードの部分的充電は、以下に記載される2つの回路とともに使用されることができる。
Claims (17)
- 各入射光子を光学光子のバーストに変換するための少なくとも1つのシンチレータ素子と、
光学光子のバーストの形状を時間分解するように、単一光学光子を登録し、光学光子の1バーストの期間内の少なくとも2つの所定収集間隔中に前記シンチレータ素子から受け取られる前記登録された単一光学光子のデジタル数をカウントするための少なくとも1つのピクセルとを有し、前記所定収集間隔が前記シンチレータ素子の材料によって生成される光学光子のバーストの減衰時間と光学光子束に基づいて決定される、放射線検出器。 - 前記シンチレータ素子が、100ns未満の生成された光学光子のバーストに対する減衰時間を持つ材料を有する、請求項1に記載の放射線検出器。
- 前記シンチレータ素子が、50ns未満の生成された光学光子のバーストに対する減衰時間を持つ材料を有する、請求項2に記載の放射線検出器。
- デジタルクロック信号に対する入力を有し、前記入力の論理値が、収集間隔が達成されたかどうかを決定する、請求項1に記載の放射線検出器。
- 前記デジタルクロック信号の異なる論理レベルの間に収集間隔を達成するピクセルの2つのグループを有する、請求項4に記載の放射線検出器。
- 単一変換光子の検出、
異なる変換光子によって生成される光学光子のパイルアップの補正、
所与の時間間隔の間に検出される光学光子の積分数、及び/又は、
単一変換光子のエネルギー、
について、前記ピクセルによって決定される数を評価するための評価装置を有する、請求項1に記載の放射線検出器。 - 前記評価装置が、2つの連続光子間の時間間隔を決定するためのタイマーと、前記時間間隔に基づいてこれらの測定された効果を分離するための補正モジュールとを有する、請求項6に記載の放射線検出器。
- 前記ピクセルが、単一光学光子の検出時に電気信号を生成する検出器セルのアレイを有する、請求項1に記載の放射線検出器。
- 前記検出器セルが単一光学光子の検出時に感受性状態から非感受性状態へ変化する、請求項8に記載の放射線検出器。
- 前記検出器セルが、2つの収集間隔の間のリセット間隔の間に前記感受性状態にリセットされる、請求項9に記載の放射線検出器。
- 前記検出器セルがアバランシェフォトダイオードを有する、請求項8に記載の放射線検出器。
- 前記ピクセルが、収集間隔の間にそのアレイの全検出器セルによって提供される前記電気信号を加算するための集線装置を有する、請求項8に記載の放射線検出器。
- 請求項1に記載の放射線検出器を有する画像システム。
- 前記画像システムがCTスキャナである、請求項13に記載の画像システム。
- シンチレータ素子に入射する光子を光学光子のバーストに変換するステップと、
光学光子のバーストの形状を時間分解するように、単一光学光子を登録し、光学光子の1バーストの期間内の少なくとも2つの所定収集間隔中に前記シンチレータ素子から受け取られる前記登録された単一光学光子のデジタル数をカウントするステップとを有し、
前記所定収集間隔が前記シンチレータ素子の材料によって生成される光学光子のバーストの減衰時間と光学光子束に基づいて決定される、
光子を検出するための方法。 - 前記カウントされた光学光子のデジタル数が、前記変換された光子の数及び/又はエネルギーについて評価される、請求項15に記載の方法。
- 請求項15に記載の方法を実行することを可能にするためのコンピュータプログラム。
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WO2009019659A2 (en) * | 2007-08-08 | 2009-02-12 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Silicon photomultiplier readout circuitry |
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WO2012016198A2 (en) * | 2010-07-30 | 2012-02-02 | Pulsetor, Llc | Electron detector including an intimately-coupled scintillator-photomultiplier combination, and electron microscope and x-ray detector employing same |
US8716643B2 (en) * | 2010-09-06 | 2014-05-06 | King Abdulaziz City Science And Technology | Single photon counting image sensor and method |
US8859944B2 (en) * | 2010-09-07 | 2014-10-14 | King Abdulaziz City Science And Technology | Coordinated in-pixel light detection method and apparatus |
EP2640270B1 (en) | 2010-11-18 | 2018-05-16 | Koninklijke Philips N.V. | Pet-ct system with single detector |
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US9310495B2 (en) * | 2011-05-04 | 2016-04-12 | Oy Ajat Ltd. | Photon/energy identifying X-ray and gamma ray imaging device (“PID”) with a two dimensional array of pixels and system therefrom |
KR101740263B1 (ko) * | 2011-06-28 | 2017-05-29 | 한국과학기술연구원 | 양극성 구형 게이팅 신호와 함께 동작되는 InGaAs/InP 아발란치 포토 다이오드를 이용하는 근적외선에서의 단광자 검출기 |
DE102011052334B4 (de) * | 2011-08-01 | 2013-04-11 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Einrichtung und Verfahren zum Zählen von Photonen |
WO2013018006A1 (en) | 2011-08-03 | 2013-02-07 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Position-sensitive readout modes for digital silicon photomultiplier arrays |
CN103842848B (zh) * | 2011-08-30 | 2016-03-30 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 用于深槽浅切口像素化的***、方法和设备 |
JP5848769B2 (ja) * | 2011-09-27 | 2016-01-27 | 株式会社エム・アール・テクノロジー | 画像撮像装置及び画像撮像方法 |
EP2751593B1 (en) * | 2011-12-19 | 2019-10-16 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray detector |
WO2013093726A1 (en) * | 2011-12-21 | 2013-06-27 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Detection apparatus for detecting photons taking pile -up events into account |
EP2629118A3 (en) * | 2012-02-15 | 2017-09-06 | CSEM Centre Suisse d'Electronique et de Microtechnique SA - Recherche et Développement | High-sensitivity x-ray detector |
CN102607721B (zh) * | 2012-04-06 | 2013-07-31 | 山西大学 | 单光子探测器用于分辨光子数的测量方法 |
US9435897B2 (en) * | 2012-09-20 | 2016-09-06 | Rhombus Holdings Llc | Tunable detection instrument for subatomic particles |
US9435755B2 (en) | 2012-09-20 | 2016-09-06 | Rhombus Holdings Llc | Scalable and tunable neutron detection instrument |
JP6301138B2 (ja) * | 2013-02-12 | 2018-03-28 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置およびフォトンカウンティングプログラム |
ITTO20130128A1 (it) * | 2013-02-15 | 2014-08-15 | Fond Bruno Kessler | Dispositivo sensore fotonico |
FR3002651B1 (fr) | 2013-02-22 | 2015-04-10 | Areva Nc | Procede d'asservissement du gain et du zero d'un dispositif de comptage de photons a pixels multiples, et systeme de mesure de lumiere mettant en œuvre ce procede |
US9029748B2 (en) * | 2013-03-15 | 2015-05-12 | Her Majesty The Queen In Right Of Canada, As Represented By The Minister Of National Defence | Method and apparatus for photon counting with optical space spreading |
US9677931B2 (en) * | 2013-04-24 | 2017-06-13 | Koninklijke Philips N.V. | Detection of radiation quanta using an optical detector pixel array and pixel cell trigger state sensing circuits |
JP6179292B2 (ja) * | 2013-09-11 | 2017-08-16 | 株式会社島津製作所 | 放射線検出器 |
CN104656119B (zh) | 2013-11-19 | 2018-06-05 | 苏州瑞派宁科技有限公司 | 一种闪烁脉冲信息复原的方法及*** |
WO2015081134A2 (en) * | 2013-11-26 | 2015-06-04 | Flir Detection, Inc. | SiPM-BASED RADIATION DETECTION SYSTEMS AND METHODS |
US9220469B2 (en) | 2013-12-31 | 2015-12-29 | General Electric Company | Systems and methods for correcting detector errors in computed tomography imaging |
US9841515B2 (en) * | 2014-03-28 | 2017-12-12 | Koninklijke Philips N.V. | Dead pixel identification in positron emission tomography (PET) |
JP6193171B2 (ja) * | 2014-04-11 | 2017-09-06 | 株式会社東芝 | 光検出器 |
US10660589B2 (en) * | 2014-12-16 | 2020-05-26 | Koninklijke Philips N.V. | Baseline shift determination for a photon detector |
GB2553942A (en) * | 2015-03-04 | 2018-03-21 | Rapiscan Systems Inc | Multiple energy detector |
WO2016146644A1 (en) * | 2015-03-17 | 2016-09-22 | Koninklijke Philips N.V. | Scintillation event localization in a radiation particle detector |
CN104783829B (zh) * | 2015-04-29 | 2017-07-14 | 北京永新医疗设备有限公司 | 单光子发射断层成像的处理方法及*** |
WO2017001269A1 (en) | 2015-06-30 | 2017-01-05 | Koninklijke Philips N.V. | X-ray device with reduced pile-up |
JP6602652B2 (ja) * | 2015-12-01 | 2019-11-06 | キヤノンメディカルシステムズ株式会社 | フォトンカウンティング撮像装置及びx線検出装置 |
US10677942B2 (en) * | 2016-02-01 | 2020-06-09 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | X-ray detectors capable of managing charge sharing |
CN108885272A (zh) * | 2016-04-08 | 2018-11-23 | 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 | 紧凑型辐射探测器 |
CN107320121B (zh) * | 2016-04-29 | 2021-06-22 | 上海联影医疗科技股份有限公司 | 正电子发射断层成像光子探测装置 |
US10002986B1 (en) * | 2016-12-19 | 2018-06-19 | Waymo Llc | Hybrid integration of photodetector array with digital front end |
CN106597518A (zh) * | 2016-12-21 | 2017-04-26 | 中国科学院深圳先进技术研究院 | 一种pet探测器、pet成像***和pet检查仪 |
US10575800B2 (en) * | 2017-03-08 | 2020-03-03 | Prismatic Sensors Ab | Increased spatial resolution for photon-counting edge-on x-ray detectors |
US10652497B2 (en) * | 2017-04-21 | 2020-05-12 | Trustees Of Dartmouth College | Quanta image sensor with polarization-sensitive jots |
WO2018202465A1 (en) * | 2017-05-01 | 2018-11-08 | Koninklijke Philips N.V. | Multi-layer radiation detector |
JP6881074B2 (ja) * | 2017-06-22 | 2021-06-02 | 株式会社デンソー | 光検出器 |
WO2019019197A1 (en) | 2017-07-28 | 2019-01-31 | Shenzhen United Imaging Healthcare Co., Ltd. | DETECTION DEVICE FOR POSITRON EMISSION TOMOGRAPHY |
CN107402401B (zh) * | 2017-09-12 | 2023-11-14 | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 | 一种带有时间门控的多通道硬x射线成像探测器 |
US10594965B2 (en) * | 2017-09-13 | 2020-03-17 | Semiconductor Components Industries, Llc | Avalanche photodiode image sensors |
CA3075277A1 (en) * | 2017-09-15 | 2019-03-21 | Perkinelmer Health Sciences, Inc. | Systems and methods for emulating scintillation events using an electronic test source |
JP7096658B2 (ja) * | 2017-10-12 | 2022-07-06 | キヤノン株式会社 | 固体撮像素子及び撮像装置 |
CN107968654B (zh) * | 2017-12-29 | 2023-11-24 | 浙江九州量子信息技术股份有限公司 | 一种采用补偿网络的窄脉冲峰值保持电路 |
US10802164B2 (en) | 2018-02-05 | 2020-10-13 | Rhombus Holdings Llc | Method and apparatus for performing pattern recognition for a tunable sensor system to detect neutron and gamma particles |
JP7114264B2 (ja) | 2018-02-09 | 2022-08-08 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置及び撮像システム |
CN109443557B (zh) * | 2018-12-26 | 2020-11-06 | 合肥工业大学 | 一种单光子脉冲到达时间探测装置 |
WO2020156416A1 (en) * | 2019-01-30 | 2020-08-06 | The University Of Hong Kong | Energy-resolved x-ray imagingapparatus and method |
EP3948354A4 (en) * | 2019-03-29 | 2022-11-09 | Shenzhen Xpectvision Technology Co., Ltd. | SCINTILLATOR RADIATION DETECTORS |
CN110133710B (zh) * | 2019-04-24 | 2021-02-26 | 苏州瑞派宁科技有限公司 | 一种信号校正的方法及装置 |
US11340109B2 (en) * | 2019-05-24 | 2022-05-24 | Infineon Technologies Ag | Array of single-photon avalanche diode (SPAD) microcells and operating the same |
CN112068178B (zh) * | 2019-06-10 | 2023-08-29 | 睿生光电股份有限公司 | 放射线感测装置 |
JP7393162B2 (ja) * | 2019-09-09 | 2023-12-06 | キヤノン株式会社 | 光電変換装置 |
EP3842839A1 (en) * | 2019-12-27 | 2021-06-30 | Koninklijke Philips N.V. | Compensation of polarization effects in photon counting detectors |
US20230217138A1 (en) | 2020-04-20 | 2023-07-06 | Spiden Ag | Multipurpose mixed-signal light sensor based on semiconductor avalanche photodiodes |
CN111983667B (zh) * | 2020-07-13 | 2023-04-28 | 中国辐射防护研究院 | 一种基于闪烁体的微剂量测量方法及测量装置 |
EP4254017A1 (en) | 2022-03-28 | 2023-10-04 | Koninklijke Philips N.V. | Photon counting detector and photon counting method |
EP4273587A1 (en) | 2022-05-04 | 2023-11-08 | Koninklijke Philips N.V. | Photon counting detector and photon counting method |
EP4276496A1 (en) * | 2022-05-10 | 2023-11-15 | Koninklijke Philips N.V. | Photon counting detector and photon counting method |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5568568A (en) * | 1978-11-15 | 1980-05-23 | Tokyo Shibaura Electric Co | Chamber temperature indicator |
US5689115A (en) * | 1995-11-24 | 1997-11-18 | Elscint Ltd. | Advanced nuclear medicine system |
US6525323B1 (en) * | 2000-04-18 | 2003-02-25 | Koninklijke Philips Electronics, N.V. | Method and apparatus for improved estimation of characteristics of pulses detected by a nuclear camera |
JP2003043149A (ja) * | 2001-07-31 | 2003-02-13 | Shimadzu Corp | 放射線検出回路 |
US7858917B2 (en) * | 2003-05-02 | 2010-12-28 | Massachusetts Institute Of Technology | Digital photon-counting geiger-mode avalanche photodiode solid-state monolithic intensity imaging focal-plane with scalable readout circuitry |
CN100401097C (zh) * | 2003-06-16 | 2008-07-09 | 皇家飞利浦电子股份有限公司 | 检测事件的时间分辨记录的检测器及相关方法和成像设备 |
EP1706759A1 (en) * | 2004-01-13 | 2006-10-04 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Analog to digital conversion shift error correction |
WO2006034585A1 (en) | 2004-09-28 | 2006-04-06 | UNIVERSITé DE SHERBROOKE | Method and system for low radiation computed tomography (ct) |
PT103200B (pt) * | 2004-09-30 | 2006-08-24 | Taguspark-Soc. Prom.Desenv.Parq.Ci.Tec.Area Lisboa | Sistema de tomografia por emissão de positrões (pet) |
BRPI0610720B1 (pt) * | 2005-04-22 | 2018-01-16 | Koninklijke Philips N. V. | pixel detector para uso em conjunto com um cintilador que converte uma partícula de radiação para uma rajada de luz, detector de radiação, sistema de geração de imagem de tomografia por emissão de pósitron de duração de trajetória (tof-pet), 5 método executado em conjunto com um cintilador que converte uma partícula de radiação para uma rajada de luz, e detector de radiação que inclui um cintilador e circuitos |
WO2006111869A2 (en) | 2005-04-22 | 2006-10-26 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Pet/mr scanner with time-of-flight capability |
GB2426575A (en) | 2005-05-27 | 2006-11-29 | Sensl Technologies Ltd | Photon detector using controlled sequences of reset and discharge of a capacitor to sense photons |
RU2437118C2 (ru) * | 2006-08-09 | 2011-12-20 | Конинклейке Филипс Электроникс, Н.В. | Устройство и способ для спектральной компьютерной томографии |
US7512210B2 (en) * | 2007-03-27 | 2009-03-31 | General Electric Company | Hybrid energy discriminating charge integrating CT detector |
US7652257B2 (en) * | 2007-06-15 | 2010-01-26 | General Electric Company | Structure of a solid state photomultiplier |
US7723687B2 (en) * | 2007-07-03 | 2010-05-25 | Radiation Monitoring Devices, Inc. | Lanthanide halide microcolumnar scintillators |
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