CN111896991A - 一种辐射成像探测方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本申请提供了一种辐射成像探测方法和装置，通过在探测器的一端集成两条通道，或分别在探测器的两端同时分别采集一定时间***线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。可见本方案能够在降低辐射成像所需的剂量的前提下，提高图像的分辨率。
Description
技术领域
本发明涉及辐射成像技术领域，特别涉及一种辐射成像探测方法和装置。
背景技术
在一个辐射成像***中，射线或粒子与被检测物体发生作用后形成的透射、散射或衍射图像往往与物质内部结构和成分等有关；而透射、散射或衍射图像通常通过辐射强度的位置分布来探测。
现有辐射强度的测量主要有独立的积分和计数两种方式，以X射线成像为例：
积分型探测把一段时间内所有X射线光子产生的电流进行积分，把积分得到的电荷值作为X射线的强度。
积分型探测结构简单、可探测的强度范围很大，是目前医疗和工业X射线成像***主要采用的方式。但这种探测方式无法区分单个X射线能量，因此需要其他方式才能实现双能探测，但这就意味着需要更高的辐射剂量。
计数型探测把每个X射线光子在探测器中产生的信号进行放大和甄别，并记录一段时间内的光子数目作为X射线的强度。
计数型探测可以获得单个X射线的能量信息，通过设置多个能窗阈值可以实现双能甚至多能成像，从而提高图像分辨和降低剂量。但这种探测方式对探测器的时间响应要求很高，随着入射X射线强度增大、探测器信号堆积变得严重，导致计数损失和能谱畸变。
发明内容
有鉴于此，本申请提供一种辐射成像探测方法和装置，能够在降低辐射成像所需的剂量的前提下，提高图像的分辨率。
为解决上述技术问题，本申请的技术方案是这样实现的：
在一个实施例中，提供了一种辐射成像探测方法，在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道；所述方法包括：
通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；
通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理；
将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
在另一个实施例中，提供了一种辐射成像探测方法，所述方法包括：
针对探测器通过两端分别读出探测探测器信号；
通过其中一端读出探测器信号时进行积分处理；
通过另一端读出探测器信号时进行计数处理；
将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
在另一个实施例中，提供了一种辐射成像探测装置，在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道；所述装置包括：积分单元、计数单元和输出单元；
所述积分单元，用于通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；
所述计数单元，用于通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理；
所述输出单元，用于将所述积分单元进行积分处理的积分结果和所述计数单元进行计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
在另一个实施例中，提供了一种辐射成像探测装置，对探测器通过两端分别读出探测探测器信号；所述装置包括：积分单元、计数单元和输出单元；
所述积分单元，用于通过所述探测器的一端读出探测器信号时进行积分处理；
所述计数单元，用于通过所述探测器的另一端读出探测器信号时进行计数处理；
所述输出单元，用于将所述积分单元进行积分处理的积分结果和所述计数单元进行计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
由上面的技术方案可见，上述实施例中通过在探测器的一端集成两条通道，或分别在探测器的两端同时分别采集一定时间***线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。可见本方案能够在降低辐射成像所需的剂量的前提下，提高图像的分辨率。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例中的一个典型的辐射成像***示意图；
图2为间接探测器及读出结构示意图；
图3为直接探测器及其读出结构示意图；
图4为本申请实施例一中辐射成像探测流程示意图；
图5为本申请实施例二中辐射成像探测流程示意图；
图6为本申请实施例二中单端混合型成像读出电路结构示意图；
图7为本申请实施例三中辐射成像探测流程示意图；
图8为实施例三中单端混合型成像读出电流结构示意图；
图9为本申请实施例四中辐射成像探测流程示意图；
图10为本申请实施例五中辐射成像探测流程示意图；
图11(a)为实施例五中积分端读出电路结构示意图；
图11(b)为实施例五中计数端读出电路结构示意图。
图12为本申请实施例五中辐射成像探测流程示意图；
图13(a)为实施例六中积分端读出电路结构示意图；
图13(b)为实施例六中计数端读出电路结构示意图
图14为本申请实施例中应用于实施例一所述技术的装置结构示意图；
图15为本申请实施例中应用于实施例四所述技术的装置结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例例如能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含。例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、***、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其他步骤或单元。
下面以具体实施例对本发明的技术方案进行详细说明。下面几个具体实施例可以相互结合，对于相同或相似的概念或过程可能在某些实施例不再赘述。
本申请实施例中提供一种辐射成像探测方法，进行积分和计数混合型的辐射成像探测。通过同时采集一定时间***线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。
参见图1，图1为本申请实施例中的一个典型的辐射成像***示意图。所述***包括：辐射源、被检测物体、探测器和成像平台。
探测器主要包括传感器和读出电路：传感器将射线或粒子转换为电流信号，读出电路则对电流信号进行放大和处理、并提取所需的信息。探测器通常由若干单元组成，呈一维或二维分布。这些探测器单元既是独立的探测器模块，也可以是在同一个探测器模块上加工出的独立像元。每个探测器单元只接收各自所覆盖面积内的射线或粒子，并以一定效率转换为电流信号。多个探测器单元则可以实现射线或粒子强度的空间分布测量、从而形成图像。一维分布的探测器单元通常需要通过扫描实现二维图像探测；同样小面积的二维探测器也需要通过扫描实现更大面积的图像探测。
成像平台用于根据探测器的探测结果进行成员，具体实现时，可以是一台PC，服务器等。
本申请实施例中探测器的实现可以是间接探测器，也可以是直接探测器。
参见图2，图2为间接探测器及读出结构示意图。间接探测器主要指的闪烁晶体加上光电器件，闪烁晶体与射线或粒子发生作用后会被激发、产生闪烁光，最后通过光电器件转换为电流信号。常见的用于辐射成像的闪烁体包括CsI，GOS，GAGG和CdWO3等。而光电器件又可以分为无增益型，比如光电二极管(PD)等和有增益型，比如光电倍增管(PMT)和硅光电倍增管(SiPM)等两类。
本申请实施例中的采用SiPM读出的间接探测器的实例，也适用用采用PTM读出的间接探测器。
参见图3，图3为直接探测器及其读出结构示意图。直接探测器则与射线或粒子通过电离作用，直接产生电流信号，常见的用于辐射成像的直接探测器主要为半导体探测器，包括硅、CdTe/CZT和GaAs等。
无论是间接探测器还是直接探测器，最终都将辐射信号都转换成电流信号读出。电流信号既可以从探测器的一端读出，也可以从探测器上、下两端同时读出。从信号幅度看，间接探测器采用PD读出要比直接探测器信号要小一个数量级；但如果采用带增益的SiPM读出，信号则要大得4-5个数量级，其读出电路、特别是前端放大电路会有所不同。
实施例一
在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道。
积分通道实现对探测器电流信号的积分，增益较低，动态范围大；计数通道则将探测器电流信号进行进一步放大、成型和甄别，实现单个粒子的(多能窗)甄别。积分和(多能窗)计数值都将被采集，最终根据辐射强度的范围选取其中的一种或两种，用于图像分析和重建。
参见图4，图4为本申请实施例一中辐射成像探测流程示意图。具体步骤为：
步骤401，通过积分通道对探测器信号进行积分处理。执行步骤403。
步骤402，通过计数通道将所述探测器信号进行计数处理。
步骤403，将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
输出的积分结果和计数处理结果为预设时间内采集到的数据，预设时间的设置根据实际应用场景、成像类别、经验等设置。
成像平台根据设置的辐射强度的范围选取积分结果，和/或计数结果进行图像分析和重建。
本申请实施例中通过在探测器的一端集成两条通道，同时分别采集一定时间***线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。可见本方案能够在降低辐射成像所需的剂量的前提下，提高图像的分辨率。
实施例二
在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道。该实施例中的探测器为直接探测器，或采用PD读出的间接探测器。
参见图5，图5为本申请实施例二中辐射成像探测流程示意图。具体步骤为：
步骤501，将探测器信号通过开关积分器进行处理。
所述开关积分器在每个积分和计数周器复位并重新打开。
步骤502，将所述开关积分器处理后的探测器信号分为两路子信号。
步骤503，将其中的一路子信号依次通过相关双采样电路(Correlated DoubleSampling，CDS)和模数转换器(Analog to Digital Converter，ADC)处理，执行步骤505。
步骤504，将另一路子信号依次通过成型电路、甄别器和计数器进行处理。
步骤505，将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
本申请实施例中在探测器为直接探测器，或采用PD读出的间接探测器的前提下，通过在探测器的一端集成两条通道，同时分别采集一定时间***线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。
参见图6，图6为本申请实施例二中单端混合型成像读出电路结构示意图。
图6中探测器信号(探测器电流信号)首先积分在开关积分器的反馈电容上，同时将电流信号转化为电压信号。
其中的一路信号通过CDS采样和ADC处理获得积分结果；
另一路信号通过成型电流对信号进行放大和脉冲整型，然后和一个或多个甄别器的阈值进行比较，超过阈值则驱动对应的计数器加1。
积分通道的电荷范围通常在1-10pC量级，而计数通道单个射线或粒子产生的信号电荷量仅为0.01-0.1fC量级，两者相差4-6个数量级。因此单端同时实现积分和计数读出，需要在电路设计上实现大动态范围。图6中积分通道的电荷范围主要由电容Cint决定，其电荷-电压增益为1/Cint。计数通道的增益则为k·G1，其中k＝Cc/Cint，G1是成型电路的电荷-电压增益。Cint、G1、Cc的具体值根据实际需要设置，本申请实施例中不进行限制。
实施例三
在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道。该实施例中的探测器为采用SiPM读出的间接探测器。
参见图7，图7为本申请实施例三中辐射成像探测流程示意图。具体步骤为：
步骤701，将探测器信号通过电流灵敏前放进行处理获得电压信号。
步骤702，将所述电压信号分为两路电压子信号。
步骤703，将其中一路电压子信号进行信号衰减后，依次通过开关积分器、CDS和ADC进行处理。执行步骤705。
步骤704，将其中的另一路电压子信号依次通过成型电路、甄别器和计数器进行处理。
步骤705，将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
本申请实施例中在探测器为采用SiPM读出的间接探测器的前提下，通过在探测器的一端集成两条通道，同时分别采集一定时间***线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。
参见图8，图8为实施例三中单端混合型成像读出电流结构示意图。该结构适用于探测器为采用SiPM读出的间接探测器的辐射成像探测方案。
通过SiPM读出的探测器信号的电流比较大，采用电流灵敏前置放大器(电流灵敏前放)将电流信号转换为电压信号后，再进行后续的积分和计数处理。
在积分通道进行积分处理时，需要先将信号衰减后再积分；而计数通道则将获得的前放信号通过成型电流成型后和甄别器比较，并驱动对应的计数器。
电流灵敏前置放大器(电流灵敏前放)可以采用和电荷灵敏前放类似的电路结构，但和电荷灵敏前放相比，其反馈电阻电容时间常数R′fC′f＜＜RfCf。前放输出经过电阻nR后电流衰减到只有原来的1/n，再进入积分通道。计数通道则经过成型电路进一步放大，电压增益为G3。
实施例四
针对探测器通过两端分别读出探测探测器信号。
参见图9，图9为本申请实施例四中辐射成像探测流程示意图。具体步骤为：
步骤901，通过其中一端读出探测器信号时进行积分处理；执行步骤903。
步骤902，通过另一端读出探测器信号时进行计数处理。
步骤903，将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
输出的积分结果和计数处理结果为预设时间内采集到的数据，预设时间的设置根据实际应用场景、成像类别、经验等设置。
本申请实施例中通过在探测器的两端，同时分别采集一定时间***线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。可见本方案既能够降低辐射成像所需的剂量，也能提高图像的分辨率。
实施例五
针对探测器通过两端分别读出探测探测器信号，且所述探测器为采用PD读出的间接探测器时，通过两端分别读出的探测器信号各占总信号的一半，探测器的信号的极性由PD读出；
当所述探测器为直接探测器时，通过两端分别读出的探测器信号的幅度相同，极性相反。
本申请实施例中以采用PD读出的间接探测器，或直接探测器为例。
参见图10，图10为本申请实施例五中辐射成像探测流程示意图。具体步骤为：
步骤1001，对通过其中一端读出的探测器信号依次通过开关积分器、CDS和ADC处理。执行步骤1003。
步骤1002，对另一端读出的探测器信号依次通过电荷灵敏前放、成型电路、甄别器和计数器进行处理。
步骤1003，将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
本申请实施例中在探测器为直接探测器，或采用PD读出的间接探测器的前提下，通过在探测器的两端，同时分别采集一定时间***线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。
图11(a)和图11(b)为实施例五中双端混合型成像读出电流结构示意图。其中，图11(a)为实施例五中积分端读出电路结构示意图；图11(b)为实施例五中计数端读出电路结构示意图。
图11(a)中开关积分器积分在反馈电容上，同时将电流信号转换为电压信号；CDS和ADC依次用于对所述电压信号采样，获得积分结果。
图11(b)中电荷灵敏前置放大器(电荷灵敏前放)用于将电流信号转换为电压信号，探测信号的幅度与电荷成正比，此时使用电荷灵敏前置放大器。成型电路对探测信号进行放大和脉冲整型，并和一个或多个甄别器的阈值进行比较，超过阈值则驱动对应的计数器加1。
采用双端读出积分通道的电荷范围主要由电容Cint决定，其电荷-电压增益为1/Cint；计数通道则采用电荷灵敏前放替代之前的积分器实现电荷到电压的转换，其增益为1/Cf，Cf为电荷灵敏前置放大器的电容，成型电路的电荷-电压增益为G2。Cint、Cf、G2的具体值根据实际应用进行设置。
实施例六
当所述探测器为采用SiPM读出的间接探测器时，通过两端分别读出的探测器信号各占总信号的一半，探测器信号的极性由SiPM读出；
参见图12，图12为本申请实施例五中辐射成像探测流程示意图。具体步骤为：
步骤1201，对其中一端的探测器信号依次通过电流灵敏前放、耦合电容、开关积分器、CDS和ADC进行处理。执行1203。
步骤1202，对另一端探测器信号依次通过电荷灵敏前放、成型电路、甄别器和计数器进行处理。
步骤1203，将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
本申请实施例中在探测器为采用SiPM读出的间接探测器的前提下，通过在探测器的两端，同时分别采集一定时间***线或粒子的积分和和计数值，用于进行图像分析和重建，既能实现高强度、大动态范围的测量，又能在相对较低的计数率下获取粒子能量等信息，以实现更好的图像和物质成分分辨，以及降低辐射成像所需剂量。可见本方案既能够降低辐射成像所需的剂量，也能提高图像的分辨率。
图13(a)和图13(b)为本申请实施例六中双端混合型成像读出电流结构示意图。图13(a)为实施例六中积分端读出电路结构示意图；图13(b)为实施例六中计数端读出电路结构示意图。
图13(a)中通过电流灵敏前置放大器(电流灵敏前放)处理一端探测信号，再将处理获得的前放信号经过耦合电容进行处理后的信号通过开关积分器积分在反馈电容上；CDS和ADC依次用于对所述开关积分器处理后的信号采样，获得积分结果。
图13(b)中电荷灵敏前置放大器(电荷灵敏前放)用于将电流信号转换为电压信号，探测信号的幅度与电荷成正比，此时使用电荷灵敏前置放大器。成型电路对探测信号进行放大和脉冲整型，并和一个或多个甄别器的阈值进行比较，超过阈值则驱动对应的计数器加1。
基于同样的发明构思，本申请实施例中还提供一种辐射成像探测装置，在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道。参见图14，图14为本申请实施例中应用于实施例一所述技术的装置结构示意图。所述装置包括：积分单元1401、计数单元1402和输出单元1403；
积分单元1401，用于通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；
计数单元1402，用于通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理；
输出单元1403，用于将积分单元1401进行积分处理的积分结果和计数单元1402进行计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
上述实施例的单元可以集成于一体，也可以分离部署；可以合并为一个单元，也可以进一步拆分成多个子单元。
基于同样的发明构思，本申请实施例中还提供一种辐射成像探测装置，针对探测器通过两端分别读出探测探测器信号。参见图15，图15为本申请实施例中应用于实施例四所述技术的装置结构示意图。所述装置包括：积分单元1501、计数单元1502和输出单元1503；
积分单元1501，用于通过所述探测器的一端读出探测器信号时进行积分处理；
计数单元1502，用于通过所述探测器的另一端读出探测器信号时进行计数处理；
输出单元1503，用于将积分单元1501进行积分处理的积分结果和计数单元1502进行计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
上述实施例的单元可以集成于一体，也可以分离部署；可以合并为一个单元，也可以进一步拆分成多个子单元。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明保护的范围之内。
Claims (10)
1.一种辐射成像探测方法，其特征在于，在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道；所述方法包括：
通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；
通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理；
将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述探测器为直接探测器，或采用发光二极管PD读出的间接探测器时，所述通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理，包括：
将探测器信号通过开关积分器处理；
将所述开关积分器处理后的探测器信号分为两路子信号；
将其中的一路子信号依次通过相关双采样电路CDS和模数转换器ADC处理；
将另一路子信号依次通过成型电路、甄别器和计数器进行处理。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法进一步包括：
所述开关积分器在每个积分和计数周器复位并重新打开。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，当所述探测器为采用硅光电倍增管SiPM读出的间接探测器时，所述通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理，包括：
将所述探测器信号通过电流灵敏前放进行处理获得电压信号；
将所述电压信号分为两路电压子信号；
将其中一路电压子信号进行信号衰减后，依次通过开关积分器、CDS和ADC进行处理；
将其中的另一路电压子信号依次通过成型电路、甄别器和计数器进行处理。
5.一种辐射成像探测方法，其特征在于，所述方法包括：
针对探测器通过两端分别读出探测探测器信号；
通过其中一端读出探测器信号时进行积分处理；
通过另一端读出探测器信号时进行计数处理；
将积分处理的积分结果和所述计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述探测器为采用发光二极管PD读出的间接探测器时，通过两端分别读出的探测器信号各占总信号的一半，探测器的信号的极性由PD读出；
当所述探测器为采用硅光电倍增管SiPM读出的间接探测器时，通过两端分别读出的探测器信号各占总信号的一半，探测器信号的极性由SiPM读出；
当所述探测器为直接探测器时，通过两端分别读出的探测器信号的幅度相同，极性相反。
7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述探测器为直接探测器，或采用PD读出的间接探测器时，所述通过其中一端读出探测器信号时进行积分处理，包括：
对探测器信号依次通过开关积分器、相关双采样电路CDS和模数转换器ADC处理
所述通过另一端读出探测器信号时进行计数处理，包括：
对所述探测探测器信号依次通过电荷灵敏前放、成型电路、甄别器和计数器进行处理。
8.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，当所述探测器为采用SiPM读出的间接探测器时，所述通过其中一端读出探测器信号时进行积分处理，包括：
对探测器信号依次通过电流灵敏前放、开关积分器、CDS和ADC处理
所述通过另一端读出探测器信号时进行计数处理，包括：
对所述探测器信号依次通过电荷灵敏前放、成型电路、甄别器和计数器进行处理。
9.一种辐射成像探测装置，其特征在于，在探测器的读出电路中集成两个信号处理通道，所述两个信号处理通道为积分通道和计数通道；所述装置包括：积分单元、计数单元和输出单元；
所述积分单元，用于通过所述积分通道对探测器信号进行积分处理；
所述计数单元，用于通过所述计数通道将所述探测器信号进行计数处理；
所述输出单元，用于将所述积分单元进行积分处理的积分结果和所述计数单元进行计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
10.一种辐射成像探测装置，其特征在于，针对探测器通过两端分别读出探测探测器信号；所述装置包括：积分单元、计数单元和输出单元；
所述积分单元，用于通过所述探测器的一端读出探测器信号时进行积分处理；
所述计数单元，用于通过所述探测器的另一端读出探测器信号时进行计数处理；
所述输出单元，用于将所述积分单元进行积分处理的积分结果和所述计数单元进行计数处理的计数结果输出到所述成像平台，使所述成像平台根据设置的辐射强度的范围，以及所述积分结果和计数结果进行图像分析和重建。
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