JP5670730B2 - 物質の検査のための方法及び装置 - Google Patents
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Description
前記検出器システムにおける放射線入射に関する1つ以上の強度情報のデータセット、したがって少なくとも1つ、好ましくは複数、のスキャニング位置における前記スキャニング領域の物体と入射放射線との相互作用である、を収集するステップと、
好ましくは、前記物体との相互作用の後に前記検出器システムにおいて受信された放射線、例えば前記物体を透過した放射線、から前記スキャニング領域の物体の画像を生成するステップと、
それぞれの前記強度データセットを、前記放射線源の前記スペクトルの範囲内の少なくとも3つの周波数帯域に亘って、それぞれの周波数帯に対する強度データアイテムを生成するために分解するステップと、
既知の強度データセットにおける、少なくとも2対の周波数帯域、例えばそれぞれ連続する周波数帯域、の前記強度データアイテムの間の数値的関係及び、例えば比率、を、放射エネルギーが関数的に変化する前記放射線源放射線との物質相互作用に関連する物質係数、例えば放射相互作用及びその結果として前記強度データセットに関連する質量減衰係数、のような、特徴的な物理的物質特性を含む関数関係中の少なくとも1つの数値的指標を得るために、計算するステップと、
それらを、前記スキャニング領域、及び例えばそのような強度データセットを生成する透過経路、にある物質に近似する物質の内容の指標を得るために、ある範囲における潜在的な成分の液体の特徴的な物理的物質特性を示すデータのライブラリ、特に、例えば疑わしい物質としてのターゲット物質の物理的物質特性と比較するステップと、
を含む方法が提供される。
Claims (10)
- 物体から放射線透過データを取得する方法であって、
放射線源、及び分光学的に分解可能な入射放射線に関する情報を検出及び収集できる放射線検出器システムを提供するステップであり、該放射線検出器システムは、前記放射線源との間にスキャニング領域を定義するように前記放射線源と離間するように配置され、
さらに、検出器が、X線のスペクトルの異なる部分に対する直接的な可変電気的応答を、直接的な物質特性として固有的に表すために選択された物質から製造されることによって、分光学的な分解を行うために適合している、ステップと、
物体の透過後に前記放射線検出器システムで受信した放射線から、前記スキャニング領域中の前記物体と、少なくとも1つのスキャニング位置における入射放射線との相互作用の結果である、前記放射線検出器システムにおける放射線入射に関する1つ以上の透過強度情報のデータセットを収集するステップと、
それぞれの前記透過強度情報のデータセットを、前記放射線源のスペクトルの範囲内の少なくとも3つの周波数帯域に亘って、それぞれの周波数帯の強度データアイテムを生成するために分光学的に分解するステップと、
放射線エネルギーによって関数的に変化し、前記放射線源の放射線の透過に関連付けられた特徴的な物理的物質特性を含む関数関係中の1つの数値的指標を取得するために、既知の透過強度情報のデータセットにおける少なくとも2対の前記周波数帯域の前記強度データアイテムの間の比率を計算するステップと、
前記透過強度情報のデータセットを生成する物体に近似する成分の指標を得るために、前記数値的指標を予想される成分物質のある範囲における特徴的な物理的物質特性を示すデータのライブラリと比較するステップと、を含む方法。 - 請求項1に記載の方法であって、前記特徴的な物理的物質特性は、質量減衰係数である方法。
- 請求項1または2に記載の方法であって、前記検出器において収集された放射線入射に関する前記透過強度情報のデータセットは、前記スキャニング領域の物体の画像を生成するために使用される方法。
- 物体をスキャンし、該物体から放射線透過データを取得する装置であって、
それぞれの間にスキャニング領域を定義するようにそれぞれ離されて配置された放射線源及び放射線検出器システムであり、前記放射線検出器システムは、X線のスペクトルの異なる部分に対する直接的な可変電気的応答を、直接的な物質特性として固有的に表すために選択された物質から製造されることによって、分光学的な分解を行うために適合している検出器を備え、使用時に前記スキャニング領域の少なくとも1つのスキャニング位置における物体の透過後の前記放射線検出器システムにおける放射線入射に関する透過強度情報のデータセットを収集し、入射放射線についての分光学的に分解可能な情報を検出及び収集する放射線源及び放射線検出器システムと、
それぞれの前記透過強度情報のデータセットまたは画像を、前記放射線源のスペクトル内の少なくとも3つの周波数帯域に亘って、分光学的に、処理及び分解し、それぞれの帯域の強度データアイテムを生成するデータ処理装置と、
それぞれの透過強度情報のデータセットの分解されたデータアイテムを保存する強度データアイテムレジスタと、
既知の透過強度情報のデータセットにおける少なくとも2対の前記周波数帯域及びそれぞれの連続する前記周波数帯域に関する強度データアイテムの間の比率を計算し、放射エネルギーによって関数的に変化し、前記放射線源の放射線の透過に関連付けられた物理的物質特性を含む関数関係中の1つの数値的指標を取得するための計算手段と、
前記数値的指標を保存するための、更なるデータレジスタと、
ある範囲における潜在的な成分の物質の特徴的な物理的物質特性を示すデータのデータライブラリと、
前記数値的指標を、前記ライブラリのデータと比較して、そこから前記透過強度情報のデータセットを生成する前記スキャニング領域中の物体である可能性の高い物質内容の指標を得る比較器と、を備えた装置。 - 請求項4に記載の装置であって、液体サンプルとの相互作用の後の前記検出器システムにおける放射線入射に関する強度情報を収集する間、前記液体サンプルを前記スキャニング領域に保持するサンプル保持手段を備えた装置。
- 請求項4または5に記載の装置であって、物体を前記スキャニング領域に関連して、及び前記スキャニング領域を通じて移動させる物体ハンドラーを更に備えた装置。
- 請求項4乃至6のいずれか1項に記載の装置であって、使用時に前記検出器と協働して前記スキャニング領域の物体の少なくとも1つの画像に関するデータを収集し、前記放射線検出器システムの前記出力から少なくとも1つの画像を生成するように適用された画像生成装置を更に備えた装置。
- 請求項4乃至7のいずれか1項に記載の装置であって、前記検出器は、テルル化カドミウム、テルル化亜鉛カドミウム(CZT)、テルル化マンガンカドミウム(CMT)、ゲルマニウム、臭化ランタン、及び臭化トリウムの中から選択される半導体材料を含む装置。
- 請求項4乃至8のいずれか1項に記載の装置であって、前記検出器は、II−VI族半導体材料を含むバルク結晶の形態の材料を含む装置。
- 請求項4乃至9のいずれか1項に記載の装置であって、前記検出器は、テルル化カドミウム、テルル化亜鉛カドミウム(CZT)、テルル化マンガンカドミウム(CMT)の中から選択される半導体材料を含む装置。
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