JP5663993B2 - 光学式測定装置 - Google Patents
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Description
本発明の第5の局面に基づく光学式測定装置は、上記第1から上記第4のいずれかの局面に基づく光学式測定装置において、上記第1歯車は、上記第2歯車よりも大きい径を有している。
(光学式測定装置1Aの構成)
図1〜図5を参照して、本実施の形態における光学式測定装置1Aの構成について説明する。図1は、光学式測定装置1Aの上方側を示す斜視図である。図2は、光学式測定装置1Aの下方側を示す斜視図である。図3は、光学式測定装置1Aの上方側を示す平面図である。図4は、図3におけるIV−IV線に関する矢視断面図である。図5は、光学式測定装置1Aにおける光ファイバ40の先端部42を示す底面図である。
図6〜図9を参照して、光学式測定装置1Aの動作について説明する。図6は、光学式測定装置1Aの第1の回転状態を示す平面図である。図7は、光学式測定装置1Aの第2の回転状態を示す平面図である。図8は、光学式測定装置1Aの第3の回転状態を示す平面図である。図9は、光学式測定装置1Aの第4の回転状態を示す平面図である。
上述の実施の形態1においては、回転駆動装置10からの回転動力を受けて、光ファイバ40(プーリ74)が支持軸31(プーリ54)周りに矢印AR32a方向に複数回公転するという態様に基づき説明した。
上述の実施の形態1においては、光ファイバ40の投光用ファイバ91および受光用ファイバ92は、点対称に配列されているという態様に基づき説明した。投光用ファイバ91および受光用ファイバ92は、非点対称に配列されていてもよい。
(光学式測定装置1Bの構成)
図14および図15を参照して、本実施の形態における光学式測定装置1Bについて説明する。ここでは、上述の実施の形態1における光学式測定装置1Aとの相違点について説明する。図14は、光学式測定装置1Bの上方側を示す平面図である。図15は、図14におけるXV−XV線に関する矢視断面図である。
図14を参照して、歯車12が矢印AR12方向に回転する。歯付ベルト部材20は矢印AR20方向に回転する。歯車32は矢印AR32a方向に回転する。
図16および図17を参照して、実施の形態2の他の構成における光学式測定装置1Cについて説明する。ここでは、上述の実施の形態1における光学式測定装置1Aとの相違点について説明する。図16は、光学式測定装置1Cの上方側を示す平面図である。図17は、図16におけるXVII−XVII線に関する矢視断面図である。
図18および図19を参照して、実施の形態2のさらに他の構成における光学式測定装置1Dについて説明する。ここでは、上述の実施の形態1における光学式測定装置1Aとの相違点について説明する。図18は、光学式測定装置1Dの上方側を示す平面図である。図19は、図18におけるXIX−XIX線に関する矢視断面図である。
図20を参照して、本実施の形態における光学式測定装置1Eについて説明する。ここでは、上述の実施の形態1における光学式測定装置1Aとの相違点について説明する。
図21を参照して、実施の形態3の他の構成における光学式測定装置1Fについて説明する。ここでは、上述の実施の形態1における光学式測定装置1Aとの相違点について説明する。
図22を参照して、実施の形態3のさらに他の構成における光学式測定装置1Gについて説明する。ここでは、上述の実施の形態1における光学式測定装置1Aとの相違点について説明する。
Claims (5)
- 円周上に沿うように並んで配置された複数の測定対象物の特性を光ファイバを用いて測定する光学式測定装置であって、
固定体と、
前記固定体を中心に第1角速度で公転しつつ、第2角速度で自転可能な回転体と、
前記回転体によって保持され、複数の前記測定対象物に検出光を投光するとともに前記測定対象物からの反射光を受光する前記光ファイバと、を備え、
前記第1角速度および前記第2角速度は、大きさが同一であり且つ向きが反対であり、
前記特性を測定する際には、前記光ファイバの下方に配置された複数の前記測定対象物を固定させた状態で前記光ファイバを複数の前記測定対象物に対して円周方向に沿って相対移動させ、相対移動する前記光ファイバからそれぞれの前記測定対象物に検出光を投光するとともに、それぞれの前記測定対象物からの反射光を前記光ファイバが受光し、
前記固定体の上方に位置し、前記固定体と同軸上に設けられた回転可能な第1歯車と、
前記第1歯車と水平方向において隣り合うように位置し、前記第1歯車との間に間隔を空けて配置された回転可能な第2歯車と、
前記第1歯車の外周面および前記第2歯車の外周面に巻回された歯付ベルト部材と、
前記第2歯車に回転動力を付与する回転駆動装置と、をさらに備え、
前記回転体は、前記第1歯車の下面側に設けられ、
前記光ファイバは、前記固定体の中心軸と離間した位置において前記第1歯車の一部を貫通するように配置されており、前記第1歯車に対して回転自在である、
光学式測定装置。 - 前記固定体は、外形が円形状の第1円形部を有し、
前記回転体は、外形が円形状の第2円形部を有し、
前記第1円形部と前記第2円形部とは同径であり、
前記第1円形部の外周面および前記第2円形部の外周面を取り囲む環状のベルト部材をさらに備え、
前記光ファイバは、前記回転体の内側部分を上方から下方に向かって貫通するように設けられている、
請求項1に記載の光学式測定装置。 - 前記固定体は、歯車状に形成された第1歯車部を有し、
前記回転体は、前記第1歯車部と同径の歯車状に形成された第2歯車部を有し、
前記第1歯車部および前記第2歯車部の間に配置される歯車をさらに備え、
前記光ファイバは、前記回転体の内側部分を上方から下方に向かって貫通するように設けられている、
請求項1に記載の光学式測定装置。 - 前記回転体が前記固定体を中心に所定の角度だけ公転する毎に、前記回転体の公転方向は逆向きになる、
請求項1から3のいずれかに記載の光学式測定装置。 - 前記第1歯車は、前記第2歯車よりも大きい径を有している、
請求項1から4のいずれかに記載の光学式測定装置。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010163990A JP5663993B2 (ja) | 2010-07-21 | 2010-07-21 | 光学式測定装置 |
TW100125079A TWI516757B (zh) | 2010-07-21 | 2011-07-15 | 光學式測定裝置 |
KR20110071796A KR20120010166A (ko) | 2010-07-21 | 2011-07-20 | 광학식 측정 장치 |
US13/188,448 US8502984B2 (en) | 2010-07-21 | 2011-07-21 | Optical measurement apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010163990A JP5663993B2 (ja) | 2010-07-21 | 2010-07-21 | 光学式測定装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014201290A Division JP5783313B2 (ja) | 2014-09-30 | 2014-09-30 | 光学式測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012026795A JP2012026795A (ja) | 2012-02-09 |
JP5663993B2 true JP5663993B2 (ja) | 2015-02-04 |
Family
ID=45493362
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010163990A Expired - Fee Related JP5663993B2 (ja) | 2010-07-21 | 2010-07-21 | 光学式測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8502984B2 (ja) |
JP (1) | JP5663993B2 (ja) |
KR (1) | KR20120010166A (ja) |
TW (1) | TWI516757B (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TWI550262B (zh) * | 2012-11-08 | 2016-09-21 | 鴻海精密工業股份有限公司 | 用於光纖檢測的固定裝置 |
TWI498584B (zh) * | 2014-01-27 | 2015-09-01 | Jason Yan | Range detection device |
TWI629461B (zh) * | 2017-08-07 | 2018-07-11 | 赫鼎自動化科技有限公司 | 物件檢測裝置 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3390274A (en) * | 1964-12-07 | 1968-06-25 | White Avionics Corp | Rotating light conductor for instrument reading |
US3480786A (en) * | 1966-01-13 | 1969-11-25 | Gaf Corp | Flaw detecting system including synchronously rotating optic fiber tubes |
US4271022A (en) * | 1978-12-18 | 1981-06-02 | Purdue Research Foundation | Detection unit with solute detector and transport system |
JPS622104A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-08 | Oak Seisakusho:Kk | 膜厚測定装置 |
JPS62145166A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-06-29 | Toshiba Corp | 自動化学分析装置 |
US4894551A (en) * | 1987-06-05 | 1990-01-16 | Anima Corporation | Sectional form measuring apparatus |
US5287423A (en) * | 1991-01-31 | 1994-02-15 | L. T. Industries, Inc. | Multiplexer for use with a device for optically analyzing a sample |
JPH07294704A (ja) * | 1994-04-22 | 1995-11-10 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光ファイバコネクタ反射防止膜の形成装置および形成方法 |
JPH09129367A (ja) * | 1995-10-31 | 1997-05-16 | Suzuki Motor Corp | マイクロ波加熱器の温度検出装置 |
JPH1058131A (ja) | 1996-08-26 | 1998-03-03 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光ビーム加熱装置 |
JP2000158174A (ja) | 1998-11-30 | 2000-06-13 | Shin Meiwa Ind Co Ltd | レーザ加工装置 |
JP4044241B2 (ja) * | 1999-05-24 | 2008-02-06 | 日本分光株式会社 | プローブ顕微鏡 |
JP2001091463A (ja) * | 1999-09-22 | 2001-04-06 | Tosoh Corp | 小型励起光源を使用したスキャナー型蛍光検出装置 |
JP4300102B2 (ja) * | 2003-12-05 | 2009-07-22 | 株式会社三菱化学ヤトロン | 分析装置及び集光器 |
US8552401B2 (en) * | 2005-04-25 | 2013-10-08 | Polestar Technologies, Inc. | Optical chemical sensor feedback control system |
US7346245B2 (en) * | 2005-11-16 | 2008-03-18 | National University Corporation, Hamamatsu University School Of Medicine | Switch-type imaging fiber apparatus and branch-type imaging fiber apparatus |
WO2007111838A2 (en) * | 2006-03-23 | 2007-10-04 | Nanodrop Technologies, Inc. | Instrument for making optical measurements on multiple samples retained by surface tension |
US7339169B1 (en) * | 2006-11-29 | 2008-03-04 | Lawrence Livermore National Security, Llc | Sample rotating turntable kit for infrared spectrometers |
JP2009214202A (ja) * | 2008-03-07 | 2009-09-24 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 断裁装置及びそれをそなえた輪転印刷機 |
-
2010
- 2010-07-21 JP JP2010163990A patent/JP5663993B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2011
- 2011-07-15 TW TW100125079A patent/TWI516757B/zh not_active IP Right Cessation
- 2011-07-20 KR KR20110071796A patent/KR20120010166A/ko not_active Application Discontinuation
- 2011-07-21 US US13/188,448 patent/US8502984B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
TWI516757B (zh) | 2016-01-11 |
TW201213789A (en) | 2012-04-01 |
KR20120010166A (ko) | 2012-02-02 |
JP2012026795A (ja) | 2012-02-09 |
US20120019831A1 (en) | 2012-01-26 |
US8502984B2 (en) | 2013-08-06 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20130704 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20131211 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20140107 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140305 |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20140701 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20140917 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140930 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20140917 |
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A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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