JP5651843B2 - 計測方法、及び計測装置 - Google Patents
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Description
光源から発せられたレーザー光を集光させ、このレーザー光の集光する位置に存在する物質にブレークダウン閾値以上のエネルギーを与える第1工程と、レーザー光の集光位置に向けてマイクロ波パルスを放射し、第1工程により生成されたプラズマ近傍の領域にエネルギーを供給する第2工程と、プラズマから発せられた光を計測する計測工程とを有し、
レーザー光とマイクロ波パルスとを同期的に制御して、レーザー光の照射タイミングとマイクロ波パルスの放射タイミングとを制御するとともに、生成されたプラズマが短時間で消滅しないようにマイクロ波の放射時間を制御することによりプラズマの維持時間を制御し、計測工程では、LIBSの計測系を用いて、プラズマから発せられた光を分光器により分光し、分光器により分光された光を光センサで受けて、光センサが出力する電気信号に基づいて演算処理を行うことを特徴とする計測方法である。
レーザー光を発する光源と、光源から発せられたレーザー光を集光する集光光学系と、マイクロ波パルスを発振する電磁波発振器と、レーザー光が集光される位置に存在する物質によりレーザー光の照射により生成されたプラズマに向けてマイクロ波パルスを放射するアンテナと、電磁波発振器を制御する制御装置とを有するプラズマ生成装置と、プラズマから発せられた光を計測する計測手段とを備え、制御装置は、レーザー光とマイクロ波パルスとを同期的に制御して、レーザー光の照射タイミングとマイクロ波パルスの放射タイミングとを制御するとともに、生成されたプラズマが短時間で消滅しないようにマイクロ波の放射時間を制御することによりプラズマの維持時間を制御し、計測手段は、LIBSの計測系であり、プラズマから発せられた光を分光する分光器と、分光器により分光された光を受ける光センサとを有し、光センサが出力する電気信号に基づいて演算処理を行うことを特徴とする計測装置である。
図1は、本発明に係るプラズマ生成方法を実行する本発明に係るプラズマ生成装置の第1の実施の形態における構成を示すブロック図である。
以下に示す動作例1においては、レーザー光を用いたブレークダウンにより生じる電子を契機として、マイクロ波のエネルギーを用いたプラズマ生成を行う。
以下に示す動作例2においては、レーザー光を用いたブレークダウンにより生じたプラズマにマイクロ波のエネルギーを吸収させ、もってブレークダウン領域で生じたプラズマを拡大成長させる。なお、この動作例2においては、前述のように、強電場領域は、ブレークダウン領域と重なり、または、ブレークダウン領域自体を内包する。また、この動作例2においては、マイクロ波の放射は、レーザー光の照射時刻以前に開始され、強電場領域の形成開始時刻は、ブレークダウン領域にレーザー光のみによって生じるプラズマの消失時刻以前である。
このプラズマ生成装置においては、レーザー光を使用することにより、プラズマの生成位置やタイミングを容易に制御することができ、マイクロ波アシストにより大体積、高放射強度のプラズマが得られる。すなわち、所望の位置及びタイミングで、大体積、高放射強度のプラズマを容易に生成できる。
本実施の形態によれば、プラズマ生成の契機となるブレークダウンをレーザー光照射によって行う。これは前述の作用効果に加え、次のような望ましい作用効果を奏する。すなわち、レーザー光によりブレークダウンが誘起される確率は、光子とプラズマの原料物質との衝突確率に依存するため、焦点までの光路における光の透過効率さえ確保されれば、高圧力、高密度の雰囲気中でのプラズマ生成が容易である。また、焦点までの光路における光の透過効率さえ確保されれば、プラズマの生成領域近傍に電極等を設置しなくてもプラズマが生成できる。このことは、プラズマ生成位置の選択性の向上及びプラズマの汚染低減に資する。
本実施の形態によれば、マイクロ波の放射によってプラズマの拡大成長を行う。これは前述の作用効果に加え、次のような望ましい作用効果を奏する。すなわち、マイクロ波を用いた直接的な絶縁破壊によるプラズマ生成より、低電力でのプラズマ生成が可能である。
アンテナを用いることにより、所望の位置に向けてマイクロ波を放射することが可能である。マイクロ波を対向する電極対に印加したり、コイルに印加するより、空間的な選択の幅が広がる。よって、設計の自由度が増す。
レーザー光誘起プラズマは、通常は極めて短時間で消滅するが、本発明においては、マイクロ波の放射時間を制御することにより、プラズマの維持時間を制御可能である。プラズマ温度の上昇時間より生成時間を長くすることで、熱プラズマの生成が可能である。
図2は、本発明に係るプラズマ生成方法を実行する本発明に係るプラズマ生成装置の第2の実施の形態における構成を示す斜視図である。
本発明レーザープラズマ生成装置は、制御装置を用いてレーザー光源自体を制御するのではなく、光源から焦点まで光の透過を制御することにより、レーザー光のON−OFFを制御するようにしてもよい。
本実施の形態においては、レーザー光路の遮断及び開放により、レーザー光を直接的に制御することにより、プラズマの生成タイミングを決定する。これにより、レーザー装置自体の駆動を制御するより、容易にかつ種々のタイミング制御を実現することができる。本実施の形態に係るレーザー光は、第1の実施の形態のそれと同様、高出力のものを要しない。したがって、チョッパの損耗が少ない。
本実施の形態においては、チョッパを用いて、レーザー光の焦点Fへの照射時刻の制御を行ったが、レーザー光路上に種々の光学部品を組合せて配置することにより、プラズマ生成のためのより高度な制御を実現することが可能になる。
図5は、本発明に係るプラズマ生成方法を実行する本発明に係るプラズマ生成装置の第4の実施の形態における構成を示すブロック図である。
本発明に係る計測装置は、前述のプラズマ生成装置と、LIBS(Laser-Induced Breakdown Spectroscopy)の計測系を有して構成される。LIBSの計測系は、受光用光学系、分光器、受光素子、信号処理装置、演算装置からなる。
この装置においては、第1の実施の形態、または、第4の実施の形態に係るプラズマ生成装置及びプラズマ生成方法により生成されるプラズマを用いたLIBS計測が可能になる。したがって、第1の実施の形態、または、第4の実施の形態の奏する望ましい作用及び効果をLIBS計測において実現することが可能になる。
図6は、本発明に係るプラズマ生成装置の第4の実施の形態におけるキャビティーの形状を示す一部断面斜視図である。
上述の各実施の形態において、プラズマ生成装置は、単一のレーザー光源を有するものであった。しかし、レーザー光源は複数であってもよい。それら複数のレーザー光源は、各々がブレークダウンに十分なエネルギーを発するものであってもよい。また、それら複数のレーザー光源からの光を一点に集中させることによって、一のブレークダウン領域を形成するようにしてもよい。
102,202 集光光学系
103,203,303,503 制御装置
104,204 パルス電源
105,205 マイクロ波発振器
106,206,406 アンテナ
207 マイクロ波伝送系
208 光ファイバー
310 チョッパ
410 キャビティー
511 導波管
512 アイソレータ・サーキュレータ
513 同軸導波管変換器
514 同軸ケーブル
520 ビームサンプラー
521A,521B パワーメーター
522 受光光学系
523 光ファイバー
524 分光器
525 光センサ
526 信号増幅器
527 コンピュータ
Claims (2)
- 光源から発せられたレーザー光を集光させ、このレーザー光の集光する位置に存在する物質にブレークダウン閾値以上のエネルギーを与える第1工程と、
前記レーザー光の集光位置に向けてマイクロ波パルスを放射し、前記第1工程により生成されたプラズマ近傍の領域にエネルギーを供給する第2工程と、
プラズマから発せられた光を計測する計測工程と
を有し、
前記レーザー光と前記マイクロ波パルスとを同期的に制御して、前記レーザー光の照射タイミングと前記マイクロ波パルスの放射タイミングとを制御するとともに、前記生成されたプラズマが短時間で消滅しないようにマイクロ波の放射時間を制御することによりプラズマの維持時間を制御し、
前記計測工程では、LIBSの計測系を用いて、プラズマから発せられた光を分光器により分光し、前記分光器により分光された光を光センサで受けて、前記光センサが出力する電気信号に基づいて演算処理を行う
ことを特徴とする計測方法。 - レーザー光を発する光源と、前記光源から発せられたレーザー光を集光する集光光学系と、マイクロ波パルスを発振する電磁波発振器と、前記レーザー光が集光される位置に存在する物質により前記レーザー光の照射により生成されたプラズマに向けて前記マイクロ波パルスを放射するアンテナと、前記電磁波発振器を制御する制御装置とを有するプラズマ生成装置と、
プラズマから発せられた光を計測する計測手段と
を備え、
前記制御装置は、前記レーザー光と前記マイクロ波パルスとを同期的に制御して、前記レーザー光の照射タイミングと前記マイクロ波パルスの放射タイミングとを制御するとともに、前記生成されたプラズマが短時間で消滅しないようにマイクロ波の放射時間を制御することによりプラズマの維持時間を制御し、
前記計測手段は、LIBSの計測系であり、プラズマから発せられた光を分光する分光器と、前記分光器により分光された光を受ける光センサとを有し、前記光センサが出力する電気信号に基づいて演算処理を行う
ことを特徴とする計測装置。
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JP2005235662A (ja) * | 2004-02-23 | 2005-09-02 | Techno Network Shikoku Co Ltd | 液中プラズマ装置および液中プラズマ発生方法 |
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