JP5648663B2 - 焼入れ硬化層厚さの検査装置及びニッケルめっき皮膜厚さの検査装置 - Google Patents
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Description
2 母材
3 磁性異質層(焼入れ硬化層又はNiめっき皮膜)
4 励磁コイル
5 検出コイル
6 ボビン
7 ヨーク
7A 無方向性電磁鋼板
8 本体ケース
9 コネクター
10 ケース
11 コネクター
12 スイッチ
A 第1実施形態のプローブ
B 第2実施形態のプローブ
Claims (5)
- 強磁性体からなる母材の表面に、窒化処理又は高周波焼入れ処理して形成した該母材とは異なる透磁率の硬化層が1mm以内に薄く形成されている被検査体の焼入れ硬化層の厚さを非破壊で検査する検査装置であって、前記被検査体の外周面に励磁コイルと検出コイルを内外に同軸状に配置したプローブと、前記励磁コイルに単一周波数の高周波電流又はパルス電流を供給して前記被検査体の側面部を表面に沿った方向に磁化することで、該側面部における焼入れ硬化層の厚さに応じて決まる該側面部の透磁率の分布に基づき磁束密度分布が生じ、前記検出コイルに誘起する鎖交磁束の大きさに応じた出力を計測する本体制御装置とを備え、前記検出コイルの出力の大きさを焼入れ硬化層の厚さに直接関連づけたことを特徴とする焼入れ硬化層厚さの検査装置。
- 強磁性体からなる母材の表面に、窒化処理又は高周波焼入れ処理して形成した該母材とは異なる透磁率の硬化層が1mm以内に薄く形成されている被検査体の焼入れ硬化層の厚さを非破壊で検査する検査装置であって、コ字形の無方向性電磁鋼板を複数積層したヨークに励磁コイルと検出コイルを巻き、ヨークの両端が被検査体に接触するように配置したプローブと、前記励磁コイルに単一周波数の高周波電流又はパルス電流を供給して前記被検査体の表面部を表面に沿った方向に磁化することで、該表面部における焼入れ硬化層の厚さに応じて決まる該表面部の透磁率の分布に基づき磁束密度分布が生じ、前記検出コイルに誘起する鎖交磁束の大きさに応じた出力を計測する本体制御装置とを備え、前記検出コイルの出力の大きさを焼入れ硬化層の厚さに直接関連づけたことを特徴とする焼入れ硬化層厚さの検査装置。
- 母材の表面に、ニッケルめっき処理して形成した該母材とは異なる透磁率のニッケルめっき皮膜が1mm以内に薄く形成されている被検査体のニッケルめっき皮膜の厚さを非破壊で検査する検査装置であって、前記被検査体の外周面に励磁コイルと検出コイルを内外に同軸状に配置したプローブと、前記励磁コイルに単一周波数の高周波電流又はパルス電流を供給して前記被検査体の側面部を表面に沿った方向に磁化することで、該側面部におけるニッケルめっき皮膜の厚さに応じて決まる該側面部の透磁率の分布に基づき磁束密度分布が生じ、前記検出コイルに誘起する鎖交磁束の大きさに応じた出力を計測する本体制御装置とを備え、前記検出コイルの出力の大きさをニッケルめっき皮膜の厚さに直接関連づけたことを特徴とするニッケルめっき皮膜厚さの検査装置。
- 母材の表面に、ニッケルめっき処理して形成した該母材とは異なる透磁率のニッケルめっき皮膜が1mm以内に薄く形成されている被検査体のニッケルめっき皮膜の厚さを非破壊で検査する検査装置であって、コ字形の無方向性電磁鋼板を複数積層したヨークに励磁コイルと検出コイルを巻き、ヨークの両端が被検査体に接触するように配置したプローブと、前記励磁コイルに単一周波数の高周波電流又はパルス電流を供給して前記被検査体の表面部を表面に沿った方向に磁化することで、該表面部におけるニッケルめっき皮膜の厚さに応じて決まる該表面部の透磁率の分布に基づき磁束密度分布が生じ、前記検出コイルに誘起する鎖交磁束の大きさに応じた出力を計測する本体制御装置とを備え、前記検出コイルの出力の大きさをニッケルめっき皮膜の厚さに直接関連づけたことを特徴とするニッケルめっき皮膜厚さの検査装置。
- 母材が強磁性体からなる請求項3又は4記載のニッケルめっき皮膜厚さの検査装置。
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