JP5625449B2 - マッハ・ツェンダ干渉計、アレイ導波路回折格子及びマッハ・ツェンダ干渉計の製造方法 - Google Patents
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Description
以下、図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図1は、実施の形態1にかかるマッハ・ツェンダ干渉計100の構成図である。マッハ・ツェンダ干渉計100は、アーム部10a、アーム部10b、3dB分岐導波路16及び3dB分岐導波路17により構成される。マッハ・ツェンダ干渉計100は、アーム部10aとアーム部10bとの間で非対称な構成を有する。また、マッハ・ツェンダ干渉計100は、入射ポート15と出射ポート18との間に接続される。
次に、実施の形態2にかかるマッハ・ツェンダ干渉計200について説明する。マッハ・ツェンダ干渉計200は、上述のマッハ・ツェンダ干渉計100の具体例である。図2Aは、実施の形態2にかかるマッハ・ツェンダ干渉計200の構成図である。図2Aに示すように、マッハ・ツェンダ干渉計200は、アーム20a、アーム20b、3dB分岐導波路26、3dB分岐導波路27により構成される。マッハ・ツェンダ干渉計200は、アーム20aとアーム20bとの間で非対称な構成を有する。また、マッハ・ツェンダ干渉計200は、入射ポート25と出射ポート28との間に接続される。
次に、実施の形態3にかかる光変調器300について説明する。図3は、実施の形態3にかかる光変調器300の構成図である。光変調器300は、2つのマッハ・ツェンダ干渉計301及び302を有する。マッハ・ツェンダ干渉計301及び302は、それぞれマッハ・ツェンダ干渉計100と同様の構成を有している。マッハ・ツェンダ干渉計302は、入射ポート31と出射ポート32との間に光接続される。出射ポート32の出射側には、バランス型フォトダイオード33が接続される。
次に、実施の形態4にかかるAWG400について説明する。図4は、実施の形態4にかかるAWG400の構成図である。AWG400は、例えばアレイ状に配置された6本の導波路が、スラブ部46とスラブ部47との間に接続されている。スラブ部46には入射ポート45が接続され、スラブ部47には出射ポート48が接続される。
次に、実施の形態5にかかるマッハ・ツェンダ干渉計500について説明する。図5は、実施の形態5にかかるマッハ・ツェンダ干渉計500の構成図である。マッハ・ツェンダ干渉計500は、図1に示すマッハ・ツェンダ干渉計100において、アーム部10bにリング共振器51を付加した構成を有する。リング共振器51は、シリコン細線導波路11bと光接続される。リング共振器51のコアは、シリコンにより作製される。マッハ・ツェンダ干渉計500のリング共振器51を除く部分は、対称型のマッハ・ツェンダ干渉計として構成される。従って、式(1)の計算結果は0となる。マッハ・ツェンダ干渉計500のその他の構成は、マッハ・ツェンダ干渉計100と同様であるので、説明を省略する。
次に、実施の形態6にかかるマッハ・ツェンダ干渉計600について説明する。図6は、実施の形態6にかかるマッハ・ツェンダ干渉計600の構成図である。マッハ・ツェンダ干渉計600は、図1に示すマッハ・ツェンダ干渉計100において、アーム部10aにリング共振器61を付加し、アーム部10bにリング共振器62を付加した構成を有する。リング共振器61及び62のコアは、シリコンにより作製される。リング共振器61とリング共振器を除くマッハ・ツェンダ干渉計600の他の部分は、非対象のマッハ・ツェンダ干渉計として構成される。マッハ・ツェンダ干渉計600のその他の構成は、マッハ・ツェンダ干渉計100と同様であるので、説明を省略する。
次に、実施の形態7にかかるマッハ・ツェンダ干渉計700について説明する。図7は、実施の形態7にかかるマッハ・ツェンダ干渉計700の構成図である。マッハ・ツェンダ干渉計600は、図1に示すマッハ・ツェンダ干渉計100において、アーム部10aのシリコン細線導波路11aに位相シフタ71を挿入している。さらに、アーム部10bのシリコン細線導波路11bに位相シフタ72を挿入している。位相シフタ71及び位相シフタ72は、例えばpn接合を用いて作製することができる。マッハ・ツェンダ干渉計700のその他の構成は、マッハ・ツェンダ干渉計100と同様であるので、説明を省略する。
なお、本発明は上記実施の形態に限られたものではなく、趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更することが可能である。例えば、上述の実施の形態では、マッハ・ツェンダ干渉計の両アームにコアサイズを拡大した2つの導波路を設けたが、コアサイズを拡大した導波路の数は3以上でもよい。その場合、式(1)〜(3)の項の数がそれに応じて増加する。これらの式の所望の値に合わせて、例えば、導波路全体のサイズが小さくなるように、それぞれの導波路の長さを設計することが可能である。また、これらの導波路による等価屈折率およびその温度係数、群屈折率が偏波依存性をもつ場合には、中心波長間隔の偏波無依存化等も、本実施の形態により実現される。すなわち、導波路の数によっては、偏波無依存化及び温度無依存化を同時に満たすことも可能である。
11a、11b、21a、21b、41a〜41f シリコン細線導波路
12a、12b、22a、22b、42a〜42f シリコン導波路
13a、13b、23a、23b、43a〜43f 導波路
15、25、31、45 入射ポート
16、17、26、27 3dB分岐導波路
18、28、32、48 出射ポート
33 バランス型フォトダイオード
40a〜40f 導波路
46、47 スラブ部
51、61、62 リング共振器
71、72 位相シフタ
100、200、301、302、500、600、700 マッハ・ツェンダ干渉計
300 光変調器
400 AWG
Claims (8)
- 入射光から分波された分波光を通過させる第1のアーム部及び第2のアーム部を備え、
前記第1のアーム部及び前記第2のアーム部は、
第1の導波路と、
前記第1の導波路よりも幅が広く、等価屈折率の温度変化率が正である材料からなる第2の導波路と、
一端が前記第2の導波路の一端と光学的に縦続接続され、等価屈折率の温度変化率が正であり、かつ、前記第1の導波路及び前記第2の導波路とは異なる材料からなる第3の導波路と、を備え、
前記第1の導波路の一端は、前記第2の導波路の他端又は前記第3の導波路の他端と光学的に縦続接続され、
前記第1のアーム部の前記第2の導波路の長さから前記第2のアーム部の前記第2の導波路の長さを減じて得られる値に前記第2の導波路の等価屈折率の温度変化率を乗じて得られる値と、前記第1のアーム部の前記第3の導波路の長さから前記第2のアーム部の前記第3の導波路の長さを減じて得られる値に前記第3の導波路の等価屈折率の温度変化率を乗じて得られる値と、を加えた値が0となるように、前記第1のアーム部の前記第2の導波路の長さ及び前記第3の導波路の長さと、前記第2のアーム部の前記第2の導波路の長さ及び前記第3の導波路の長さと、が決定され、
前記第2の導波路は、前記第1の導波路へ向けて徐々に細くなり、
前記第1のアーム部の前記第1の導波路の光路長は、前記第2のアーム部の前記第1の導波路の光路長と同じであり、
前記第1の導波路及び前記第2の導波路はシリコンからなり、
前記第2の導波路は、前記第2の導波路を伝搬する光の単一モード条件を満たさない導波路である、
マッハ・ツェンダ干渉計。 - 前記第1〜第3の導波路は、光の進行方向に縦続接続される、
請求項1に記載のマッハ・ツェンダ干渉計。 - 前記第2の導波路と前記第3の導波路とは重複して形成され、
重複部分の前記第2の導波路の幅は、光の伝搬方向に沿って徐々に細くなることを特徴とする、
請求項1又は2に記載のマッハ・ツェンダ干渉計。 - 前記第2の導波路は、前記第3の導波路へ向けて徐々に細くなることを特徴とする、
請求項1乃至3のいずれか一項に記載のマッハ・ツェンダ干渉計。 - 前記第3の導波路は、酸化シリコン又は窒化シリコンからなることを特徴とする、
請求項1乃至4のいずれか一項に記載のマッハ・ツェンダ干渉計。 - 前記第1のアーム部の前記第1の導波路に光結合され、前記第1の導波路と同じ材料からなる第1のリング共振器を更に備えることを特徴とする、
請求項1乃至5のいずれか一項に記載のマッハ・ツェンダ干渉計。 - 入射ポートと出射ポートとの間に並列に接続された複数のアーム部を備え、
前記複数のアーム部のそれぞれは、
第1の導波路と、
前記第1の導波路よりも幅が広く、等価屈折率の温度変化率が正である材料からなる第2の導波路と、
一端が前記第2の導波路の一端と光学的に縦続接続され、等価屈折率の温度変化率が正であり、かつ、前記第1の導波路及び前記第2の導波路とは異なる材料からなる第3の導波路と、を備え、
前記第1の導波路の一端は、前記第2の導波路の他端又は前記第3の導波路の他端と光学的に接続され、
前記複数のアーム部の前記第1の導波路のそれぞれの光路長が等しく、
前記複数のアーム部の前記第2の導波路のそれぞれの光路長が異なり、
前記複数のアーム部の前記第3の導波路のそれぞれの光路長が異なり、
前記複数のアーム部のうちの第1のアーム部の前記第2の導波路の長さから前記複数のアーム部のうちの第2のアーム部の前記第2の導波路の長さを減じて得られる値に前記第2の導波路の等価屈折率の温度変化率を乗じて得られる値と、前記第1のアーム部の前記第3の導波路の長さから前記第2のアーム部の前記第3の導波路の長さを減じて得られる値に前記第3の導波路の等価屈折率の温度変化率を乗じて得られる値と、を加えた値が0となるように、前記第1のアーム部の前記第2の導波路の長さ及び前記第3の導波路の長さと、前記第2のアーム部の前記第2の導波路の長さ及び前記第3の導波路の長さと、が決定され、
前記第2の導波路は、前記第1の導波路へ向けて徐々に細くなり、
前記第1のアーム部の前記第1の導波路の光路長は、前記第2のアーム部の前記第1の導波路の光路長と同じであり、
前記第1の導波路及び前記第2の導波路はシリコンからなり、
前記第2の導波路は、前記第2の導波路を伝搬する光の単一モード条件を満たさない導波路である、
アレイ導波路回折格子。 - 第1のアーム部及び第2のアーム部に第1の導波路を形成する工程と、
前記第1の導波路よりも幅が広く、等価屈折率の温度変化率が正である材料からなる第2の導波路を形成する工程と、
等価屈折率の温度変化率が正であり、かつ、前記第1の導波路及び前記第2の導波路とは異なる材料からなる第3の導波路を、一端を前記第2の導波路の一端と縦続接続して形成する工程と、を備え、
前記第1の導波路の一端は、前記第2の導波路の他端又は前記第3の導波路の他端と光学的に接続され、
前記第1のアーム部の前記第2の導波路の長さから前記第2のアーム部の前記第2の導波路の長さを減じて得られる値に前記第2の導波路の等価屈折率の温度変化率を乗じて得られる値と、前記第1のアーム部の前記第3の導波路の長さから前記第2のアーム部の前記第3の導波路の長さを減じて得られる値に前記第3の導波路の等価屈折率の温度変化率を乗じて得られる値と、を加えた値が0となるように、前記第1のアーム部の前記第2の導波路の長さ及び前記第3の導波路の長さと、前記第2のアーム部の前記第2の導波路の長さ及び前記第3の導波路の長さと、が決定され、
前記第2の導波路は、前記第1の導波路へ向けて徐々に細くなり、
前記第1のアーム部の前記第1の導波路の光路長は、前記第2のアーム部の前記第1の導波路の光路長と同じであり、
前記第1の導波路及び前記第2の導波路はシリコンからなり、
前記第2の導波路は、前記第2の導波路を伝搬する光の単一モード条件を満たさない導波路である、
マッハ・ツェンダ干渉計の製造方法。
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