JP5555250B2 - 被加工物の高スループットレーザ加工を実現するためにレーザビーム位置決めシステムに対する動的熱負荷を制御する方法 - Google Patents
被加工物の高スループットレーザ加工を実現するためにレーザビーム位置決めシステムに対する動的熱負荷を制御する方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5555250B2 JP5555250B2 JP2011539610A JP2011539610A JP5555250B2 JP 5555250 B2 JP5555250 B2 JP 5555250B2 JP 2011539610 A JP2011539610 A JP 2011539610A JP 2011539610 A JP2011539610 A JP 2011539610A JP 5555250 B2 JP5555250 B2 JP 5555250B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- machining
- workpiece
- shape
- laser beam
- processing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000003754 machining Methods 0.000 title claims description 99
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 36
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 25
- 238000005553 drilling Methods 0.000 claims description 14
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 14
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 12
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 claims description 9
- 238000006731 degradation reaction Methods 0.000 claims description 9
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 claims description 7
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 6
- 230000001788 irregular Effects 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- 238000012886 linear function Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 1
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/02—Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
- B23K26/04—Automatically aligning, aiming or focusing the laser beam, e.g. using the back-scattered light
- B23K26/042—Automatically aligning the laser beam
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/40—Removing material taking account of the properties of the material involved
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
- B23K26/082—Scanning systems, i.e. devices involving movement of the laser beam relative to the laser head
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
- B23K26/0823—Devices involving rotation of the workpiece
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/08—Devices involving relative movement between laser beam and workpiece
- B23K26/083—Devices involving movement of the workpiece in at least one axial direction
- B23K26/0853—Devices involving movement of the workpiece in at least in two axial directions, e.g. in a plane
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K26/00—Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
- B23K26/36—Removing material
- B23K26/38—Removing material by boring or cutting
- B23K26/382—Removing material by boring or cutting by boring
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/04—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
- H01L31/042—PV modules or arrays of single PV cells
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2101/00—Articles made by soldering, welding or cutting
- B23K2101/36—Electric or electronic devices
- B23K2101/40—Semiconductor devices
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K2103/00—Materials to be soldered, welded or cut
- B23K2103/50—Inorganic material, e.g. metals, not provided for in B23K2103/02 – B23K2103/26
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Laser Beam Processing (AREA)
Description
(c)2011年,Electro Scientific Industries, Inc
この特許文献の開示の一部は、著作権によって保護されるものを含む。本著作権者は、特許商標庁のファイルまたは記録における限り、特許文献またはその開示をファクシミリで複製することに意義はない。ただし、いかなる場合でも全ての著作権を留保する。37 CFR 1.71(d)参照。
VPS=N/(N×Td+Tg)
Claims (17)
- 被加工形状を加工する間にレーザビームを方向付けるレーザビーム位置決め器と光学素子に対する動的熱負荷によって生じる被加工形状の加工精度劣化および品質劣化を最小化しつつ、密集間隔パターンで配置された被加工形状の高スループットレーザ加工を実現する方法であって、
支持部上の、加工面領域を規定する加工面を有する被加工物を位置決めするステップ、
レーザビームをビーム位置決めシステムに向けて方向付け、加工レーザビームを前記被加工物の前記加工面上の加工形状位置に入射させるステップであって、
前記ビーム位置決めシステムは、移動ステージと、前記移動ステージと協調動作して密集間隔パターン内の被加工形状を前記被加工物の前記加工面上の前記加工形状位置において加工する第1および第2ビーム位置決め器とを備え、
前記第1ビーム位置決め器は、光ビーム偏向面機構を備え、第1応答時間を有し、前記光ビーム偏向面機構は、前記加工レーザビームを前記加工面のスキャン領域内において位置決めするように動作することができるように構成されており、
前記第2ビーム位置決め器は、第2応答時間を有するゼロ慣性光学偏向器であって、前記加工レーザビームを前記スキャン領域内の位置に移動させるように動作することができるように構成されており、前記第2応答時間は前記第1応答時間よりも短い、ゼロ慣性光学偏向器を備えている、
ステップ、
前記ビーム位置決めシステムを制御して前記移動ステージと前記第1ビーム位置決め器の動作を調整し、前記加工レーザビームを前記スキャン領域内で位置決めし、前記スキャン領域を移動させて前記加工面をカバーするステップであって、
前記スキャン領域は、実質的に前記被加工物の前記加工面領域よりも小さく、それぞれ複数の加工形状位置を包含する複数の加工バンドを含み、
前記第1ビーム位置決め器が前記加工レーザビームを前記スキャン領域内の複数の前記加工バンドへ連続的に位置決めするように前記第1ビーム位置決め器の前記光ビーム偏向面機構を動作させ、
前記加工レーザビームを各加工形状位置に移動させ停留させて前記加工バンド内の前記被加工形状を加工することにより、前記第2ビーム位置決め器が各前記加工バンド内の複数の前記加工形状位置において前記被加工形状を加工するように前記第2ビーム位置決め器を動作させ、これにより、前記第1ビーム位置決め器が前記スキャン領域内の被加工形状の加工中に移動するのにともなう前記第1ビーム位置決め器の加速および減速がスループットへ与える影響を希釈化する、
ステップ、
を有することを特徴とする方法。 - 前記被加工物は、太陽電池のアレイでパターン化されたシリコンウエハであることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記第1ビーム位置決め器は、ミラーベースビーム位置決め器を備えることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記ミラーベースビーム位置決め器は、2軸ガルバノメータビーム位置決め器を備えることを特徴とする請求項3記載の方法。
- 前記ミラーベースビーム位置決め器は、2軸高速ステアリングミラーを備えることを特徴とする請求項3記載の方法。
- 前記移動ステージは、前記第1ビーム位置決め器と前記ゼロ慣性光学偏向器を支持することを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記移動ステージは、直交する方向に移動する第1および第2リニアステージ部品を備え、
前記第1リニアステージ部品は、前記第1ビーム位置決め器および前記ゼロ慣性光学偏向器を支持し、
前記第2リニアステージ部品は、前記被加工物が配置される前記支持部を備える
ことを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記ゼロ慣性光学偏向器は、前記加工バンドとして動作直線を描くように動作する音響光学偏向器を備えることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記ゼロ慣性光学偏向器は、前記加工バンドとして動作直線を描くように動作する電気光学偏向器を備えることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記ゼロ慣性光学偏向器は、1次元スキャンアーキテクチャの部品であり、前記加工バンドとして動作直線を描くように動作する音響光学偏向器または電気光学偏向器を備え、
前記加工レーザビームは、各加工形状位置において停留し、複数のレーザパルスを出力することによって前記動作直線内の前記被加工形状を加工する
ことを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記スキャン領域の歪みを制御するため、リレーレンズが前記第1および第2ビーム位置決め器の間の光学経路に沿って配置されていることを特徴とする請求項1記載の方法。
- 前記加工レーザビームは、前記被加工形状のうち1つを加工する複数のレーザパルスを含み、
前記スキャン領域内の前記加工バンドに沿って加工される1つの前記被加工形状の位置を決定し、前記1つの被加工形状の位置を参照して前記1つの被加工形状を加工するレーザパルスの数を決定し、これにより、前記スキャン領域内の被加工形状を加工する前記加工レーザビームによって消費される時間をさらに最適化するステップをさらに有する
ことを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記加工レーザビームは、前記被加工形状のうち1つを加工するレーザパワーを有し、
前記スキャン領域内の前記加工バンドに沿って加工される1つの前記被加工形状の位置を決定し、前記1つの被加工形状の位置を参照して前記1つの被加工形状を加工するレーザパワーを決定し、これにより、前記スキャン領域内の被加工形状を加工する前記加工レーザビームによって消費される時間をさらに最適化するステップをさらに有する
ことを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記加工バンドは長さを有し、
前記ビーム位置決めシステムを制御して、前記第2ビーム位置決め器が前記加工レーザビームを移動させ停留させて前記加工バンド内の前記被加工形状を加工して、前記第2ビーム位置決め器が前記被加工形状を加工する前記加工バンドの長さを延伸するのとあわせて、前記第1ビーム位置決め器が前記加工バンドを回転させるように前記第1ビーム位置決め器を動作させ、これにより、前記被加工物の前記加工面をカバーするために消費される総時間への寄与分としての、前記第1ビーム位置決め器が前記スキャン領域を移動させる時間を削減するステップをさらに有する
ことを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記ゼロ慣性光学偏向器は、2次元スキャンアーキテクチャの部品であり、2つの音響光学偏向器または2つの電気光学偏向器を備え、
前記加工レーザビームは、各加工形状位置において停留し、複数のレーザパルスを出力することによって前記加工バンド内の前記被加工形状を加工する
ことを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記ゼロ慣性光学偏向器は、2次元スキャンアーキテクチャの部品であり、2つの音響光学偏向器または2つの電気光学偏向器を備え、
前記加工レーザビームは、各加工形状位置において停留し、前記被加工形状を穿孔加工することによって前記加工バンド内の前記被加工形状を加工する
ことを特徴とする請求項1記載の方法。 - 前記ゼロ慣性光学偏向器は、2次元スキャンアーキテクチャの部品であり、2つの音響光学偏向器または2つの電気光学偏向器を備え、
前記加工レーザビームは、各加工形状位置において停留し、前記被加工形状を螺旋加工することによって前記加工バンド内の前記被加工形状を加工する
ことを特徴とする請求項1記載の方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/330,418 US8680430B2 (en) | 2008-12-08 | 2008-12-08 | Controlling dynamic and thermal loads on laser beam positioning system to achieve high-throughput laser processing of workpiece features |
US12/330,418 | 2008-12-08 | ||
PCT/US2009/066063 WO2010077506A2 (en) | 2008-12-08 | 2009-11-30 | Controlling dynamic and thermal loads on laser beam positioning system to achieve high throughput laser processing of workpiece features |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012510901A JP2012510901A (ja) | 2012-05-17 |
JP5555250B2 true JP5555250B2 (ja) | 2014-07-23 |
Family
ID=42229920
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011539610A Active JP5555250B2 (ja) | 2008-12-08 | 2009-11-30 | 被加工物の高スループットレーザ加工を実現するためにレーザビーム位置決めシステムに対する動的熱負荷を制御する方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8680430B2 (ja) |
JP (1) | JP5555250B2 (ja) |
KR (1) | KR101709711B1 (ja) |
CN (1) | CN102245341B (ja) |
SG (1) | SG171442A1 (ja) |
WO (1) | WO2010077506A2 (ja) |
Families Citing this family (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20100110996A (ko) * | 2009-04-06 | 2010-10-14 | 주식회사 프로텍 | 그리드 이미지와 스테이지의 이동 각도 조절에 의한 레이저빔 간 피치조절 방법 |
TWI594828B (zh) * | 2009-05-28 | 2017-08-11 | 伊雷克托科學工業股份有限公司 | 應用於雷射處理工件中的特徵的聲光偏轉器及相關雷射處理方法 |
TWI543264B (zh) * | 2010-03-31 | 2016-07-21 | 應用材料股份有限公司 | 雷射光束定位系統 |
KR101973660B1 (ko) * | 2010-10-22 | 2019-04-30 | 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 | 빔 디더링 및 스카이빙을 위한 레이저 처리 시스템 및 방법 |
JP5557352B2 (ja) * | 2012-04-20 | 2014-07-23 | Necエンジニアリング株式会社 | シート切断装置、チップ製造装置、シート切断方法、チップ製造方法及びシート切断プログラム |
JP6339102B2 (ja) | 2013-01-11 | 2018-06-06 | エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド | レーザパルスエネルギー制御システム及び方法 |
CN105102169B (zh) * | 2013-03-15 | 2017-05-03 | 伊雷克托科学工业股份有限公司 | 用于声光偏转器击溃处理的激光***和方法 |
KR102245812B1 (ko) * | 2013-03-15 | 2021-04-30 | 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 | Aod 이동 저감을 위한 aod 툴 정착을 위한 레이저 시스템 및 방법 |
KR102373311B1 (ko) * | 2013-03-15 | 2022-03-11 | 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 | 레이저 빔 위치결정 시스템용의 위상 어레이 조향 |
EP2988904B1 (en) * | 2013-04-26 | 2023-08-23 | Raytheon Technologies Corporation | Selective laser melting system |
CN103290178B (zh) * | 2013-06-20 | 2014-11-05 | 温州大学 | 一种隐藏面激光冲击强化方法和装置 |
DE102014012733B3 (de) * | 2014-08-26 | 2015-12-10 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Anordnung zur Abtastung einer Objektfläche mit mehreren Laserstrahlen und Verfahren zum Betrieb der Anordnung |
WO2016122821A2 (en) * | 2015-01-29 | 2016-08-04 | Imra America, Inc. | Laser-based modification of transparent materials |
CN107405724B (zh) | 2015-02-27 | 2020-05-05 | 伊雷克托科学工业股份有限公司 | 用于横轴微机械加工的快速射束操纵 |
DE102015003193A1 (de) * | 2015-03-12 | 2016-09-15 | Siltectra Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zum kontinuierlichen Behandeln eines Festkörpers mittels Laserstrahlen |
DE102015112151A1 (de) * | 2015-07-24 | 2017-02-09 | Lpkf Laser & Electronics Ag | Verfahren und Vorrichtung zur Laserbearbeitung eines Substrates mit mehrfacher Ablenkung einer Laserstrahlung |
CN108025396B (zh) | 2015-09-09 | 2020-09-11 | 伊雷克托科学工业股份有限公司 | 镭射处理设备、镭射处理工件的方法及相关配置 |
WO2017075277A1 (en) * | 2015-10-30 | 2017-05-04 | Seurat Technologies, Inc. | Part manipulation using printed manipulation points |
JP6647888B2 (ja) * | 2016-01-29 | 2020-02-14 | ビアメカニクス株式会社 | レーザ加工方法及びレーザ加工装置 |
WO2017161284A1 (en) | 2016-03-17 | 2017-09-21 | Electro Scientific Industries, Inc. | Location of image plane in a laser processing system |
JP7146770B2 (ja) | 2016-12-30 | 2022-10-04 | エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド | レーザ加工装置における光学部品の寿命を延ばすための方法及びシステム |
US10330460B2 (en) * | 2017-06-13 | 2019-06-25 | Raytheon Company | Calibration method and system for a fast steering mirror |
KR102411536B1 (ko) | 2017-10-11 | 2022-06-22 | 삼성디스플레이 주식회사 | 증착 마스크 제조방법 및 제조장치 |
KR102128504B1 (ko) * | 2018-01-26 | 2020-07-08 | 주식회사 이오테크닉스 | 관성 무시 가공 장치 및 관성 무시 가공 방법 |
KR20240050452A (ko) | 2018-06-05 | 2024-04-18 | 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 | 레이저 가공 장치, 그 작동 방법 및 이를 사용한 작업물 가공 방법 |
EP3917717A4 (en) * | 2019-01-31 | 2022-11-30 | Electro Scientific Industries, Inc. | LASER PROCESSING APPARATUS, METHOD OF OPERATING THE SAME APPARATUS, AND METHODS OF PROCESSING WORKPIECES USING THE SAME APPARATUS |
US20210283719A1 (en) * | 2020-03-12 | 2021-09-16 | Rohr, Inc. | Substrate perforation system & method using beamlets |
KR20230011270A (ko) * | 2020-05-14 | 2023-01-20 | 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 | 레이저 프로세싱된 작업물들의 지도식 검사를 용이하게 하는 레이저 프로세싱 장치 및 이를 작동하는 방법 |
US20220143905A1 (en) * | 2020-11-12 | 2022-05-12 | Eagle Technology, Llc | Additive manufacturing device with acousto-optic deflector and related methods |
DE102020134422A1 (de) * | 2020-12-21 | 2022-06-23 | Trumpf Laser Gmbh | Vorrichtung zur Strahlbeeinflussung eines Laserstrahls |
CN113500313A (zh) * | 2021-06-23 | 2021-10-15 | 济南森峰科技有限公司 | 一种z轴动态移动的激光高速错位打孔方法 |
DE102021126360A1 (de) | 2021-10-12 | 2023-04-13 | Lpkf Laser & Electronics Aktiengesellschaft | Verfahren zur Bearbeitung eines Werkstücks durch Laserstrahlung in Form von Lissajous-Figuren sowie ein hierfür bestimmter Scanner und ein Spiegelelement |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4532402A (en) * | 1983-09-02 | 1985-07-30 | Xrl, Inc. | Method and apparatus for positioning a focused beam on an integrated circuit |
US4626613A (en) * | 1983-12-23 | 1986-12-02 | Unisearch Limited | Laser grooved solar cell |
JPH01113191A (ja) | 1987-10-23 | 1989-05-01 | Mitsubishi Electric Corp | レーザビーム位置検出装置 |
JP2942804B2 (ja) * | 1988-03-03 | 1999-08-30 | 株式会社ニコン | レーザ加工装置及びレーザ加工装置のレーザビーム制御方法 |
US5635976A (en) * | 1991-07-17 | 1997-06-03 | Micronic Laser Systems Ab | Method and apparatus for the production of a structure by focused laser radiation on a photosensitively coated substrate |
JPH05164980A (ja) * | 1991-12-17 | 1993-06-29 | Hamamatsu Photonics Kk | 光ビーム走査装置 |
US5751585A (en) * | 1995-03-20 | 1998-05-12 | Electro Scientific Industries, Inc. | High speed, high accuracy multi-stage tool positioning system |
KR100443549B1 (ko) * | 1996-03-12 | 2004-10-28 | 일렉트로 싸이언티픽 인더스트리이즈 인코포레이티드 | 다-공구위치선정시스템 |
US5837962A (en) * | 1996-07-15 | 1998-11-17 | Overbeck; James W. | Faster laser marker employing acousto-optic deflection |
US6341029B1 (en) * | 1999-04-27 | 2002-01-22 | Gsi Lumonics, Inc. | Method and apparatus for shaping a laser-beam intensity profile by dithering |
WO2001007195A1 (de) * | 1999-07-23 | 2001-02-01 | Heidelberg Instruments Mikrotechnik Gmbh | Verfahren zur erzeugung von mikrobohrungen |
US7245412B2 (en) * | 2001-02-16 | 2007-07-17 | Electro Scientific Industries, Inc. | On-the-fly laser beam path error correction for specimen target location processing |
JP2002244072A (ja) * | 2001-02-19 | 2002-08-28 | Nec Corp | レーザ加工装置 |
IL159199A0 (en) * | 2001-06-13 | 2004-06-01 | Orbotech Ltd | Multi-beam micro-machining system and method |
EP1461602A4 (en) * | 2001-11-28 | 2011-09-14 | James W Overbeck | GRID MICROSCOPY, FLUORESCENT RECOGNITION AND LASER BEAM POSITIONING |
JP3822188B2 (ja) * | 2002-12-26 | 2006-09-13 | 日立ビアメカニクス株式会社 | 多重ビームレーザ穴あけ加工装置 |
US6706999B1 (en) * | 2003-02-24 | 2004-03-16 | Electro Scientific Industries, Inc. | Laser beam tertiary positioner apparatus and method |
WO2005051591A1 (de) * | 2003-11-27 | 2005-06-09 | Hitachi Via Mechanics, Ltd. | Vorrichtung zur materialbearbeitung mittels eines durch eine piezoelektrische ablenkplätchen aufweisende ablenkeinheit geführten laserstrahls |
US7133187B2 (en) * | 2004-06-07 | 2006-11-07 | Electro Scientific Industries, Inc. | AOM modulation techniques employing plurality of transducers to improve laser system performance |
US7528342B2 (en) * | 2005-02-03 | 2009-05-05 | Laserfacturing, Inc. | Method and apparatus for via drilling and selective material removal using an ultrafast pulse laser |
TWI382795B (zh) * | 2005-03-04 | 2013-01-11 | Hitachi Via Mechanics Ltd | A method of opening a printed circuit board and an opening device for a printed circuit board |
JP2008049383A (ja) * | 2006-08-28 | 2008-03-06 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | ビーム照射方法及びビーム照射装置 |
JP2008068270A (ja) * | 2006-09-12 | 2008-03-27 | Disco Abrasive Syst Ltd | レーザー加工装置 |
US8026158B2 (en) * | 2007-06-01 | 2011-09-27 | Electro Scientific Industries, Inc. | Systems and methods for processing semiconductor structures using laser pulses laterally distributed in a scanning window |
-
2008
- 2008-12-08 US US12/330,418 patent/US8680430B2/en active Active
-
2009
- 2009-11-30 KR KR1020117012963A patent/KR101709711B1/ko active IP Right Grant
- 2009-11-30 WO PCT/US2009/066063 patent/WO2010077506A2/en active Application Filing
- 2009-11-30 JP JP2011539610A patent/JP5555250B2/ja active Active
- 2009-11-30 CN CN200980149356.9A patent/CN102245341B/zh active Active
- 2009-11-30 SG SG2011038833A patent/SG171442A1/en unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012510901A (ja) | 2012-05-17 |
WO2010077506A2 (en) | 2010-07-08 |
US20100140237A1 (en) | 2010-06-10 |
WO2010077506A3 (en) | 2010-09-16 |
CN102245341A (zh) | 2011-11-16 |
CN102245341B (zh) | 2014-08-27 |
SG171442A1 (en) | 2011-07-28 |
KR101709711B1 (ko) | 2017-02-24 |
US8680430B2 (en) | 2014-03-25 |
KR20110102319A (ko) | 2011-09-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5555250B2 (ja) | 被加工物の高スループットレーザ加工を実現するためにレーザビーム位置決めシステムに対する動的熱負荷を制御する方法 | |
KR101420703B1 (ko) | 고속 빔 편향 링크 가공 | |
JP4459530B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
US6285002B1 (en) | Three dimensional micro machining with a modulated ultra-short laser pulse | |
KR100691924B1 (ko) | 재료 가공 장치 및 방법 | |
US20040129685A1 (en) | Multibeam laser drilling apparatus | |
US6720524B1 (en) | Method and apparatus for laser drilling | |
JPH0847789A (ja) | 加工装置 | |
KR20150126603A (ko) | 테이퍼 제어를 위한 빔 각도 및 작업물 이동의 공조 | |
KR20130133800A (ko) | 레이저 스크라이브의 테이퍼 감소 방법 및 장치 | |
JP5153205B2 (ja) | レーザマーキング装置 | |
KR101043370B1 (ko) | 레이저 가공장치에 있어서의 가공품 위치 지정 방법과 장치 및 그 방법과 장치에 의해 제조된 기판 | |
KR20060105577A (ko) | 레이저가공기 | |
JPH10328873A (ja) | レーザ加工装置 | |
KR100609831B1 (ko) | 다중 레이저 가공장치 | |
KR100603904B1 (ko) | 폴리곤 미러를 이용한 다중 레이저 가공장치 | |
JP2021118284A (ja) | チップ転写装置 | |
JP3682295B2 (ja) | レーザ加工装置 | |
KR100556587B1 (ko) | 폴리곤 미러를 이용한 레이저 가공장치 | |
JP2018103199A (ja) | レーザ加工装置およびレーザ加工方法 | |
JP2002346775A (ja) | レーザ加工装置及び方法 | |
JP2004098116A (ja) | マスク転写式レーザ形状加工方法 | |
JPH106049A (ja) | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | |
JP2002079393A (ja) | レーザ照射装置及びレーザ加工方法 | |
JP2009195947A (ja) | レーザビーム加工装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20121109 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20140217 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20140507 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20140530 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5555250 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |