JP5506450B2 - 固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法 - Google Patents

固体撮像装置及び固体撮像装置の駆動方法 Download PDF

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Description

本発明は固体撮像装置、特に固体撮像装置の低消費電力化に関する。
近年、固体撮像装置では、光電変換部で生成した信号を複数の増幅段で増幅する構成が検討されている。特許文献1の図1には、光電変換手段に含まれる1段目の増幅段と、信号保持手段に含まれる2段目の増幅段とを備えた構成が開示されている。
特開2006−109530号公報
しかしながら、特許文献1に示された構成では、2段の増幅段がそれぞれ電流源を有する構成であるために、消費電力の点で改善の余地がある。また2段よりも多く増幅段を設けた場合には、消費電力も更に大きくなる。
更に、信号読み出しの高速化が求められており、複数の画素からの信号を並列に増幅して読み出す構成が提案されている。並列処理するためのそれぞれの読み出し経路に、複数段の増幅段を設けた場合には、読み出し回路の数分だけ消費電力も増加する。例えば、高精細の画像を取得するための複写機、スキャナ用、もしくは、一眼レフデジタルカメラ用の固体撮像装置では数千の読み出し経路を並列に設ける場合があり、消費電力の影響が更に増加する。
本発明は、上記の課題に鑑みてなされたものであり、低消費電力化を可能とする固体撮像装置を提供することを目的とする。
本発明に係る固体撮像装置は、光電変換部と、前記光電変換部で発生した電荷量に基づく信号を増幅して第1増幅信号を出力する第1増幅手段と、前記第1増幅手段から出力された前記第1増幅信号を増幅して第2増幅信号を出力する第2増幅手段と、前記第1増幅手段と前記第2増幅手段とが共有する電流源と、前記第1増幅手段及び第2増幅手段のそれぞれを単独で非動作状態とすることが可能な選択手段と、を有することを特徴とする。
本発明によれば、固体撮像装置の低消費電力化が可能となる。
本発明に係る実施例1の構成を示す概略構成図である。 図1に示された固体撮像装置の動作を示すタイミングチャートである。 本発明に係る実施例2の構成を示す概略構成図である。 図3に示された固体撮像装置の動作を示すタイミングチャートである。 図1の回路ブロック50の各動作タイミングにおける接続状態を示す図である。 図3の回路ブロック50の各動作タイミングにおける接続状態を示す図である。 本発明に係る実施例3の構成を示す概略構成図である。 図7に示された固体撮像装置の動作を示すタイミングチャートである。 本発明に係る実施例3の変形例の構成を示す概略構成図である。 図9に示された固体撮像装置の動作を示すタイミングチャートである。 本発明に係る実施例4の構成を示す概略構成図である。 本発明に係る実施例5の構成を示す概略構成図である。
本発明に係る実施例について図面を参照して説明する。
図1は、本発明に係る実施例1のシステムブロック図である。N個の画素101が1次元状に配列されて画素アレイ100を構成している。画素101は、フォトダイオード(PD)102、リセットトランジスタ(Tr)103、第1増幅トランジスタ(Tr)104、選択トランジスタ(Tr)105とを含む。なお、本実施例では、各トランジスタはNMOSトランジスタである。必要に応じて、PMOSトランジスタを用いてもよい。またバイポーラトランジスタを用いてもよい。
PD102は光電変換部であり、入射光を光電変換して信号電荷を生成する。第1増幅Tr104のゲートはPD102に接続され、ドレインは電源線に接続される。第1増幅Tr104のソースは選択Tr105を介して出力信号線110に接続される。第1増幅Tr104は、後述する電流源202と第1ソースフォロア回路を構成し、第1増幅Trのゲートが第1ソースフォロアの入力ノードである。リセットTr103はPD102及び第1ソースフォロア回路の入力ノードをリセットする。ノードRESはリセットTrのゲートに接続され、リセットパルスpRESが入力される。リセットパルスpRESに応じてリセットTr103の動作が制御される。
第1ソースフォロア回路は、光電変換部で発生した信号電荷の電荷量に基づく信号を増幅して出力する。本明細書では、光電変換部で発生した信号電荷の電荷量に基づく信号、及び該信号が増幅手段で増幅された信号を、光電変換信号と呼称する。本実施例において、第1ソースフォロア回路から出力された光電変換信号が、特許請求の範囲に記載の第1増幅信号に対応する。
第1ソースフォロア回路は、入力ノードがリセット電圧にリセットされた状態で画素のノイズ信号を出力することが可能である。本明細書では、入力ノードの電圧がリセットされた状態における入力ノードの電圧に基づく信号、及び該信号が増幅手段で増幅された信号をノイズ信号と呼称する。入力ノードの電圧がリセットされた状態は、入力ノードに接続されたリセットTr103が導通している状態を含む。また、入力ノードの電圧がリセットされた状態は、リセットTr103がオフしたことによるノイズが重畳された状態を含む。リセットTr103がオフした後に、光電変換により発生した電荷等により入力ノードの電圧が変化することが考えられる。このような場合でも、光電変換信号とノイズ信号を差分処理をする際に、基準とする状態をリセットされた状態としてよい。好ましくはリセットTr103がオフした直後の状態をリセットされた状態とする。本実施例において、第1ソースフォロア回路から出力されたノイズ信号が、特許請求の範囲に記載の第3増幅信号に対応する。画素101から出力される信号は、出力ノードOUTから出力信号線110を介して後段の回路に出力される。
選択Tr105は第1ソースフォロア回路の動作状態と非動作状態とを切り替える。ノードSELは選択Tr105のゲートに接続され、選択パルスpSELが入力される。選択パルスpSELに応じて選択Tr105の動作が制御される。
列回路ブロックアレイ200は、出力信号線110のそれぞれに接続された列回路ブロック201で構成される。複数の画素からの信号を並列に処理可能なように構成される。列回路ブロック201は、電流源202と、サンプルホールド(S/H)スイッチ203、中間容量204、第2増幅トランジスタ(Tr)205を含む。
第2増幅Tr205は電流源202と第2ソースフォロア回路を構成する。第2ソースフォロア回路は、第1ソースフォロア回路から出力された光電変換信号を増幅して出力する。第2ソースフォロア回路から出力される光電変換信号が特許請求の範囲に記載の第2増幅信号に対応する。更に第2ソースフォロア回路は画素のノイズ信号を増幅して出力してもよい。第2ソースフォロア回路から出力されるノイズ信号は特許請求の範囲に記載の第4増幅信号に対応する。
S/Hスイッチ203は第1ソースフォロア回路の出力ノードである画素101の出力ノードOUTと、第2ソースフォロア回路の入力ノードである第2増幅Tr205のゲートとの間の経路に設けられている。S/Hスイッチ203は、出力ノードOUTと、第2増幅Tr205のゲートとを直接接続するように設けてもよいし、両者の間に他の回路素子が設けられていてもよい。S/Hスイッチ203は、ノードpCMに入力されるS/Hパルスによってオンとオフが切り替えられ、第1ソースフォロア回路の出力ノードと第2ソースフォロア回路の入力ノードとの電気的導通を制御している。
中間容量204は必要に応じて設けられるもので、第1ソースフォロア回路から出力された光電変換信号を一時的に保持する。本実施例では、中間容量として容量素子を形成しているが、配線間の寄生容量を中間容量としてもよい。また、中間容量204が第1ソースフォロア回路から出力されたノイズ信号を保持してもよい。
電流源202は増幅回路を駆動する電流を供給するための負荷であり、トランジスタ等で構成される。第1増幅Tr104及び第2増幅Tr205が電流源202を共有して、それぞれ第1ソースフォロア回路及び第2ソースフォロア回路を構成している。詳細は後述するが、本実施例では、選択Tr105が、第1ソースフォロア回路の動作状態と非動作状態とを切り替える。そして、S/Hスイッチ203が、第2ソースフォロア回路の動作状態と非動作状態とを切り替える。選択Tr105及びS/Hスイッチ203が特許請求の範囲に記載の選択手段に対応する。
一般に増幅回路は、少なくとも1つのトランジスタと、該トランジスタにバイアス電流もしくはバイアス電圧を供給するバイアス電源とを含んで構成される。バイアス電流を供給する一例として電流源がある。増幅回路を非動作状態にするためには、増幅回路を構成するトランジスタがオフするように、トランジスタのバイアス状態を制御する手法が考えられる。また、増幅回路にスイッチを設けて、回路を電気的に遮断する手法が考えられる。例えば、スイッチによりトランジスタとバイアス電源との間の経路を遮断することで、増幅回路を非動作状態とすることができる。
本実施例の選択手段は、第1ソースフォロア回路が動作状態のときに、第2増幅手段を非動作状態とすることができる。かつ、本実施例の選択手段は第2ソースフォロア回路が動作状態のときに、第1ソースフォロア回路を非動作状態とすることができる。
選択手段が、第1ソースフォロア回路、及び第2ソースフォロア回路の両方を同時に非動作状態とすることが可能であってもよい。例えば、選択Tr105を非導通とし、S/Hスイッチ203を導通状態とすることで、両方のソースフォロア回路を非動作状態とすることができる。
また、選択Tr105及びS/Hスイッチ203は、導通状態と非導通状態とを過渡的に遷移する。そのため、過渡期においては、第1ソースフォロア回路及び第2ソースフォロア回路のいずれが非動作状態であるかが判定できない状況、あるいは両方のソースフォロア回路が動作状態になっている状況も考えられる。選択手段は、第1増幅手段及び第2増幅手段を上述のような状態とすることが可能な構成であってもよい。
必要に応じて、光電変換信号とノイズ信号とを保持する保持部301が、出力信号線110のそれぞれに対して設けられ、メモリアレイ300を構成している。保持部301は、光電変換信号とノイズ信号をそれぞれ保持しておくための、保持容量(以降Cts)313および保持容量(以降Ctn)314を含む。また、保持部301は、Cts313およびCtn314への信号のサンプリング動作を制御するCt制御スイッチ311および312を含む。そして保持部301は、水平出力線401および402への信号の読み出しの制御を行う水平走査スイッチ315および316を含む。Ct制御スイッチ311および312は、制御信号pTSおよびpTNによって制御され、水平走査スイッチ315および316は、水平走査回路500によって生成される水平走査信号hsr<1>、・・・hsr<n>によって制御される。<n>はn列目を示す。
水平出力線401および402の後段には、必要に応じて、水平出力線401および402に読み出された信号の差分処理を行なう出力アンプ600が設けられる。ノイズ信号と、画素のノイズと相関のあるノイズ成分を含んだ光電変換信号とを差分処理することで、光電変換で発生した正味の電荷量に応じた信号を得ることができる。
図2は、図1の回路の動作を示すタイミングチャートである。図2の各パルスの標記は、図1と対応している。図2の横軸は時間である。図2のタイミングチャートを用いて図1に示されるシステムの動作について詳細な説明を行う。各パルスはハイレベルで各スイッチが導通する。また保持部301には既に前の蓄積期間で蓄積された信号が保持されているものとする。
図2において、RESET1の期間ではノードRES、ノードSEL、ノードpCMに、対応するスイッチを導通させるレベルのパルスが入力される。ノードRESにパルスが入力されてリセットTr103が導通することで、PD102及び第1増幅Tr104のゲートの電位、すなわち第1ソースフォロア回路の入力ノードの電位がリセットされる。
図5(A)は、図1の50で示される一点鎖線で囲まれた領域を抜き出した回路図である。図5(B)はRESET1の期間における図5(A)の回路の接続状態を示した図である。図5(B)では、スイッチ、もしくはスイッチとして動作するトランジスタがオン(導通状態)の時には、スイッチ、もしくはスイッチとして動作するトランジスタが接続する2つのノード間を実線でショートする。スイッチ、もしくはスイッチとして動作するトランジスタがオフ(非導通状態)の時には、スイッチ、もしくはスイッチとして動作するトランジスタが接続する2つのノード間をオープンにする。このようにして、回路図の表記を簡素化している(以降も同様)。
図5(B)において、第2増幅Tr205のゲート電圧とソース電圧は同電位である。そのため、第2増幅Tr205はオフであり、画素からの出力には影響を及ぼさない状態である。つまり第2ソースフォロア回路は増幅動作を行っておらず、第2ソースフォロア回路は非動作状態である。一方、第1増幅Tr104を含む第1ソースフォロア回路は動作状態であり、入力部である第1増幅Tr104のゲートに印加されたリセット電圧に応じた信号を増幅して出力信号線110に出力する。
図2のRES_SH1の期間では、ノードRESにリセットTr103をオフにするレベルのパルスが入力される。リセットTr103がオフになったことに起因するノイズ成分がリセット電圧に重畳される。このとき第1ソースフォロア回路から出力されるノイズ信号が、中間容量204へサンプリングされる。本実施例では、この期間の終了が光蓄積期間の開始を意味している。
図5(C)は、RES_SH1の期間における図5(A)の回路の接続状態を示した図である。この期間においても、第1ソースフォロア回路は動作状態、第2ソースフォロア回路は非動作状態である。
HSCAN1の期間では、ノードSELとノードpCMに、対応するスイッチをオフにするレベルのパルスが入力される。この期間に、Cts313とCtn314に保持された前の蓄積期間の光電変換信号とノイズ信号が、水平走査信号hsr<1>、・・・hsr<n>によって、共通の水平出力線401、402を介して出力アンプ600からチップ外部へ読み出される。
HSCAN1の期間における図5(A)の回路の接続状態を示したものが図5(D)である。図5(D)においては、S/Hスイッチ203がオフして第2増幅Tr205のソースとゲートとが非接続状態となる。ここで第1ソースフォロワ回路にて増幅された増幅信号のレベルを第2増幅Tr205が飽和領域で動作するように設定しておくことで、第2増幅Tr205はオンとなる。すなわち、第2ソースフォロア回路が動作状態になり、中間容量204に保持されたノイズ信号を入力とし、出力信号線110に増幅したノイズ信号を出力する。一方、選択Tr105によって第1増幅Tr104と電流源202とが電気的に分離されているため、第1ソースフォロア回路は非動作状態となる。
その後のSHNの期間においてはノードpTNにCt制御スイッチ312を導通させるレベルのパルスが入力される。この期間も、図5(D)に示す接続状態となっている。第2増幅Tr205と電流源202によって構成される第2ソースフォロア回路により、中間容量204に保持されたノイズ信号を増幅し、増幅後の信号をCtn314にサンプリングする動作が行われる。
Ctn314へのノイズ信号のサンプリング動作が終了した後に、ノードSELとノードpCMに、対応するスイッチを導通させるレベルのパルスが入力される。このLIGHT_SHの期間も、RES_SH1の期間と同様に、図5(C)の接続状態となっている。すなわち第2ソースフォロア回路は非動作状態であり、第1ソースフォロア回路は動作状態である。第1ソースフォロア回路によって増幅された光電変換信号の中間容量204へのサンプリング動作が行われる。この期間の終了が光蓄積期間の終了を意味している。
続いて、SHSの期間ではノードSELとノードpCMに、対応するスイッチをオフにするレベルのパルスが入力され、pTSにCt制御スイッチ311をオンにするレベルのパルスが入力される。この時、図5(D)に示す接続状態となり、第2ソースフォロア回路が動作状態になる。Cts313への光電変換信号のサンプリング動作が行われる。
その後、RESET2とRES_SH2の期間で表されるリセット動作、及びノイズ信号のサンプリング動作が行われる。続いて、前述のSHNとSHSの期間にCts313、Ctn314にそれぞれサンプリングされた光電変換信号とノイズ信号の読み出しがHSCAN2の期間で行われる。
選択パルスpSELとS/HパルスpCMとのパルス制御を独立制御可能にすることで、第1ソースフォロア回路と第2ソースフォロア回路との動作状態、非動作状態の切り替えは、お互いの動作状態に関わらず独立して制御可能となる。具体的な実現方法としては固体撮像装置内に設けたタイミングジェネレータや外部のCPU等からの制御パルスにより実現可能である。
以上のように、本実施例においては、中間容量204やCts313、Ctn314といった各容量へのサンプリング動作時には、第1ソースフォロア回路または第2ソースフォロア回路のどちらか片方だけが増幅手段として動作状態となる。少なくとも、各ソースフォロア回路の後段に設けられた信号保持部(中間容量204、保持部301)において、増幅後の信号のサンプリング動作時に、両方のソースフォロア回路を同時に動作状態とはしない。これによって消費電力を高めることなく電流源202を第1増幅Tr104と第2増幅Tr205とで共有することが可能となる。そのため、本実施例では、従来に比べて電流源数を削減することが可能となり、電流源数の削減に伴う消費電力の低減が可能となる。
本実施例においては、電流源を共有することで必要な素子の数を減らすように構成してもよい。これによって、固体撮像素子を小型化することが可能となる。
また、本実施例においては、第1ソースフォロア回路の出力ノードと第2ソースフォロア回路の出力ノードが共通の出力信号線110に接続されている。共通の出力信号線110に電流源202が接続されている。このような構成によれば、回路の配線を削減することが可能であり、固体撮像素子を小型化することが可能となる。
本実施例においては、保持部301がCts313およびCtn314を含む。このような構成によれば、Cts313に光電変換信号を保持し、Ctn314にノイズ信号を保持し、両者の差分を出力アンプ600から出力することができる。このような構成によれば、画素のトランジスタの特性ばらつきに起因したノイズを低減することが可能となる。
本実施例においては、出力アンプ600に入力されるノイズ信号と光電変換信号は、画素のリセットに対して相関のある信号同士が用いることができる。出力アンプ600は両者の差分を出力しているため、出力アンプ600の出力に現れる信号は、画素のリセット動作に起因したノイズが低減される。このような構成によれば、ノイズが低減された高画質の撮像が可能となる。
本実施例では、選択Tr105が、第1増幅Tr104と出力信号線110に接続されているが、本発明における選択Tr105の接続関係はこれに限定されるものではない。例えば、選択Tr105が、電源線と第1増幅Tr104のドレインの間に接続されていてもよい。
さらに、第1ソースフォロア回路と第2ソースフォロア回路の電源電圧は同じである必要はなく、各回路の動作レンジにあった効率的な動作を行うために、第1ソースフォロア回路と第2ソースフォロア回路の電源電圧を分けてもよい。
なお、本実施例における画素101は、PD102と第1増幅Tr104の間のノードにFD(フローティングディフュージョン)構造を備えた画素でもよい。また、本実施例におけるラインメモリ以降の読み出し回路のブロック構成は図1に限定されるものではない。例えば、列回路ブロックアレイ200の後段にスイッチトキャパシタアンプに代表される増幅回路やADC(Analog To Digital Converter)を設けてもよい。
図3は、本発明に係る実施例2のシステムブロック図である。実施例1と同様の機能を有する部分には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。ここでは、実施例1との相違点について説明する。
本実施例においては、画素101が、PD102、リセットTr103、第1ソースフォロア回路を構成する第1増幅Tr104を含む。画素101が実施例1の選択Tr105を含んでいない点が、実施例1との相違点である。
回路ブロック201は、電流源202と、S/Hスイッチ203、中間容量204、第2増幅Tr205を含んでいる。中間容量204は、一方の端子がS/Hスイッチ203と第2増幅Tr205のゲートとの間の経路に配され、他方の端子はノードVSELに接続される。ノードVSELには、DAC(Digital to Analog Converter)700によって生成される基準電位が入力される。なお、本実施例では第1増幅Tr104と第2増幅Tr205のトランジスタサイズは同じとする。
図3では、列回路ブロックアレイ200より後段の回路が示されていない。後段の回路には、例えば実施例1と同様の回路を用いてもよいし、周知の回路を介して信号を出力する構成としてもよい。
詳細は後述するが、DAC700が第1ソースフォロア回路を非動作状態にする。S/Hスイッチ203が第2ソースフォロア回路を非動作状態にする。本実施例では、S/Hスイッチ203及びDAC700が、特許請求の範囲に記載の選択手段に対応する。
図4は、図3の回路の動作を示すタイミングチャートである。ここで、図4のタイミングチャートを用いて、図3に示される回路の動作の詳細な説明を行う。
図4において、RESET1の期間にPD102のリセットを行う。図6(A)は、図3の50で示される一点鎖線で囲まれた領域を抜き出した回路図である。図6(A)の回路は、RESET1の期間においては図6(B)に示す接続状態となっている。図6(B)では、スイッチ、もしくはスイッチとして動作するトランジスタがオン(導通状態)の時には、スイッチ、もしくはスイッチとして動作するトランジスタが接続する2つのノード間を実線でショートする。スイッチ、もしくはスイッチとして動作するトランジスタがオフ(非導通状態)の時には、スイッチ、もしくはスイッチとして動作するトランジスタが接続する2つのノード間をオープンにする。このようにして、回路図の表記を簡素化している(以降も同様)。
図6(B)において、第2増幅Tr205は、ゲート電圧とソース電圧が同電位である。そのため、第2増幅Trはオフであり、第2ソースフォロア回路は非動作状態である。一方、第1増幅Tr104はオンであり、第1ソースフォロア回路は動作状態である。第1ソースフォロア回路は、第1増幅Tr104のゲートに印加されたリセット電圧に応じた信号を増幅して出力信号線110に出力する。このとき、DAC700はノードVSELにGND電位を供給する。
次に、RES_SH1の期間で中間容量204へのノイズ信号のサンプリングを行う。図6(C)は、RES_SH1の期間における図6(A)の回路の接続状態を示す図である。この期間においても、第2増幅Tr205はオフであり、第1増幅Tr104はオンである。すなわち、第1ソースフォロア回路は動作状態であり、第2ソースフォロア回路は非動作状態である。また、DAC700はノードVSELにGND電位を供給する。そのため、中間容量204にはGND電位を基準としてノイズ信号がサンプリングされることになる。
HSCAN1の期間に入ると、光電変換部に電荷が蓄積される。この期間における図6(A)の接続状態を示したものが図6(D)である。ここで、第1増幅Tr104のゲート電位はVPD、第2増幅Tr205のゲート電位はVCMでそれぞれ表されるものとする。図4のHSCANの期間において、DAC700は、光電変換で発生した電荷によりVPDが低下してもVPD>VCMの関係を保つような基準電圧VSEL_LをノードVSELに出力する。そのため、出力信号線110の電圧は、第1増幅Tr104のゲート電圧に応じた電圧となる。第2増幅Tr205はソース電圧よりゲート電圧が低いのでオフしている。すなわち、RES_SH1の期間と同様に、第2ソースフォロア回路は非動作状態、第1ソースフォロア回路は動作状態になっている。
SHNの期間になると、DAC700は、VPD<VCMとなるような基準電圧VSEL_HをノードVSELに出力する。この期間における図6(A)の回路の接続状態は図6の(E)で表すことができる。図6(E)において、VPD<VCMの関係になったことにより、第2増幅Tr205のゲート電圧に応じた電圧が出力信号線110に出力される。ゲート電圧よりソース電圧が高くなるため、第1増幅Tr104はオフする。したがって、第1増幅Tr205と電流源202によって形成される第2ソースフォロア回路によって、中間容量204に保持されたノイズ信号が増幅されて出力される。
その後、LIGHT_SHの期間では、中間容量204への光電変換信号のサンプリング動作が行われる。この時も、RES_SH1の期間と同様に、図6(A)の回路は図6(C)で表される接続状態になっているので、第2増幅Tr205はオフしている。
SHSの期間では、DAC700はVPD<VCMとなるような基準電圧VSEL_HをVSELに出力する。図6(A)の回路の接続状態は再び図6(E)に示される状態となる。これによって、第2増幅Tr205がオンするので、第2ソースフォロア回路が動作状態となり、中間容量204に保持された光電変換信号が出力される。
第2ソースフォロア回路が光電変換信号を出力する時と、ノイズ信号を出力する時には、DAC700は同じ基準電圧VSEL_Hを出力する。従って、光電変換信号とノイズ信号は同じ基準電圧に対する信号値となる。
その後、RESET2とRES_SH2の期間で表されるリセット動作、及びノイズ信号のサンプリング動作が行われる。
以上のように、中間容量204の基準電位を制御することで、中間容量204へのサンプリング動作時、及び中間容量204に保持された信号の出力時には、第1または第2ソースフォロア回路のどちらか一方だけを増幅手段として動作状態とすることができる。そのため、第1増幅Tr104と第2増幅Tr205とで、電流源202を共有化することが可能となり、電流源数削減による低消費電力化が可能となる。
また、本実施例では、実施例1における選択Tr105が不要となったことにより、画素内のトランジスタ数を減らすことができる。これによって、光電変換部の面積縮小による感度低下の影響を抑制することが可能となる。
なお、本実施例では、ノードVSELに供給される基準電圧を生成するための基準電圧出力回路としてDAC700を用いたが、これに限定されるものではない。ノードVSELに供給される基準電圧を生成する手段として、例えば複数のスイッチによって所望の電圧を選択する回路等を用いてもよい。
本実施例では、中間容量204の基準電位を過渡的に変化させることで、第1増幅Tr104および第2増幅Tr205のオン、オフの切り替えを行ったが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、第1増幅Tr104のゲートに印加される電圧値を過渡的に制御することによってオン、オフの切り替え動作を行ってもよい。他にも、第1増幅Tr104または第2増幅Tr205のドレイン電圧を制御して、オン・オフを切り替えてもよい。
また、中間容量204の基準電位が過渡的に変化するので、一時的に第1ソースフォロア回路と第2ソースフォロア回路のどちらも動作状態となる状況が考えられる。選択手段は、第1増幅手段及び第2増幅手段を上述のような状態とすることが可能な構成であってもよい。
図7は、本発明に係る実施例3のシステムブロック図である。実施例1と同様の機能を有する部分には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
本実施例は画素101の構成が実施例1と異なる。第1増幅Tr104のゲートがフローティングディフュージョン(FD)106に接続されている。PD102とFD106の間には転送トランジスタ(Tr)107が配される。
ノードTXは転送Tr107のゲートに接続され、転送パルスpTXが入力される。転送パルスpTXに応じて転送Tr107は制御され、転送Tr107が導通することでPD102に蓄積された電荷がFD106に空乏転送される。PD102からFD106に電荷が完全空乏転送されることが好ましい。
列回路ブロック201と保持部301の間に、列アンプ部901が配される。N個の列アンプ部901が1次元に配列されて列アンプアレイ900を構成している。列アンプ部901はクランプ容量902、フィードバック容量903、リセットスイッチ904、オペアンプ905を含む。
クランプ容量902は、一端が出力信号線110に接続され、他端がオペアンプ905の反転入力ノードに接続される。フィードバック容量903は一端がオペアンプ905の反転入力ノードに接続され、他端がオペアンプ905の出力ノードに接続される。リセットスイッチ904はフィードバック容量903と並列に配される。リセットスイッチ904はノードpC0Rに入力されるパルスでオン、オフが制御される。オペアンプ905の非反転入力ノードはGND電位に接続される。
図7に示された回路では、フィードバック容量903は1つの容量のみで構成されている。しかし、複数の容量が並列に配され、それぞれの容量と直列にスイッチを有している構成としてもよい。フィードバック容量903を複数の容量とスイッチが並列で配された構成とすることで、列アンプ部でのゲインを切り替えることが可能となる。
図示していないが、オペアンプ905にバイアス電流を供給する電流源は、電流源202とは別に設けられる。言い換えれば、オペアンプ905は第1ソースフォロア回路または第2ソースフォロア回路のどちらとも電流源を共有していない。オペアンプ905が特許請求の範囲に記載の第3増幅手段に対応する。
図8は図7の回路の動作を示すタイミングチャートである。図8のタイミングチャートを用いて図7の回路の動作を詳細に説明する。各パルスはハイレベルで各スイッチが導通する。またPD102では既に光蓄積が行われているものとする。
図8において、t0〜t1の期間はノードRES、ノードSEL、ノードpCM、及びノードpC0Rに、対応するトランジスタをオンにするレベルのパルスが入力される。これによりFD106の電位がリセットされる。
図8のt1〜t2の期間では、ノードRESにリセットTr103をオフにするレベルのパルスが入力される。リセットTr103がオフになったことに起因するノイズ成分がFD106のリセット電圧に重畳される。このとき第1ソースフォロア回路から出力されるノイズ信号が、中間容量204へサンプリングされる。第2ソースフォロア回路はソースとゲートが短絡されているため、非動作状態である。
図8のt2〜t3の期間では、ノードSELとノードpCMに、対応するスイッチをオフにするレベルのパルスが入力される。これにより、第2ソースフォロア回路が動作状態となり、中間容量204に保持されたノイズ信号が第2ソースフォロア回路で増幅されてクランプ容量にサンプリングされる。選択Tr105がオフなので、第1ソースフォロア回路は非動作状態である。
図8のt4〜t5の期間では、ノードpTNにCt制御スイッチ312を導通させるレベルのパルスが入力され、ノイズ信号がCtn314に保持される。
図8のt6〜t7では、ノードTX、ノードSEL、ノードpCMに、対応するスイッチをオンにするレベルのパルスが入力される。転送Tr107が導通するので、PD102に蓄積された信号電荷がFD106に転送される。この期間の終了が光蓄積期間の終了を意味している。
図8のt7〜t8の期間では、転送Tr107がオフして、FD106に転送された電荷量に応じた光電変換信号が中間容量204にサンプリングされる。このときは、第1ソースフォロア回路が動作状態であり、第2ソースフォロア回路は非動作状態である。
図8のt8〜t9の期間では、ノードSELとノードpCMに、対応するスイッチをオフにするレベルのパルスが入力される。第2ソースフォロア回路が動作状態になり、クランプ容量902にノイズ信号と中間容量204に保持された光電変換信号との差分が保持される。
図8のt9〜t10の期間では、ノードpTSにCt制御スイッチ311を導通させるレベルのパルスが入力され、光電変換信号がCts313にサンプリングされる。
図8のt11〜t12の期間では、ノードTXとノードRESに対応するトランジスタをオンにするレベルのパルスが入力される。リセットTr103と転送Tr107が導通して、PD102とFD106の電位がリセットされる。この期間の終わりに転送Tr107をオフするレベルのパルスがノードTXに入力され、光蓄積期間が開始する。
図8のt13〜t14の期間では、Cts313とCtn314にそれぞれサンプリングされた光電変換信号とノイズ信号が、水平信号線402、401にそれぞれ読み出される。二つの信号は出力アンプ600で差分処理されて出力される。
本実施例では、中間容量のノイズ信号を第2ソースフォロア回路によってクランプ容量902に書き込む際に、列アンプ部901ではオペアンプ905の増幅機能によって、クランプ容量902のオペアンプ905側のノードをGND電位に設定している。このように、信号をクランプ容量にクランプする場合には、オペアンプを動作させる必要がある。すなわち、本実施例の駆動方法では、列アンプ部901は、第1ソースフォロア回路または第2ソースフォロア回路が動作状態の時にも増幅回路として動作している。そのため列アンプ部に含まれるオペアンプ905は、第1ソースフォロア及び第2ソースフォロアと電流源を共有していない。
本実施例は実施例1の効果に加えて以下の効果を有する。本実施例は画素101に転送Tr107を有する。転送Tr107によってPD102とFD106を電気的に遮断することができるので、FD106の電位をリセット電位に維持したままPD102で光蓄積を行うことが可能である。このような構成によれば、ノイズ信号の中間容量204へのサンプリングと、光電変換信号の中間容量204へのサンプリングの時間的な間隔を短くできる。両者の時間間隔が短くなることで、1/fノイズの影響を低減することが可能である。
また、本実施例はクランプ容量902を含む列アンプ部901を有する。このような構成によれば、画素101、列回路ブロック201の特性ばらつきに起因したノイズを低減することが可能となる。
本実施例は列アンプ部901の後段に保持部301を有する。このような構成によれば、列アンプ部の特性ばらつきに起因したノイズを低減することが可能となる。
〔実施例3の変形例〕
図9に実施例3の変形例を示す。実施例3と同様の機能を有する部分には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
本実施例では、3行の画素アレイ100R、100G、100Bが配される。たとえば、各画素アレイはそれぞれ赤色、緑色、青色の光に対応した信号を出力するように構成してもよい。図9は、1つの画素列に含まれる3つの画素101R、101G、101Bのみを示しているが、複数の画素列が並列読出し可能なように配されてもよい。
各画素に対応して、列回路ブロック201とクランプ容量902が設けられる。図9では、符号の最後尾にR、G、Bを付けて、各画素との対応を示している。いくつかの画素で列回路ブロック201を共有してもよい。たとえば、モノクロでの撮像に対応する画素101Mと赤色の光に対応する画素101Rとで列回路ブロック201を共有してもよい。
各画素のリセットTr103R、103G、103Bは共通のパルスで制御される。同様に、各画素の選択Tr、転送Tr、及び各列回路ブロックのS/Hスイッチはそれぞれ共通のパルスで制御される。
各画素に対応するクランプ容量902R、902G、902Bと、オペアンプ905の反転入力端子との間の経路には、それぞれ列アンプスイッチ906R、906G、906Bが配される。列アンプスイッチは、それぞれパルスpsw_r、psw_g、psw_bによって導通、非導通を制御される。
図10は図9の回路の動作を示すタイミングチャートである。図10のタイミングチャートを用いて本実施例の動作を説明する。なお、光電変換部では光蓄積がすでに始まっているものとする。
リセットTrがオフして中間容量にノイズ信号が書き込まれた後、列アンプスイッチ906R、906G、906Bに、対応するスイッチをオンにするレベルのパルスが入力される。中間容量に書き込まれた各画素のノイズ信号が、対応するクランプ容量に同時にクランプされる。このとき、各クランプ容量のオペアンプ905側のノードはGND電位となっている。
その後、リセットスイッチ904がオフした後に、Ct制御スイッチ312をオンにするパルスが入力され、オペアンプ905のオフセット成分がCtn314に書き込まれる。
続いて、転送TrをオンにするレベルのパルスがノードTXに入力され、それぞれの画素で光蓄積期間に発生した信号電荷が、同時にFDに転送される。転送Trがオフになった時点が、光蓄積期間の終了に対応する。
信号電荷がFDに転送された後、列アンプスイッチ906Rをオンにするレベルのパルスpsw_rが入力される。これによって、クランプ容量902Rに画素101Rの光電変換信号がクランプされる。その後、Ct制御スイッチ311をオンにするレベルのパルスが入力され、画素101Rの光電変換信号がCts313に書き込まれる。その後、Cts313、Ctn314に書き込まれた信号が水平信号線に読み出され、出力アンプ600によって、列アンプのオフセット成分が除去された信号が出力される。
次に、リセットスイッチ904をオンにするパルスが入力され、オペアンプ905の出力ノードがGND電位に設定される。オペアンプがリセットされた後、Ct制御スイッチ312をオンにするパルスが入力され、オペアンプ905のオフセット成分がCtn314に書き込まれる。
次に、列アンプスイッチ906Gをオンにするレベルのパルスpsw_gが入力される。これによって、クランプ容量902Gに画素101Gの光電変換信号がクランプされる。その後、Ct制御スイッチ311が導通して、画素101Gの光電変換信号がCts313に書き込まれる。以後、同様に水平出力線に信号が読み出され、出力アンプ600で差分処理される。
オペアンプ905のオフセット成分が読み出された後に、画素101Gの光電変換信号も画素101R、101Gの時と同様に読み出される。
本実施例は実施例3の効果に加えて次の効果を有する。本実施例では、全画素で同時にリセットを行った後に、全画素で同時に光電変換信号を中間容量に書き込むことができる。このような構成によれば、本実施例複数行の画素を有する場合でも全画素での光蓄積期間をそろえることが可能となる。
図11は、本発明に係る実施例4のシステムブロック図である。実施例1〜3と同様の機能を有する部分には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
本実施例では、実施例1の第2ソースフォロア回路の代りに、ボルテージフォロア回路が配されている。具体的には、実施例1の第2増幅Tr205及の代りに、2つのPMOSトランジスタ(Tr)211、212及び2つのNMOSトランジスタ(Tr)213、214からなる差動増幅回路が配される。PMOSTr211、212及びNMOSTr213、214は共有の電流源202とオペアンプ210を構成している。
S/Hスイッチ203がオンの時は、NMOSトランジスタ214のゲートとソースが同電位となる。オペアンプ210には電流が流れないため、ボルテージフォロア回路は非動作状態になる。選択Tr105がオンであれば、第1ソースフォロア回路が動作状態となり、画素からの信号を増幅して中間容量204に出力する。
選択Tr105及びおS/Hスイッチ203がオフの時は、第1ソースフォロア回路が非動作状態となる。一方、ボルテージフォロア回路は動作状態となり、中間容量204に保持された信号を増幅して出力する。選択Tr105及びS/Hスイッチ203をオフに切り替えるときは、S/Hスイッチ203を先にオフに切り替えるようにする。
本実施例においては、選択Tr105及びS/Hスイッチ203が特許請求の範囲に記載の選択手段に対応する。
本実施例では、第2増幅手段としてボルテージフォロア回路を用いている。このような構成によれば実施例1の効果に加えて以下の効果がある。オペアンプを用いたボルテージフォロア回路はゲインが1に近い。そのため、入出力関係の線型性を向上させることができ、より高画質の撮像が可能となる。
本実施例の構成に、実施例2または実施例3の構成を適用してもよい。
図12は、本発明に係る実施例5のシステムブロック図である。実施例1〜4と同様の機能を有する部分には同一の符号を付し、詳細な説明は省略する。
本実施例が実施例1と異なる点は、第1ソースフォロア回路、第2ソースフォロア回路が、それぞれ第1ボルテージフォロア回路、第2ボルテージフォロア回路に置き換えられているところである。画素101の第1増幅Tr104の代りに、2つのPMOSトランジスタ111、112及び2つのNMOSトランジスタ113、114からなる第1差動増幅回路が配されている。第1差動増幅回路は選択Tr105を介して共有の電流源202に接続される。第1差動増幅回路と電流源202とが第1ボルテージフォロア回路を構成する。
2つのPMOSトランジスタ211、212及び2つのNMOSトランジスタ213、214からなる第2差動増幅回路は、選択トランジスタ(Tr)215を介して共有の電流源202に接続される。第2差動増幅回路と電流源202とが第2ボルテージフォロア回路を構成する。
本実施例においては、第1選択Tr105のオン、オフによって、第1ボルテージフォロア回路の動作状態と非動作状態とを切り替える。また、第2選択Tr215のオン、オフによって、第2ボルテージフォロア回路の動作状態と非動作状態とを切り替える。第1選択Tr105及び第2選択Tr215が特許請求の範囲に記載の選択手段に対応する。
このような構成によれば、2つの増幅手段をどちらもボルテージフォロア回路で構成しているため、さらに入出力関係の線型性を向上させることができ、画質の向上が可能となる。
実施例4及び実施例5では、オペアンプを用いたボルテージフォロア回路を有する構成を例に説明した。ここで、ボルテージフォロア回路に限らず、電圧利得が1よりも大きい増幅回路にしてもよい。
以上に述べた実施例1〜5では、電子を信号電荷として扱う実施例を説明してきた。本発明は、ホールを信号電荷としても良い。図1のPD102が示すフォトダイオードの極性を逆にして、各トランジスタの導電型を逆にすればよい。例えば実施例2では、図3のPD102が示す極性とは逆の極性のフォトダイオードを使用したとしても、それに応じてVSELの電圧条件を調整することにより対応可能なのは明らかである。
以上の実施例では、2段の増幅手段で信号を増幅する構成を例に説明した。必要に応じて、3段以上の増幅手段で信号を増幅し、それらの増幅手段が電流源を共有する構成としてもよい。
以上の実施例では、説明を簡略にするために1行N列のラインセンサの構成を基に説明した。しかし、本発明はこれに限定されるものではなく、二次元の画素配列をもつエリアセンサにおいても適用可能である。
100 画素アレイ
101 画素
102 フォトダイオード(PD)
104 第1増幅トランジスタ(Tr)
105 選択トランジスタ(Tr)、第1選択Tr
110 出力信号線
200 列回路ブロックアレイ
201 列回路ブロック
202 電流源
203 S/Hスイッチ
204 中間容量
205 第2増幅トランジスタ(Tr)

Claims (18)

  1. 光電変換部と、
    前記光電変換部で発生した電荷量に基づく信号を増幅して第1増幅信号を出力する第1増幅手段と、
    前記第1増幅手段から出力された前記第1増幅信号を増幅して第2増幅信号を出力する、トランジスタを含む第2増幅手段と、
    前記第1増幅手段と前記第2増幅手段とが共有する電流源と、
    前記第1増幅手段が動作状態のときに前記第2増幅手段を非動作状態とし、前記第2増幅手段が動作状態のときに前記第1増幅手段を非動作状態とする選択手段と、を有し、
    前記第1増幅手段の出力ノードと前記第2増幅手段の出力ノードとは、共通の出力信号線に接続可能であり、
    前記選択手段は、
    前記トランジスタのゲートとソースとを短絡させることにより前記トランジスタをオフさせた状態で前記第1増幅信号を前記トランジスタのゲートにサンプリングした後、前記トランジスタのゲートとソースとを非導通状態とすることにより、前記トランジスタをオン状態として前記第2増幅手段を動作状態とすることを特徴とする固体撮像装置。
  2. 前記第1増幅手段の出力ノードと前記第2増幅手段の入力ノードとの電気的導通を制御するスイッチ手段とを有し、
    前記スイッチ手段と前記第2増幅手段との間の経路に、前記第1増幅信号または前記第1増幅信号に基づく信号を保持する保持手段が配されたことを特徴とする請求項1に記載の固体撮像装置。
  3. 前記出力信号線が前記スイッチ手段を介して前記第2増幅手段の入力ノードに接続され、
    前記出力信号線に前記電流源が接続されたことを特徴とする請求項2に記載の固体撮像装置。
  4. 前記第1増幅手段にバイアス電圧を供給する電源線を有し、
    前記第1増幅手段が増幅トランジスタを含み、
    前記増幅トランジスタと前記電源線との間の経路、または前記増幅トランジスタと前記電流源との間の経路に選択トランジスタが配されたことを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  5. 複数の基準電圧を出力する基準電圧出力回路を有し、
    前記第1増幅手段が第1増幅トランジスタを含み、
    前記基準電圧出力回路が、前記第1増幅トランジスタ及び前記トランジスタの少なくとも一方のバイアス状態を制御することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  6. 前記第1増幅手段の入力ノードの電圧をリセットするリセット手段を有し、
    前記第1増幅手段は、前記第1増幅手段の入力部がリセットされた状態における、前記第1増幅手段の入力部の電圧に基づく信号を増幅して第3増幅信号を出力し、
    前記第2増幅手段は、前記第1増幅手段から出力された第3増幅信号を増幅して第4増幅信号を出力し、
    前記第2増幅信号と、前記第4増幅信号との差分処理を行う差分処理手段を有することを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  7. 前記第2増幅信号と前記第4増幅信号が互いに相関のあるノイズ成分を含んでいることを特徴とする請求項6に記載の固体撮像装置。
  8. 前記第1増幅手段の入力ノードと電気的に接続されたフローティングディフュージョンと、
    前記光電変換部で発生した電荷を前記フローティングディフュージョンに転送するための転送部とを有することを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  9. 前記光電変換部、前記第1増幅手段、前記第2増幅手段、及び前記電流源の組を複数組有することを特徴とする請求項1乃至請求項8のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  10. 前記第2増幅手段の後段に第3増幅手段を有し、
    前記第3増幅手段は、前記第1増幅手段及び前記第2増幅手段と電流源を共有していないことを特徴とする請求項1乃至請求項9のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  11. 前記選択手段が前記第1増幅手段及び前記第2増幅手段を同時に非動作状態とすることが可能であることを特徴とする請求項1乃至請求項10のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  12. 前記第1増幅手段及び前記第2増幅手段がソースフォロア回路であることを特徴とする請求項1乃至請求項11のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  13. 前記電流源は、前記第1増幅手段および前記第2増幅手段のそれぞれにバイアス電流を供給することを特徴とする請求項1乃至請求項12のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  14. 選択手段は、前記第1増幅手段が動作状態のときに、前記第2増幅手段を非動作状態にし、前記第2増幅手段が動作状態のときに、前記第1増幅手段を非動作状態にすることを特徴とする請求項1乃至請求項13のいずれか一項に記載の固体撮像装置。
  15. 請求項1乃至請求項14のいずれか一項に記載の固体撮像装置を備えた複写機。
  16. 請求項1乃至請求項14のいずれか一項に記載の固体撮像装置を備えたスキャナ。
  17. 請求項1乃至請求項14のいずれか一項に記載の固体撮像装置を備えたカメラ。
  18. 光電変換部と、
    前記光電変換部で発生した電荷量に基づく信号を増幅して第1増幅信号を出力する第1増幅手段と、
    前記第1増幅手段から出力された前記第1増幅信号を増幅して第2増幅信号を出力する、トランジスタを含む第2増幅手段と、
    前記第1増幅手段と前記第2増幅手段とが共有する電流源とを有する固体撮像装置の駆動方法であって、
    前記トランジスタのゲートとソースとを短絡させることにより前記トランジスタをオフさせた状態で前記第1増幅信号を前記トランジスタのゲートにサンプリングした後、前記トランジスタのゲートとソースとを非導通状態とすることにより、前記トランジスタをオン状態として前記第2増幅手段を動作状態とすることを特徴とする固体撮像装置の駆動方法。
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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9451192B2 (en) * 2012-12-27 2016-09-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company Limited Bias control via selective coupling of bias transistors to pixel of image sensor
JP5870954B2 (ja) * 2013-03-29 2016-03-01 ソニー株式会社 コンパレータ、固体撮像素子、電子機器、および、駆動方法
JP6690539B2 (ja) 2014-08-25 2020-04-28 ソニー株式会社 信号処理装置、制御方法、撮像素子、並びに、電子機器
JP6537253B2 (ja) * 2014-12-02 2019-07-03 キヤノン株式会社 光電変換装置、焦点検出装置、及び撮像システム
WO2016121353A1 (ja) * 2015-01-28 2016-08-04 パナソニックIpマネジメント株式会社 固体撮像装置およびカメラ
KR20240052076A (ko) * 2015-04-07 2024-04-22 소니그룹주식회사 고체 촬상 소자 및 전자 장치
JP6492991B2 (ja) * 2015-06-08 2019-04-03 株式会社リコー 固体撮像装置
US10879856B2 (en) * 2018-12-26 2020-12-29 Texas Instruments Incorporated Sensor array with distributed low noise amplifier
CN110620886B (zh) * 2019-01-03 2021-11-30 神盾股份有限公司 共用运算放大器的读取电路及其图像感测器
CN109688353B (zh) 2019-01-08 2022-10-14 京东方科技集团股份有限公司 光检测单元、图像传感器、电子设备和检测方法
JP7478968B2 (ja) * 2019-03-20 2024-05-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置
CN110147718B (zh) * 2019-04-08 2024-07-19 杭州士兰微电子股份有限公司 传感器组件及其像素电路和信号处理方法

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3697769B2 (ja) * 1995-02-24 2005-09-21 株式会社ニコン 光電変換素子及び光電変換装置
JPH1093069A (ja) * 1996-09-19 1998-04-10 Toshiba Corp Mos型固体撮像装置及びその駆動方法
US6831690B1 (en) * 1999-12-07 2004-12-14 Symagery Microsystems, Inc. Electrical sensing apparatus and method utilizing an array of transducer elements
US6795117B2 (en) * 2001-11-06 2004-09-21 Candela Microsystems, Inc. CMOS image sensor with noise cancellation
JP4022862B2 (ja) * 2002-06-11 2007-12-19 ソニー株式会社 固体撮像装置及びその制御方法
US6784707B2 (en) * 2002-07-10 2004-08-31 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Delay locked loop clock generator
US6897429B1 (en) * 2003-02-10 2005-05-24 Foveon, Inc. Managing power consumption by sampling circuit current sources
JP2005354484A (ja) * 2004-06-11 2005-12-22 Canon Inc 増幅型メモリ装置及び固体撮像装置
JP4830270B2 (ja) * 2004-06-14 2011-12-07 ソニー株式会社 固体撮像装置および固体撮像装置の信号処理方法
JP2006352341A (ja) * 2005-06-14 2006-12-28 Micron Technol Inc アンチエクリプス回路及びその動作方法
JP4236271B2 (ja) * 2006-01-17 2009-03-11 キヤノン株式会社 光電変換装置
JP4590458B2 (ja) * 2006-08-08 2010-12-01 キヤノン株式会社 光電変換装置、撮像装置及び撮像システム
JP4194633B2 (ja) 2006-08-08 2008-12-10 キヤノン株式会社 撮像装置及び撮像システム
JP2008160344A (ja) * 2006-12-22 2008-07-10 Matsushita Electric Ind Co Ltd 固体撮像装置、カメラシステム、および固体撮像装置の駆動方法
JP4685120B2 (ja) * 2008-02-13 2011-05-18 キヤノン株式会社 光電変換装置及び撮像システム
JP5006281B2 (ja) * 2008-07-24 2012-08-22 パナソニック株式会社 固体撮像装置、カメラ

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