JP5499920B2 - 半導体光デバイスの製造方法 - Google Patents
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Description
まず、図1(A)に示すように、半導体基板1の主面上に、例えば有機金属気相成長法によって、下部クラッド層3、活性層5、及び、回折格子層7をこの順にエピタキシャル成長させる。なお、図1(A)において、半導体基板1の主面と平行な方向にX軸及びY軸を設定している。
次に、図1(B)に示すように、回折格子層7の表面7m上に、例えばプラズマ気相成長法によって、絶縁層9を形成する。絶縁層9の厚さは、例えば、20nm〜50nmとすることができる。絶縁層9を構成する材料としては、例えば、酸化シリコン(SiO2)等のシリコン酸化物、窒化シリコン(SiN)等のシリコン窒化物や窒化酸化シリコン(SiON)等のシリコン窒化酸化物を用いることができる。
続いて、図2(A)に示すように、絶縁層9の表面9m上に、シリコン非含有樹脂層11を形成する。シリコン非含有樹脂層11の形成は、例えば、絶縁層9の表面9上にスピン塗布法を用いてシリコン含有樹脂を塗布することによって、行うことができる。シリコン非含有樹脂層11は、シリコンを実質的に含まない樹脂からなる。シリコン非含有樹脂層11を構成する材料としては、例えば、アクリル系UV硬化樹脂等のシリコンを実質的に含まないUV硬化樹脂を用いることができる。ここで、シリコン非含有樹脂層11のシリコン含有率が0.1原子%以下であれば、シリコン非含有樹脂層11はシリコンを実質的に含まないとみなすことができる。
次に、図2(B)に示すように、シリコン非含有樹脂層11をパターニングすることにより、後の工程で形成される回折格子7g(図8参照)の周期構造に対応した周期構造パターン11p1をシリコン非含有樹脂層11の表面に形成する。このようなシリコン非含有樹脂層11のパターニングは、フォトリソグラフィ法やナノインプリント法によって行うことができる。本実施形態の周期構造パターン11p1は、回折格子層7に回折格子7gを形成するためのラインアンドスペースパターンである。
続いて、図3(A)に示すように、シリコン非含有樹脂層11上にシリコン含有樹脂層13を形成することによって、シリコン非含有樹脂層11の表面をシリコン含有樹脂層13で覆う。このようなシリコン含有樹脂層13は、例えば、シリコン非含有樹脂層11上にスピン塗布法を用いてシリコン非含有樹脂層11上にシリコン非含有樹脂を塗布することによって、行うことができる。シリコン含有樹脂層13を構成する材料としては、例えば、有機シリコン化合物を用いることができる。
続いて、図3(B)に示すように、シリコン非含有樹脂層11の周期構造パターン11p1の凸部表面11mが露出するまでシリコン含有樹脂層13をエッチングする(エッチバック工程)。これにより、シリコン非含有樹脂層11の周期構造パターン11p1の凹部に、回折格子7gの周期構造に対応した周期構造パターン13pを有するシリコン含有樹脂層13を形成する。本実施形態の周期構造パターン13pは、Y軸に沿って周期的に並び、X軸に沿って延びる複数のラインパターンからなる。その結果、シリコン含有樹脂層13は、シリコン非含有樹脂層11の表面の一部をマスクすることとなる。
次に、図5(A)及び図5(B)に示すように、シリコン含有樹脂層13をマスクとしてシリコン非含有樹脂層11をエッチングすることにより、絶縁層9の表面9mの一部を露出させる(ブレークスルーエッチング工程)。図5(A)は、シリコン非含有樹脂層11をエッチングしている途中の状態を示しており、図5(B)は、シリコン非含有樹脂層11のエッチングが完了した後の状態を示している。
Si+CF4+O2 → CO2+SiF4
続いて、図6(A)及び図6(B)に示すように、パターニングされたシリコン非含有樹脂層11及びシリコン含有樹脂層13をマスクとして、絶縁層9をエッチングする。図6(A)は、絶縁層9をエッチングしている途中の状態を示しており、図6(B)は、絶縁層9のエッチングが完了した後の状態を示している。絶縁層エッチング工程における絶縁層9のエッチングは、回折格子層7の表面7mが露出するまで行う。
その後、図7(A)に示すように、シリコン含有樹脂層13、シリコン非含有樹脂層11、及び、絶縁層9の温度をSiF4の凝固点よりも高い温度に上昇させる。これにより、保護層15を気化させて、除去する。シリコン含有樹脂層13、シリコン非含有樹脂層11、及び、絶縁層9の温度をSiF4の凝固点よりも高い温度に上昇させる方法としては、例えば、冷却機構による下部電極55(図5参照)の冷却を中止し、シリコン含有樹脂層13、シリコン非含有樹脂層11、及び、絶縁層9の温度を自然に上昇させる方法や、下部電極55(図5参照)に加熱機構を設け、この加熱機構によってシリコン含有樹脂層13、シリコン非含有樹脂層11、及び、絶縁層9を加熱する方法がある。
その後、図7(B)に示すように、シリコン含有樹脂層13及びシリコン非含有樹脂層11を除去する。これらの層の除去は、例えば、O2ガスを含むエッチングガスを用いた反応性イオンエッチング法によって行うことができる。
次に、図8(A)に示すように、パターニングされた絶縁層9をマスクとして、回折格子層7を、その厚さ方向の中間位置までエッチングした後に、絶縁層9を除去する。このエッチングは、例えばCH4ガス及びH2ガスを含むエッチングガスを用いた反応性イオンエッチング法によって行うことができる。これにより、回折格子層7に、ラインアンドスペースパターンからなる回折格子7gが形成される。具体的には、回折格子7gは、X軸に沿って延びるライン部と、X軸に沿って延びるスペース部とからなり、ライン部とスペース部とが、Y軸に沿って交互に周期的に配置されたパターンである。ライン部のY軸方向の幅W7pは、例えば、100nm〜120nmである。また、回折格子7gのラインアンドスペースパターンの周期λ7は、例えば、200nm〜240nmである。
Claims (5)
- 回折格子を有する半導体光デバイスの製造方法であって、
半導体基板上に、前記回折格子が形成されるべき半導体層を形成する半導体層形成工程と、
前記半導体層上に絶縁層を形成する絶縁層形成工程と、
前記絶縁層上にシリコン非含有樹脂層を形成するシリコン非含有樹脂層形成工程と、
前記シリコン非含有樹脂をパターニングすることにより、前記回折格子の周期構造に対応した周期構造パターンを前記シリコン非含有樹脂層に形成するシリコン非含有樹脂層パターニング工程と、
前記シリコン非含有樹脂層パターニング工程の後に、前記シリコン非含有樹脂層上にシリコン含有樹脂層を形成することによって、前記シリコン非含有樹脂層の表面を前記シリコン含有樹脂層で覆うシリコン含有樹脂層形成工程と、
CF4ガス及びO2ガスを含むエッチングガスを用いた反応性イオンエッチング法によって、前記シリコン非含有樹脂層の前記周期構造パターンの凸部表面が露出するまで前記シリコン含有樹脂層をエッチングすることにより、前記シリコン非含有樹脂層の前記周期構造パターンの凹部に前記回折格子の周期構造に対応した周期構造パターンを有する前記シリコン含有樹脂層を形成するシリコン含有樹脂層エッチング工程と、
前記シリコン含有樹脂層エッチング工程の後に、前記シリコン含有樹脂層及び前記シリコン非含有樹脂層の温度をSiF4の凝固点以下の温度に保ちながら、CF4ガス及びO2ガスを含むエッチングガスを用いた反応性イオンエッチング法によって、前記シリコン含有樹脂層をマスクとして前記シリコン非含有樹脂層をエッチングすることにより、前記回折格子の周期構造に対応した周期構造パターンを有するように前記シリコン非含有樹脂層をパターニングし、前記絶縁層の表面の一部を露出させるシリコン非含有樹脂層エッチング工程と、
前記シリコン非含有樹脂層エッチング工程の後に、前記シリコン非含有樹脂層をマスクとして前記絶縁層をエッチングすることにより、前記回折格子の周期構造に対応した周期構造パターンを有するように前記絶縁層をパターニングし、前記半導体層の表面の一部を露出させる絶縁層エッチング工程と、
前記絶縁層エッチング工程の後に、前記絶縁層をマスクとして前記半導体層をエッチングすることにより、前記半導体層に前記回折格子を形成する回折格子形成工程と、
を備えることを特徴とする方法。 - 前記シリコン非含有樹脂層エッチング工程の後であって前記回折格子形成工程より前に、
前記シリコン含有樹脂層及び前記シリコン非含有樹脂層の温度をSiF4の凝固点よりも高い温度に上昇させる温度上昇工程をさらに備えることを特徴とする請求項1に記載の方法。 - 前記シリコン含有樹脂層エッチング工程では、前記シリコン含有樹脂層及び前記シリコン非含有樹脂層の温度をSiF4の凝固点以下の温度に保ちながら、CF4ガス及びO2ガスを含むエッチングガスを用いた反応性イオンエッチング法によって、前記シリコン含有樹脂層をエッチングすることを特徴とする請求項1又は2に記載の方法。
- 前記絶縁層エッチング工程では、前記シリコン含有樹脂層、前記シリコン非含有樹脂層、及び、前記絶縁層の温度をSiF4の凝固点以下の温度に保ちながら、CF4ガスを含むエッチングガスを用いた反応性イオンエッチング法によって、前記絶縁層をエッチングし、
前記温度上昇工程は、前記絶縁層エッチング工程の後に行われ、
前記温度上昇工程では、前記シリコン含有樹脂層、前記シリコン非含有樹脂層、及び、前記絶縁層の温度をSiF4の凝固点よりも高い温度に上昇させる、
ことを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の方法。 - 前記シリコン非含有樹脂層エッチング工程では、誘導結合型プラズマ反応性イオンエッチングによって、50W以上、100W以下のバイアス電力を印加しながら前記シリコン非含有樹脂層をエッチングすることを特徴とする請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
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