JP5499753B2 - 水処理方法及び装置 - Google Patents

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Description

本発明は水中の有機物を高度に除去する水処理方法及び装置に係り、特に、水中の難除去性有機物を簡便かつ高度に除去することにより、TOC1ppb以下の実質的に有機物を含まない高純度水を得る方法及び装置に関する。
電子部品の洗浄や表面処理には、高濃度の薬液や洗剤と、それを濯ぐための大量の純水ないし超純水が用いられている。しかして、近年、電子部品の高度化に伴い、超純水の水質向上と水使用量の低減を狙った排水回収による水回収率向上が課題となっており、そのために、水中の有機物成分(TOC)をより効率的により低濃度にまで低減させる技術の開発が要望されている。
従来、水中のTOCを除去する方法として、生物処理や物理化学処理などがあり、生物処理が適用困難な場合には、逆浸透(RO)膜を用いた有機物除去や低圧紫外線(UV)ランプを用いた低圧UV酸化装置などが用いられている。
例えば、特許文献1には、低圧UV酸化装置を用いて水中の有機物を除去する水処理装置として、低圧UV酸化装置の前段に、被処理水に酸素ガスを添加する手段を設けたものが提案されている。
即ち、低圧UV酸化装置処理される水中に溶存酸素が存在していると、以下のように、UV照射によってヒドロキシラジカルや過酸化水素が生成し、TOC分解効率が向上することから、特許文献1では、低圧UV酸化装置の前段で被処理水に酸素ガスを添加する。
通常、水はUVの照射エネルギーによって励起され次式のようにHラジカルとOHラジカルに解離し、瞬時にまた水に戻る反応を繰り返している。
Figure 0005499753
解離したOHラジカルの一部がTOC成分と反応し、TOC成分酸化分解に寄与するが、大部分は再結合して水に戻る。TOC成分分解量を上げるためにはTOC成分と反応するOHラジカル量を増やす必要がある。
特許文献1におけるように、UV照射の前段で被処理水に酸素ガスを注入した場合、次式のようにして、解離した一部のHラジカルと注入した酸素が結合し、水に戻る反応が起こる。このとき水が解離して生成されたOHラジカルの一部が余り、このOHラジカルがTOC成分の酸化分解に寄与し、TOC成分分解効率を上げていると考えられる。
Figure 0005499753
なお、低圧UV酸化装置では、水中の酸素と水との反応で過酸化水素の生成もあり、同時に水の励起で以下の反応による過酸化水素の発生もある。
Figure 0005499753
しかし、超純水製造装置などで通常用いられるRO膜や低圧UV酸化装置などは、分子量が小さい窒素化合物(尿素など)に代表される難除去性有機物と称されるTOC成分に対しては、極端に除去効率が悪いといった問題点があった。
一方で、超純水中に存在するTOC成分の殆どをこれらの低分子窒素化合物が占めるため、これらを除去することができれば、超純水中のTOCの殆どすべてを除去することが可能となり、より高純度な超純水を得ることが可能となる。
本出願人は、先に、水中の有機物を低消費エネルギーで効率的に分解除去する方法として、有機物を含有する被処理水を、溶存酸素の存在下に、水素を吸着した白金族金属触媒に接触させることにより、被処理水中の有機物を分解除去する方法を提案した(特許文献2)。
特許文献2の方法であれば、水素及び酸素の共存下に白金族金属触媒の触媒作用で、有機物が効率よく分解除去される。その理由は以下の通りであると推測される。
即ち、白金族金属触媒の存在下で、白金族金属触媒に吸着した水素と水中の酸素とが結合し、白金族金属触媒表面に電子の偏在が生じる。この結果、白金族金属触媒表面の電子が粗の部分に尿素等の低分子窒素化合物の有する非共有電子対が結合(吸着)していると推測される。そして、続いて水素を供給することで、酸素が水素と接触して水になる際に、非共有電子対の結合が切れて有機物が金属触媒上から脱離し元の状態に戻る。このように有機物の吸着、脱離を繰り返すことで、有機物が分解され、水中から除去されるものと考えられる。
特開2008−264630号公報 特願2008−193626
特許文献2の方法によれば、水中の有機物を簡便かつ高度に除去することができるが、より一層の有機物除去効率の向上が望まれる。
本発明は、特許文献2の方法を更に改良し、水中の低分子窒素化合物をより一層高度に除去することにより、高純度な超純水を製造する方法及び装置を提供することを課題とする。
本発明者は、上記課題を解決すべく鋭意検討した結果、有機物を含有する被処理水を、溶存酸素の存在下に、水素を吸着させた金属を含む有機物除去触媒に接触させて、該被処理水中の有機物を除去するに先立ち、低圧紫外線酸化処理して被処理水中の有機物を分解することにより、被処理水中の有機物をより一層高度に除去することが可能となることを見出した。
本発明はこのような知見に基いて達成されたものであり、以下を要旨とする。
[1] 有機物を含有する被処理水を、溶存酸素の存在下に、水素を吸着させた金属を含む有機物除去触媒に接触させて、該被処理水中の有機物を除去する有機物除去工程を含む水処理方法において、該被処理水の溶存酸素濃度を調整するDO濃度調整工程と、該被処理水中の有機物を低圧紫外線酸化して分解する低圧UV酸化工程を有し、該DO濃度調整工程の処理水が前記低圧UV酸化工程に導入され、該低圧UV酸化工程の処理水が前記有機物除去工程に導入されることを特徴とする水処理方法。
] []において、前記DO濃度調整工程において、水中の溶存酸素濃度を1〜200ppbに調整することを特徴とする水処理方法。
] []又は[]において、前記被処理水中の過酸化水素を除去するH除去工程を有し、該H除去工程の処理水が前記DO濃度調整工程に導入されることを特徴とする水処理方法。
] [1]ないし[]のいずれかにおいて、前記有機物除去工程の処理水をイオン交換処理するイオン交換工程を有することを特徴とする水処理方法。
] [1]ないし[]のいずれかにおいて、前記被処理水が、逆浸透膜分離装置、イオン交換装置、及び低圧紫外線酸化装置のいずれか1以上で処理された処理水であることを特徴とする水処理方法。
] 有機物を含有する被処理水を、溶存酸素の存在下に、水素を吸着させた金属を含む有機物除去触媒に接触させて、該被処理水中の有機物を除去する有機物除去手段を含む水処理装置において、該有機物除去手段の前段に、該被処理水中の有機物を低圧紫外線酸化して分解する低圧UV酸化手段を有し、該低圧UV酸化手段の前段に前記被処理水の溶存酸素濃度を調整するDO濃度調整手段を有し、該DO濃度調整手段の処理水が該低圧UV酸化手段に導入され、該低圧UV酸化手段の処理水が前記有機物除去手段に導入されることを特徴とする水処理装置。
] []において、前記DO濃度調整手段において、水中の溶存酸素濃度が1〜200ppbに調整されることを特徴とする水処理装置。
] []又は[]において、前記DO濃度調整手段の前段に、前記被処理水中の過酸化水素を除去するH除去手段を有し、該H除去手段の処理水が該DO濃度調整手段に導入されることを特徴とする水処理装置。
] []ないし[]のいずれかにおいて、前記有機物除去手段の後段に、該有機物除去手段の処理水をイオン交換処理するイオン交換手段を有することを特徴とする水処理装置。
10] []ないし[]のいずれかにおいて、前記被処理水が、逆浸透膜分離装置、イオン交換装置、及び低圧紫外線酸化装置のいずれか1以上で処理された処理水であることを特徴とする水処理装置。
本発明によれば、水素を吸着させた金属を含む有機物除去触媒を用いた有機物除去工程と、低圧紫外線酸化処理による有機物分解工程とを組み合わせることにより、薬品処理や加温処理を施すことなく、被処理水中の有機物を高度に除去して、有機物を実質的に含まない、高純度の水を得ることができる。
本発明の水処理方法及び装置の実施の形態を示す系統図である。
以下に図面を参照して本発明の水処理方法及び装置の実施の形態を詳細に説明する。
なお、以下においては、図1に従って本発明を説明するが、本発明は何ら図1の方法及び装置に限定されるものではない。
図1は本発明の水処理方法及び装置の実施の形態を示す系統図であり、1はH分解カラム、2はガス溶解膜モジュール、3は低圧UV酸化器、4は有機物除去触媒カラム、5はイオン交換樹脂カラムである。即ち、被処理水(以下「原水」と称す。)は、H分解触媒カラム1、ガス溶解膜モジュール2、低圧UV酸化器3、有機物除去触媒カラム4、及びイオン交換樹脂カラム5に順次通水されて処理される。
[原水]
本発明で処理する原水としては、本発明の特長を有効に発揮する上で、超純水を製造するための原水、例えば、市水、井水、表流水や、半導体又は電子部品等の製造工程からの排水などが挙げられるが、特に、逆浸透膜分離装置、低圧UV酸化装置、イオン交換装置などの不純物除去装置で処理された処理水、具体的には、一般的な純水製造装置や超純水製造装置で得られる一次純水や二次純水(超純水)が好ましく適用される。
本発明で処理する原水のTOC濃度としては、1〜1000ppb、特に1〜50ppb、とりわけ1〜30ppb程度が好適である。
また、超純水や低圧UV酸化装置の処理水のように、過酸化水素を含む原水の場合、その濃度は100ppb以下、特に1〜60ppb程度であることが好ましい。
[H分解触媒カラム]
図1の水処理装置では、原水をまず、H分解触媒1Aが充填されたH分解触媒カラム1に導入して、水中に含まれる過酸化水素を分解除去する。
即ち、上述のように、超純水や低圧UV酸化処理水を原水とする場合、原水中に含まれる1〜60ppb程度の過酸化水素を分解して後段の有機物除去触媒への酸素負荷を軽減するために過酸化水素を除去する。また、後段のガス溶解膜モジュール2などによるDO濃度の調整を確実に行うためにも、分解により酸素を生成する過酸化水素は予め除去しておくことが好ましい。
このH分解触媒カラム1に充填されるH分解触媒1Aとしては、活性炭が挙げられるが、その他、触媒有効成分として、白金、パラジウム、ルテニウム、ロジウム、インジウム、イリジウム、銀、金、コバルト、銅、ニッケル及びタングステン、並びにこれらの金属の水不溶性又は水難溶性の化合物、具体的には、一酸化コバルト、過酸化コバルト、一酸化ニッケル、二酸化ルテニウム、三二酸化ロジウム、一酸化パラジウム、二酸化イリジウム、酸化第二銅、二酸化タングステン等の酸化物から選ばれる1種又は2種以上を、アルミナ、活性炭、酸化チタン、ジルコニア、ゼオライト、その他の合成樹脂等の担体に担持したものも挙げられる。担持触媒中の金属及び/又はその化合物の担持量は、通常、担体重量の0.05〜25重量%、好ましくは0.5〜10重量%であることが望ましい。このような活性炭や担持触媒は、球状、ペレット状、円柱状、破砕片状、ハニカム状、粉末状等の種々の形態で使用可能であり、その粒径は、通常0.2〜10mm、特に0.5〜5mm程度であることが好ましい。
本発明では、H分解触媒カラム1に原水を通水して処理することにより、原水中の過酸化水素を5ppb以下程度に除去することが好ましい。
なお、本発明において、H分解触媒カラム1は必ずしも必要とされず、原水中に過酸化水素が含まれない場合、或いはH濃度が5ppb以下の場合には、これを省略することができる。
また、原水中の過酸化水素除去手段は、何らH分解触媒を用いるものに限定されるものではないが、水中の過酸化水素を、H→HO+1/2Oの反応で触媒分解するH分解触媒を用いる方法が、二次汚染を引き起こすことなく、効率的な処理を行える点において好ましい。
[ガス溶解膜モジュール]
図1において、H分解触媒カラム1の流出水は、ガス溶解膜モジュール2に導入されて、溶存酸素(DO)濃度の調整が行われる。
このガス溶解膜モジュール2は、気体透過膜2Mにより内部が液相室2Aと気相室2Bとに仕切られている。気相室2Bは、内部を真空ポンプ2Pで真空引きしながら、酸素ガスを所定の流量で供給する構成とされており、このような構成により、この気相室2Bから気体透過膜2Mを介して液相室2A内の液に所定濃度の酸素ガスを溶解させることができる。また、このように、気相室2Bに真空引きを行いながら酸素ガスを供給することにより、前段のH分解触媒カラム1における過酸化水素の分解で生成した溶存酸素濃度より低い濃度に溶存酸素濃度を調整することも可能となる。ここで用いる真空ポンプには特に制限はないが、二次汚染の問題のないオイルフリーのスクロール式真空ポンプなどが好適に用いられる。
図1では、液相室2Aの出口配管に設けたDO計2Kに連動して、酸素ガス供給配管のバルブ2Vの開度を制御して酸素ガス供給量を調整することにより、所望のDO濃度の水を得る。
気体透過膜2Mは、酸素、窒素、二酸化炭素、水蒸気などの気体は透過するが水は透過しない膜であり、例えば、シリコーン系膜、ポリテトラフルオロエチレン系膜、ポリオレフィン系膜、ポリウレタン系膜などを挙げることができる。
なお、DO濃度調整手段としては、エゼクターを用いるガス溶解方式や高濃度酸素水を注入して濃度調整する方法なども採用し得るが、図1のようなガス溶解膜モジュール2であれば、ppbオーダーの低濃度のDOを容易に精度よくかつ俊敏に濃度調整できることから好ましい。
本発明においては、このようなガス溶解膜モジュール等を用いたDO濃度の調整により、DO濃度調整水(ガス溶解膜モジュール2の出口水)中のDO濃度を1〜200ppb程度、特に5〜100ppb程度に調整することが好ましい。
即ち、本発明では、図1に示すように、有機物除去手段として、低圧UV酸化器3と有機物除去触媒カラム4とを組み合わせて用いるが、低圧UV酸化器における有機物分解効率は、被処理水中のDO酸素濃度が5〜100ppb程度の方が、それよりも少ないDO濃度(例えば1ppb未満)と比べて高くなることが知られており(前述の特許文献1)、更に後段の有機物除去触媒カラム4における有機物処理のためにもDOが必要となる。このため、本発明では、低圧UV酸化に先立つDO濃度の調整により、DO濃度調整水(ガス溶解膜モジュール2の出口水)中のDO濃度を1〜200ppb程度、特に5〜100ppb程度に調整することが好ましい。
このDO濃度が低過ぎると低圧UV酸化器3、更には有機物除去触媒カラム4において、十分に高い有機物除去効率を得ることができない。DO濃度が高過ぎると有機物除去触媒カラムの処理時間低下、処理量低下を引き起こすため好ましくない。
なお、本発明において、DO濃度調整手段は必ずしも必要とされず、原水中のDO濃度が所望の範囲内で安定している場合には、これを省略することができる。
[低圧UV酸化器]
図1において、ガス溶解膜モジュール2でDO濃度が調整された水は、次いで低圧UV酸化器3に導入され、水中の有機物の酸化分解処理が行われる。
低圧UV酸化器3では、水中の難分解性有機物(主に尿素などの低分子窒素化合物)以外の有機物は二酸化炭素と有機酸に酸化分解処理され、分解生成物は後段の有機物除去触媒カラム4の有機物除去触媒4Aのアニオン交換基と、更にその後段のイオン交換樹脂カラム5のイオン交換樹脂で除去される。
また、低圧UV酸化装置3では、前述のように、過酸化水素の生成があるが、この過酸化水素は、後段の有機物除去触媒カラム4において、有機物除去触媒により接触分解され、過酸化水素の分解で生成した酸素は、有機物除去触媒による有機物除去処理に必要な溶存酸素源として活用される。
なお、低圧UV酸化器3では、低圧UVの照射で水が励起されて、2HO→H+Hの反応で過酸化水素と水素が生成するが、この過酸化水素と水素は、後段の有機物除去触媒カラム4において、再びH+H→2HOの反応で水に戻る。ここで、前述の酸素由来の過酸化水素、1/2O+HO→Hは、分解して酸素源となる。生じる過酸化水素に区別はないが、HとOとHがバランスし、UV入口の酸素は触媒カラムで酸素源として用いられる。
低圧UV酸化器において、被処理水中の酸素が過酸化水素生成やTOC分解に寄与する割合は、低圧UVランプの照射強度による。例えば、(株)日本フォトサイエンス社製UVランプ 型式「AY−7」の場合、DO濃度10ppbまではほぼ全量、過酸化水素生成とTOC分解に消費され、10ppb以上はその差分(供給DO濃度−10ppb)がそのまま後段への溶存酸素負荷となる。このランプの場合、消費される溶存酸素は約80%が過酸化水素生成に用いられ、20%がTOCの分解に寄与する。従って、供給した(溶存酸素−2ppb)が後段への溶存酸素負荷となる。なお、上述の如く、UV照射で生成する水の励起に由来する過酸化水素は、水に戻るため、有機物除去触媒による有機物除去反応の酸素源として考慮する必要はない。
本発明においては、有機物除去触媒による有機物除去工程に先立ち、このような低圧UV酸化による有機物分解処理を行い、UV前でDOを高めることにより、UVでの分解効率の向上が見込める。これにより全体のTOC除去率を上げることができる。しかも、前述の如く、低圧UV酸化で生成する過酸化水素は、有機物除去触媒により分解除去されると共に、この過酸化水素の分解で生成した酸素は有機物除去触媒による有機物除去反応に利用されて消費されるため、有機物除去工程の後段のDO負荷が軽減され、その後のDO除去のための脱気手段などが不要となる。
[有機物除去触媒カラム]
図1では、低圧UV酸化器3の処理水は、次いで有機物除去触媒4Aが充填された有機物除去触媒カラム4に導入されて、溶存酸素の存在下に、水素を吸着した有機物除去触媒により有機物が除去される。この有機物除去触媒カラム4における有機物除去機構は次の通りである。
即ち、前述の如く、有機物除去触媒の存在下で、有機物除去触媒に吸着した水素と水中の酸素とが結合し、有機物除去触媒表面に電子の偏在が生じる。この結果、有機物除去触媒表面の電子が粗の部分に尿素等の低分子窒素化合物の有する非共有電子対が結合(吸着)していると推測される。そして、続いて水素を供給することで、酸素が水素と接触して水になる際に、非共有電子対の結合が切れて有機物が有機物除去触媒上から脱離し元の状態に戻る。このように有機物の吸着、脱離を繰り返すことで、有機物が分解され、水中から除去されるものと考えられる。
ここで、有機物除去触媒に含まれる金属としては、水素を十分に吸着し得るものであれば良く、白金族金属、マグネシウム或いはこれらの合金(以下、これらの触媒金属を「白金族金属等」と称す場合がある。)が挙げられ、このうち、白金族金属としては、ルテニウム、ロジウム、パラジウム、オスミウム、イリジウム及び白金を挙げることができる。これらの金属は、1種を単独で用いることができ、2種以上を組み合わせて用いることもできる。また、2種以上の金属よりなる合金として用いることもできる。また、天然に産出される混合物の精製品を単体に分離することなく用いることもできる。これらの中で、白金、パラジウム、白金/パラジウム合金の単独又はこれらの2種以上の混合物は、触媒活性が強いので特に好適に用いることができる。
この有機物除去触媒は、白金族金属等の微粒子でもよく、白金族金属等のナノコロイド粒子を担体の表面に担持させた金属担持触媒でもよい。また、有機物除去触媒は、セラミックボール等の基体に白金等の白金族金属等の被膜をめっき等により形成したものでもよい。
白金族金属等のナノコロイド粒子を製造する方法に特に制限はなく、例えば、金属塩還元反応法、燃焼法などを挙げることができる。これらの中で、金属塩還元反応法は、製造が容易であり、安定した品質の金属ナノコロイド粒子を得ることができるので好適に用いることができる。金属塩還元反応法による場合、例えば、白金などの白金族金属等の塩化物、硝酸塩、硫酸塩、金属錯化物などの0.1〜0.4mmol/L水溶液に、アルコール、クエン酸又はその塩、ギ酸、アセトン、アセトアルデヒドなどの還元剤を白金族金属等に対して4〜20当量倍添加し、1〜3時間煮沸することにより、白金族金属等のナノコロイド粒子を製造することができる。また、例えば、ポリビニルピロリドン水溶液に、ヘキサクロロ白金酸、ヘキサクロロ白金酸カリウムなどを1〜2mmol/L溶解し、エタノールなどの還元剤を加え、窒素雰囲気下で2〜3時間加熱還流することにより、白金ナノコロイド粒子を製造することができる。
白金族金属等のナノコロイド粒子の重量平均粒子径は好ましくは1〜50nmであり、より好ましくは1.2〜20nmであり、さらに好ましくは1.4〜5nmである。金属ナノコロイド粒子の重量平均粒子径が1nm未満であると、有機物の分解除去に対する触媒活性が低下するおそれがある。金属ナノコロイド粒子の重量平均粒子径が50nmを超えると、ナノコロイド粒子の比表面積が小さくなって、有機物の分解除去に対する触媒活性が低下するおそれがある。
白金族金属等のナノコロイド粒子を担持させる担体に特に制限はなく、例えば、マグネシア、チタニア、アルミナ、シリカ−アルミナ、ジルコニア、活性炭、ゼオライト、ケイソウ土、イオン交換樹脂などを挙げることができる。これらの中で、アニオン交換樹脂を特に好適に用いることができる。白金族金属等のナノコロイド粒子は電気二重層を有し、負に帯電しているので、アニオン交換樹脂に安定に担持されて剥離しにくい。このアニオン交換樹脂は、スチレン−ジビニルベンゼン共重合体を母体とした強塩基性アニオン交換樹脂であることが好ましく、特にゲル型樹脂であることがより好ましい。アニオン交換樹脂の交換基は、OH形であることが好ましい。
アニオン交換樹脂等の担体への白金族金属等のナノコロイド粒子の担持量は、0.01〜0.2重量%であることが好ましく、0.04〜0.1重量%であることがより好ましい。金属ナノコロイド粒子の担持量が0.01重量%未満であると、有機物の分解除去に対する触媒活性が不足するおそれがある。金属ナノコロイド粒子の担持量は0.2重量%以下で有機物の分解除去に対して十分な触媒活性が発現し、通常は0.2重量%を超える金属ナノコロイド粒子を担持させる必要はない。また、金属ナノコロイド粒子の担持量が増加すると、水中への金属の溶出のおそれも大きくなる。
なお、有機物除去触媒カラム4で有機物除去処理を継続することにより、有機物除去触媒カラム4内の有機物除去触媒4aの水素吸着量が少なくなり、有機物除去効率が低下するので、この場合には、有機物除去触媒への水素吸着工程を実施する。
有機物除去触媒の水素吸着量が少なくなったか否かは、例えば、有機物除去触媒カラム4への流入水及び流出水のDO濃度を測定し、この濃度差が所定値以下であるか否かによって判定することができる。即ち、有機物除去触媒カラム4の流入水のDO濃度と流出水のDO濃度との差が所定値以下であれば、水素吸着量が十分であるためDOが水素との反応で除去されており、逆に所定値を超える場合は、水素吸着量が不足しているために、DOが水素との反応で消費されていないことを示す。
従って、例えば、有機物除去触媒カラム4の出口DO濃度をDO計4Kで測定し、このDO計4Kの測定値が上昇してきたときに、有機物除去工程から水素吸着工程に切り替えることができる。
水素吸着工程の実施に際しては、低圧UV酸化器3からの水の流入を停止して、有機物除去触媒カラム4内の水を排出した後、水素ガスを有機物除去触媒カラム4内に導入しカラム4内の有機物除去触媒4Aに水素を吸着させる(図1において破線で示す配管)。このとき、有機物除去触媒カラム4を密閉して、有機物除去触媒カラム4内を加圧して水素の吸着を促進してもよい。また、カラム4に水素を流通させるようにしてもよい。
有機物除去触媒4Aに十分に水素を吸着させた後は再び低圧UV酸化器3からの水を通水して、カラム4内をこの水で満たして有機物除去工程を再開する。
このように、有機物除去触媒カラム内の有機物除去触媒に水素を吸着させて再び使用する他、有機物除去触媒カラム内の有機物除去触媒を、水素を吸着した別の有機物除去触媒と交換するようにしてもよい。また、有機物除去触媒カラムを複数本並設し、一部のカラムで有機物除去工程を行い、他のカラムでは水素吸着工程を行うようにして、有機物除去と水素吸着を行うカラムを切り換えて連続処理することもできる。
[イオン交換樹脂カラム]
図1の装置において、有機物除去触媒カラム4の流出水は、次いで、イオン交換樹脂5Aが充填されたイオン交換樹脂カラム5に通水して、有機物除去処理水中に含有される未分解の有機物や有機物の分解過程で生じる有機酸等を吸着除去する。
即ち、このイオン交換樹脂カラム5では、低圧UV酸化器3で生成した二酸化炭素や有機酸と、有機物除去触媒カラムから生じるイオン成分、その他の有機物を除去する。イオン交換樹脂としては、アニオン交換樹脂、カチオン交換樹脂、或いはその両方を含むものが挙げられるが、強酸性カチオン交換樹脂と強塩基性アニオン交換樹脂とをイオン負荷に応じて混合充填した非再生型混床式イオン交換装置を用いることが好ましい。混床式イオン交換装置により、残留有機物や、有機物の分解過程で生成する有機酸等も除去されると共に、水中のカチオンとアニオンが完全に除去されて、有機物濃度及び電気伝導率が極めて低い超純水を得ることができる。
なお、有機物除去触媒カラム4からの有機物除去処理水は、イオン交換樹脂カラム5に通水するに先立ち、脱気処理を行ってもよい。これにより、有機物の分解等によって生じた炭酸ガスが除去されるので、アニオン交換樹脂に対する炭酸イオン負荷が軽減される。
イオン交換樹脂カラム5の流出水は、有機物とイオン成分が高度に除去された超純水であり、処理水として使用場所に供給される。
以下に実施例及び比較例を挙げて本発明をより具体的に説明する。
[実施例1]
図1に示す水処理装置を用いて、水処理を行った。
この水処理装置の各部の仕様は次の通りである。
分解触媒カラム1:栗田工業(株)製ナノセイバー用Pt担持樹脂を
100mL充填
ガス溶解膜モジュール2:セルガード社製脱気膜モジュール「リキセルG420」
低圧UV酸化器3:(株)日本フォトサイエンス製「AY−7]
有機物除去触媒カラム4:栗田工業(株)製ナノセイバー用Pt担持樹脂を
500mL充填
イオン交換樹脂カラム5:栗田工業(株)製アニオン交換樹脂「KR−UA1」
310mLと同カチオン交換樹脂「KR−UC1]
190mLを充填
原水としては、超純水にTOC源として尿素3ppb(炭素換算濃度)とイソプロパノール5ppb(炭素換算濃度)とを添加した合成水を用いた。この原水中には、過酸化水素が15ppb含まれていた。原水処理水量は0.5L/minとし、処理水の水質計としては以下のものを用いた。また、有機物除去触媒には、予め水素を吸着させて使用した。ガス溶解膜モジュール2では、モジュール出口水中のDO濃度が30ppbとなるようにDO濃度調整を行なった。
TOC計:シーバス社製「シーバス500RLe」
DO計:ハックウルトラアナリティクスジャパン社製「オービス3610」
原水中には15ppbの過酸化水素が含まれており、そのままでは有機物除去触媒カラム4において、2H→2HO+Oの反応で分解して、この過酸化水素が7ppbの溶存酸素負荷となるが、前段にH分解触媒カラム1と脱気しながらのガス溶解膜モジュール2が設けられているので、設定値通りにDO濃度を調整することができた。なお、H分解触媒カラム1の出口水のH濃度は1ppb以下であった。
この結果、処理水(イオン交換樹脂カラム5の出口水)のTOC濃度は、1ppb以下であり、原水中のTOC濃度は高度に除去された。
また、有機物除去触媒カラム4の出口水のDO濃度は1ppb以下、H濃度も1ppb以下であり、有機物除去触媒により脱酸素が行われ、また、過酸化水素も分解除去された。
[比較例1]
実施例1において、低圧UV酸化器と3有機物除去触媒カラム4を入れ換え、H分解触媒カラム→ガス溶解膜モジュール→有機物除去触媒カラム→低圧UV酸化器→イオン交換樹脂カラムの順として、同様に原水の処理を行った。
その結果、処理水(イオン交換樹脂カラムの出口水)のTOC濃度は1.2ppbであり、H濃度は5ppb、DO濃度は2ppbであった。
本例では、低圧UV酸化器に有機物除去触媒により脱酸素された水が供給されたため、低圧UV酸化器での有機物酸化分解効率が低下したことにより有機物除去効果が低下したことが考えられる。また、低圧UV酸化器の後段に、過酸化水素を高度に分解する単位操作がないため、過酸化水素が残留した。また、イオン交換樹脂で少し分解した過酸化水素によりDOが上昇したと考えられる。
[参考例1]
実施例1において、H分解触媒カラム1を省略し、ガス溶解膜モジュール2と低圧UV酸化器3を入れ換え、低圧UV酸化器→ガス溶解膜モジュール→有機物除去触媒カラム→イオン交換樹脂カラムの順として同様に原水の処理を行った。
その結果、処理水(イオン交換樹脂カラムの出口水)のTOC濃度は1.2ppb、H濃度は1ppb以下、DO濃度は1ppb以下であった。
本例では、低圧UV酸化器に流入する水のDO濃度が低いために低圧UV酸化器でのイソプロパノール分解能が低下したことにより有機物除去効果が低下したことが考えられる。
本発明によれば、低分子窒素化合物を含むTOC成分を簡便にかつ高度に除去することが可能であり、更には、溶存酸素や過酸化水素についても高度に除去することができる。このため、本発明を超純水の製造システム等に好適に適用して、超純水中のTOC成分、溶存酸素、過酸化水素を簡便にかつ高度に低濃度化することができる。
1 H分解触媒カラム
2 ガス溶解膜モジュール
3 低圧UV酸化器
4 有機物除去触媒カラム
5 イオン交換樹脂カラム

Claims (10)

  1. 有機物を含有する被処理水を、溶存酸素の存在下に、水素を吸着させた金属を含む有機物除去触媒に接触させて、該被処理水中の有機物を除去する有機物除去工程を含む水処理方法において、
    該被処理水の溶存酸素濃度を調整するDO濃度調整工程と、該被処理水中の有機物を低圧紫外線酸化して分解する低圧UV酸化工程を有し、該DO濃度調整工程の処理水が前記低圧UV酸化工程に導入され、該低圧UV酸化工程の処理水が前記有機物除去工程に導入されることを特徴とする水処理方法。
  2. 請求項において、前記DO濃度調整工程において、水中の溶存酸素濃度を1〜200ppbに調整することを特徴とする水処理方法。
  3. 請求項又はにおいて、前記被処理水中の過酸化水素を除去するH除去工程を有し、該H除去工程の処理水が前記DO濃度調整工程に導入されることを特徴とする水処理方法。
  4. 請求項1ないしのいずれか1項において、前記有機物除去工程の処理水をイオン交換処理するイオン交換工程を有することを特徴とする水処理方法。
  5. 請求項1ないしのいずれか1項において、前記被処理水が、逆浸透膜分離装置、イオン交換装置、及び低圧紫外線酸化装置のいずれか1以上で処理された処理水であることを特徴とする水処理方法。
  6. 有機物を含有する被処理水を、溶存酸素の存在下に、水素を吸着させた金属を含む有機物除去触媒に接触させて、該被処理水中の有機物を除去する有機物除去手段を含む水処理装置において、
    該有機物除去手段の前段に、該被処理水中の有機物を低圧紫外線酸化して分解する低圧UV酸化手段を有し、該低圧UV酸化手段の前段に前記被処理水の溶存酸素濃度を調整するDO濃度調整手段を有し、該DO濃度調整手段の処理水が該低圧UV酸化手段に導入され、該低圧UV酸化手段の処理水が前記有機物除去手段に導入されることを特徴とする水処理装置。
  7. 請求項において、前記DO濃度調整手段において、水中の溶存酸素濃度が1〜200ppbに調整されることを特徴とする水処理装置。
  8. 請求項又はにおいて、前記DO濃度調整手段の前段に、前記被処理水中の過酸化水素を除去するH除去手段を有し、該H除去手段の処理水が該DO濃度調整手段に導入されることを特徴とする水処理装置。
  9. 請求項ないしのいずれか1項において、前記有機物除去手段の後段に、該有機物除去手段の処理水をイオン交換処理するイオン交換手段を有することを特徴とする水処理装置。
  10. 請求項ないしのいずれか1項において、前記被処理水が、逆浸透膜分離装置、イオン交換装置、及び低圧紫外線酸化装置のいずれか1以上で処理された処理水であることを特徴とする水処理装置。
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