JP5479244B2 - 光測定装置及び光ファイバ線路試験方法 - Google Patents
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Description
レーザモジュールが連続波光を発生し、光強度制御部を備えるため、光接続部から光強度の安定した連続波光を出力することができる。これにより、本願発明の光測定装置は、連続波光源としての機能も備えることができる。
これにより、信号光の強度を広い範囲にわたって測定することができる。
図1に、本実施形態に係る光測定装置の一例を示す。本実施形態に係る光測定装置は、タイミング発生部11と、レーザモジュール12と、光カプラ13と、接続部14と、第1の受光器15と、TIA(Trans−Impedance Amplifier)16と、ADC(Analog−to−Digital Converter)17と、OTDR測定部18−1と、第2の受光器21と、TIA22と、ADC23と、光強度測定部18−2と、表示部19と、を備え、被測定光ファイバ100のOTDR測定を行う。
光強度測定を行う際、信号光S1の光強度が弱い場合もある。そこで、本実施形態に係る光測定装置は、信号光S1の光強度が強いときは第2の受光器21が反射光S2を受光し、信号光S1の光強度が弱いときは第1の受光器15が信号光S1を受光する。
図3に、本実施形態に係る光測定装置の一例を示す。本実施形態に係る光測定装置は、
実施形態1の光測定装置に加えてスイッチ32及び光強度制御部33をさらに備え、実施形態1で説明したレーザモジュール12に代えてレーザモジュール31を備える。本構成を採用することで、本実施形態に係る光測定装置は、連続光源としての機能も備える。以下、実施形態1では備わっていなかった特徴について説明する。
12:レーザモジュール
13:光カプラ
14:接続部
15:第1の受光器
16、22:TIA
17、23:ADC
18−1:OTDR測定部
18−2:光強度測定部
19:表示部
21:第2の受光器
31:レーザモジュール
32:スイッチ
33:光強度制御部
100:被測定光ファイバ
Claims (5)
- 被測定光ファイバが接続可能な接続部(14)と、
所定波長の光パルスである測定光を発生し前記接続部を介して前記被測定光ファイバに向けて出射するレーザモジュール(12)と、
前記被測定光ファイバから前記接続部を介して入射される前記光パルスの戻り光を受光して当該戻り光を電気信号に変換する第1の受光器(15)と、
前記レーザモジュールから出射される前記測定光を受けて前記接続部に出射するとともに、前記接続部からの前記戻り光を受けて、当該戻り光を前記第1の受光器に出射する光カプラ(13)と、
前記第1の受光器の電気信号に基づいて、前記被測定光ファイバの特性を測定するOTDR(Optical Time Domain Reflectometer)測定部(18−1)と、
を備えた光測定装置において、
受光した光を電気信号に変換する第2の受光器(21)と、
当該電気信号に基づいて前記第2の受光器で受光した光の光強度を測定する光強度測定部(18−2)と、を備え、
前記光カプラは、外部の光源からの信号光が前記被測定光ファイバを介して前記接続部に入射されたとき、当該信号光を前記接続部から受けて前記レーザモジュールに出射するとともに、当該信号光が前記レーザモジュールで反射した反射光を受けて前記第2の受光器に出射し、
前記光強度測定部は、前記第2の受光器で受光した前記反射光の光強度を用いて、前記信号光の光強度を測定することを特徴とする光測定装置。 - 前記レーザモジュールは、所定波長の連続波光と前記所定波長の光パルスとのいずれかの測定光を選択的に発生し、
前記光カプラは、前記レーザモジュールから出射される前記測定光を受けて2つに分岐し、一方を前記接続部に出射し、他方を前記第2の受光器に向けて出射し、
前記第2の受光器の電気信号に基づいて、前記レーザモジュールが発生する前記連続波の光強度を安定化させる光強度制御部(33)をさらに備える
ことを特徴とする請求項1に記載の光測定装置。 - 前記光カプラは、前記接続部から受けた前記信号光を2つに分岐し、分岐した当該信号光の一方を前記レーザモジュールに出射するとともに、分岐した当該信号光の他方を前記第1の受光器に出射し、
前記光強度測定部は、
前記信号光の光強度が所定の閾値以上の場合は、前記第2の受光器で受光した前記反射光の光強度を用いて前記信号光の光強度を測定し、
前記信号光の光強度が所定の閾値未満の場合は、前記第1の受光器で受光した前記他方の信号光の光強度を用いて前記信号光の光強度を測定する
ことを特徴とする請求項1又は2に記載の光測定装置。 - 前記光強度測定部は、前記反射光の光強度を予め記憶した補正値で補正して、前記信号光の光強度を算出する
ことを特徴とする請求項1から3のいずれかに記載の光測定装置。 - 所定波長の光パルスをレーザモジュールで発生して被測定光ファイバに出射し、前記被測定光ファイバから入射される前記光パルスの戻り光を受光して前記被測定光ファイバの特性を測定する光測定装置を用いた光ファイバ線路試験方法において、
前記被測定光ファイバを前記光測定装置に接続する接続手順(S101)と、
前記被測定光ファイバの特性を測定するための第1の測定(S210)と前記被測定光ファイバを介して入射された外部の光源からの信号光の光強度を測定するための第2の測定(S220)とを含む測定を行う測定手順(S102)と、
前記被測定光ファイバを前記光測定装置から外す脱離手順(S103)と、
を順に有し、
前記第1の測定は、
前記光パルスを前記レーザモジュールで発生し前記被測定光ファイバに出射する出射手順(S211)と、
前記被測定光ファイバからの前記光パルスの戻り光を受光して当該戻り光を電気信号に変換する戻り光受光手順(S212)と、
当該電気信号に基づいて、前記被測定光ファイバの特性を測定する特性測定手順(S213)と、を順に有し、
前記第2の測定は、
前記被測定光ファイバを介して入射された外部の光源からの信号光を前記レーザモジュールで反射させる反射手順(S221)と、
前記反射手順で反射させた反射光を受光して電気信号に変換する反射光受光手順(S222)と、
当該電気信号に基づいて、前記信号光の光強度を測定する光強度測定手順(S223)と、を順に有する
ことを特徴とする光ファイバ線路試験方法。
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