JP5220499B2 - 光パルス試験器 - Google Patents
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Description
前記試験光を尖頭形パルスに変調する尖頭形パルス変調信号及び前記試験光を矩形パルスに変調する矩形パルス変調信号を出力する変調信号発生部11bと、該変調信号発生部からの変調信号に基づき変調された試験光を出射する光源11aとを備え、前記障害点位置を測定するときは、前記変調信号発生部から出力される前記尖頭形パルス変調信号によって変調された前記試験光を前記光源から出射し、前記被測定光ファイバ6の光損失を測定するときは、前記変調信号発生部から出力される前記矩形パルス変調信号によって変調された前記試験光を前記光源から出射する光源部11と、
前記被測定光ファイバからの戻り光から前記試験光の光信号のみを取り出すフィルタ手段14と、
該フィルタ手段で取り出された前記試験光の光信号を光電変換する光検出手段15と、
該光検出手段で光電変換された電気信号に基づき、前記被測定光ファイバの障害点位置の測定に関する処理制御を行う信号処理制御部16と、
から構成されることを特徴とする。
前記基準反射レベルデータを基準としたときに前記測定した戻り光の反射レベルが所定の範囲内であった場合は、前記被測定光ファイバが正常状態であると判定することを特徴とする。
また、尖頭形パルス変調信号の発生回路としては、例えば図2に示すような一般的な微分回路で構成され、制御手段16cからの尖頭形パルス変調指令に基づき、所定の発生タイミングで尖頭形パルス変調信号を光源11aに出力する。
また、尖頭形パルスを用いると、矩形パルスを用いた場合に比べて受光信号のオーバーシュートやアンダーシュートが少ないため、測定した波形における反射点後方の落ち込みが緩和され、誤検出が無くせるという利点もある。
2…加入者線端局装置(OLT)
3…加入者線終端装置(ONU)
4…光フィルタ
5…光スプリッタ
6…被測定光ファイバ
11…光源部(11a…光源、11b…変調信号発生手段)
12…分岐手段
13…光増幅手段
14…フィルタ手段
15…光検出手段
16…信号処理制御手段(16a…A/D変換手段、16b…加算処理手段、16c…制御手段)
17…記憶手段
18…表示手段
19…操作手段
20…光端子
Claims (2)
- 加入者線端局装置(2)と複数の加入者線終端装置(3)が光スプリッタ(5)によって光信号を1対多に分岐接続された光多分岐通信システムにおける前記加入者端局装置側から被測定光ファイバ(6)に試験光を入射し、前記加入者終端装置側の直前に設置された光フィルタ(4)から反射されて前記加入者線端局装置側に戻る戻り光を受光検出して前記被測定光ファイバの光損失や障害点位置の測定を行う光パルス試験器において、
前記試験光を尖頭形パルスに変調する尖頭形パルス変調信号及び前記試験光を矩形パルスに変調する矩形パルス変調信号を出力する変調信号発生部(11b)と、該変調信号発生部からの変調信号に基づき変調された試験光を出射する光源(11a)とを備え、前記障害点位置を測定するときは、前記変調信号発生部から出力される前記尖頭形パルス変調信号によって変調された前記試験光を前記光源から出射し、前記被測定光ファイバ(6)の光損失を測定するときは、前記変調信号発生部から出力される前記矩形パルス変調信号によって変調された前記試験光を前記光源から出射する光源部(11)と、
前記被測定光ファイバからの戻り光から前記試験光の光信号のみを取り出すフィルタ手段(14)と、
該フィルタ手段で取り出された前記試験光の光信号を光電変換する光検出手段(15)と、
該光検出手段で光電変換された電気信号に基づき、前記被測定光ファイバの障害点位置の測定に関する処理制御を行う信号処理制御部(16)と、
から構成されることを特徴とする光パルス試験器。 - 前記信号処理制御部(16)は、前記試験光を前記被測定光ファイバ(6)へ出射したときの前記加入者線終端装置(3)からの戻り光の反射レベルと、予め設定された前記光多分岐通信システムの被測定光ファイバが正常状態のときの前記加入者線終端装置からの戻り光の反射レベルである基準反射レベルデータとを比較し、
前記基準反射レベルデータを基準としたときに前記測定した戻り光の反射レベルが所定の範囲内であった場合は、前記被測定光ファイバが正常状態であると判定することを特徴とする請求項1記載の光パルス試験器。
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JP2008178086A JP5220499B2 (ja) | 2008-07-08 | 2008-07-08 | 光パルス試験器 |
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