JP5422114B2

JP5422114B2 - Ｘ線診断装置

Info

Publication number: JP5422114B2
Application number: JP2007315690A
Authority: JP
Inventors: 弘明佐藤
Original assignee: Toshiba Corp; Toshiba Medical Systems Corp
Current assignee: Toshiba Corp; Canon Medical Systems Corp
Priority date: 2007-12-06
Filing date: 2007-12-06
Publication date: 2014-02-19
Anticipated expiration: 2027-12-06
Also published as: JP2009136481A

Description

本発明は、被検体にＸ線を照射して診断を行なうＸ線診断装置に関する。

下記特許文献１に記載されているように、被検体にＸ線を照射し、被検体を通過したＸ線を光学画像に変換し、その画像を観察したり撮影したりすることにより被検体を診断するＸ線診断装置が知られている。これらのＸ線診断装置は、Ｘ線の照射をオン・オフさせる透視スイッチを有している。さらに、これらのＸ線診断装置は、Ｘ線の照射条件を設定するための複数のスイッチを備えている。これらの複数のスイッチとしては、管電圧の値を設定する設定スイッチ、管電流の値を設定する設定スイッチ、パルス透視／連続透視を選択する選択スイッチ、パルスレートを設定する設定スイッチ、パルス幅を設定する設定スイッチ、線質フィルタの種類を選択する選択スイッチ等が含まれている。

Ｘ線診断装置を用いて被検体を診断する場合の工程は、Ｘ線を照射して診断対象部位を位置決めする位置決め工程と、位置決めした診断対象部位にＸ線を照射して診断対象部位を診断する診断工程とに分けることができる。

位置決め工程時においては、診断対象部位を位置決めすることができればよく、鮮明な画像が得られなくてもよいので、Ｘ線の照射量を少なくし、被検体やＸ線診断装置を操作する術者のＸ線被曝量を少なくすることが望ましい。

一方、診断対象部位を位置決めした後の診断工程時においては、診断対象部位についての鮮明な画像を得るためにＸ線の照射条件を変更し、Ｘ線の照射量を位置決め工程時より多くする必要がある。
特開平１１−２８５４９１号公報

しかしながら、従来のＸ線診断装置では、Ｘ線の照射条件を変更するためには複数のスイッチを操作しなければならず、これらのスイッチの操作には手間と時間とがかかり、煩雑である。

そこで、従来のＸ線診断装置の使用形態としては、スイッチ操作の煩雑さを軽減するため、診断対象部位を位置決めする位置決め工程時におけるＸ線の照射条件を、診断工程時のＸ線の照射条件と同じにしている場合がある。このような使用形態は、診断対象部位の位置決めと位置決めした診断対象部位の診断とを短時間で繰り返す場合に多くなっている。

このような使用形態によれば、診断対象部位を位置決めする場合において必要量以上のＸ線が照射されることになり、被検体や術者のＸ線被曝量が多くなる。

本発明はこのような課題を解決するためになされたもので、その目的は、Ｘ線の照射条件の変更を容易に行なうことができ、被検者や術者のＸ線被曝量を減らすことができるＸ線診断装置を提供することである。

本発明の実施の形態に係る第１の特徴は、被検体にＸ線を照射して、連続透視またはパルス透視を行うＸ線診断装置において、コンソールに設けられ、押込み位置が浅い１段階目の切替ポジションと、押込み位置が深い２段階目の切替ポジションとに切替可能に構成された透視スイッチと、前記透視スイッチが前記１段階目の切替ポジションに切替えられた場合に照射される位置決め透視用のＸ線の第１の照射条件と、前記透視スイッチが前記２段階目の切替ポジションに切替えられた場合に照射される診断透視用のＸ線の第２の照射条件とを、この第２の照射条件のＸ線の照射量が前記第１の照射条件のＸ線の照射量より多くなるように設定する設定手段と、前記第１の照射条件と前記第２の照射条件とを記憶する記憶部と、前記透視スイッチが前記１段階目の切替ポジションに切替えられた場合に前記第１の照射条件のＸ線を照射し、前記透視スイッチが前記２段階目の切替ポジションに切替えられた場合に前記第２の照射条件のＸ線を照射するようにＸ線の照射を制御するメイン制御部と、を備えることである。

本発明によれば、Ｘ線の照射条件の変更を容易に行なうことができ、被検者やＸ線診断装置を操作する術者のＸ線被曝量を減らすことができる。

以下、本発明の実施の形態を図面を用いて説明する。

（第１の実施の形態）
本発明の第１の実施の形態に係るＸ線診断装置は、天板（図示せず）上に載置された被検体に対してＸ線管（図示せず）からＸ線を照射し、被検体を透過したＸ線をＸ線撮影部（図示せず）で捉えることにより被検体を診断する装置である。このＸ線診断装置は、図１に示すような操作盤であるコンソール１を備えている。

コンソール１には、切替操作部である透視スイッチ２と、Ｘ線の照射条件を設定する各種のスイッチ３〜８と、位置決め用照射条件設定スイッチ９と、診断用照射条件設定スイッチ１０と、決定スイッチ１１とが設けられている。

透視スイッチ２は、押込み位置が浅い１段階目の切替ポジションと、押込み位置が深い２段階目の切替ポジションとに切替可能なスイッチである。透視スイッチ２を、押込み位置が浅い１段階目の切替ポジションに切替えた場合には、被検体における診断対象部位を位置決めするために適した照射条件のＸ線がＸ線管から照射される。透視スイッチ２を、押込み位置が深い２段階目の切替ポジションに切替えた場合には、被検体における診断対象部位を診断するために適した照射条件のＸ線がＸ線管から照射される。

コンソール１に設けられたＸ線の照射条件を設定する各種のスイッチ３〜８は、管電圧設定スイッチ３と、管電流設定スイッチ４と、パルス幅設定スイッチ５と、パルスレート設定スイッチ６と、連続透視／パルス透視選択スイッチ７と、線質フィルタ選択スイッチ８とである。

管電圧設定スイッチ３は、Ｘ線管に印加する管電圧値を設定するスイッチであり、設定したい管電圧値を入力する設定用ダイヤル３ａと、設定した管電圧値が表示される表示部３ｂとを備えている。

管電流設定スイッチ４は、Ｘ線管に印加する管電流値を設定するスイッチであり、設定したい管電流値を入力する設定用ダイヤル４ａと、設定した管電流値が表示される表示部４ｂとを備えている。

パルス幅設定スイッチ５は、Ｘ線管からパルス状に照射されるＸ線のパルス幅を設定するスイッチであり、設定したいパルス幅を入力する設定用ダイヤル５ａと、設定したパルス幅が表示される表示部５ｂとを備えている。

パルスレート設定スイッチ６は、Ｘ線管からパルス状に照射されるＸ線の単位時間当りの照射回数を設定するスイッチであり、設定したいパルスレートを入力する設定用ダイヤル６ａと、設定したパルスレートが表示される表示部６ｂとを備えている。

連続透視／パルス透視選択スイッチ７は、Ｘ線管から照射されるＸ線を連続照射とするかパルス照射とするかを選択するスイッチであり、連続透視かパルス透視かを選択する選択用ダイヤル７ａと、選択結果が表示される表示部７ｂとを備えている。表示部７ｂには、「連続透視」又は「パルス透視」の表示が行なわれる。

線質フィルタ選択スイッチ８は、Ｘ線の線質を変える線質フィルタを選択するスイッチであり、複数の線質フィルタの中から１つを選択する選択用ダイヤル８ａと、選択した線質フィルタの種類が表示される表示部８ｂとを備えている。

位置決め用照射条件設定スイッチ９は、透視スイッチ２を１段階目の切替ポジションに切替えた場合に照射されるＸ線の照射条件を設定する場合に操作するスイッチである。位置決め用照射条件設定スイッチ９をオンにした後、各種のスイッチ３〜８を操作することにより、透視スイッチ２を１段階目の切替ポジションに切替えた場合においてＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定することができる。位置決め用照射条件設定スイッチ９をオンにし、ついで、スイッチ３〜８を操作する設定操作が終了した後、決定スイッチ１１をオンにすることにより、透視スイッチ２を１段階目の切替ポジションに切替えた場合に照射されるＸ線の照射条件が決定される。

診断用照射条件設定スイッチ１０は、透視スイッチ２を２段階目の切替ポジションに切替えた場合に照射されるＸ線の照射条件を設定する場合に操作するスイッチである。診断用照射条件設定スイッチ１０をオンにした後、各種のスイッチ３〜８を操作することにより、透視スイッチ２を２段階目の切替ポジションに切替えた場合においてＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定することができる。診断用照射条件設定スイッチ１０をオンにし、ついで、スイッチ３〜８を操作する設定操作が終了した後、決定スイッチ１１をオンにすることにより、透視スイッチ２を２段階目の切替ポジションに切替えた場合に照射されるＸ線の照射条件が決定される。

図２は、透視スイッチ２や各種のスイッチ３〜８、及び、位置決め用照射条件設定スイッチ９、診断用照射条件設定スイッチ１０、決定スイッチ１１等の接続状態を示すブロック図である。

透視スイッチ２と、スイッチ３〜８と、位置決め用照射条件設定スイッチ９と、診断用照射条件設定スイッチ１０と、決定スイッチ１１とは、Ｘ線管からのＸ線の照射条件を設定するための設定用制御部１２に接続されている。

設定用制御部１２は、上記スイッチ３〜１１の操作に基づき、透視スイッチ２を１段階目の切替ポジション、又は、２段階目の切り替えポジションに切替えた場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定するための処理を行う。これらのスイッチ３〜１１と設定用制御部１２とにより、透視スイッチ２が１段階目又は２段階目の切替ポジションに切替えられた場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定する設定手段１３が構成されている。

設定用制御部１２には記憶部１４が接続され、この記憶部１４には、透視スイッチ２の切替ポジション毎に設定されたＸ線の照射条件が記憶される。

設定用制御部１２は、メイン制御部１５に接続されている。メイン制御部１５はＸ線診断装置の主要な制御、例えば、Ｘ線管からのＸ線の照射制御、被検体を透過したＸ線の撮影制御、被検体が載置された天板の移動制御等を行う。

図３は、透視スイッチ２を１段階目の切替ポジションに切替えた場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定する操作を説明するフローチャートである。

まず、位置決め用照射条件設定スイッチ９をオンにする（Ｓ１）。

つぎに、スイッチ３〜８の個々について、Ｘ線の照射条件の設定操作を行う（Ｓ２）。この設定操作は、各スイッチ３〜８の設定用ダイヤル３ａ〜８ａを操作することにより行なう。この場合に各スイッチ３〜８で設定する設定値等は、Ｘ線管から照射されるＸ線が被検体の診断対象部位を位置決めするために適した値とされる。設定用ダイヤル３ａ〜８ａの操作により設定された設定値等は、各スイッチ３〜８の表示部３ｂ〜８ｂに表示される。

スイッチ３〜８の設定操作が終了した後、決定スイッチ１１をオンにする（Ｓ３）。決定スイッチ１１をオンにすることにより、透視スイッチ２を１段階目の切替ポジションに切替えた場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件が決定される。決定されたＸ線の照射条件は、記憶部１４に記憶される。

透視スイッチ２を２段階目の切替ポジションに切替えた場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件の設定は、診断用照射条件設定スイッチ１０をオンにした後、図３に示すステップＳ２、ステップＳ３と同様の操作を行うことにより行なえる。この場合に決定されたＸ線の照射条件は、記憶部１４に記憶される。

図４は、Ｘ線診断装置により被検体を診断する場合の手順を説明するフローチャートである。

まず、透視スイッチ２を１段階目の切替ポジションに切替える（Ｓ１１）。透視スイッチ２が１段階目の切替ポジションに切替えられることにより、記憶部１４に記憶されているＸ線の照射条件であって透視スイッチ２が１段階目の切替ポジションに切替えられた場合の照射条件が記憶部１４から呼び出され、呼び出された照射条件がメイン制御部１５に送信され、送信された照射条件に従ってＸ線管からＸ線が照射される。この場合に照射されるＸ線は、被検体の診断対象部位を位置決めするために適した照射条件のＸ線である。例えば、透視形態がパルスであり、パルス幅が小さく、パルスレートが低いＸ線であり、透視スイッチ２を２段階目の切替ポジションに切替えた場合に照射されるＸ線に比べてＸ線量が少なく、被検体やＸ線照射装置を操作する術者のＸ線被曝量が少なくなる。

被検体の診断対象部位を位置決めするために適したＸ線がＸ線管から照射された後、このＸ線を被検体に照射するとともに被検体を載置した天板を移動させ、診断対象部位の位置決めを行う（Ｓ１２）。

診断対象部位の位置決めが終了した後、透視スイッチ２を２段階目の切替ポジションに切替える（Ｓ１３）。透視スイッチ２が２段階目の切替ポジションに切替えられることにより、記憶部１４に記憶されているＸ線の照射条件であって透視スイッチ２を２段階目の切替ポジションに切替えた場合の照射条件が記憶部１４から呼び出され、呼び出された照射条件がメイン制御部１５に送信され、送信された照射条件に従ってＸ線管からＸ線が照射される。この場合に照射されるＸ線は、被検体の診断対象部位を診断するために適した照射条件のＸ線である。例えば、パルス幅が大きく、パルスレートが高いＸ線であり、透視スイッチ２を１段階目の切替ポジションに切替えた場合に比べて照射されるＸ線量が多く、診断に適した鮮明な画像を得ることができる。

被検体の診断対象部位を診断するために適したＸ線がＸ線管から照射された後、このＸ線を被検体に照射するとともに被検体を載置した天板を移動させ、診断対象部位の診断を行なう（Ｓ１４）。

このような構成において、本実施の形態に係るＸ線診断装置においては、１つの透視スイッチ２が、第１の切替ポジションと第２の切替ポジションとの２つの切替ポジションに切替可能に設けられている。

透視スイッチ２を第１の切替ポジションに切替えた場合には、予め設定されている照射条件のＸ線が照射される。この場合に照射されるＸ線は、被検体の診断対象部位を位置決めするために適した照射条件のＸ線であり、透視スイッチ２を第２の切替ポジションに切替えた場合に比べて照射量が少ない。

また、透視スイッチ２を第２の切替ポジションに切替えた場合には、予め設定されている照射条件のＸ線が照射される。この場合に照射されるＸ線は、被検体の診断対象部位を診断するために適した照射条件のＸ線であり、透視スイッチ２を第１の切替ポジションに切替えた場合に比べて照射量が多い。

したがって、透視スイッチ２を第１切替ポジションと第２切替ポジションとに切替えることにより、Ｘ線管から照射されるＸ線量が少ない照射条件と、照射されるＸ線量が多い照射条件とに切替えることができる。しかも、このＸ線の照射条件の切替えを、透視スイッチ２を第１切替ポジション又は第２切替ポジションに切替えることにより手間をかけず容易に行なうことができる。

このため、被検体の診断対象部位を位置決めするためのＸ線の照射と、診断対象部位を診断するためのＸ線の照射とを連続して行なう場合において、診断対象部位を位置決めする場合であって鮮明な画像を得る必要がない場合には、透視スイッチ２を第１切替ポジションに切替え、透視スイッチ２が第２切替ポジションに切替えられている場合よりもＸ線の照射量を少なくすることができる。これにより、被検体やＸ線診断装置を操作する術者のＸ線被曝量を少なくすることができる。また、診断対象部位を診断する場合には、透視スイッチ２を２段階目の切替ポジションに切替えてＸ線の照射量を多くし、診断に適した鮮明な画像を得ることができる。

（第２の実施の形態）
本発明の第２の実施の形態に係るＸ線診断装置を、図５ないし図８に基づいて説明する。なお、第１の実施の形態において説明した構成要素と同じ構成要素には同じ符号を付し、重複する説明は省略する。

第２の実施の形態に係るＸ線診断装置の基本的な構造は第１の実施の形態に係るＸ線診断装置と同じであり、被検体が載置される天板、Ｘ線を照射するＸ線管、被検体を透過したＸ線を捉えるＸ線撮影部等を備えている。

このＸ線診断装置は、図５に示すような操作盤であるコンソール１Ａを備えている。コンソール１Ａには、透視スイッチ２Ａと、Ｘ線の照射条件を設定する各種のスイッチ３〜８と、位置決め用照射条件設定スイッチ９と、診断用照射条件設定スイッチ１０と、決定スイッチ１１と、操作部である位置決め用透視スイッチ１６と、操作部である診断用透視スイッチ１７とが設けられている。

透視スイッチ２Ａは、オン・オフの切替が可能なスイッチであり、オンに切替えることによりＸ線管からＸ線が照射される。

位置決め用透視スイッチ１６は、被検体の診断対象部位を位置決めする場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を記憶部１４から呼び出すスイッチである。

診断用透視スイッチ１７は、被検体の診断対象部位を診断する場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を記憶部１４から呼び出すスイッチである。

図６は、透視スイッチ２Ａや各種のスイッチ３〜８、及び、位置決め用照射条件設定スイッチ９、診断用照射条件設定スイッチ１０、決定スイッチ１１、位置決め用透視スイッチ１６、診断用透視スイッチ１７等の接続状態を示すブロック図である。

透視スイッチ２Ａと、スイッチ３〜８と、位置決め用照射条件設定スイッチ９と、診断用照射条件設定スイッチ１０と、決定スイッチ１１と、位置決め用透視スイッチ１６、診断用透視スイッチ１７とは、Ｘ線管からのＸ線の照射条件を設定するための設定用制御部１２Ａに接続されている。

設定用制御部１２Ａは、上記スイッチ３〜１１の操作に基づき、位置決め用透視スイッチ１６又は診断用透視スイッチ１７が操作された場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定するための処理を行う。これらのスイッチ３〜１１と設定用制御部１２Ａとにより、位置決め用透視スイッチ１６又は診断用透視スイッチ１７がオンに操作されるとともに透視スイッチ２Ａがオンに操作された場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定する設定手段１３Ａが構成されている。

図７は、位置決め用透視スイッチ１６をオンに操作し、さらに、透視スイッチ２Ａをオンに操作した場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定する操作を説明するフローチャートである。

まず、位置決め用照射条件設定スイッチ９をオンにする（Ｓ２１）。

つぎに、スイッチ３〜８の個々について、Ｘ線の照射条件の設定操作を行う（Ｓ２２）。この設定操作は、各スイッチ３〜８の設定用ダイヤル３ａ〜８ａを操作することにより行なう。この場合に各スイッチ３〜８で設定する設定値等は、Ｘ線管から照射されるＸ線が被検体の診断対象部位を位置決めするために適した値とされている。設定用ダイヤル３ａ〜８ａの操作により設定された設定値等は各スイッチ３〜８の表示部３ｂ〜８ｂに表示される。

スイッチ３〜８の設定操作が終了した後、決定スイッチ１１をオンにする（Ｓ２３）。決定スイッチ１１をオンにすることにより、位置決め用透視スイッチ１６をオンに操作するとともに透視スイッチ２Ａをオンに操作した場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件が決定される。決定されたＸ線の照射条件は、記憶部１４に記憶される。

診断用透視スイッチ１７をオンに操作するとともに透視スイッチ２をオンに操作した場合にＸ線管から照射されるＸ線の照射条件の設定は、診断用照射条件設定スイッチ１０をオンにした後、図７に示すステップＳ２２、ステップＳ２３と同様の操作を行うことにより行なえる。この場合に決定されたＸ線の照射条件は、記憶部１４に記憶される。

図８は、Ｘ線診断装置により被検体を診断する場合の手順を説明するフローチャートである。

まず、位置決め用透視スイッチ１６をオンに操作する（Ｓ３１）。位置決め用透視スイッチ１６がオンに操作されることにより、記憶部１４に記憶されているＸ線の照射条件であって位置決め用透視スイッチ１６がオンに操作された場合の照射条件が記憶部１４から呼び出され、呼び出された照射条件がメイン制御部１５に送信される。

位置決め用透視スイッチ１６をオンに操作した後、透視スイッチ２Ａをオンに操作する（Ｓ３２）。透視スイッチ２Ａがオンに操作されることにより、メイン制御部１５に送信されている照射条件に従ってＸ線管からＸ線が照射される。この場合に照射されるＸ線は、被検体の診断対象部位を位置決めするために適した照射条件のＸ線である。例えば、透視形態がパルスであり、パルス幅が小さく、パルスレートが低いＸ線であり、診断用透視スイッチ１７をオンにした場合に照射されるＸ線に比べてＸ線量が少なく、被検体やＸ線照射装置を操作する術者のＸ線被曝量が少なくなる。

被検体の診断対象部位を位置決めするために適したＸ線がＸ線管から照射された後、このＸ線を被検体に照射するとともに被検体を載置した天板を移動させ、診断対象部位の位置決めを行う（Ｓ３３）。

診断対象部位の位置決めが終了した後、診断用透視スイッチ１７をオンに操作する（Ｓ３４）。診断用透視スイッチ１７がオンに操作されることにより、記憶部１４に記憶されているＸ線の照射条件であって診断用透視スイッチ１７がオンに操作された場合の照射条件が記憶部１４から呼び出され、呼び出された照射条件がメイン制御部１５に送信される。なお、診断用透視スイッチ１７がオンに操作されることにより、Ｘ線管からのＸ線の照射が停止される。

診断用透視スイッチ１７をオンに操作した後、透視スイッチ２Ａをオンに操作する（Ｓ３５）。透視スイッチ２Ａがオンに操作されることにより、メイン制御部１５に送信されている照射条件に従ってＸ線管からＸ線が照射される。この場合に照射されるＸ線は、被検体の診断対象部位を診断するために適した照射条件のＸ線である。例えば、パルス幅が大きく、パルスレートが高いＸ線であり、位置決め用透視スイッチ１６をオンに操作した場合に比べて照射されるＸ線量が多く、診断に適した鮮明な画像を得ることができる。

被検体の診断対象部位を診断するために適したＸ線がＸ線管から照射された後、このＸ線を被検体に照射するとともに被検体を載置した天板を移動させ、診断対象部位の診断を行なう（Ｓ３６）。

このような構成において、本実施の形態に係るＸ線診断装置においては、異なる照射条件のＸ線を照射させる２つの操作部として、位置決め用透視スイッチ１６と診断用透視スイッチ１７とが設けられている。

位置決め用透視スイッチ１６をオンに操作し、さらに、透視スイッチ２Ａをオンに操作することにより、予め設定されている照射条件のＸ線が照射される。この場合に照射されるＸ線は、被検体の診断対象部位を位置決めするために適した照射条件のＸ線であり、診断用透視スイッチ１７をオンに操作した場合に比べて照射量が少ない。

また、診断用透視スイッチ１７をオンに操作し、さらに、透視スイッチ２Ａをオンに操作することにより、予め設定されている照射条件のＸ線が照射される。この場合に照射されるＸ線は、被検体の診断対象部位を診断するために適した照射条件のＸ線であり、位置決め用透視スイッチ１６をオンに操作した場合に比べて照射量が多い。

したがって、位置決め用透視スイッチ１６と診断用透視スイッチ１７とのいずれかをオンに操作することにより、Ｘ線管から照射されるＸ線量が少ない照射条件と、照射されるＸ線量が多い照射条件とに切替えることができる。しかも、このＸ線の照射条件の切替えを、位置決め用透視スイッチ１６と診断用透視スイッチ１７とのいずれかをオンに操作することにより手間をかけず容易に行なうことができる。

このため、被検体の診断対象部位を位置決めするためのＸ線の照射と、診断対象部位を診断するためのＸ線の照射とを連続して行なう場合において、診断対象部位を位置決めする場合であって鮮明な画像を得る必要がない場合には、位置決め用透視スイッチ１６をオンに操作することにより、診断用透視スイッチ１７がオンに操作されている場合よりもＸ線の照射量を少なくすることができる。これにより、被検体やＸ線診断装置を操作する術者のＸ線被曝量を少なくすることができる。また、診断対象部位を診断する場合には、診断用透視スイッチ１７をオンに操作することによりＸ線の照射量を多くし、診断に適した鮮明な画像を得ることができる。

本発明の第１の実施の形態に係るＸ線診断装置のコンソールを示す平面図である。各種のスイッチの接続構造を示すブロック図である。Ｘ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定する操作を説明するフローチャートである。Ｘ線診断装置により被検体を診断する場合の手順を説明するフローチャートである。本発明の第２の実施の形態に係るＸ線診断装置のコンソールを示す平面図である。各種のスイッチの接続構造を示すブロック図である。Ｘ線管から照射されるＸ線の照射条件を設定する操作を説明するフローチャートである。Ｘ線診断装置により被検体を診断する場合の手順を説明するフローチャートである。

符号の説明

２透視スイッチ（切替操作部）
１３設定手段
１３Ａ設定手段
１４記憶部
１６位置決め用透視スイッチ（操作部）
１７診断用透視スイッチ（操作部）

Claims

被検体にＸ線を照射して、連続透視またはパルス透視を行うＸ線診断装置において、
コンソールに設けられ、押込み位置が浅い１段階目の切替ポジションと、押込み位置が深い２段階目の切替ポジションとに切替可能に構成された透視スイッチと、
前記透視スイッチが前記１段階目の切替ポジションに切替えられた場合に照射される位置決め透視用のＸ線の第１の照射条件と、前記透視スイッチが前記２段階目の切替ポジションに切替えられた場合に照射される診断透視用のＸ線の第２の照射条件とを、この第２の照射条件のＸ線の照射量が前記第１の照射条件のＸ線の照射量より多くなるように設定する設定手段と、
前記第１の照射条件と前記第２の照射条件とを記憶する記憶部と、
前記透視スイッチが前記１段階目の切替ポジションに切替えられた場合に前記第１の照射条件のＸ線を照射し、前記透視スイッチが前記２段階目の切替ポジションに切替えられた場合に前記第２の照射条件のＸ線を照射するようにＸ線の照射を制御するメイン制御部と、
を備えることを特徴とするＸ線診断装置。