JP5401119B2 - 半導体集積回路の設計方法、設計プログラム、及び半導体集積回路 - Google Patents
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Description
図3及び図4を参照して、本発明による半導体回路設計支援装置10(以下、設計支援装置10と称す)の実施の形態における構成を説明する。図3は、本発明による設計支援装置10の実施の形態における構成図である。設計支援装置10は、バス16を介して相互に接続されるCPU11と、RAM12と、記憶装置13と、入力装置14と、出力装置15とを具備する。記憶装置13はハードディスクやメモリ等に例示される外部記憶装置である。又、入力装置14は、キーボードやマウス等のユーザによって操作されることで、各種データをCPU11や記憶装置13に出力する。出力装置15は、モニタやプリンタに例示され、CPU11から出力される半導体装置のレイアウト結果をユーザに対し視認可能に出力する。
図6を参照して、パワー大FFをスキャンイン側に配置する効果について説明する。
図8から図18を参照して、パワー大FFの配置位置を変更する方法の例を説明する。
図8は、スキャンチェーン設計部221によって設計された2本のスキャンチェーンSC11、SC21を示す図である。ここで、パワー大FF決定部222は、スキャンチェーンSC11におけるスキャンイン側(SI1)から1番目、5番目、6番目のスキャンセル1、5、6と、スキャンチェーンSC21におけるスキャンイン側(SI2)から7番目のスキャンセル17をパワー大FFとして選択する。又、2本のスキャンチェーンSC11、SC21は同じクロック信号に同期して動作するものとする。
図10は、スキャンチェーン設計部221によって設計されたスキャンチェーンSC13を示す図である。スキャンチェーンSC13は、クロック信号CLK1で動作するクロックドメインCD1(スキャンセル1〜4)と、クロック信号CLK2で動作するクロックドメインCD2(スキャンセル5〜8)とを備える。クロックドメインCD1とクロックドメインCD2との間は、ロックアップセルR1が挿入されている。尚、ロックアップセルR1は、同一極性のクロックドメイン間に挿入されるシフトタイミング保障用のラッチ又はフリップフロップである。
図12は、スキャンチェーン設計部221によって設計されたスキャンチェーンSC14を示す図である。スキャンチェーンSC14は、クロック信号CLK1で動作するクロックドメインCD1(スキャンセル1〜6)と、クロック信号CLK2で動作するクロックドメインCD2(スキャンセル7〜8)とを備える。クロックドメインCD1とクロックドメインCD2との間は、ロックアップセルR1が挿入されている。
図14は、スキャンチェーン設計部221によって設計されたスキャンチェーンSC15を示す図である。スキャンチェーンSC15は、クロック信号CLK1の立下りエッジで動作するクロックドメイン(NEG)CD1(スキャンセル1〜3)と、クロック信号CLK2の立上りエッジで動作するクロックドメイン(POS)CD2(スキャンセル4、5)と、クロック信号CLK1の立上りエッジで動作するクロックドメイン(POS)CD3(スキャンセル6〜8)とを備える。クロックドメイン(POS)CD2とクロックドメイン(POS)CD3との間は、ロックアップセルR1が挿入されている。
図16は、スキャンチェーン設計部221によって設計された2本のスキャンチェーンSC16、SC26を示す図である。スキャンチェーンSC16は、クロック信号CLK1で動作するクロックドメインCD1(スキャンセル1〜4)と、クロック信号CLK2で動作するクロックドメインCD2(スキャンセル5〜8)とを備える。クロックドメインCD1とクロックドメインCD2との間は、ロックアップセルR1が挿入されている。又、スキャンチェーンSC26は、クロック信号CLK3で動作するクロックドメインCD3(スキャンセル11〜14)と、クロック信号CLK4で動作するクロックドメインCD4(スキャンセル15〜18)とを備える。クロックドメインCD3とクロックドメインCD4との間は、ロックアップセルR2が挿入されている。
上述の例では、パワー大FFとそれ以外のスキャンセルという2種類に分類してリオーダしていたがこれに限らず、消費電力が大きい順(例えばファンアウトコーン内のゲート数が大きい順)にスキャンイン側からスキャンセルを配置しても構わない。この場合、配線長を短くするという従来技術によるリオーダの効果を考慮して、消費電力の大きさ(例えばファンアウトコーン内のゲート数)と配線長による評価関数を用いてスキャンセルの配置を決定しても良い。
11:CPU
12:RAM
13:記憶装置
14:入力装置
15:出力装置
21:ネットリスト
22:回路設計プログラム
221:スキャンチェーン設計部
222:パワー大FF決定部
223:リオーダ部
Claims (9)
- ケアビットと同値のデータをドントケアビットにスキャン入力するスキャンテストが行われる半導体集積回路の設計方法において、
同一のクロック信号によって動作するフリップフロップ群を有するスキャンチェーンを作成するステップを具備し、
前記スキャンチェーンを作成するステップは、
保持するデータの変化に伴って駆動する後段ゲートの数が、前記フリップフロップ群において最も多いフリップフロップを第1フリップフロップとして決定するステップと、
前記第1フリップフロップを、前記フリップフロップ群において最もスキャンイン側に配置するステップと、
を備える
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項1に記載の半導体集積回路の設計方法において、
前記スキャンチェーンを作成するステップは、前記第1フリップフロップを、前記スキャンチェーンにおいて最もスキャンイン側に配置するステップを備える
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項1又は2に記載の半導体集積回路の設計方法において、
前記スキャンチェーンを作成するステップは、
予め、複数のフリップフロップを用いてスキャンチェーンを作成するステップと、
前記第1フリップフロップが、前記フリップフロップ群において最もスキャンイン側に配置されるように前記複数のフリップフロップの配列を変更するステップと、
を更に備える半導体集積回路の設計方法。 - 請求項3に記載の半導体集積回路の設計方法において、
前記予め作成されたスキャンチェーンは、それぞれが前記第1フリップフロップを有する複数のフリップフロップ群を有し、
前記スキャンチェーンを作成するステップは、前記複数のフリップフロップ群のうち、フリップフロップ数の少ないフリップフロップ群を、前記スキャンチェーンにおいて最もスキャンイン側に配置するステップを更に備える
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項3又は4に記載の半導体集積回路の設計方法において、
前記スキャンチェーンを作成するステップは、
予め作成された他のスキャンチェーンにおいて最もスキャンイン側に位置し、前記第1フリップフロップを含まないフリップフロップ群と、前記第1フリップフロップを有するフリップフロップ群とを置換するステップを更に備える
半導体集積回路の設計方法。 - 請求項1から5のいずれか1項に記載の半導体集積回路の設計方法をコンピュータに実行させる設計プログラム。
- 同一のクロック信号によって動作するフリップフロップ群を有するスキャンチェーンを具備し、
前記フリップフロップ群は、保持するデータの変化に伴って駆動する後段ゲートの数が、前記フリップフロップ群において最も多い第1フリップフロップを備え、
前記第1フリップフロップは、前記フリップフロップ群において最もスキャンイン側に配置される
半導体集積回路。 - 請求項7に記載の半導体集積回路において、
前記第1フリップフロップは、前記スキャンチェーンにおいて最もスキャンイン側に配置される
半導体集積回路。 - 請求項7又は8に記載の半導体集積回路において、
前記スキャンチェーンは、それぞれが前記第1フリップフロップを有する複数のフリップフロップ群を有し、
前記複数のフリップフロップ群のうち、フリップフロップ数の少ないフリップフロップ群は、前記スキャンチェーンにおいて最もスキャンイン側に配置される
半導体集積回路。
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