JP5355726B2 - 撮影装置、画像処理装置、撮影システム、放射線撮影装置および画像処理方法 - Google Patents
撮影装置、画像処理装置、撮影システム、放射線撮影装置および画像処理方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5355726B2 JP5355726B2 JP2012002459A JP2012002459A JP5355726B2 JP 5355726 B2 JP5355726 B2 JP 5355726B2 JP 2012002459 A JP2012002459 A JP 2012002459A JP 2012002459 A JP2012002459 A JP 2012002459A JP 5355726 B2 JP5355726 B2 JP 5355726B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- analog
- radiation
- image
- addition
- correction
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims abstract description 75
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 46
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 6
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims abstract description 112
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 28
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 55
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 22
- 238000003860 storage Methods 0.000 claims description 22
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 10
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 8
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims 2
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims 1
- 238000009826 distribution Methods 0.000 abstract description 9
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 abstract description 7
- 238000007792 addition Methods 0.000 description 89
- 238000002438 flame photometric detection Methods 0.000 description 41
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 description 23
- 230000006870 function Effects 0.000 description 16
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 6
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 5
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 5
- 239000003574 free electron Substances 0.000 description 3
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 2
- CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N lawrencium atom Chemical compound [Lr] CNQCVBJFEGMYDW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 238000002601 radiography Methods 0.000 description 2
- NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N (2s)-2-[[4-[2-(2,4-diaminoquinazolin-6-yl)ethyl]benzoyl]amino]-4-methylidenepentanedioic acid Chemical compound C1=CC2=NC(N)=NC(N)=C2C=C1CCC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CC(=C)C(O)=O)C(O)=O)C=C1 NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 229910001385 heavy metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000010191 image analysis Methods 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
- GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N sodium;9,10-dioxoanthracene-2-sulfonic acid Chemical compound [Na+].C1=CC=C2C(=O)C3=CC(S(=O)(=O)O)=CC=C3C(=O)C2=C1 GGCZERPQGJTIQP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003892 spreading Methods 0.000 description 1
- 230000007480 spreading Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
- 238000004846 x-ray emission Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)
Description
・蛍光体へ到達したX線に起因する蛍光分布を銀塩フィルムで画像化する旧来の方法、
・蛍光による光電子を光電子増倍管により増幅しTVカメラで映像化する方法、
・X線強度分布が輝尽性蛍光体上につくる潜像情報をレーザ光線により励起して読み取り、顕像化する方法、
・固体撮像素子で構成されたフラットパネルディテクタ(以下、FPD)を用いて、蛍光もしくはX線照射により半導体層もしくは重金属中に発生した自由電子の空間分布を画像化する方法、
などが挙げられる。
1)加算数が増加するにしたがって希望される直線から離れて行く
2)FPDによって特性が異なる。
二次元的に配置された複数の放射線検出素子と、
前記複数の放射線検出素子により得られるアナログ電気信号を所定数毎にアナログ加算するアナログ加算回路と、
前記所定数のアナログ電気信号の値を算術加算して得られる値と前記所定数のアナログ電気信号を前記アナログ加算回路によりアナログ加算して得られる値との差に対応する補正情報を取得する取得手段と、
前記複数の放射線検出素子により得られる放射線画像データに含まれる暗電流成分に対応するオフセットを補正する暗電流補正手段と、
前記暗電流補正手段により補正された放射線画像データを前記取得手段により取得された補正情報により補正する補正手段と、を有する。
FPDでのX線撮像に不可欠な補正に画素毎のゲイン補正がある。FPDは半導体製品であるため、画素ごとの容量成分などの正確な制御が製造上困難であり、一般に画素毎のゲイン値が大きくばらつく。ゲイン補正は、そのようなゲイン値のばらつきを補正するものである。通常、キャリブレーションと呼ばれる操作によって、被写体のない状態でX線分布を撮像した画像データ(以下、白画像)を取得し、その白画像と実際の被写体がある状態での撮像画像の画素毎の比率を計算することにより、ゲインのばらつきをなくす。
F=K・ln(G/Ref)+P=K・ln(G)−K・ln(Ref)+P …式(7)
で表すことができる。ここで、K、Pは以下の2条件で決定される定数であり、lnは自然対数関数を表す。
条件1)入力されたA/D変換値Gが基準値RefのLmin倍である場合:F=Fmin
条件2)入力されたA/D変換値Gが基準値RefのLmax倍である場合:F=Fmax
K=(Fmax−Fmin)/(ln(Lmax)−ln(Lmin)) …式(8)
P=(Fmax・ln(Lmin)−Fmin・ln(Lmax))/(ln(Lmin)−ln(Lmax)) …式(9)
F2=F1 …式(10)
F3=F1 …式(11)
F4=F1 …式(12)
F1=K・ln(A1)−K・ln(Ref)+P+C1 …式(13)
ここでC1はモード1に対応した補正値である。
F3=K・ln(A3)−K・ln(Ref)+P+C3 …式(15)
F4=K・ln(A4)−K・ln(Ref)+P+C4 …式(16)
C2=K・ln(A1)−K・ln(A2)=K・ln(A1/A2) …式(17)
C3=K・ln(A1)−K・ln(A3)=K・ln(A1/A3) …式(18)
C4=K・ln(A1)−K・ln(A4)=K・ln(A1/A4) …式(19)
以上のようにして算出された補正値C1〜C4は、モード1〜モード4の補正値としてメモリ19〜22に保持される。
又、上記実施形態では、ゲイン補正における白画像を利用して画素加算モードに起因する非線形性の補正を行ったがこれに限られるものではない。同一の照射条件及び同一の被写体条件の下で、各画素加算モードにより得られた画像を利用して、補正値C1、C2、C3、C4を求めてもよいことは明らかである。
第1実施形態では、対数変換を施した画像についてゲイン補正や、画素加算モードに応じた補正を行ったが、対数変換を用いない系においても本発明は適用可能である。第2実施形態では、対数変換を省略した場合の、画素加算モードに対応した補正処理を説明する。
C2=(A1/A2) …(21)
C3=(A1/A3) …(22)
C4=(A1/A4) …(23)
上記第1及び第2実施形態では、画素加算モードにおける画素の加算数に関係なく、一定の出力値が得られるように補正を行った。しかしながら、画素加算モードでは画素出力を単純加算したという意識から、出力値が加算数の倍率で得られることを期待する場合がある。従って、第3実施形態では、加算された画素数に応じた倍率の出力値を得るX線撮影装置を説明する。但し、装置の構成は第1実施形態(図1)と略同様であるので、詳細な説明は省略する。
F3=F1+K・ln(9) …式(11')
F4=F1+K・ln(16) …式(12')
F1=K・ln(A1)−K・ln(Ref)+P+C1 …(13)
で求められた画素値F1に対して、式(10')〜式(12')の関係を保つ必要がある。そこで、第1実施形態と同様に、それぞれRef2〜Ref4を用いた各モードでのA/D変換値G2〜G4を用いた式(7)の変換式に対して補正値C2、C3、C4を加算し、
F2=K・ln(A2)−K・ln(Ref)+P+C2 …式(14)
F3=K・ln(A3)−K・ln(Ref)+P+C3 …式(15)
F4=K・ln(A4)−K・ln(Ref)+P+C4 …式(16)
とすることで、式(10')〜式(12')の関係を維持する。
C2=K・ln(A1)−K・ln(A2)+K・ln(4)=K・ln(4・A1/A2) …(17')
C3=K・ln(A1)−K・ln(A3)+K・ln(9)=K・ln(9・A1/A3) …(18')
C4=K・ln(A1)−K・ln(A4)+K・ln(16)=K・ln(16・A1/A4) …(19')
第3実施形態では、対数変換を施した画像についてゲイン補正や、画素加算モードに応じた補正を行ったが、対数変換を用いない系においても本発明は適用可能である。第4実施形態では、対数変換を省略した場合の、画素加算モードに対応した補正処理を説明する。第4実施形態のX線撮影装置の構成は第2実施形態(図4)と同様である。即ち、図1の対数変換LUT10を用いず、画像データに対して直接に除算と乗算を行うことで第1実施形態と同様の補正を行う。この場合、補正値C1〜C4からは対数表現が取れ、下式で示されるように計算される。
C2=(4・A1/A2) …(21')
C3=(9・A1/A3) …(22')
C4=(16・A1/A4) …(23')
Claims (30)
- 二次元的に配置された複数の放射線検出素子と、
前記複数の放射線検出素子により得られるアナログ電気信号を所定数毎にアナログ加算するアナログ加算回路と、
前記所定数のアナログ電気信号の値を算術加算して得られる値と前記所定数のアナログ電気信号を前記アナログ加算回路によりアナログ加算して得られる値との差に対応する補正情報を取得する取得手段と、
前記複数の放射線検出素子により得られる放射線画像データに含まれる暗電流成分に対応するオフセットを補正する暗電流補正手段と、
前記暗電流補正手段により補正された放射線画像データを前記取得手段により取得された補正情報により補正する補正手段と、を有することを特徴とする撮影装置。 - 前記補正情報は、被写体の無い状態でX線撮影を行って得られた白画像の画素値を、前記算術加算および前記アナログ加算において加算した回数である前記所定数に正比例した画素値に補正することを特徴とする請求項1に記載の撮影装置。
- 前記アナログ加算されたアナログ電気信号をデジタル値に変換するA/D変換器をさらに有し、
前記補正手段は前記アナログ加算されたのち前記A/D変換器によりデジタル値に変換され得られた画像データに対して前記補正情報により補正することを特徴とする請求項1または2に記載の撮影装置。 - デジタル値をデジタル加算するデジタル加算回路をさらに有し、
前記アナログ加算回路は、第一の方向に隣接して並ぶ検出素子からのアナログ電気信号をアナログ加算し、
前記デジタル加算回路は、前記第一の方向と直交する第二の方向に隣接して並ぶ検出素子から得られたアナログ電気信号に基づくデジタル値をデジタル加算する、ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか1項に記載の撮影装置。 - 前記アナログ加算回路によりアナログ加算されない電気信号に基づく第一の画像と、前記アナログ加算回路によりアナログ加算された電気信号に基づく第二の画像とを得る画像形成手段をさらに有することを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1項に記載の撮影装置。
- 前記取得手段は、前記放射線検出素子の第一の電荷蓄積容量と、前記放射線検出素子の後段かつ前記アナログ加算回路の前段に配置され前記放射線検出素子から読み出された電荷を保持する第二の電荷蓄積容量を介して得られた画像に基づく補正情報を取得することを特徴とする請求項1乃至5のいずれか1項に記載の撮影装置。
- 前記取得手段は、同一の放射線量で同一の撮影を行った場合に、前記第一及び第二の画像の全体もしくは一部の画素の平均値を等しくする補正情報を取得することを特徴とする請求項5に記載の撮影装置。
- 前記取得手段は、同一の放射線量で且つ被写体の無い状態で撮影を行って第一及び第二の白画像情報を形成し、前記第一及び第二の白画像情報の全体もしくは一部における画素値の平均値を等しくするように前記補正情報を決定することを特徴とする請求項7に記載の撮影装置。
- 前記取得手段は、同一の放射線量で同一の撮影を行った場合に、前記第一及び第二の画像の全体もしくは一部の画素値の平均値の比を、前記第二の画像において加算された画素値の数に一致させる補正情報を取得することを特徴とする請求項5に記載の撮影装置。
- 前記取得手段は、同一の放射線量で且つ被写体の無い状態で撮影を行って第一及び第二の白画像情報を形成し、前記第一及び第二の白画像情報の全体もしくは一部における画素値の平均値の比が前記第二の画像において加算された画素の数に一致するように前記補正情報を決定することを特徴とする請求項9に記載の撮影装置。
- 前記第一及び第二の白画像を保持するメモリと、
前記第一又は第二の白画像を用いて前記第一又は第二の画像のゲイン補正を行う第2補正手段とを更に備えることを特徴とする請求項8又は10に記載の撮影装置。 - 前記第一又は第二の画像を対数変換する変換手段を更に備え、
前記第2補正手段は、前記対数変換された画像情報の画素値と白画像情報の対応する画素値との減算により前記ゲイン補正を行い、
前記補正手段は、前記ゲイン補正された画像情報の画素値に前記補正情報を加算することを特徴とする請求項11に記載の撮影装置。 - 前記第2補正手段は、前記第一又は第二の画像の画素値を白画像情報の対応する画素値で除算することにより前記ゲイン補正を行い、
前記補正手段は、前記ゲイン補正された画像情報の画素値に前記補正情報を乗算することを特徴とする請求項11に記載の撮影装置。 - 前記画像形成手段は、隣接する画素の加算数を切り替えることが可能であり、
前記取得手段は、前記加算数に対応した補正情報を取得し、メモリに保持することを特徴とする請求項7乃至13のいずれか1項に記載の撮影装置。 - 前記アナログ加算回路は、前記放射線検出素子とスイッチ素子を介して接続される容量素子を備えることを特徴とする請求項1乃至14のいずれか1項に記載の撮影装置。
- 前記放射線はX線であることを特徴とする請求項1乃至15のいずれかに記載の撮影装置。
- 二次元的に配置された複数の放射線検出素子と、該複数の放射線検出素子により得られるアナログ電気信号を所定数毎にアナログ加算する加算回路とを有する撮影装置から得られる画像を処理する画像処理装置であって、
前記所定数のアナログ電気信号の値を算術加算して得られる値と前記所定数のアナログ電気信号を前記加算回路によりアナログ加算して得られる値との差に対応する補正情報を取得する取得手段と、
前記複数の放射線検出素子により得られる放射線画像データに含まれる暗電流成分に対応するオフセットを補正する暗電流補正手段と、
前記暗電流補正手段により補正された放射線画像データを前記取得手段により取得された補正情報により補正する補正手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。 - 二次元的に配置された複数の放射線検出素子を有する検出器と、
前記複数の放射線検出素子により得られるアナログ電気信号をアナログ加算するアナログ加算回路と、
所定数のアナログ電気信号の値を算術加算して得られる値と前記所定数のアナログ電気信号を前記アナログ加算回路によりアナログ加算して得られる値との差に対応する補正情報を取得する取得手段と、
前記複数の放射線検出素子により得られる放射線画像データに含まれる暗電流成分に対応するオフセットを補正する暗電流補正手段と、
前記暗電流補正手段により補正された放射線画像データを前記取得手段により取得された補正情報により補正する補正手段と、を有することを特徴とする撮影システム。 - 二次元的に配置された複数の放射線検出素子と、該複数の放射線検出素子により得られるアナログ電気信号を所定数毎にアナログ加算するアナログ加算回路とを有する撮影装置から得られる画像の画像処理方法であって、
前記所定数のアナログ電気信号の値を算術加算して得られる値と前記所定数のアナログ電気信号を前記アナログ加算回路によりアナログ加算して得られる値との差に対応する補正情報を取得するステップと、
前記複数の放射線検出素子により得られる放射線画像データに含まれる暗電流成分に対応するオフセットを補正するステップと、
前記補正するステップで補正された放射線画像データを前記取得するステップで取得された補正情報により補正するステップと、を有することを特徴とする画像処理方法。 - 放射線を検出しアナログ信号を得る複数の検出素子と前記アナログ信号をアナログ加算する加算回路とを備える放射線検出器により得られる放射線画像を処理する画像処理装置であって、
前記アナログ信号に基づく第一の放射線画像と、前記アナログ加算された信号に基づく第二の放射線画像を取得する取得手段と、
同一の被写体を撮影して得られる前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像における対応する領域の画素値を揃えるための係数を記憶する記憶手段と、
前記係数を用いて前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像の少なくともいずれか一方を補正する補正手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。 - 前記取得手段は、前記第一の放射線画像として、前記アナログ加算がされないアナログ信号に基づく放射線画像を取得することを特徴とする請求項20に記載の画像処理装置。
- 放射線を検出しアナログ信号を得る複数の検出素子を備える放射線検出器により得られる放射線画像を処理する画像処理装置であって、
同一の被写体を同一の線量で放射線撮影して得られる2つの放射線画像データであって、前記アナログ信号を第一の蓄積容量を介して前記検出器から読み出すことで得られる第一の放射線画像と、前記アナログ信号を前記第一の蓄積容量よりも大きい第二の蓄積容量を介して読み出すことで得られる第二の放射線画像とを取得する取得手段と、
前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像における対応する領域の画素値を揃えるための係数を記憶する記憶手段と、
前記係数を用いて前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像の少なくともいずれか一方を補正する補正手段と、を有することを特徴とする画像処理装置。 - 被写体を介さずに同一線量の放射線を照射して得られる2つの放射線画像データであって、前記アナログ信号を第一の蓄積容量を介して前記放射線検出器から読み出すことで得られる第一の白画像と、前記アナログ信号を前記第一の蓄積容量よりも大きい第二の蓄積用量を介して読み出すことで得られる第二の白画像とから、対応する領域の画素値を揃えるための前記係数を決定する決定手段を更に備えることを特徴とする請求項20乃至22のいずれか1項に記載の画像処理装置。
- 放射線を検出しアナログ信号を得る複数の検出素子と、
前記アナログ信号をアナログ加算する加算回路と、
前記アナログ信号に基づく第一の放射線画像と、前記アナログ加算された信号に基づく第二の放射線画像と、を形成する画像形成手段と、
同一の被写体を撮影して得られた前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像において対応する領域の画素値を揃えるための係数を記憶する記憶手段と、
前記係数を用いて前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像の少なくともいずれか一方を補正する補正手段と、を有することを特徴とする放射線撮影装置。 - 前記画像形成手段は、前記第一の放射線画像として、前記アナログ加算がされないアナログ信号に基づく放射線画像を形成することを特徴とする請求項24に記載の放射線撮影装置。
- 放射線を検出しアナログ信号を得る複数の検出素子を有する検出器と、
同一の被写体を同一の線量で放射線撮影して得られる2つの放射線画像データであって、前記アナログ信号を第一の蓄積容量を介して前記検出器から読み出すことで得られる第一の放射線画像と、前記アナログ信号を前記第一の蓄積容量よりも大きい第二の蓄積容量を介して読み出すことで得られる第二の放射線画像とを取得する取得手段と、
前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像における対応する領域の画素値を揃えるための係数を記憶する記憶手段と、
前記係数を用いて前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像の少なくともいずれか一方を補正する補正手段と、を有することを特徴とする放射線撮影装置。 - 被写体を介さずに同一線量の放射線を照射して得られる2つの放射線画像データであって、前記アナログ信号を第一の蓄積容量を介して前記検出素子から読み出すことで得られる第一の白画像と、前記アナログ信号を前記第一の蓄積容量よりも大きい第二の蓄積用量を介して前記検出素子から読み出すことで得られる第二の白画像とから、対応する領域の画素値を揃えるための前記係数を決定する決定手段を更に備えることを特徴とする請求項24乃至26のいずれか1項に記載の放射線撮影装置。
- 放射線を検出しアナログ信号を得る複数の検出素子と前記アナログ信号をアナログ加算する加算回路とを備える放射線検出器により得られる放射線画像を処理する画像処理方法であって、
前記アナログ信号に基づく第一の放射線画像と、前記アナログ加算された信号に基づく第二の放射線画像を取得するステップと、
同一の被写体を撮影して得られる前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像における対応する領域の画素値を揃えるための係数を記憶するステップと、
前記係数を用いて前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像の少なくともいずれか一方を補正するステップと、を有することを特徴とする画像処理方法。 - 放射線を検出しアナログ信号を得る複数の検出素子を備える放射線検出器により得られる放射線画像を処理する画像処理方法であって、
同一の被写体を同一の線量で放射線撮影して得られる2つの放射線画像データであって、前記アナログ信号を第一の蓄積容量を介して前記検出器から読み出すことで得られる第一の放射線画像と、前記アナログ信号を前記第一の蓄積容量よりも大きい第二の蓄積容量を介して読み出すことで得られる第二の放射線画像とを取得するステップと、
前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像における対応する領域の画素値を揃えるための係数を記憶するステップと、
前記係数を用いて前記第一の放射線画像と前記第二の放射線画像の少なくともいずれか一方を補正するステップと、を有することを特徴とする画像処理方法。 - 請求項19,28,29のいずれか1項に記載された画像処理方法の各ステップをコンピュータに実行させるためのプログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012002459A JP5355726B2 (ja) | 2012-01-10 | 2012-01-10 | 撮影装置、画像処理装置、撮影システム、放射線撮影装置および画像処理方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012002459A JP5355726B2 (ja) | 2012-01-10 | 2012-01-10 | 撮影装置、画像処理装置、撮影システム、放射線撮影装置および画像処理方法 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006041654A Division JP5013718B2 (ja) | 2006-02-17 | 2006-02-17 | 放射線画像取得装置及び方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012120200A JP2012120200A (ja) | 2012-06-21 |
JP5355726B2 true JP5355726B2 (ja) | 2013-11-27 |
Family
ID=46502459
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012002459A Expired - Fee Related JP5355726B2 (ja) | 2012-01-10 | 2012-01-10 | 撮影装置、画像処理装置、撮影システム、放射線撮影装置および画像処理方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5355726B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6929066B2 (ja) * | 2017-01-18 | 2021-09-01 | キヤノン株式会社 | 撮像装置及びその制御方法、プログラム、記憶媒体 |
WO2020250900A1 (ja) * | 2019-06-11 | 2020-12-17 | キヤノン株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法、プログラム |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002085391A (ja) * | 2000-09-21 | 2002-03-26 | Konica Corp | 放射線撮影装置 |
JP4083437B2 (ja) * | 2002-02-05 | 2008-04-30 | オリンパス株式会社 | 撮像装置 |
JP4078144B2 (ja) * | 2002-08-02 | 2008-04-23 | 日本放送協会 | 固体撮像装置 |
-
2012
- 2012-01-10 JP JP2012002459A patent/JP5355726B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012120200A (ja) | 2012-06-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6853729B2 (ja) | 放射線撮像装置、放射線撮像システム、放射線撮像装置の制御方法及びプログラム | |
JP4989120B2 (ja) | 放射線撮像システム及びその駆動方法 | |
US7113565B2 (en) | Radiological imaging apparatus and method | |
JP5089210B2 (ja) | 撮像素子画像処理方法 | |
KR20100011954A (ko) | 오프셋 보정된 노출 이미지 형성 방법 및 디지털 x선 촬영 시스템 | |
JP6061532B2 (ja) | 制御装置、撮影装置および制御方法 | |
JP2003190126A (ja) | X線画像処理装置 | |
JP4152748B2 (ja) | 二重エネルギ撮像のためのディジタル検出器の方法 | |
JP5013718B2 (ja) | 放射線画像取得装置及び方法 | |
JP3880117B2 (ja) | 画像読取方法及び装置 | |
JP2004201784A (ja) | X線画像診断装置 | |
JP2009201586A (ja) | 放射線画像撮影装置 | |
JP4497615B2 (ja) | 画像処理装置、補正方法及び記録媒体 | |
US7792251B2 (en) | Method for the correction of lag charge in a flat-panel X-ray detector | |
JP4707986B2 (ja) | ディジタルx線検出器によって撮影されたx線画像の補正方法、x線検出器の較正方法およびx線装置 | |
JP5355726B2 (ja) | 撮影装置、画像処理装置、撮影システム、放射線撮影装置および画像処理方法 | |
JP2006304213A (ja) | 撮像装置 | |
JP4500101B2 (ja) | X線ct装置 | |
JP4754812B2 (ja) | X線撮影装置 | |
JP2009285354A (ja) | 放射線画像撮像装置及び放射線画像撮像方法 | |
JP2008154818A (ja) | 放射線画像検出装置、放射線画像撮影システム | |
JP6041856B2 (ja) | 放射線撮影システム、制御方法、記録媒体及びプログラム | |
JP2015080518A (ja) | 放射線撮影装置およびその制御方法、放射線画像処理装置および方法、並びに、プログラムおよびコンピュータ可読記憶媒体 | |
JP7486477B2 (ja) | 撮像アーチファクトを軽減するためのシステムおよび方法 | |
WO2020250704A1 (ja) | 放射線撮像装置および放射線撮像方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121206 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121214 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130212 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130603 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130729 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130816 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130827 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |