JP5341323B2 - 質量分析装置 - Google Patents
質量分析装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5341323B2 JP5341323B2 JP2007185214A JP2007185214A JP5341323B2 JP 5341323 B2 JP5341323 B2 JP 5341323B2 JP 2007185214 A JP2007185214 A JP 2007185214A JP 2007185214 A JP2007185214 A JP 2007185214A JP 5341323 B2 JP5341323 B2 JP 5341323B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- ion
- mass spectrometer
- electrode
- ions
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims description 164
- 238000005040 ion trap Methods 0.000 claims description 39
- 230000005405 multipole Effects 0.000 claims description 32
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 22
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 8
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 5
- 239000001307 helium Substances 0.000 claims description 4
- 229910052734 helium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N helium atom Chemical compound [He] SWQJXJOGLNCZEY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 238000003795 desorption Methods 0.000 claims description 3
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 2
- 239000003570 air Substances 0.000 claims 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 claims 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 16
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 10
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 6
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 5
- 238000004949 mass spectrometry Methods 0.000 description 5
- 238000004885 tandem mass spectrometry Methods 0.000 description 5
- 238000013016 damping Methods 0.000 description 4
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 4
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 4
- 238000004904 shortening Methods 0.000 description 4
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 3
- 238000010494 dissociation reaction Methods 0.000 description 3
- 230000005593 dissociations Effects 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 239000012634 fragment Substances 0.000 description 3
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 239000002243 precursor Substances 0.000 description 3
- 150000001793 charged compounds Chemical class 0.000 description 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 2
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 229920001971 elastomer Polymers 0.000 description 1
- 230000005672 electromagnetic field Effects 0.000 description 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 1
- 238000001819 mass spectrum Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
- 238000012916 structural analysis Methods 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/004—Combinations of spectrometers, tandem spectrometers, e.g. MS/MS, MSn
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/422—Two-dimensional RF ion traps
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/4205—Device types
- H01J49/4255—Device types with particular constructional features
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J49/00—Particle spectrometers or separator tubes
- H01J49/26—Mass spectrometers or separator tubes
- H01J49/34—Dynamic spectrometers
- H01J49/42—Stability-of-path spectrometers, e.g. monopole, quadrupole, multipole, farvitrons
- H01J49/426—Methods for controlling ions
- H01J49/427—Ejection and selection methods
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Electron Tubes For Measurement (AREA)
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Description
その他、イオンの排出時間の計測方法、補助電極へ電圧フィードバックの方法、質量分析装置の例については実施例1と同様である。
その他、イオンの排出時間の計測方法、補助電極へ電圧フィードバックの方法、質量分析装置の例については実施例1と同様である。
201〜204…四重極電極、205〜206…端電極、207…補助電極、208…ガス導入口、209…イオン軌道を表す矢印、
801…衝突減衰器、802…補助電極、
901…衝突減衰器、902…補助電極、903…金属電極、904…電気導電性の低い抵抗部品、905〜906…直流電圧電源
1101…衝突減衰器、1102…電気導電性の低い補助電極、
1201…衝突減衰器、1202…複数の四重極電極、1203…抵抗
1301…衝突減衰器、1302〜1305…電気導電性の低い四重極電極。
Claims (15)
- イオンをパルス状に放出するイオン放出手段と、
線形多重極電極と、前記線形多重極電極の中心軸上に沿って電位勾配を形成する手段とを有する線形多重極部と、
前記線形多重極電極に高周波電圧及び直流電圧を印加する第1の電源と、前記電位勾配を形成する手段に直流電圧を印加する第2の電源とを有する電源系と、
前記第2の電源の制御によって前記線形多重極電極の中心軸上の電流電位を制御する制御手段と、
前記線形多重極電極部から排出されたイオンを検出する検出部とを有し、
前記イオン放出手段により前記イオンが放出された後に次のイオンが放出されるまでの時間である排出時間中に、前記第2の電源により生成される電位が上昇または下降することを特徴とする質量分析装置であって、
前記電位勾配を形成する手段は、前記線形多重極電極の間に設けられた補助電極であり、
前記補助電極の形状は、前記線形多重極電極の両端側のいずれか一方の幅が他方の幅よりも狭くなる形状をして、
前記制御手段は、前記補助電極に、前記イオンの極性と逆の極性の電圧を印加しておき、前記イオンの排出時から第1の継続時間の間に前記電圧の大きさを小さくしていき、その後第2の継続時間の間に前記イオンの極性と同じ極性の定電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置において、前記電位勾配を形成する手段は、前記線形多重極電極の間に設けられた補助電極と、前記線形多重極電極のイオン排出側に設けられた端電極であることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記補助電極は、電気伝導性の異なる部材を交互に形成したものであることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記補助電極は、抵抗体又は誘導体であることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記制御手段は、前記第2の電源の直流電圧を上昇させることにより、前記イオンの排出時間を調整することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項5に記載の質量分析装置において、前記制御手段は、直線的に直流電圧を上昇させることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項5に記載の質量分析装置において、前記制御手段は、曲線的に直流電圧を上昇させることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項5に記載の質量分析装置において、前記第2の電源の直流電圧を上昇させる制御の前後少なくとも一方に、電圧が一定の期間を有するように制御することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記線形多重極部の後段に定期的にイオンの排出時間をモニターする手段を有することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項9に記載の質量分析装置において、前記モニターする手段のモニターの結果を前記補助電極の電圧にフィードバックする手段を有することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記線形多重極部が4本または6本または8本のロッド電極からなり、前記各ロッド電極に交互に高周波電圧を印加することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記線形多重極部に端電極を有することを特
徴とする質量分析装置。 - 請求項1に記載の質量分析装置において、前記線形多重極部にヘリウム、空気、窒素、アルゴン、またはそれらの混合気体を導入することを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の装置において、前記イオン放出手段が、イオントラップまたはマトリックス支援レーザー脱離イオン源であることを特徴とする質量分析装置。
- 請求項1に記載の質量分析装置において、前記線形多重極部がイオントラップと飛行時間型質量分析計の間にあることを特徴とする質量分析装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007185214A JP5341323B2 (ja) | 2007-07-17 | 2007-07-17 | 質量分析装置 |
US12/173,328 US8044349B2 (en) | 2007-07-17 | 2008-07-15 | Mass spectrometer |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007185214A JP5341323B2 (ja) | 2007-07-17 | 2007-07-17 | 質量分析装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009026465A JP2009026465A (ja) | 2009-02-05 |
JP5341323B2 true JP5341323B2 (ja) | 2013-11-13 |
Family
ID=40264072
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007185214A Expired - Fee Related JP5341323B2 (ja) | 2007-07-17 | 2007-07-17 | 質量分析装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US8044349B2 (ja) |
JP (1) | JP5341323B2 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5603246B2 (ja) * | 2008-10-14 | 2014-10-08 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
JP5112557B2 (ja) * | 2009-02-19 | 2013-01-09 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析システム |
JP5440449B2 (ja) * | 2010-08-30 | 2014-03-12 | 株式会社島津製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
JP5530531B2 (ja) * | 2010-11-19 | 2014-06-25 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置および質量分析方法 |
US9887075B2 (en) | 2013-06-07 | 2018-02-06 | Micromass Uk Limited | Method of generating electric field for manipulating charged particles |
EP3118887A4 (en) * | 2014-03-31 | 2017-04-26 | Shimadzu Corporation | Mass spectrometry method and mass spectrometry device |
US9773655B2 (en) * | 2014-05-21 | 2017-09-26 | Shimadzu Corporation | Radio-frequency voltage generator |
CN107845561A (zh) * | 2016-09-18 | 2018-03-27 | 江苏可力色质医疗器械有限公司 | 一种减少交叉干扰的质谱碰撞反应池及分析方法 |
CN108376637B (zh) * | 2018-04-19 | 2023-05-26 | 南京信息工程大学 | 实现对自由飞行区解离碎片分辨的离子速度成像仪 |
WO2021056394A1 (zh) * | 2019-09-27 | 2021-04-01 | 瑞湾科技(珠海)有限公司 | 一种离子控制装置 |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3495512B2 (ja) * | 1996-07-02 | 2004-02-09 | 株式会社日立製作所 | イオントラップ質量分析装置 |
EP0843887A1 (en) * | 1995-08-11 | 1998-05-27 | Mds Health Group Limited | Spectrometer with axial field |
JP3379485B2 (ja) * | 1998-09-02 | 2003-02-24 | 株式会社島津製作所 | 質量分析装置 |
JP3990889B2 (ja) * | 2001-10-10 | 2007-10-17 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム |
US7049580B2 (en) * | 2002-04-05 | 2006-05-23 | Mds Inc. | Fragmentation of ions by resonant excitation in a high order multipole field, low pressure ion trap |
CA2485894C (en) * | 2002-05-30 | 2012-10-30 | Mds Inc., Doing Business As Mds Sciex | Methods and apparatus for reducing artifacts in mass spectrometers |
JP2004054547A (ja) * | 2002-07-19 | 2004-02-19 | Nec Electronics Corp | バスインタフェース回路及びレシーバ回路 |
JP3980431B2 (ja) * | 2002-07-19 | 2007-09-26 | Necエレクトロニクス株式会社 | バッファ回路とバッファツリー及び半導体装置 |
EP1609167A4 (en) * | 2003-03-21 | 2007-07-25 | Dana Farber Cancer Inst Inc | MASS SPECTROSCOPY SYSTEM |
US7064319B2 (en) * | 2003-03-31 | 2006-06-20 | Hitachi High-Technologies Corporation | Mass spectrometer |
US7019290B2 (en) * | 2003-05-30 | 2006-03-28 | Applera Corporation | System and method for modifying the fringing fields of a radio frequency multipole |
JP4690641B2 (ja) | 2003-07-28 | 2011-06-01 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析計 |
JP4223937B2 (ja) * | 2003-12-16 | 2009-02-12 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
JP4384542B2 (ja) * | 2004-05-24 | 2009-12-16 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
JP4643206B2 (ja) * | 2004-09-03 | 2011-03-02 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 質量分析装置 |
US7312442B2 (en) * | 2005-09-13 | 2007-12-25 | Agilent Technologies, Inc | Enhanced gradient multipole collision cell for higher duty cycle |
US7633060B2 (en) * | 2007-04-24 | 2009-12-15 | Thermo Finnigan Llc | Separation and axial ejection of ions based on m/z ratio |
JP4655154B2 (ja) * | 2009-01-23 | 2011-03-23 | 株式会社デンソー | ウィンドウコンパレータ回路 |
-
2007
- 2007-07-17 JP JP2007185214A patent/JP5341323B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-07-15 US US12/173,328 patent/US8044349B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US8044349B2 (en) | 2011-10-25 |
US20090020695A1 (en) | 2009-01-22 |
JP2009026465A (ja) | 2009-02-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5341323B2 (ja) | 質量分析装置 | |
US7888635B2 (en) | Ion funnel ion trap and process | |
US6967323B2 (en) | Mass spectrometer | |
US6281493B1 (en) | Time-of-flight mass spectrometry analysis of biomolecules | |
US5594243A (en) | Laser desorption ionization mass monitor (LDIM) | |
JP3671354B2 (ja) | 質量分析用の多重極イオンガイド | |
US6323482B1 (en) | Ion mobility and mass spectrometer | |
US6498342B1 (en) | Ion separation instrument | |
EP0957508B1 (en) | Analysis of biomolecules using time-of-flight mass spectrometry | |
JP3990889B2 (ja) | 質量分析装置およびこれを用いる計測システム | |
EP1764825B1 (en) | Hybrid ion mobility and mass spectrometer | |
US6888134B2 (en) | Mass spectrometer and mass spectrometric method | |
US10014168B2 (en) | Ion guiding device and ion guiding method | |
EP0905743A1 (en) | Ion source and accelerator for improved dynamic range and mass selection in a time of flight mass spectrometer | |
EP1364386A1 (en) | Charged particle trapping in near surface potential wells | |
WO1999038194A1 (en) | Mass spectrometry from surfaces | |
WO1996013052A1 (en) | Spatial-velocity correlation focusing in time-of-flight mass spectrometry | |
US6555814B1 (en) | Method and device for controlling the number of ions in ion cyclotron resonance mass spectrometers | |
JP2004500683A (ja) | 飛行時間型質量分析計の質量相関パルス引出しを行なう方法及び装置 | |
JP7069373B2 (ja) | 飛行時間型質量分析計および質量分析方法 | |
Chien et al. | The design and performance of an ion trap storage—reflectron time-of-flight mass spectrometer | |
WO2016042632A1 (ja) | 飛行時間型質量分析装置 | |
JP2006073390A (ja) | 質量分析装置 | |
US6897439B1 (en) | Multipole ion guide for mass spectrometry | |
CN113496866A (zh) | 逆流均匀场离子迁移率谱仪 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100326 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100326 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20111110 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111115 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120110 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120918 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121112 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20130319 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130411 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130717 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130808 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5341323 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
S533 | Written request for registration of change of name |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |