JP5330892B2 - レーザ加工装置 - Google Patents
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Claims (7)
- レーザ光を集光して加工対象物に照射し、当該加工対象物の加工を行うレーザ加工装置において、
レーザ光を発生するレーザ光源と、
前記レーザ光源からのレーザ光を第1の偏光成分と当該第1の偏光成分の偏光と直交する偏光を有する第2の偏光成分とに分岐する第1の偏光ビームスプリッタと、
前記第1の偏光成分を受けて空間的な位相変調を行うための第1の空間光位相変調器であって、当該第1の空間光位相変調器の偏光方向が前記第1の偏光成分の偏光と一致するように配置される当該第1の空間光位相変調器と、
前記第2の偏光成分を受けて空間的な位相変調を行うための第2の空間光位相変調器であって、当該第2の空間光位相変調器の偏光方向が前記第2の偏光成分の偏光と一致するように配置される当該第2の空間光位相変調器と、
前記第1の空間光位相変調器によって前記第1の偏光成分を位相変調してなる第1の変調光と前記第2の空間光位相変調器によって前記第2の偏光成分を位相変調してなる第2の変調光とを合成する第2の偏光ビームスプリッタと、
前記第1及び第2の変調光を前記加工対象物に集光する集光レンズと、
を備える、レーザ加工装置。 - 前記第1及び第2の空間光位相変調器のうちの少なくとも何れか一方は、前記第1の変調光の集光位置と前記第2の変調光の集光位置とを異ならせるように位相変調を行うことを特徴とする、
請求項1に記載のレーザ加工装置。 - 前記第1及び第2の空間光位相変調器は、前記第1及び第2の変調光のうちの少なくとも何れか一方をそれぞれ異なる複数の位置に集光するように位相変調を行うことを特徴とする、
請求項1又は2に記載のレーザ加工装置。 - 前記第1及び第2の空間光位相変調器のうちの少なくとも何れか一方は、前記第1の変調光の集光位置と前記第2の変調光の集光位置とを光軸方向において異ならせることを特徴とする、
請求項2又は3に記載のレーザ加工装置。 - 前記第1及び第2の空間光位相変調器のうちの少なくとも何れか一方は、前記第1の変調光の集光位置と前記第2の変調光の集光位置とを走査方向において異ならせることを特徴とする、
請求項2又は3に記載のレーザ加工装置。 - 前記第1及び第2の空間光位相変調器のうちの少なくとも何れか一方は、前記第1の変調光の集光位置と前記第2の変調光の集光位置とを前記光軸方向及び前記走査方向に交差する方向において異ならせることを特徴とする、
請求項2又は3に記載のレーザ加工装置。 - 前記レーザ光源は、ランダム偏光を有するレーザ光を出射することを特徴とする、請求項1〜6の何れか1項に記載のレーザ加工装置。
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