JP5323092B2 - 光情報処理方法及び光情報処理装置 - Google Patents
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Description
光ディスクの情報記録面にレーザー光を集光スポットとして照射し、該光ディスクの情報記録面からの反射光を検出する照射受光工程と、
前記照射受光工程にて出力される前記反射光の検出信号から、前記集光スポットの球面収差量を制御する第1の制御装置の移動量、及び前記集光スポットのジャストフォーカスからのずれを示すフォーカスオフセット量を制御する第2の制御装置の移動量を検出し、再生信号を生成し、該再生信号の特性を示す性能評価値を検出する信号処理工程と、
前記第1の制御装置の移動量と前記第2の制御装置の移動量と前記性能評価値に基づいて、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う調整工程とを有し、
前記信号処理工程が、前記第1の制御装置の移動量及び前記第2の制御装置の移動量のうちの一方の移動量をx座標とし、他方の移動量をy座標としたときに、xy座標系上のy座標がそれぞれ等しくx座標がそれぞれ異なる第1の点と第2の点と第3の点と、前記第1の点を通る第1の直線上の点であって前記第1の点とx座標及びy座標が異なる第4の点と、における前記性能評価値を検出することを特徴としている。
光ディスクの情報記録面にレーザー光を集光スポットとして照射し、該光ディスクの情報記録面からの反射光を検出する照射受光手段と、
前記照射受光手段にて出力される前記反射光の検出信号から、前記集光スポットの球面収差量を制御する第1の制御装置の移動量、及び前記集光スポットのジャストフォーカスからのずれを示すフォーカスオフセット量を制御する第2の制御装置の移動量を検出し、再生信号を生成し、該再生信号の特性を示す性能評価値を検出する信号処理手段と、
前記第1の制御装置の移動量と前記第2の制御装置の移動量と前記性能評価値とに基づいて、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う調整手段とを有し、
前記信号処理手段が、前記第1の制御装置の移動量及び前記第2の制御装置の移動量のうちの一方の移動量をx座標とし、他方の移動量をy座標としたときに、xy座標系上のy座標がそれぞれ等しくx座標がそれぞれ異なる第1の点と第2の点と第3の点と、前記第1の点を通る第1の直線上の点であって前記第1の点とx座標及びy座標が異なる第4の点と、における前記性能評価値を検出することを特徴としている。
図1は、本発明の実施の形態1に係る光情報処理装置(すなわち、実施の形態1に係る光情報処理方法を実施することができる装置)10の構成を概略的に示す図である。実施の形態1に係る光情報処理装置10は、光ディスク40の情報記録面に対してデータの記録及び/又は再生を行う記録再生装置に含まれる構成である。光情報処理装置10は、例えば、光ディスクが装着されたとき、記録動作の途中で、及び、再生動作の途中で、光ディスクの情報記録面上のカバー層の厚み誤差などによって変化する球面収差及びフォーカスオフセットの調整を行なう。調整は、光ピックアップで光ディスクの情報記録面に形成されたマークを読み取り、そのときの検出信号に基づいて光ピックアップが球面収差とフォーカスオフセットを調整することによって行なわれる。なお、「マーク」とは、光ディスクが書換え型又は追記型である場合は記録マークを意味し、光ディスクが再生専用型である場合は情報ピットを意味する。
ここで、「SA量制御装置の移動量」は、例えば、球面収差調整素子15を移動可能に支持する機構(図示せず)による球面収差調整素子15の移動量に相当し、「SA量制御装置」は、例えば、球面収差調整素子15を移動可能に支持する機構(図示せず)などから構成される。ただし、SA量制御装置は、このような構成に限定されない。また、SA量制御装置の移動量は、検出された球面収差を補償するための移動量であり、検出された球面収差に対応する値である。
また、「FO量制御装置の移動量」は、例えば、対物レンズ又は他のFO調整用レンズ(図示せず)を移動可能に支持する機構による対物レンズ又は他のFO調整用レンズ(図示せず)の移動量に相当し、「FO量制御装置」は、例えば、対物レンズ又は他のFO調整用レンズ(図示せず)を移動可能に支持する機構などから構成される。ただし、FO量制御装置は、このような構成に限定されない。また、FO量制御装置の移動量は、検出されたフォーカスオフセットを補償するための移動量であり、検出されたフォーカスオフセットに対応する値である。
z=a1・x2+b1・x+c1 式(1)
で近似的に表すことができる。なお、再生信号の性能評価値として、再生信号の振幅値に代えて、再生信号のジッター値又はエラーレートを用いることもでき、再生信号のジッター値又はエラーレートを、球面収差SAの2次近似曲線で近似的に表すこともできる。
z=a2・x2+b2・x+c2 式(2)
で近似的に表すことができる。なお、再生信号の性能評価値として、再生信号の振幅値に代えて、再生信号のジッター値又はエラーレートを用いることもでき、再生信号のジッター値又はエラーレートを、フォーカスオフセットFOの2次近似曲線で近似的に表すこともできる。
z=a1・x2+b1・x+c1 式(1)
z=RFD 式(3)
から、第5の点Eと第6の点Fにおける球面収差xの値を求める。すなわち、xz座標系において、式(1)と式(3)の交点から、第5の点Eと第6の点Fにおける球面収差の値xを求める。また、実施の形態1においては、第5の点E及び第6の点Fのフォーカスオフセットは、第1の点A、第2の点B、第3の点Cのフォーカスオフセットと等しい。
ここで、もしも第4の点Dにおける再生信号の振幅値RFDが、2次近似曲線の最大値よりも大きい場合には、式(1)と式(3)の交点を算出することができない。よって、第4の点Dにおける再生信号の振幅値RFDは、式(1)によって示される2次曲線の最大値よりも小さくなるように設定する。
図17(a)乃至(f)は、本発明の実施の形態2に係る光情報処理装置の動作、すなわち、実施の形態2に係る光情報処理方法を説明するための図である。図17(a)乃至(f)における、第1の点A2、第2の点B2、第3の点C2、第4の点D2、第5の点E2、第6の点F2、第7の点G2、第8の点H2、第9の点J2、及び直線L2はそれぞれ、図6(a)乃至(f)における、第1の点A、第2の点B、第3の点C、第4の点D、第5の点E、第6の点F、第7の点G、第8の点H、第9の点J、及び直線Lと同様である。
図18は、本発明の実施の形態3に係る光情報処理装置10a(すなわち、実施の形態3に係る光情報処理方法を実施することができる装置)の構成を概略的に示す図である。図18において、図1に示される構成と同一又は対応する構成には、同じ符号を付す。実施の形態3に光情報処理装置10aは、信号処理手段2aによる信号処理の内容が、上記実施の形態1又は2の場合と相違する。
z=a2・x2+b2・x+c2 式(2)
z=RFD3 式(4)
から、第5の点E3と第6の点F3におけるフォーカスオフセットxの値を求める。すなわち、xz座標系において、式(2)と式(4)の交点から、第5の点E3と第6の点F3におけるフォーカスオフセットの値を求める。
Claims (24)
- 光ディスクの情報記録面にレーザー光を集光スポットとして照射し、該光ディスクの情報記録面からの反射光を検出する照射受光工程と、
前記照射受光工程にて出力される前記反射光の検出信号から、前記集光スポットの球面収差量を制御する第1の制御装置の移動量、及び前記集光スポットのジャストフォーカスからのずれを示すフォーカスオフセット量を制御する第2の制御装置の移動量を検出し、再生信号を生成し、該再生信号の特性を示す性能評価値を検出する信号処理工程と、
前記第1の制御装置の移動量と前記第2の制御装置の移動量と前記性能評価値に基づいて、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う調整工程と
を有し、
前記信号処理工程が、前記第1の制御装置の移動量及び前記第2の制御装置の移動量のうちの一方の移動量をx座標とし、他方の移動量をy座標としたときに、xy座標系上のy座標がそれぞれ等しくx座標がそれぞれ異なる第1の点と第2の点と第3の点と、前記第1の点を通る第1の直線上の点であって前記第1の点とx座標及びy座標が異なる第4の点と、における前記性能評価値を検出する
ことを特徴とする光情報処理方法。 - 前記信号処理工程が、
前記xy座標の第1の点(x1,y1)での前記性能評価値であるz1を検出する工程と、
前記x1と異なるx座標であるx2と、前記y1と等しいy座標であるy2を用い、前記xy座標の第2の点(x2,y2)を設定し、前記第2の点での前記性能評価値であるz2を検出する工程と、
前記x1及び前記x2の両方と異なるx座標であるx3と、前記y1と等しいy座標であるy3を用い、前記xy座標の第3の点(x3,y3)を設定し、前記第3の点における前記性能評価値であるz3を検出する工程と、
前記性能評価値をz座標とするxz座標系において、第1の評価点(x1,z1)と第2の評価点(x2,z2)と第3の評価点(x3,z3)とに基づいて、前記性能評価値を前記x座標の値の2次関数で近似的に表す2次近似曲線を算出する工程と、
前記xy座標系において予め設定された傾斜を持ち前記第1の点を通る第1の直線上に、前記x1と異なるx座標であるx4と、前記y1と異なるy座標であるy4を用い、前記xy座標の第4の点(x4,y4)を設定し、前記第4の点における前記性能評価値であるz4を検出する工程と、
前記z4と等しい性能評価値であるz5から、前記2次近似曲線を用いて算出されたx座標であるx5と、前記y1と等しいy座標であるy5を用い、前記xy座標の第5の点(x5,y5)を設定する工程と、
前記z4と等しい性能評価値であるz6から、前記2次近似曲線を用いて算出されたx座標であるx6と、前記y1と等しいy座標であるy6を用い、前記xy座標の第6の点(x6,y6)を設定する工程と、
前記x4と等しいx座標であるx9と、前記y1と等しいy座標であるy9を用い、前記xy座標の第9の点(x9,y9)における性能評価値であるz9を、前記2次近似曲線を基に算出する工程と、
前記z4と等しい性能評価値であるz7から、予め設定された比率r、及び前記z9を基に、前記x4と等しいx座標であるx7と、y座標であるy7を用い、前記xy座標の第7の点(x7,y7)を設定する工程と、
前記第4の点、前記第5の点、前記第6の点、及び前記第7の点を通る楕円を算出し、前記楕円の中心点である前記xy座標系上の第8の点を算出する工程と
を有し、
前記調整工程が、前記集光スポットが前記第1の点から前記第8の点に移動するように、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う工程を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の光情報処理方法。 - 前記信号処理工程が、
前記xy座標系において、予め設定された比率rを用いて、前記x座標に係数r1/2を掛けて新たにx′座標とする工程と、
前記x′y座標の第1の点(x′1,y1)での前記性能評価値であるz1を検出する工程と、
前記x′1と異なるx′座標であるx′2と、前記y1と等しいy座標であるy2を用い、前記x′y座標の第2の点(x′2,y2)を設定し、前記第2の点での前記性能評価値であるz2を検出する工程と、
前記x′1とx′2の両方と異なるx′座標であるx′3と、前記y1と等しいy座標であるy3を用い、前記x′y座標の第3の点(x′3,y3)を設定し、前記第3の点における前記性能評価値であるz3を検出する工程と、
前記性能評価値をz座標とするx′z座標系において、第1の評価点(x′1,z1)と第2の評価点(x′2,z2)と第3の評価点(x′3,z3)とに基づいて、前記性能評価値を前記x′座標の値の2次関数で近似的に表す2次近似曲線を算出する工程と、
前記x′y座標系において予め設定された傾斜を持ち前記第1の点を通る第1の直線上に、前記x′1と異なるx′座標であるx′4と、前記y1と異なるy座標であるy4を用い、前記x′y座標の第4の点(x′4,y4)を設定し、前記第4の点における前記性能評価値であるz4を検出する工程と、
前記z4と等しい前記性能評価値であるz5から、前記2次近似曲線を用いて算出されたx′座標であるx′5と、前記y1と等しいy座標であるy5を用い、前記x′y座標の第5の点(x′5,y5)を設定する工程と、
前記z4と等しい前記性能評価値であるz6から、前記2次近似曲線を用いて算出されたx′座標であるx′6と、前記y1と等しいy座標であるy6を用い、前記x′y座標の第6の点(x′6,y6)を設定する工程と、
前記第4の点、前記第5の点、及び前記第6の点を通る円を算出し、前記円の中心点である前記x′y座標系上の第8の点を算出する工程
を有し、
前記調整工程が、前記集光スポットが前記第1の点から前記第8の点に移動するように、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う工程を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の光情報処理方法。 - 前記信号処理工程が、
前記xy座標の第1の点(x1,y1)での前記性能評価値であるz1を検出する工程と、
前記x1と異なるx座標であるx2と、前記y1と等しいy座標であるy2を用い、前記xy座標の第2の点(x2,y2)を設定し、前記第2の点での前記性能評価値であるz2を検出する工程と、
前記x1と前記x2の両方と異なるx座標であるx3と、前記y1と等しいy座標であるy3を用い、前記xy座標の第3の点(x3,y3)を設定し、前記第3の点における前記性能評価値であるz3を検出する工程と、
前記性能評価値をz座標とするxz座標系において、第1の評価点(x1,z1)と第2の評価点(x2,z2)と第3の評価点(x3,z3)とに基づいて、前記性能評価値を前記x座標の値の2次関数で近似的に表す2次近似曲線を算出し、前記xに対する2次近似曲線において極値を取るx座標であるxoを算出する工程と、
前記xy座標系において予め設定された傾斜を持ち前記第1の点を通る第1の直線上に、前記x1と異なるx座標であるx4と、前記y1と異なるy座標であるy4を用い、前記xy座標の第4の点(x4,y4)を設定し、前記第4の点における前記性能評価値であるz4を検出する工程と、
前記x4と等しいx9と、前記y1と等しいy9を用い、前記xy座標の第9の点(x9,y9)における性能評価値であるz9を、前記2次近似曲線を基に算出する工程と、
yz座標系において、(y4,z4)、(y9,z9)、及び予め設定された比率rを基に、性能評価値を前記y座標の値の2次関数で近似的に表す2次近似曲線を算出し、前記yに対する2次近似曲線において極値を取るy座標であるyoを算出する工程と
を有し、
前記調整工程が、前記xy座標系において、前記集光スポットが前記第1の点から(xo,yo)の点に移動するように、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う工程を有する
ことを特徴とする請求項1に記載の光情報処理方法。 - 前記性能評価値zが前記xに対し、2次近似曲線の式z=a1・x2+b1・x+c1、前記yに対し、2次近似曲線の式z=a2・y2+b2・y+c2と表される場合に、前記比率rはa1/a2であることを特徴とする請求項2乃至4のいずれか1項に記載の光情報処理方法。
- 前記再生信号の特性は、前記再生信号の振幅値、前記再生信号の再生ジッター値、及び前記再生信号のエラーレートのいずれかであることを特徴とする請求項5に記載の光情報処理方法。
- 前記第4の点は、前記2次近似曲線が、z座標を示す前記第4の性能評価値z4においてx座標を示す2つの実数解を持つ位置に設定されたことを特徴とする請求項2又は3に記載の光情報処理方法。
- 前記信号処理工程は、記憶部にて予め保持されているトラッキング誤差信号の振幅値を検出させる工程を有し、
前記第2の点及び前記第3の点のそれぞれは、トラッキング誤差信号の振幅値が前記基準値以上になる点である
ことを特徴とする請求項6に記載の光情報処理方法。 - 前記第1の直線は、前記xy交座標系において前記トラッキング誤差信号の振幅値が等しい軌跡であることを特徴とする請求項8に記載の光情報処理方法。
- 前記信号処理工程が、前記x1、前記x2、及び前記x3のいずれとも異なるx座標であるx10と、前記y2と等しいy座標であるy10を用い、前記xy座標の第10の点(x10,y10)を設定し、前記第10の点における前記性能評価値であるz10を検出する工程を有し、
前記2次近似曲線は、前記第1の評価点、前記第2の評価点、前記第3の評価点、及び前記xz座標の前記第10の評価点(x10,z10)とに基づいて算出される
ことを特徴とする請求項9に記載の光情報処理方法。 - 前記照射受光工程は、
前記光ディスクの情報記録面上に記録された情報としてのマークがある場合には、前記マークに情報読取用のレーザー光を照射する工程を含み、
前記光ディスクの情報記録面上に記録された情報としてのマークが無い場合には、前記光ディスクの情報記録面の所定位置にマークを記録するための情報記録用のレーザー光を照射する工程と、該記録されたマークに情報読取用のレーザー光を照射する工程とを含む
ことを特徴とする請求項10に記載の光情報処理方法。 - 前記マークは、前記光ディスクの情報記録面のデータエリア内又はテストエリア内に記録されることを特徴とする請求項11に記載の光情報処理方法。
- 光ディスクの情報記録面にレーザー光を集光スポットとして照射し、該光ディスクの情報記録面からの反射光を検出する照射受光手段と、
前記照射受光手段にて出力される前記反射光の検出信号から、前記集光スポットの球面収差量を制御する第1の制御装置の移動量、及び前記集光スポットのジャストフォーカスからのずれを示すフォーカスオフセット量を制御する第2の制御装置の移動量を検出し、再生信号を生成し、該再生信号の特性を示す性能評価値を検出する信号処理手段と、
前記第1の制御装置の移動量と前記第2の制御装置の移動量と前記性能評価値とに基づいて、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う調整手段と
を有し、
前記信号処理手段が、前記第1の制御装置の移動量及び前記第2の制御装置の移動量のうちの一方の移動量をx座標とし、他方の移動量をy座標としたときに、xy座標系上のy座標がそれぞれ等しくx座標がそれぞれ異なる第1の点と第2の点と第3の点と、前記第1の点を通る第1の直線上の点であって前記第1の点とx座標及びy座標が異なる第4の点と、における前記性能評価値を検出する
ことを特徴とする光情報処理装置。 - 前記信号処理手段が、
前記xy座標の第1の点(x1,y1)での前記性能評価値であるz1を検出する手段と、
前記x1と異なるx座標であるx2と、前記y1と等しいy座標であるy2を用い、前記xy座標の第2の点(x2,y2)を設定し、前記第2の点での前記性能評価値であるz2を検出する手段と、
前記x1と前記x2の両方と異なるx座標であるx3と、前記y1と等しいy座標であるy3を用い、前記xy座標の第3の点(x3,y3)を設定し、前記第3の点における前記性能評価値であるz3を検出する手段と、
前記性能評価値をz座標とするxz座標系において、第1の評価点(x1,z1)と第2の評価点(x2,z2)と第3の評価点(x3,z3)とに基づいて、前記性能評価値を前記x座標の値の2次関数で近似的に表す2次近似曲線を算出する手段と、
前記xy座標系において予め設定された傾斜を持ち前記第1の点を通る第1の直線上に、前記x1と異なるx座標であるx4と、前記y1と異なるy座標であるy4を用い、前記xy座標の第4の点(x4,y4)を設定し、前記第4の点における前記性能評価値であるz4を検出する手段と、
前記z4と等しい前記性能評価値であるz5から、前記2次近似曲線を用いて算出されたx5と、前記y1と等しいy座標であるy5を用い、前記xy座標の第5の点(x5,y5)を設定する手段と、
前記z4と等しい前記性能評価値であるz6から、前記2次近似曲線を用いて算出されたx座標であるx6と、前記y1と等しいy座標であるy6を用い、前記xy座標の第6の点(x6,y6)を設定する手段と、
前記x4と等しいx座標であるx9と、前記y1と等しいy座標であるy9を用い、前記xy座標の第9の点(x9,y9)における性能評価値であるz9を、前記2次近似曲線を基に算出する手段と、
前記z4と等しい前記性能評価値であるz7から、予め設定された比率r、及び前記z9を基に、前記x4と等しいx座標であるx7と、y座標であるy7を用い、前記xy座標の第7の点(x7,y7)を設定する手段と、
前記第4の点、前記第5の点、前記第6の点、及び前記第7の点を通る楕円を算出し、前記楕円の中心点である前記xy座標系上の第8の点を算出する手段
を有し、
前記調整手段が、前記集光スポットが前記第1の点から前記第8の点に移動するように、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う手段を有する
ことを特徴とする請求項13に記載の光情報処理装置。 - 前記信号処理手段が、
前記xy座標系において、予め設定された比率rを用いて、前記x座標に係数r1/2を掛けて新たにx′座標とする手段と、
前記x′y座標の第1の点(x′1,y1)での前記性能評価値であるz1を検出する手段と、
前記x′1と異なるx′座標であるx′2と、前記y1と等しいy座標であるy2を用い、前記x′y座標の第2の点(x′2,y2)を設定し、前記第2の点での前記性能評価値であるz2を検出する手段と、
前記x′1とx′2の両方と異なるx′座標であるx′3と、前記y1と等しいy座標であるy3を用い、前記x′y座標の第3の点(x′3,y3)を設定し、前記第3の点における前記性能評価値であるz3を検出する手段と、
前記性能評価値をz座標とするx′z座標系において、第1の評価点(x′1,z1)と第2の評価点(x′2,z2)と第3の評価点(x′3,z3)とに基づいて、前記性能評価値を前記x′座標の値の2次関数で近似的に表す2次近似曲線を算出する手段と、
前記x′y座標系において予め設定された傾斜を持ち前記第1の点を通る第1の直線上に、前記x′1と異なるx′座標であるx′4と、前記y1と異なるy座標であるy4を用い、前記x′y座標の第4の点(x′4,y4)を設定し、前記第4の点における前記性能評価値であるz4を検出する手段と、
前記z4と等しい前記性能評価値であるz5から、前記2次近似曲線を用いて算出されたx′座標であるx′5と、前記y1と等しいy座標であるy5を用い、前記x′y座標の第5の点(x′5,y5)を設定する手段と、
前記z4と等しい前記性能評価値であるz6から、前記2次近似曲線を用いて算出されたx′座標であるx′6と、前記y1と等しいy座標であるy6を用い、前記x′y座標の第6の点(x′6,y6)を設定する手段と、
前記第4の点、前記第5の点、及び前記第6の点を通る円を算出し、前記円の中心点である前記x′y座標系上の第8の点を算出する手段
を有し、
前記調整手段が、前記集光スポットが前記第1の点から前記第8の点に移動するように、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う手段を有する
ことを特徴とする請求項13に記載の光情報処理装置。 - 前記信号処理手段が、
前記xy座標の第1の点(x1,y1)での前記性能評価値であるz1を検出する手段と、
前記x1と異なるx座標であるx2と、前記y1と等しいy座標であるy2を用い、前記xy座標の第2の点(x2,y2)を設定し、前記第2の点での前記性能評価値であるz2を検出する手段と、
前記x1と前記x2の両方と異なるx座標であるx3と、前記y1と等しいy座標であるy3を用い、前記xy座標の第3の点(x3,y3)を設定し、前記第3の点における前記性能評価値であるz3を検出する手段と、
前記性能評価値をz座標とするxz座標系において、第1の評価点(x1,z1)と第2の評価点(x2,z2)と第3の評価点(x3,z3)とに基づいて、前記性能評価値を前記x座標の値の2次関数で近似的に表す2次近似曲線を算出し、前記xに対する2次近似曲線において極値を取るx座標であるxoを算出する手段と、
前記xy座標系において予め設定された傾斜を持ち前記第1の点を通る第1の直線上に、前記x1と異なるx座標であるx4と、前記y1と異なるy座標であるy4を用い、前記xy座標の第4の点(x4,y4)を設定し、前記第4の点における前記性能評価値であるz4を検出する手段と、
前記x4と等しいx座標であるx9と、前記y1と等しいy座標であるy9を用い、前記xy座標の第9の点(x9,y9)における性能評価値であるz9を、前記2次近似曲線を基に算出する手段と、
yz座標系において、(y4,z4)、(y9,z9)、及び予め設定された比率rを基に、性能評価値を前記y座標の値の2次関数で近似的に表す2次近似曲線を算出し、前記yに対する2次近似曲線において極値を取るyoを算出する手段と
を有し、
前記調整手段が、前記xy座標系において、前記集光スポットが前記第1の点から(xo,yo)の点に移動するように、前記球面収差とフォーカスオフセットの調整を行う手段を有する
ことを特徴とする請求項13に記載の光情報処理装置。 - 前記性能評価値zが前記xに対し、2次近似曲線の式z=a1・x2+b1・x+c1、前記yに対し、2次近似曲線の式z=a2・y2+b2・y+c2と表される場合に、前記比率rはa1/a2であることを特徴とする請求項14乃至16のいずれか1項に記載の光情報処理装置。
- 前記再生信号の特性は、前記再生信号の振幅値、前記再生信号の再生ジッター値、及び前記再生信号のエラーレートのいずれかであることを特徴とする請求項17に記載の光情報処理装置。
- 前記第4の点は、前記2次近似曲線が、z座標を示す前記第4の性能評価値であるz4においてx座標を示す2つの実数解を持つ位置に設定されたことを特徴とする請求項14又は15に記載の光情報処理装置。
- 前記信号処理手段は、記憶部にて予め保持されているトラッキング誤差信号の振幅値を検出させる手段を有し、
前記第2の点及び前記第3の点のそれぞれは、トラッキング誤差信号の振幅値が前記基準値以上になる点である
ことを特徴とする請求項18に記載の光情報処理装置。 - 前記第1の直線は、前記xy交座標系において前記トラッキング誤差信号の振幅値が等しい軌跡であることを特徴とする請求項20に記載の光情報処理装置。
- 前記信号処理手段が、前記x1、前記x2、及び前記x3のいずれとも異なるx座標であるx10と、前記y2と等しいy座標であるy10を用い、前記xy座標の第10の点(x10,y10)を設定し、前記第10の点における前記性能評価値であるz10を検出する手段を有し、
前記2次近似曲線は、前記第1の評価点、前記第2の評価点、前記第3の評価点、及び前記xz座標の前記第10の評価点(x10,z10)とに基づいて算出される
ことを特徴とする請求項21に記載の光情報処理装置。 - 前記照射受光手段は、
前記光ディスクの情報記録面上に記録された情報としてのマークがある場合には、前記マークに情報読取用のレーザー光を照射する手段を含み、
前記光ディスクの情報記録面上に記録された情報としてのマークが無い場合には、前記光ディスクの情報記録面の所定位置にマークを記録するための情報記録用のレーザー光を照射する手段と、該記録されたマークに情報読取用のレーザー光を照射する手段とを含む
ことを特徴とする請求項22に記載の光情報処理装置。 - 前記マークは、前記光ディスクの情報記録面のデータエリア内又はテストエリア内に記録されることを特徴とする請求項23に記載の光情報処理装置。
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