JP5286571B2 - 全光束測定装置および全光束測定方法 - Google Patents
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Description
図1は、この発明の実施の形態1に従う全光束測定装置100の概略構成を示す模式図である。図2は、図1に示す積分部および測定器のより詳細な構成を示す模式図である。図3は、図2に示す規制部による測定誤差の抑制効果を説明するための模式図である。
上述の実施の形態1においては、半球型の積分部を採用する構成について例示したが、全球型の積分部を採用してもよい。以下、この全球型の積分部を採用する構成について例示する。
上述の実施の形態1および2においては、対象物と積分部との相対位置をステップ的に変化させ、各相対位置において積分部内の照度を測定する構成について例示したが、対象物と積分部との相対位置を連続的に変化させるとともに、積分部内の照度を連続的に測定し、この測定結果に基づいて、全光束を算出するようにしてもよい。すなわち、対象物と積分部との相対位置を連続的に変化させたときに連続的に測定される照度を積分し、さらに、この照度の積分結果を相対速度に関する係数で規格化することで、対象物からの全光束を測定することができる。
Claims (9)
- 棒状の発光体である対象物を装着可能に構成された本体部と、
前記対象物を長手方向に貫通させるための第1および第2の孔を有する積分部と、
前記積分部に前記対象物を貫通させた状態で、前記対象物と前記積分部とを相対移動させる相対移動手段と、
前記積分部の前記第1および第2の孔とは異なる位置に設けられた観測窓を通じて、前記積分部内の照度を測定する測定部と、
前記対象物と前記積分部とを、前記対象物の実質的にすべての発光面が前記積分部の内部空間に露出されるように相対移動させた場合に、前記測定部により測定される照度に基づいて、前記対象物が放射する全光束を算出する処理部とを備える、全光束測定装置。 - 前記積分部は、
内壁面に光拡散反射層を有する半球部と、
前記半球部の開口を塞ぐように配置された平面ミラーとを含む、請求項1に記載の全光束測定装置。 - 前記第1の孔は、前記平面ミラー上の前記半球部の実質的な曲率中心に設けられ、
前記第2の孔は、前記第1の孔が設けられた位置を通る前記平面ミラーの法線と前記半球部との交点に設けられる、請求項2に記載の全光束測定装置。 - 前記対象物の発光面が前記積分部の内部空間へ露出するのを規制するための筒状の規制部をさらに備え、前記規制部は、前記第2の孔と連通するとともに、前記積分部の内部空間に露出する面に反射層を有する、請求項3に記載の全光束測定装置。
- 前記規制部は、前記積分部の内部空間へ露出する前記対象物の発光面の長手方向における長さが前記半球部の半径の5/6以下となるように構成される、請求項4に記載の全光束測定装置。
- 前記積分部は、
内壁面に光拡散反射層を有する球体部と、
前記対象物の発光面と前記観測窓との間に設けられたバッフルとを含み、
前記対象物の発光面が前記積分部の内部空間へ露出するのを規制するための筒状の第1および第2の規制部をさらに備え、
前記第1の規制部は、前記第1の孔と連通するとともに、前記積分部の内部空間に露出する面に反射層を有し、
前記第2の規制部は、前記第2の孔と連通するとともに、前記積分部の内部空間に露出する面に反射層を有する、請求項1に記載の全光束測定装置。 - 前記積分部の外部に存在する前記対象物の発光面から放射される光の輝度を測定するための少なくとも1つの受光部をさらに備え、
前記処理部は、前記少なくとも1つの受光部による輝度の測定結果に基づいて、前記対象物における発光特性の変動を補正することで、前記全光束を算出する、請求項1〜6のいずれか1項に記載の全光束測定装置。 - 前記相対移動手段は、前記積分部の内部空間へ露出する前記対象物の発光面の長手方向における長さと同じ距離ずつ、前記対象物と前記積分部との相対位置をステップ的に変化させ、
前記処理部は、前記対象物と前記積分部とのそれぞれの相対位置において測定される照度を積算することで、前記全光束を算出する、請求項1〜7のいずれか1項に記載の全光束測定装置。 - 棒状の発光体である対象物を測定装置に装着するステップを備え、前記測定装置は、前記対象物を長手方向に貫通させるための第1および第2の孔を有する積分部と、前記積分部の前記第1および第2の孔とは異なる位置に設けられた観測窓を通じて、前記積分部内の照度を測定する測定部とを含み、さらに、
前記積分部に前記対象物を貫通させた状態で、前記対象物の実質的にすべての発光面が前記積分部の内部空間に露出されるように、前記対象物と前記積分部とを相対移動させるステップと、
複数の相対位置において前記測定部を用いて照度を測定するステップと、
当該複数の相対位置において測定された複数の照度に基づいて、前記対象物が放射する全光束を算出するステップとを備える、全光束測定方法。
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