JP5274136B2 - 検査員の支援システム及び支援プログラム - Google Patents
検査員の支援システム及び支援プログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5274136B2 JP5274136B2 JP2008191336A JP2008191336A JP5274136B2 JP 5274136 B2 JP5274136 B2 JP 5274136B2 JP 2008191336 A JP2008191336 A JP 2008191336A JP 2008191336 A JP2008191336 A JP 2008191336A JP 5274136 B2 JP5274136 B2 JP 5274136B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- product
- inspection
- defective
- inspector
- detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/02—Total factory control, e.g. smart factories, flexible manufacturing systems [FMS] or integrated manufacturing systems [IMS]
Landscapes
- General Factory Administration (AREA)
Description
図1は、本実施形態に係る検査員の支援システムを例示するブロック図である。
図1においては、製品の流れは実線の矢印で示し、情報の流れは破線の矢印で示している。
図1に示すように、本実施形態に係る支援システム1は、製品の製造プロセス100に付随して設けられている。
製造プロセス100には複数の製造工程が含まれている。例えば、製造プロセス100には、N番目(Nは自然数)の製造工程Nと、(N+1)番目の製造工程(N+1)とが含まれている。一例では、製造工程Nは液晶パネルを作製する工程であり、製造工程(N+1)は製造工程Nにおいて作製した液晶パネルを用いて表示デバイスとしての液晶モジュールを組み立てる工程である。また、製造工程Nと製造工程(N+1)とは、例えば、地理的に離れた拠点で実施されており、製造工程Nで作製された製品(液晶パネル)は、製造工程Nの拠点から製造工程(N+1)の拠点まで搬送される。
支援システム1は、製造プロセス100の製造工程N及び(N+1)に対応して設けられており、1台又は複数台のコンピュータによって構成されている。従って、製造プロセス100との間で製品をやりとりすることはなく、情報のみをやりとりする。
先ず、製造プロセス100の動作について説明する。
図1に示すように、上流側の製造工程(図示せず)から製造工程Nに搬送されてきた部材が、処理工程111において処理され、製品が製造される。次に、この製品(仕掛品)が検査工程112に搬入される。
図3は、不良品再検査履歴・結果データベース12に記録されている情報を例示する図であり、
図4は、良品再検査履歴・結果データベース13に記録されている情報を例示する図であり、
図5は、不良履歴データベース14に記録されている情報を例示する図である。
図6は、本実施形態に係る支援方法を例示するフローチャート図であり、
図7は、検出漏れ分析部が抽出した検出漏れ製品の情報を例示する図であり、
図8は、検査員に関する情報を例示する図であり、
図9は、検査シフトに関する情報を例示する図であり、
図10は、製品に関する一般的な情報を例示する図であり、
図11は、検査装置に関する情報を例示する図であり、
図12は、検査環境に関する情報を例示する図であり、
図13は、検出漏れを検査員要因について分析した結果を例示する図であり、
図14は、検出漏れを検査装置要因について分析した結果を例示する図であり、
図15は、検出漏れに対する措置を例示する図であり、
図16は、誤検出分析部が抽出した誤検出製品の情報を例示する図であり、
図17は、誤検出に対する措置を例示する図であり、
図18は、是正措置提案履歴データベースに記録されている情報を例示する図である。
図8に示すように、検査員に関する情報とは、例えば、氏名、入社日、性別、出身地、検査者資格、受講履歴等である。
図9に示すように、検査シフトに関する情報とは、例えば、シフト開始時刻、シフト終了時刻、昼夜シフト、シフト班等である。図9に示す例では、4つのシフト班「E」、「F」、「G」、「H」で2つのシフト「昼勤」及び「夜勤」をローテーションさせている。
図10に示すように、製品に関する情報とは、例えば液晶パネルについて、製品の大分類、品名、製品概要、製品ID、水平方向の解像度X、垂直方向の解像度Y、X長さ(水平方向の長さ)、Y長さ(垂直方向の長さ)、厚さ等である。また、これらの情報と共に、最終更新日等も記録している。
図11に示すように、検査装置に関する情報とは、装置ID、装置名称、装置型番、シリアル番号、補器、設置区画、導入日等である。なお、装置ID以外の情報は、必要に応じて現場を検分すれば得られるため、必ずしもデータベース16に記録されている必要はないが、記録されていれば詳細な分析を行う際に有用である。
図12に示すように、検査環境に関する情報とは、設置区画、照明、空調等に関する情報である。なお、検査環境に関する情報は、検査装置の情報に結合させてもよい。
(総検出漏れ率)=(総検出漏れ数)÷(検査数)×100(%)
本実施形態においては、検出漏れ是正措置提案部21及び誤検出是正措置提案部22が、検査工程112の検査員のうち、検出漏れ傾向及び誤検出傾向のうち少なくとも一方を持つ検査員について、検出漏れ傾向を是正する措置及び誤検出傾向を是正する措置の双方を提案している。これにより、一方の措置のみを講じた場合の弊害を抑制することができる。
図19(a)及び(b)は、横軸に検査員をとり、縦軸に検出漏れ数及び誤検出数をとって、各検査員の措置前後の変化を例示する図であり、(a)は一方のみの措置を講じた場合を示し、(b)は両方の措置を講じた場合を示す。
(2)検査工程112において不良品と判定され不良品再検査工程116において良品と判定された製品に関する情報に基づいて、良品である製品を誤って不良品と判定する誤検出傾向を持つ検査員を抽出する手順(ステップS6〜S9)。
(3)検出漏れ傾向及び誤検出傾向のうち少なくとも一方を持つ検査員について、検出漏れ傾向を是正する措置及び誤検出傾向を是正する措置の双方を提案する手順(ステップS5、S10、S11)。
(4)(3)の提案の後、一定期間の間、この提案の対象となった検査員が検査した製品を良品再検査工程115及び不良品再検査工程116において再検査させる手順(ステップS12)。
Claims (6)
- 製品を検査する第1検査工程、前記第1検査工程において良品と判定された製品の一部を再検査する良品再検査工程、及び前記第1検査工程において不良品と判定された製品の一部を再検査する不良品再検査工程を含む前記製品の製造プロセスにおいて、前記第1検査工程で前記製品の検査を行う検査員の支援システムであって、
前記第1検査工程において良品と判定され前記良品再検査工程において不良品と判定された製品に関する情報に基づいて、不良品である製品を誤って良品と判定する検出漏れ傾向を持つ検査員を抽出する検出漏れ分析部と、
前記第1検査工程において不良品と判定され前記不良品再検査工程において良品と判定された製品に関する情報に基づいて、良品である製品を誤って不良品と判定する誤検出傾向を持つ検査員を抽出する誤検出分析部と、
前記検出漏れ傾向を是正する措置を提案する検出漏れ是正措置提案部と、
前記誤検出傾向を是正する措置を提案する誤検出是正措置提案部と、
を備え、
前記検出漏れ是正措置提案部及び前記誤検出是正措置提案部は、前記検出漏れ傾向及び前記誤検出傾向のうち少なくとも一方を持つ検査員について、前記検出漏れ傾向を是正する措置及び前記誤検出傾向を是正する措置の双方を提案することを特徴とする検査員の支援システム。 - 前記製品の製造プロセスは、前記第1検査工程、前記良品再検査工程及び前記不良品再検査工程を含む第1の製造工程の後に実施される第2の製造工程を含み、
前記第2の製造工程は、前記製品を検査する第2検査工程を含み、
前記検出漏れ分析部は、前記第1検査工程において良品と判定され前記良品再検査工程において不良品と判定された製品に関する情報の他に、前記第1検査工程において良品と判定され前記第2検査工程において不良品と判定された製品に関する情報にも基づいて、前記検出漏れ傾向を持つ検査員を抽出することを特徴とする請求項1記載の検査員の支援システム。 - 前記提案の後、一定期間の間、前記提案の対象となった検査員が良品と判定した製品を前記良品再検査工程に再検査させる良品再検査対象選択指示部と、
前記提案の後、一定期間の間、前記提案の対象となった検査員が不良品と判定した製品を前記不良品再検査工程に再検査させる不良品再検査対象選択指示部と、
をさらに備えたことを特徴とする請求項1または2に記載の検査員の支援システム。 - 製品を検査する第1検査工程、前記第1検査工程において良品と判定された製品の一部を再検査する良品再検査工程、及び前記第1検査工程において不良品と判定された製品の一部を再検査する不良品再検査工程を含む前記製品の製造プロセスにおいて、前記第1検査工程で前記製品の検査を行う検査員の支援プログラムであって、
コンピュータに、
前記第1検査工程において良品と判定され前記良品再検査工程において不良品と判定された製品に関する情報に基づいて、不良品である製品を誤って良品と判定する検出漏れ傾向を持つ検査員を抽出する手順と、
前記第1検査工程において不良品と判定され前記不良品再検査工程において良品と判定された製品に関する情報に基づいて、良品である製品を誤って不良品と判定する誤検出傾向を持つ検査員を抽出する手順と、
前記検出漏れ傾向、及び、前記誤検出傾向のうち、少なくとも一方を持つ検査員について、前記検出漏れ傾向を是正する措置、及び、前記誤検出傾向を是正する措置の双方を提案する手順を実行させることを特徴とする検査員の支援プログラム。 - 前記製品の製造プロセスは、前記第1検査工程、前記良品再検査工程及び前記不良品再検査工程を含む第1の製造工程の後に実施される第2の製造工程を含み、
前記第2の製造工程は、前記製品を検査する第2検査工程を含み、
前記コンピュータに、
前記検出漏れ傾向を持つ検査員を抽出する手順において、前記第1検査工程において良品と判定され前記良品再検査工程において不良品と判定された製品に関する情報の他に、前記第1検査工程において良品と判定され前記第2検査工程において不良品と判定された製品に関する情報にも基づいて、前記検出漏れ傾向を持つ検査員を抽出させることを特徴とする請求項4記載の検査員の支援プログラム。 - 前記コンピュータに、
前記提案の後、一定期間の間、前記提案の対象となった検査員が検査した製品を前記良品再検査工程及び前記不良品再検査工程において再検査させる手順をさらに実行させることを特徴とする請求項4または5に記載の検査員の支援プログラム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008191336A JP5274136B2 (ja) | 2008-07-24 | 2008-07-24 | 検査員の支援システム及び支援プログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008191336A JP5274136B2 (ja) | 2008-07-24 | 2008-07-24 | 検査員の支援システム及び支援プログラム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010027002A JP2010027002A (ja) | 2010-02-04 |
JP5274136B2 true JP5274136B2 (ja) | 2013-08-28 |
Family
ID=41732741
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008191336A Expired - Fee Related JP5274136B2 (ja) | 2008-07-24 | 2008-07-24 | 検査員の支援システム及び支援プログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5274136B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10962954B2 (en) | 2016-08-22 | 2021-03-30 | Robert Bosch Gmbh | System and method for monitoring a manufacturing plant |
JP6601992B1 (ja) * | 2019-04-25 | 2019-11-06 | Omリサーチ&コンサルティング株式会社 | 情報処理装置 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3083896B2 (ja) * | 1991-12-05 | 2000-09-04 | 株式会社リコー | 欠陥弁別方法および装置 |
JP3265826B2 (ja) * | 1994-05-24 | 2002-03-18 | 富士ゼロックス株式会社 | 画像判定装置および画像判定方法 |
JP3724851B2 (ja) * | 1995-08-25 | 2005-12-07 | 松下電器産業株式会社 | 検査方法 |
JP3806461B2 (ja) * | 1996-03-29 | 2006-08-09 | ジェネシス・テクノロジー株式会社 | 物品外観検査装置 |
JPH11183391A (ja) * | 1997-12-25 | 1999-07-09 | Fuji Electric Co Ltd | 自動外観検査装置 |
JP2003194733A (ja) * | 2001-12-26 | 2003-07-09 | Ricoh Microelectronics Co Ltd | 外観検査支援システム |
JP5017605B2 (ja) * | 2006-10-20 | 2012-09-05 | 株式会社 日立技研 | 目視検査支援装置、目視検査支援システム並びに目視検査支援方法 |
JP2007305157A (ja) * | 2007-07-17 | 2007-11-22 | Hitachi Ltd | 企業間取引仲介方法 |
-
2008
- 2008-07-24 JP JP2008191336A patent/JP5274136B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010027002A (ja) | 2010-02-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US11449980B2 (en) | System and method for combined automatic and manual inspection | |
Lee et al. | Reducing mold changing time by implementing Lean Six Sigma | |
Anderson et al. | Reducing welding defects in turnaround projects: A lean six sigma case study | |
JP2018037065A (ja) | 機械設備を点検するシステムおよび方法 | |
US11137741B2 (en) | Quality control device and quality control method | |
JP5274136B2 (ja) | 検査員の支援システム及び支援プログラム | |
JP6630912B1 (ja) | 検査装置及び検査方法 | |
Drewniak et al. | Improving business performance through TPM method: The evidence from the production and processing of crude oil | |
US20030158679A1 (en) | Anomaly detection system | |
JP2019032671A (ja) | 原因推定方法およびプログラム | |
CN110914771B (zh) | 品质分析装置及品质分析方法 | |
KR102081975B1 (ko) | Mc 현황 관리 장치 및 방법 | |
Supsomboon et al. | A simulation model for machine efficiency improvement using reliability centered maintenance: Case study of semiconductor factory | |
JP2008033902A (ja) | 警報装置 | |
JP2017044480A (ja) | 検査装置、及び検査方法 | |
US20050209723A1 (en) | Method for yield improvement of manufactured products | |
WO2015174115A1 (ja) | データ管理装置及びデータ管理プログラム | |
EP3865844A1 (en) | System and method for remote structural health monitoring | |
JP2008181341A (ja) | 製造不良要因分析支援装置 | |
JP2007316733A (ja) | 修理支援システム、修理支援方法、修理支援プログラムおよび記録媒体 | |
JP2007115945A (ja) | 半導体装置の製造方法 | |
JP2008204116A (ja) | 品質管理システム、方法、プログラムおよび記録媒体 | |
CN111401578A (zh) | 设备点检管理方法及装置、计算机可读存储介质 | |
JP2008225776A (ja) | 抜取検査システム | |
JP2006018708A (ja) | 製品の検査システムおよびその検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110609 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120816 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120821 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121022 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130422 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130514 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |