JP5262622B2 - 画像形成装置 - Google Patents
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Description
また、本発明の請求項8に係る画像形成装置は、請求項7に係る画像形成装置において、前記特定手段は、前記第1の電位と前記第2の電位との電位差である第1の電位差が決められた最小値から最大値まで変化するように、複数回にわたって前記第2の電位を変化させて、前記画像形成手段に画像を形成させ、前記計測手段に前記第3の電位を計測させ、前記第1の電位と計測された当該第3の電位との電位差である第2の電位差と、前記第1の電位差との複数の組により前記画像形成手段の状態である現像状態を特定することを特徴とする。
本発明の請求項2に係る画像形成装置によれば、この構成を用いない場合に比較して、現像器の状態をより正確に判定して、その状態に応じて現像過程での潜像の劣化を抑制することができる。
本発明の請求項3に係る画像形成装置によれば、交流電圧が印加される現像器において、現像過程での潜像の劣化を抑制することができる。
本発明の請求項4に係る画像形成装置によれば、交流電圧が印加される現像器において、この構成を用いない場合に比較して、現像器の状態をより正確に判定して、その状態に応じて現像過程での潜像の劣化を抑制することができる。
本発明の請求項5に係る画像形成装置によれば、画像形成手段により画像が形成された後の像保持体において、露光した領域以外の領域の電位を計測する計測手段が、転写手段により転写記録された後の像保持体の電位を計測する計測手段を兼ねることができる。
本発明の請求項6に係る画像形成装置によれば、現像過程での潜像の劣化を抑制することができる。
本発明の請求項7,8に係る画像形成装置によれば、現像過程での潜像の劣化を抑制することができる。
ここでは、本発明の実施の一態様として、中間転写ベルトといわゆるタンデムエンジンを備えた電子写真方式のプリンタ(画像形成装置)を例示して説明するが、本発明はこの態様に限定されるものではない。
[A−1.画像形成装置の全体構成]
図1は、本発明の実施形態に係る画像形成装置100の全体構成を示した概略図である。同図に示すように、画像形成装置100は、制御部10と、記憶部20と、通信部30と、操作部40と、画像形成部50と、電位計測部60とを備えている。
記憶部20はHDD(Hard Disk Drive)等の記憶装置であり、画像形成に用いられる各種データや、後述する第1電位差(ΔVS0)の最大値、最小値および刻み幅等が記憶さ
れる。この記憶部20には、画像形成部50における予め定めた部位の測定電位差と、画像形成部50の現像の状態(以下、現像状態という)との対応関係を実験などにより求めた電位差データ201と、現像状態ごとに制御条件を記述した制御条件テーブル202が記憶される。電位差データ201と制御条件テーブル202の詳細については後述する。
通信部30は、デジタルスチルカメラ、パーソナルコンピュータおよびスキャナ等の外部装置と画像データの授受を行うためのインターフェース装置である。
操作部40は、タッチパネルを備えた入力装置であり、画像形成に関する各種の情報を表示させると共にユーザからの指示を受けて指示情報を出力する。
画像形成部50は、通信部30を介して入力された画像データに基づいた画像をシート状の記録材(以下、「記録用紙」という)に形成する。この記録用紙には、いわゆる普通紙を始め、表面に樹脂等のコーティングが施された紙や紙以外の材質の記録材が含まれる。この画像形成部50は、具体的には以下の構成を備えている。
図2は、画像形成部50の構成を示した図である。なお、同図において、二点鎖線は記録用紙の搬送経路を示している。画像形成部50は、複数の給紙トレイ501と、複数の用紙搬送ロール502と、露光装置503と、転写ユニット504Y,504M,504C,504Kと、中間転写ベルト505と、複数のベルト搬送ロール506と、二次転写ロール507と、バックアップロール508と、定着装置509と、排出口510と、排出用紙受511と、を備える。
図3は、転写ユニット504の構成を示した図である。同図に示すように、転写ユニット504は、感光体ドラム5041と、ローラ帯電器5042と、現像器5043と、一次転写ロール5044と、ドラムクリーナ5045と、除電装置5046を備え、感光体ドラム5041の表面に沿って電位計測部60の計測センサ601が配置されている。感光体ドラム5041は電荷発生層や電荷輸送層を有する像保持体であり、図示しない駆動部により図中の矢印Aの方向に回転させられる。ローラ帯電器5042は感光体ドラム5041表面を帯電させる。なお、ここでは、計測センサ601は、感光体ドラム5041の回転方向(矢印A)における現像器5043より下流であって、一次転写ロール5044より上流に配置されている。
次に、記憶部20に記憶された電位差データ201について、説明する。図4に示したように、現像を経ると非画線部の初期電位(VS0)は現像後非画線部電位(VS)となる。ここで、初期電位(VS0)と現像バイアス電位(Vb)との電位差を第1電位差(ΔV
S0)とよび、初期電位(VS0)と現像後非画線部電位(VS)との電位差を第2電位差(ΔVS)よぶ。
第1電位差(ΔVS0)と第2電位差(ΔVS)との対応関係は、現像状態によって異な
るが、各現像状態とも、第1電位差(ΔVS0)が大きくなるほど第2電位差(ΔVS)が
大きくなることがわかっている。ただし、この対応関係は比例関係でないことがわかっている。電位差データ201は、この第1電位差(ΔVS0)と第2電位差(ΔVS)との対
応関係を、複数の現像状態ごとに関連付けたデータである。
なお、現像を経ると画線部の潜像低部電位(VL0)は現像後低部電位(VL)となるが、画線部にはトナーが付着するため、電位計測部60で計測できるのは現像後画線部電位(VH)であって、現像後低部電位(VL)ではない。また、潜像低部電位(VL0)と現像後低部電位(VL)との電位差は、第1電位差(ΔVS0)だけでなく、付着したトナー
の量にも影響を受ける。したがって、本発明においては、第2電位差(ΔVS)を算出す
るための計測値、すなわち現像後非画線部電位(VS)を用いる。具体的には、制御部10により、感光体ドラム5041の回転移動距離と露光装置503の制御状況から、電位計測部60の計測センサ601により計測された部位が画線部であるか否かを判定し、この部位が非画線部であるときの計測値を現像後非画線部電位(VS)として用いる。
なお、制御部10は、計測された部位がページ間であるか否かを判定して、この部位が画線部であるか否かを判定してもよい。また、予め、余白に相当する位置に計測センサ601を配置することで、このような判定を省略してもよい。この場合には、計測センサ601は、非画線部しか計測しないからである。
わせが含まれている。図5に示すように、いずれの現像状態においても、図に横軸で示した第1電位差(ΔVS0)が比較的小さいところでは、縦軸で示した第2電位差(ΔVS)
の傾きは小さいが、第1電位差(ΔVS0)があるところまで大きくなると、急に第2電位
差(ΔVS)の傾きが大きくなるという傾向がある。これは、第1電位差(ΔVS0)が閾
値を超えることにより、現像器5043と感光体ドラム5041との間で絶縁破壊が生じ、放電が起きるためである。
さくすると、感光体ドラム5041における非画線部の電位(VS0〜VS)が現像バイアス電位(Vb)や現像後画線部電位(VH)に近くなるため、現像中に現像器5043から直接、非画線部へトナーが付着して、画像の画質が劣化する場合がある。また、エッジ効果が高まるので、現像後に感光体ドラム5041に形成された画像の画線部から非画線部へトナーが付着する、いわゆる背景かぶりという現象が生じ、画像の画質が劣化する場合がある。したがって、キャリアかぶりが著しく発生しない程度に、第1電位差(ΔVS0
)を大きく設定することが望ましい。
おいては、横軸に第2電位差(ΔVS)を、縦軸にキャリアかぶりの数(単位:個/cm
2)をプロットしている。ここで、キャリアかぶりの個数として許容し得る閾値を「1000個」とすると、全ての現像状態において、第2電位差(ΔVS)を24V以下とする
ことで、キャリアかぶりの個数をこの閾値以下にすることができることがわかる。したがって、キャリアかぶりの個数を閾値以下にするためには、図5に示すように、第1電位差(ΔVS0)を「CASE I」では約330V以下に、「CASE II」では約260V
以下に、「CASE III」では約240V以下に、それぞれ設定しなければならないということがわかる。すなわち、これらの現像状態は、「CASE I」→「CASE II」→「CASE III」の順に放電し易くなることがわかる。そして、これらの現像状態のうち、最も放電し難い「CASE I」では、第1電位差(ΔVS0)を最も大きく設定
することが可能となっている。
図7は、制御条件テーブル202の一例を示す図である。図7に示すように、制御条件テーブル202には、電位差データ201に含まれる複数の現像状態ごとに、転写ユニット504を制御する制御条件が記述されている。現像状態は、上述したとおり「CASE I」→「CASE II」→「CASE III」の順に放電し易くなる。制御条件テーブル202に記述された各制御条件は、それぞれ、放電し易い現像状態になるにしたがって、第2電位差(ΔVS)がより小さくなるような値が設定されている。例えば、初期電位
(VS0)は、放電し易い現像状態になるにしたがって、高→中→低という順序で設定されている。この順序は例えば、現像バイアス電位(Vb)が固定値である条件下において、第1電位差(ΔVS0)が小さくなっていく順序であるため、結果として第2電位差(ΔV
S)がより小さくなる順序である。また、ここで現像バイアス電位(Vb)も、放電し易い現像状態になるにしたがって、高→中→低という順序で設定されているが、上記の初期電位(VS0)が現像バイアス電位(Vb)とともに変化しても、それぞれの設定条件は、放電し易い現像状態になるにしたがって、第2電位差(ΔVS)が小さくなるように設定
されている。
制御部10は、上述した電位差データ201と、この制御条件テーブル202とを参照することによって、転写ユニット504(画像形成手段)が従う制御条件と、第1電位差と第2電位差との対応関係を表す、複数の対応関係情報を取得する取得手段として機能する。
図8は、本発明の実施形態に係る画像形成装置100の動作を示すフロー図である。利用者によって、画像形成装置100の操作部40を介して装置の起動を指示する操作がなされると、画像形成装置100の制御部10は、転写ユニット504を制御する制御条件を初期化する(ステップS101)。次に、制御部10は、記憶部20に予め記憶された第1電位差(ΔVS0)の最大値、最小値および刻み幅を読み込み(ステップS102)、
第1電位差(ΔVS0)が読み込んだ最小値となるように、現像バイアス電位(Vb)を設
定する(ステップS103)。ここでは、この最大値を400V、最小値を0V、刻み幅を50Vとする。したがって、ステップS103において、第1電位差(ΔVS0)は0V
に設定される。
断する(ステップS104)。第1電位差(ΔVS0)が最大値を超えていないと判断する
と(ステップS104;NO)、制御部10は、電位計測部60の計測センサ601によって、現像後非画線部電位(VS)を計測し(ステップS105)、初期電位(VS0)と、計測したこの現像後非画線部電位(VS)との電位差である第2電位差(ΔVS)を算
出して、このときの第1電位差(ΔVS0)に対応付けて記憶部20に記憶する(ステップ
S106)。第1電位差(ΔVS0)と第2電位差(ΔVS)とを対応付けて記憶すると、
制御部10は、第1電位差(ΔVS0)がステップS102で読み込んだ刻み幅だけ増加す
るように現像バイアス電位(Vb)を設定し(ステップS107)、処理をステップS104に戻す。したがって、制御部10は、第1電位差(ΔVS0)が0V、50V、100
V、…、350V、400Vと変化するように現像バイアス電位(Vb)を設定し、その設定ごとに第2電位差(ΔVS)を算出して、第1電位差(ΔVS0)と第2電位差(ΔV
S)の各組を記憶部20に記憶する。すなわち、制御部10は、転写ユニット504(画像形成手段)における初期電位(第1の電位)と、感光体ドラム5041(像保持体)において露光した領域を複数の現像バイアス電位(第2の電位)でそれぞれ現像した場合に電位計測部60(計測手段)により計測された複数の現像後非画線部電位(第3の電位)とから、複数の第2電位差(第2の電位差)を算出する算出手段の一例である。
YES)、制御部10は、ステップS106で記憶した第1電位差(ΔVS0)と第2電位
差(ΔVS)の各組と、記憶部20に記憶されている電位差データ201とを照合し(ス
テップS108)、この各組に対応する現像状態を特定する(ステップS109)。これは具体的には、例えば、電位差データ201と上述した各組との誤差の絶対値を現像状態ごとに合計し、この合計値が最も小さい現像状態を対応する現像状態として特定することによって行う。その後、制御部10は、特定した現像状態に対応する制御条件を、記憶部20に記憶されている制御条件テーブル202から読み出し(ステップS110)、読み出したこの制御条件により転写ユニット504の制御を開始する(ステップS111)。
上述の実施形態を以下のように変形してもよい。また、以下のように変形した態様を組み合わせてもよい。
(変形例1)上述の実施形態において、第1電位差(ΔVS0)が最小値から最大値まで刻
み幅ごとに増加するように現像バイアス電位(Vb)を設定し、それらの設定ごとに、現像後非画線部電位(VS)を計測して第2電位差(ΔVS)を算出していた。すなわち、
複数の第1電位差(ΔVS0)に対応する第2電位差(ΔVS)を算出していたが、算出す
る第2電位差(ΔVS)に対応する第1電位差(ΔVS0)は一つでもよい。この場合、制
御部10は、例えば、第1電位差(ΔVS0)が、記憶部20に予め記憶された値や、制御
部10のRAMに記憶されている現在使用している値などになるように現像バイアス電位(Vb)を設定し、このときの第2電位差(ΔVS)を算出して、第1電位差(ΔVS0)
と第2電位差(ΔVS)のこの組を記憶部20に記憶すればよい。そして、制御部10は
、この組と、記憶部20に記憶されている電位差データ201とを照合し、この組に対応する現像状態を特定し、特定した現像状態に対応する制御条件を、制御条件テーブル202から読み出し、読み出したこの制御条件により転写ユニット504の制御を開始すればよい。要するに、制御部10は、転写ユニット504(画像形成手段)における初期電位(第1の電位)と、電位計測部60(計測手段)により計測された現像後非画線部電位(第3の電位)とから、第2電位差(第2の電位差)を算出する算出手段として機能する。
、制御部10は、転写ユニット504(画像形成手段)における初期電位(第1の電位)と、交流電圧の振幅及び周波数の少なくともいずれかが変化したときに電位計測部60(計測手段)により計測された複数の現像後非画線部電位(第3の電位)とから、複数の第2電位差(第2の電位差)を算出する算出手段として機能する。
図9は、直流電圧に交流電圧を重畳することによる電位差データ201への影響を説明するための図である。図9(a)は、第1電位差(ΔVS0)を横軸に、第2電位差(ΔV
S)を縦軸にプロットした場合の概念図である。この図に示すように、直流電圧のみを印加して現像器5043の電位を現像バイアス電位(Vb)とする場合に比べ、直流電圧に交流電圧を重畳した電圧を印加して現像器5043の電位を現像バイアス電位(Vb)とすると、グラフは矢線方向に移動する。すなわち、交流電圧を重畳すると第2電位差(Δ
VS)が増加する。一方、図9(b)は、横軸に第2電位差(ΔVS)を、縦軸にキャリ
アかぶりの数(単位:個/cm2)をプロットした場合の概念図である。このとき、直流電圧のみの場合に比べ、交流電圧を重畳すると、グラフは矢線方向に移動する。すなわち、交流電圧を重畳するとキャリアかぶりの数(BCO)が減少する。そして、図9(a)における第2電位差(ΔVS)の増加量と図9(b)におけるBCOの減少量は、相殺す
ることがわかっている。すなわち、キャリアかぶりの数は現像器5043に印加する電圧の直流成分のみに依存している。
VS)を算出したときの画像についての粒状性の評価(以下、粒状性評価)をプロットした場合の概念図である。このとき、直流電圧のみの場合と、交流電圧を重畳した場合では、ほとんど粒状性評価が変わらない。すなわち、現像器5043に印加する電圧が直流成分のみであるか、交流成分が重畳されているかに関わらず、粒状性評価は、第2電位差(ΔVS)によって定まることがわかっている。
したがって、制御条件を変化させて第2電位差(ΔVS)を算出するにあたり、直流電
圧のみを現像器5043に印加した場合には、図9(a)に示す第1電位差(ΔVS0)−
第2電位差(ΔVS)のグラフ、および、図9(b)に示す第2電位差(ΔVS)−キャ
リアかぶりの数のグラフは、いずれも、その傾きが急峻に増大する領域が存在するグラフとなる。傾きが急峻に増大する領域においては、他の領域と比較して、縦軸(値域)の変化量が大きくても、横軸(定義域)の変化量が小さいので、縦軸に定めた値の誤差による影響が対応する横軸上の値に現れにくい。ここでは、図9(b)により、キャリアかぶりの数として定めた或る数に対応する第2電位差(ΔVS)を特定し、この第2電位差(Δ
VS)に対応する第1電位差(ΔVS0)を求めるので、精度の観点から現像器5043に
直流電圧のみを印加する場合の方が望ましい。
一方、粒状性評価に対応する第2電位差(ΔVS)を特定する場合には、上述したよう
な相殺はないので、粒状性評価は、現像器5043に印加する電圧の直流成分のみに依存しない。すなわち、現像器5043に交流電圧を重畳せずに直流電圧のみを変化させて第2電位差(ΔVS)を算出すると、交流成分による影響の度合いを得ることができない。
したがって、第2電位差(ΔVS)を算出する際には、現像器5043に印加する電圧を
直流電圧とする場合と、交流電圧を重畳する場合の両方を行うことが望ましい。
Claims (8)
- 制御条件に従って画像を形成する画像形成手段であって、像保持体の表面を第1の電位に帯電させ、帯電した当該像保持体の表面を露光し、第2の電位を現像電位として、露光した領域を現像し、画像を形成する画像形成手段と、
前記画像形成手段により画像が形成された後の像保持体において、露光した前記領域以外の領域の電位である第3の電位を計測する計測手段と、
前記画像形成手段が従う前記制御条件と、前記第1の電位と前記第2の電位との電位差である第1の電位差と、前記第1の電位と前記第3の電位との電位差である第2の電位差との対応関係を表す、複数の対応関係情報を取得する取得手段と、
前記画像形成手段における前記第1の電位と、前記計測手段により計測された前記第3の電位とから、前記第2の電位差を算出する算出手段と、
前記取得手段により取得された前記複数の対応関係情報に基づいて、前記画像形成手段における前記第1の電位と前記第2の電位との差である前記第1の電位差、及び、前記算出手段により算出された前記第2の電位差に対応する前記制御条件を特定し、特定した当該制御条件により前記画像形成手段を制御する制御手段と
を具備することを特徴とする画像形成装置。 - 前記算出手段は、前記画像形成手段における前記第1の電位と、前記像保持体において露光した領域を複数の前記第2の電位でそれぞれ現像した場合に前記計測手段により計測された複数の前記第3の電位とから、複数の前記第2の電位差を算出し、
前記制御手段は、前記取得手段により取得された前記複数の対応関係情報に基づいて、前記画像形成手段における複数の前記第1の電位差、及び、前記算出手段により算出された複数の前記第2の電位差に対応する前記制御条件を特定し、特定した当該制御条件により前記画像形成手段を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。 - 前記画像形成手段は、直流電圧に交流電圧を重畳した前記第2の電位を現像電位として用い、
前記制御条件は、前記交流電圧の振幅及び周波数の少なくともいずれかについての条件である
ことを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。 - 前記算出手段は、前記画像形成手段における前記第1の電位と、前記交流電圧の振幅及び周波数の少なくともいずれかが変化したときに前記計測手段により計測された複数の前記第3の電位とから、複数の前記第2の電位差を算出し、
前記制御手段は、前記取得手段により取得された前記複数の対応関係情報に基づいて、前記画像形成手段における複数の前記第1の電位差、及び、前記算出手段により算出された複数の前記第2の電位差に対応する前記制御条件を特定し、特定した当該制御条件により前記画像形成手段を制御する
ことを特徴とする請求項3に記載の画像形成装置。 - 前記像保持体に対して近接または離間可能で、前記像保持対に対して近接したときに、前記画像形成手段により形成された画像を被転写体に転写する転写手段を具備し、
前記計測手段は、前記像保持体において前記転写手段が近接する位置よりも前記像保持体の表面の移動方向下流側に配置され、前記転写手段が前記像保持体に対して離間している場合には、前記第3の電位を計測し、前記転写手段が前記画像を転写する場合には、当該転写がなされた後の像保持体の電位を計測する
ことを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載の画像形成装置。 - 前記制御条件は、前記画像形成手段における前記第1の電位、前記画像形成手段における前記第2の電位、前記画像形成手段が前記像保持体の表面を露光するときの露光強度、前記画像形成手段が現像に用いる現像剤に含まれるトナーの補給量および当該現像剤の排出量の少なくともいずれかについての条件である
ことを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。 - 前記第2の電位を現像電位として前記画像形成手段に画像を形成させ、前記計測手段に前記第3の電位を計測させ、前記第1の電位と計測された当該第3の電位との電位差である第2の電位差と、前記第1の電位差との組により前記画像形成手段の状態である現像状態を特定する特定手段
を具備し、
前記取得手段は、前記画像形成手段が従う前記制御条件と、前記現像状態との対応関係を表す対応関係情報を取得し、
前記制御手段は、前記取得手段により取得された前記対応関係情報に基づいて、前記特定手段が特定した前記現像状態に対応する前記制御条件を特定し、特定した当該制御条件により前記画像形成手段を制御する
ことを特徴とする請求項1に記載の画像形成装置。 - 前記特定手段は、前記第1の電位と前記第2の電位との電位差である第1の電位差が決められた最小値から最大値まで変化するように、複数回にわたって前記第2の電位を変化させて、前記画像形成手段に画像を形成させ、前記計測手段に前記第3の電位を計測させ、前記第1の電位と計測された当該第3の電位との電位差である第2の電位差と、前記第1の電位差との複数の組により前記画像形成手段の状態である現像状態を特定する
ことを特徴とする請求項7に記載の画像形成装置。
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