JP5217659B2 - セラミック電子部品、およびセラミック電子部品の製造方法 - Google Patents
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Description
セラミック層と内部電極との界面から水分が浸入するのを防ぐことができる。したがって、より信頼性に優れた積層セラミック電子部品を得ることができる。
被めっき物として、長さ1.0mm、幅0.5mm、厚み0.5mmの積層セラミックコンデンサ用の積層体を用意した。誘電体層はチタン酸バリウム系誘電体材料からなり、内部電極はNiを主成分とするものであった。また、隣り合う内部電極間の誘電体層の厚みは2μmであり、内部電極層の厚みは1μmであった。
[実施例2]
被めっき物として、実施例1と同じ積層体、およびガラス粒子を用意した。ガラス粒子は実施例1と同様の方法にてNi膜による被覆を行った。
被めっき物として、実施例2と同じ積層体、およびガラス粒子を用意した。
2 積層体
3 誘電体セラミック層
4、5 内部電極層
6、7 第1のめっき層
8、9 第2のめっき層
10、11 第3のめっき層
20 金属膜で被覆されたガラス粒子
106、107 ペースト電極層
Claims (6)
- セラミック素体とセラミック素体の表面に形成された複数の外部電極とを備えるセラミック電子部品であって、
前記外部電極が、金属膜で被覆されたガラス粒子が分散しためっき層を含み、当該ガラス粒子の少なくとも一部が前記セラミック素体に付着していることを特徴とする、セラミック電子部品。 - 前記セラミック素体が、複数の積層されたセラミック層と、前記セラミック層の界面に沿って形成された複数の内部電極層とを含む積層体であり、
前記金属膜で被覆されたガラス粒子が分散しためっき層が、前記積層体の表面に露出した内部電極層を電気的に直接接続するよう形成されていることを特徴とする、請求項1に記載のセラミック電子部品。 - 前記めっき層の主成分がCuであり、かつ、前記金属膜の主成分がNiであることを特徴とする、請求項1または2に記載のセラミック電子部品。
- セラミック素体を用意する工程と、
金属膜で被覆されたガラス粒子を用意する工程と、
前記金属膜で被覆されたガラス粒子が分散しためっき浴を用意する工程と、
前記めっき浴を用いて、前記セラミック素体に対してめっきを行い、前記金属膜で被覆されたガラス粒子が分散しためっき層を形成する工程と、を備える前記ガラス粒子の少なくとも一部が前記セラミック素体に付着したセラミック電子部品の製造方法。 - 前記セラミック素体が、複数の積層されたセラミック層と、前記セラミック層の界面に沿って形成された複数の内部電極層とを含む積層体であり、
前記金属膜で被覆されたガラス粒子が分散しためっき層を形成する工程が、前記めっき浴を用いて、前記積層体の前記所定の面に露出した複数の前記内部電極の各端部にめっき析出物を析出させ、かつ前記めっき析出物が相互に接続されるように前記めっき析出物をめっき成長させ、それによって、連続しためっき層を形成するようにめっきする工程であることを特徴とする、請求項4に記載のセラミック電子部品の製造方法。 - 前記金属膜で被覆されたガラス粒子が分散しためっき層を形成する工程の後に、前記ガラスの軟化点以上の温度において熱処理する工程を備える、請求項4または5に記載のセラミック電子部品の製造方法。
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