JP5204239B2 - 光学的情報記録媒体、情報記録装置、情報再生装置、情報記録方法、情報再生方法、および、光学的情報記録媒体の製造方法 - Google Patents

Description

本発明は、光学的情報記録媒体への記録または光学的情報記録媒体からの再生を制御するために必要な制御情報、特に、ライトストラテジおよび記録補償に関連する制御情報の構成方法および制御情報を記録した光学的情報記録媒体に関する。また、このような制御情報が記録された光学的情報記録媒体の製造方法、情報記録方法、情報再生方法、および記録再生装置に関する。

光学的情報記録媒体として、ＢＤ−Ｒ、ＢＤ−ＲＥ、ＤＶＤーＲＡＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＣＤ−ＲＷなど、追記型または書き換え型の光学的情報記録媒体の規格が定められ実用化されている。また、これらの規格に従った光学的情報記録媒体の記録・再生を行う技術が実用化されている。

このような光学的情報記録媒体の一例として、相変化型光学的情報記録媒体が知られている。相変化型光学的情報記録媒体に所定の強度よりも大きいレーザー光を照射すると、レーザーが照射された領域において、記録膜が非晶相から結晶相に変えられ、記録マークが形成される。例えば、記録すべき情報によって変調された信号に基づく長さで表されるスペースおよびマークの組み合わせを記録層のトラック上に形成する。非晶相と結晶相とでは反射率が異なるため、記録膜に相変化を生じさせない程度の強度を有するレーザー光で、情報が記録されたトラックを走査すれば、スペースおよびマークに対応した強度変化を有する反射光を得ることができ、光学的情報記録媒体に記録された情報を再生することができる。

書き換え型の光学的情報記録媒体の記録膜には、例えば、ＧｅＳｂＴｅが記録材料として用いられる。また、特許文献１は、追記型の光学的情報記録媒体の記録材料として、Ｔｅ−Ｏ−Ｍ（但し、Ｍは金属元素、半金属元素および半導体元素から選ばれる少なくとも一つの元素である。）を含む材料を用いることを開示している。Ｔｅ−Ｏ−Ｍは、Ｔｅ、ＯおよびＭを含む複合材料であり、記録膜を形成した直後は、ＴｅＯ₂のマトリクス中にＴｅ、Ｔｅ−ＭおよびＭの微粒子が一様にランダムに分散している。この材料によって形成された記録膜にレーザ光を照射すると、膜の溶融が起こり、粒径の大きいＴｅあるいはＴｅ−Ｍの結晶が析出する。これにより、レーザ光が照射した部分の反射率が変化するため、反射光の強度変化を信号として検出することができる。したがって、１回のみ書き込み可能な、いわゆる追記型の記録が可能となる。

相変化型のほか、異なる無機系材料によって形成した２つの薄膜を重ね合わせ、レーザ光で２つの薄膜を加熱溶融し、両者を混ぜあわせて合金化させることによって、記録マークを形成する方式が知られている。また、有機色素系材料で記録膜を構成する方法も知られている。この方法によれば、レーザ光の照射による昇温によって有機色素を熱分解し、記録膜の熱分解した部分の屈折率を低下させる。これにより、レーザ光が照射せず、有機色素が分解していない部分と比べると、照射部分は、レーザ光に対する行路長が短くなったように見える。したがって、入射光にとって照射部分および未照射部分が再生専用ＣＤ等の凹凸のピットのように、機能し、情報の記録再生を行うことができる。このような追記型光学的情報記録媒体にマークエッジ記録する場合、マルチパルスと呼ばれる複数のパルス列で構成されたレーザ光を照射し、記録膜のレーザ光が照射した部分において物理状態に変化を生じさせることにより、記録マークを記録層の記録膜に形成する。再生時には、反射率変化による反射光の強度変化として情報を読み出す。

一般に記録密度を高めるために、記録するマークおよびスペースの長さを短くする場合、特に記録マークの直前のスペース長が短くなると、記録したマークの終端の熱がスペース部分を伝導して次のマーク始端の温度上昇に影響を与えたり、逆に記録したマーク始端の熱が前のマークの終端の冷却過程に影響を与えたりする熱干渉が生じる。また、トラック上に正確な長さのマークおよびスペースが形成されていても、光スポットのサイズで決まる再生光学系の周波数特性により、再生時に検出される短いマークおよびスペースのエッジ位置が、理想値と異なるという問題が発生する。この検出エッジ位置の理想値とのずれを一般に符号間干渉という。マークおよびスペースのサイズが光スポットに比べて小さくなると符号間干渉が顕著になり、再生時のジッタを増大することにより、再生信号のビット誤り率が増加するという課題があった。

従来のＤＶＤおよびＢＤにおいては、このような符号間干渉を抑制するために、マークを形成するためのマルチパルスの先頭パルス位置を着目するマーク長と直前のスペース長との関係で変化させる。あるいは、マークを形成するためのマルチパルスの最終パルス位置を、着目するマーク長と直後のスペース長との関係で変化させる。この記録パルス位置の制御は、一般に適応型記録補償と呼ばれており、これにより、記録マークの熱干渉を予め補正して記録する。特許文献２から４は、このような適応型記録補償の方法を開示している。

特許文献２は、マーク長およびスペース長の可能な複数の組み合わせに対し、それぞれについて記録パルスの位置情報を特定した、記録パルス標準条件が予め記録されている書き込み可能な光学的情報記録媒体から、記録パルス標準条件を読み出し、記録パルス標準条件を修正し、最適な記録パルス条件を求める方法および位置情報が所定の領域に記録された情報記録媒体を開示している。

特許文献３は、記録する各マークについて、そのマーク長とその前後のスペース長とによって分類し、各マークを記録する記録パルス列の端部から２番目のパルスエッジの位置を分類結果に応じて変化させて記録パルス信号を制御する記録方法を開示している。

近年、光学的情報記録媒体が高密度化してきたため、記録マーク長が光学的な分解能の限界に近づき、符号間干渉の増大およびＳＮＲ（Signal to Noise Ratio)の劣化がより顕著となってきている。このため、光学的情報記録媒体から得られる再生信号の波形から、最も確からしい信号系列を、最尤復号法の１つである、ＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood）と呼ばれる信号処理によって決定する方法が提案されている。例えば、非特許文献１は、４０５ｎｍの波長のレーザ光および０．８５のＮＡ（Numerical Aperture)の対物レンズを用いた光学系において、直径１２ｃｍのＢＤに１面当たりに２５ＧＢ（Giga Byte)の容量で情報を記録し、記録された情報を正しく再生するために、ＰＲ（１，２，２，１）ＭＬ方式を採用すれば、システムマージンを確保することができると開示している。また、同じ光学系を用い、１面当たり３０ＧＢあるいは３３．４ＧＢの容量で情報を記録するためには、マーク長を短くして線密度を高密度化する必要があること、および、この場合、再生信号の処理には、ＰＲ（１，２，２，２，１）ＭＬ方式を採用する必要があると開示している。

特許文献４は、再生信号のジッタではなく、ＰＲＭＬ方式を用いて、情報の記録時における記録パラメータを最適化する記録制御方法を開示している。この方法によれれば、再生信号波形からＰＲＭＬ方式によって、信号波形を推定し、ステイした信号波形によるエラーの発生確率が最小となるように、記録パラメータを最適化する。

また、特許文献５は、光学的情報記録媒体の好適な記録あるいは再生のための制御情報（例えばライトストラテジタイプ情報）を光学的情報記録媒体の所定の領域内の情報ユニットに格納すること、および、情報ユニット毎に異なるライトストラテジのタイプ情報をあらかじめ記録することを開示している。

特開２００４−３６２７４８号公報 特開２０００−２３１７１９号公報 国際公開第２００５／０６６９４０号公報 特開２００８−１５９２３１号公報 特開２００６−３１３６２１号公報

図解 ブルーレイディスク読本 オーム社

しかし、上述の従来技術では、レーザ光の光スポットサイズと記録マーク長との関係で決まる光学的分解を超える高密度記録を行う場合、記録マークを十分な精度で形成し、あるいは、記録された情報を正しく再生することができず、結果として十分な記録面密度と信頼性を実現することができなかった。本発明は、このような従来技術の課題を解決し、高密度記録が可能なライトストラテジおよび記録補償に関連する制御情報の構成方法および制御情報を記録した光学的情報記録媒体、このような制御情報が記録された光学的情報記録媒体の製造方法、情報記録方法、情報再生方法、および記録再生装置を提供することを目的とする。

本発明の光学的情報記録媒体は、少なくとも１つの情報記録層を有する光学的情報記録媒体であって、前記光学的情報記録媒体は、前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、前記制御情報は、ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータとを含み、前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持つ。

本発明の情報記録装置は、光学的情報記録媒体に情報を記録する情報記録装置であって、前記光学的情報記録媒体は、少なくとも１つの情報記録層を有し、前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、前記制御情報は、ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータとを含み、前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、前記情報記録装置は、前記制御情報に基づいて前記記録パルス列を生成し、前記記録パルス列の波形を有するレーザ光を前記光学的情報記録媒体に照射して前記記録マークを形成する。

本発明の情報再生装置は、光学的情報記録媒体から情報を再生する情報再生装置であって、前記光学的情報記録媒体は、少なくとも１つの情報記録層を有し、前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、前記制御情報は、ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータとを含み、前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、前記情報再生装置は、前記管理領域に格納された前記ユニットから前記制御情報を読み出す。

ある好ましい実施形態において、前記記録補償タイプは、前記記録マークのマーク長と、前記記録マークの直前の第１のスペースのスペース長と、前記記録マークの直後の第２のスペースのスペース長のうち、前記記録マークのマーク長と前記第１のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う前スペース補償、もしくは、前記記録マークのマーク長と前記第２のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う後ろスペース補償のいずれか一方のみを行う場合を示す第１のタイプと、前記前スペース補償と前記後ろスペース補償のいずれも行う場合を示す第２のタイプとを含む。

ある好ましい実施形態において、前記フォーマット番号は、複数のビットで表され、前記複数のビットのうちの１つのビットの値が、前記記録補償タイプが前記第１のタイプであるか前記第２のタイプであるかを示す。

ある好ましい実施形態において、前記ライトストラテジパラメータは、所定のマーク長の記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量の基準値を含み、前記所定のマーク長の記録マークに対して、前記所定のマーク長と前記所定のマーク長の記録マークの前後のスペース長との組み合わせにより記録補償を行なう場合の、前記エッジ位置または前記パルス幅の変化量の値は、前記基準値に対する差分情報として、前記ライトストラテジパラメータに含まれる。

ある好ましい実施形態において、前記ライトストラテジタイプは、Ｎ−１型、Ｎ／２型、キャッスル型の少なくとも３つのライトストラテジタイプを含む。

ある好ましい実施形態において、前記光学的情報記録媒体は、少なくとも１つの記録速度で書き込み可能であり、前記管理領域には、前記少なくとも１つの記録速度と前記少なくとも１つの情報記録層との組み合わせのうち、少なくとも１つの組み合わせに対応する前記制御情報を含む前記ユニットが格納される。

ある好ましい実施形態において、前記ユニットは、前記ユニットに含まれる前記制御情報が、前記少なくとも１つの情報記録層のうち、どの情報記録層に適用されるかを示すレイヤー情報と、前記ユニットに含まれる前記制御情報が、前記少なくとも１つの記録速度のうち、どの記録速度に適用されるかを示す記録速度情報とを含む。

本発明の情報記録方法は、光学的情報記録媒体に情報を記録するための情報記録方法であって、前記光学的情報記録媒体は、少なくとも１つの情報記録層を有し、前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、前記制御情報は、ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータとを含み、前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、前記情報記録方法は、前記制御情報に基づいて前記記録パルス列を生成し、前記記録パルス列の波形を有するレーザ光を前記光学的情報記録媒体に照射して前記記録マークを形成するステップを含む。

本発明の情報再生方法は、光学的情報記録媒体から情報を再生する情報再生方法であって、前記光学的情報記録媒体は、少なくとも１つの情報記録層を有し、前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、前記制御情報は、ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータとを含み、前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、前記情報再生方法は、前記管理領域に格納された前記ユニットから前記制御情報を読み出すステップを含む。

本発明の製造方法は、少なくとも１つの情報記録層を有する光学的情報記録媒体を製造するための製造方法であって、前記製造方法は、前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を形成するステップを含み、前記制御情報は、ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータとを含み、前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持つ。

ある好ましい実施形態において、製造方法は、さらに、前記制御情報に関連する情報を前記管理領域に形成するステップを含む。

本発明によれば、光学的情報記録媒体は、ライトストラテジタイプと記録補償タイプを示す情報を含むフォーマット番号を含む制御情報が格納された管理領域を含む。このフォーマット番号は、ライトストラテジタイプと記録補償タイプとの組み合わせに応じた異なる値を持っている。したがって、フォーマット番号を読み込むだけで、その光学的情報記録媒体の記録に用いるライトストラテジタイプおよび記録補償タイプが特定され、また、書き込み条件の学習時にテスト記録するべきパターンの数を少なくすることができる。

よって、記録密度が高いため、記録補償に多くのパラメータを設定する必要がある記録補償方法を採用する光学的情報記録媒体であっても、記録時に、最適な書き込み条件の学習を精度よく、迅速に行うことができる。

具体的には、本発明で用いる適応型記録補償では、各マークについて、記録パルス列を発生させる着目したマークのマーク長と、その直前および直後のスペースのスペース長との組み合わせに基づき、記録補償テーブルを分類しておく。本発明による光学的情報記録媒体に記録を行う場合、ライトストラテジタイプ情報と、記録パルス列のパルスエッジの位置とをこの分類結果に応じて変化させて記録パルス信号を制御する。本発明の光学的情報記録媒体は、所定の情報記録層および記録速度の特性に応じたライトストラテジタイプと記録補償タイプを示す情報を含む情報であるフォーマット番号を所定の領域に記録している。このため、光学的情報記録媒体への記録時に最適な書き込み条件の学習を精度よく、迅速に行うことができる。

より具体的には、レーザ波長４０５ｎｍ、対物レンズのＮＡ０．８５の光学系を使って、直径１２ｃｍのブルーレイディスク（ＢＤ）１面当たり３０ＧＢや３３．４ＧＢのような最短マーク長が概略０．１２４μｍ〜０．１１１μｍの高線密度記録する場合には、最短マーク長と光スポット径で決まるＯＴＦ（Optical Transfer Function)の限界を超える線密度となる高密度記録時に問題となる光学的符号間干渉あるいは熱干渉を考慮して、マークの始端位置や後端位置をより厳密に制御できる。これにより記録／再生動作の高信頼化が図られ、高密度大容量の記録媒体が実現できるのと同時に情報記録装置および記録媒体の小型化が実現できる。

特に、追記型光学的情報記録媒体の場合、ＯＰＣ領域のクラスタ数に限りがあるため、不要なテスト記録を何度も行うとＯＰＣ領域を浪費してしまい、ＯＰＣ領域を使い切ってしまう可能性が高くなる。即ち、本発明のライトストラテジタイプと記録補償タイプを示す情報を含む情報であるフォーマット番号、あるいは記録補償フラグをあらかじめＤＩユニットに記録しておくことで、精度よく効率的な記録補償を光ディスク装置で実現することが可能となり、限られたクラスタ数のＯＰＣ領域を使い果たし、書き込みができなくなるという記録機会の逸失を低減する効果がある。

また、最短マーク長の次に長いマーク長（３Ｔ）の記録パルス列がモノパルス形状の場合に、モノパルス形状の記録パルス列のピークパワーで変調されているパルスの始端部と終端部について、それぞれの端部が前スペース長あるいは後ろスペース長のどちらに対する記録補償を行うかを示す記録補償タイプ情報を光ディスク媒体の所定の領域にあらかじめ記録しておくことによって、光ディスク媒体のトラック上に形成するマークの始端位置または後端位置を精密に制御することができる。

光学系におけるＯＴＦと空間周波数との関係を示す図である。 （ａ）および（ｂ）は、それぞれ光学的情報記録媒体における光スポット径と記録マークの物理サイズとの関係を示す模式図である。 本発明による光学的情報記録媒体の実施形態における平面上の領域の構成を示す図である。 本発明による光学的情報記録媒体の実施形態の構造を示す模式図である。 本発明による光学的情報記録媒体の実施形態における各層のトラックレイアウトを断面的に示す図である。 本発明による光学的情報記録媒体の実施形態の各情報記録層内の物理フォーマットの一例を示す図である。 （ａ）は、本発明による光学的情報記録媒体の実施形態におけるディスクインフォメーション（ＤＩ）ユニットの構成を示す図であり、（ｂ）は、ＤＩフォーマット番号の構成を示す図である。 本発明による光学的情報記録媒体の実施形態におけるＮ−１型ライトストラテジの記録補償の分類を示す図である。 本発明による光学的情報記録媒体の実施形態におけるＤＩフォーマット番号に割り当てるビットの内容を示す図である。 （ａ）および（ｂ）は、本発明による光学的情報記録媒体の実施形態における別のＤＩフォーマット番号の構成を示す図である。 （ａ）から（ｆ）は、本発明による光学的情報記録媒体の実施形態におけるＮ−１型のライトストラテジのマーク長と記録パルス列の波形との関係を示すタイミングチャートである。 図１１に示すライトストラテジパラメータの記録補償タイプに対する取り得る値の組み合わせを示す図である。 （ａ）から（ｇ）は、本発明による光学的情報記録媒体の実施形態におけるキャッスル型のライトストラテジのマーク長と記録パルス列の波形との関係を示すタイミングチャートである。 本発明による光学的情報記録媒体の実施形態におけるキャッスル型ライトストラテジの記録補償の分類方法を示す図である。 図１３に示すライトストラテジパラメータの記録補償タイプに対する取り得る値の組み合わせを示す図である。 （ａ）から（ｆ）は、本発明による光学的情報記録媒体の実施形態におけるＮ／２型のライトストラテジのマーク長と記録パルス列の波形との関係を示すタイミングチャートである。 （ａ）および（ｂ）は、図１６に示すライトストラテジパラメータの記録補償タイプに対するとりうる値の組み合わせを示す図である。 本発明による光学的情報記録媒体の実施形態におけるＮ／２型ライトストラテジの記録補償の分類を示す図である。 本発明による情報記録再生装置の実施形態の構成を示すブロック図である。 （ａ）から（ｆ）は、本発明による記録方法を説明するタイミングチャートである。 本発明による記録方法を示すフローチャートである。 （ａ）から（ｄ）は、本発明による記録方法で用いる記録パルス列の制御の例を示す図である。 本発明による製造装置の実施形態を示す図である。

本発明は、高密度記録時に課題となる光学的符号間干渉あるいは熱干渉を低減するために、着目するマークを形成する際に照射する記録パルス列の端部を前または／および後ろスペース長に応じて、もしくは、前または／および後ろスペース長と前または／および後ろマーク長に応じて適応補償することによって、高品位な記録マークを形成し、光ディスクのシステムマージンを向上させる記録再生方法および情報記録再生装置を提供する。また、そのような記録再生方法に好適なライトストラテジおよび記録補償関連の制御情報を記録した光学的情報記録媒体を提供する。

特許文献２、特許文献３および特許文献４に開示された従来の記録補償の決定方法では、記録するマークのマーク長と前後ろスペース長の組み合わせに対する位置情報に対して、記録パルス列の前エッジは、記録するマーク長と前スペース長の組み合わせに応じて制御し、記録パルス列の後ろエッジは、記録するマーク長と後ろスペース長の組み合わせに応じて制御する。このような記録補償の方式では、光スポット径に比べて十分小さなマークあるいはピットを記録あるいは再生する際、十分に記録されたマークのエッジ位置を調整することができず、符合間干渉を増大するという課題があった。マークサイズと光スポットのサイズから決まる光学的分解能を超えるマーク長の場合、着目しているマークの記録位置を決める際に、前後のスペース長に応じて、もしくは、前後のスペース長および前後のマーク長に応じて記録補償を行う必要があることをこれらの文献は開示していない。

また、特許文献５に開示されているディスク制御情報を記録する光学的情報記録媒体は、Ｎ−１あるいはＮ／２などの書き込み方式タイプを制御情報として制御情報のデータ構造を有する。しかし、マークサイズと光スポットのサイズから決まる光学的分解能を超えるマーク長の場合、着目しているマークの記録位置を決める際、前後のスペース長に応じて、もしくは、前後のスペース長および前後のマーク長に応じて記録補償を行うために必要な制御情報を記録する必要があることを開示していない。

さらに、特許文献１から５によれば、ライトストラテジのタイプを示す情報と、マークを記録する際の記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の情報を示すライトストラテジの全パラメータを読まなければ、記録マーク長と前後のスペース長、または、前後のマーク長の組み合わせによって分類される記録補償タイプを判別することができない。つまり、ディスクに記録されている制御情報のうち、ライトストラテジパラメータを読み出した後に、ライトストラテジの値をチェックした後に、スペース長に応じた適応記録補償を行うかそうでないかの判断を行う。このため読み出し時間と演算に時間がかかるだけでなく、複数の記録補償タイプが混在している場合に、どの記録補償が最も有効あるいは優先順位の高い記録補償かどうかを示す情報はディスクに記録されていない。

さらに従来の記録補償方式では、記録パルス列の端部が３つある場合（モノパルスに冷却パルスが付いた記録パルス列）、記録パルス列の始端から１番目のパルスエッジを前のスペース長に応じて調整し、終端部から１番目のパルスエッジを後のスペース長に応じて調整することは開示されている。しかし、始端から２番目あるいは終端から２番目のパルスエッジを前あるいは後ろのいずれか一方のスペース長に応じて調整することしか開示されていない。

以下、本発明による光学的情報記録媒体、情報記録装置、情報再生装置、情報記録方法、情報再生方法、および、光学的情報記録媒体の製造方法の実施形態を説明する。以下の実施形態では光学的情報記録媒体として追記型の相変化型光学的情報記録媒体（特にＢＤ−Ｒ）を例にとって説明するが、光学的情報記録媒体は追記型および相変化型に限定されない。本発明は、追記型および書き換え型の光学的情報記録媒体、つまり、光学的情報記録媒体に光学的エネルギーを注入し、未記録部分とは物理的性質の異なるマークあるいは記録ピットを形成することによって、情報を記録する光学的情報記録媒体に広く適用可能である。

本実施形態で用いる主な光学条件は以下の通りである。記録および再生に用いるレーザ光の波長は、４００ｎｍ〜４１０ｎｍであり、例えば４０５ｎｍである。対物レンズのＮＡは０．８４〜０．８６であり、例えば０．８５である。光学的情報記録媒体のトラックピッチは、０．３２μｍであり、レーザ光が入射する側のカバー層の厚さは、５０μｍ〜１１０μｍである。トラックに形成する記録マークの最短マークおよび最短スペース（２Ｔ）の長さは０．１１１μｍ〜０．１２４μｍであり、例えば、約０．１１１μｍである。記録すべきデータは、１７ＰＰ変調によって変調される場合を例として説明する。

なお、最短マークおよび最短スペースの長さは、厳密には、例えば、ＢＤの最短マーク長である０．１４９０μｍに対して３／４となる長さである０．１１１７５μｍと決定することができる。しかし、本実施形態では、上述したように最短マークおよび最短スペース（２Ｔ）の長さを０．１１１μｍとして説明する。但し、本発明はこの数値に限定されるものではない。

最短マーク長が０．１１１μｍとなる線密度で記録を行う場合、直径１２ｃｍの光学的情報記録媒体の１つの情報記録層当たりの記録容量は約３３．４ＧＢとなる。３つの情報記録層を積層した場合、記録容量は約１００ＧＢであり、４つ情報記録層を積層した場合、記録容量は約１３４ＧＢになる。また、最短マーク長が０．１１６μｍとなる線密度で記録を行う場合、直径１２ｃｍの光学的情報記録媒体の１つの情報記録層当たりの記録容量は約３２ＧＢとなる。３つの情報記録層を積層した場合、記録容量は約９６ＧＢであり、４つ情報記録層を積層した場合、記録容量は約１２８ＧＢになる。同様に、最短マーク長が０．１２４μｍとなる線密度で記録を行う場合、直径１２ｃｍの光学的情報記録媒体の１つの情報記録層当たりの記録容量は約３０ＧＢとなる。３つの情報記録層を積層した場合、記録容量は約９０ＧＢであり、４つ情報記録層を積層した場合、記録容量は約１２０ＧＢになる。

以下の実施形態では、特に３層以上の情報記録層を備えた多層光学的情報記録媒体において、記録時の速度が、ＢＤの標準記録速度の２倍速に相当するチャネルレート１３２ＭＨｚ（Ｔｗ＝７．５８ｎｓ）である場合を例に説明する。しかし、光学的情報記録媒体は少なくとも１つの情報記録層を備えていればよく、また、４つ以上の情報記録層を備えていてもよい。

上述したように、本実施形態の光学的情報記録媒体に情報を記録する情報記録装置または光学的情報記録媒体から情報を再生する情報再生装置は、４０５ｎｍの波長の光を出射する半導体レーザおよび０．８５のＮＡを有する対物レンズを含む光ピックアップを備えている。再生時のレーザパワーは約１．４ｍＷに設定されている。また、光学的情報記録媒体は、３つの情報記録層が積層された構造を備えている。

ガウシアンビームのピーク強度が１／ｅ²となる範囲の直径を実効スポット径とする場合、レーザ光の実効スポット径は０．８２×（λ／ＮＡ）で表され、上述した情報再生装置あるいは情報記録装置におけるレーザ光の実効スポット径は約０．３９μｍとなる。このような光学系では、約０．１１１μｍの長さの最短記録マークは、上述したサイズのレーザスポットによって、マークを識別することのできる限界である光学的分解能の限界を超えている。光ビームで記録マークを再生した際の再生信号の振幅は記録マークの長さが短くなるにしたがって低下し、光学的な分解能の限界で０になる。この記録マークの長さの逆数が空間周波数であり、空間周波数と信号振幅との関係をＯＴＦ（Optical Transfer function)という。信号振幅は、空間周波数が高くなるにしたがって直線的に低下し、ゼロとなる限界をＯＴＦカットオフ周波数という。上述の光学系におけるＯＴＦと空間周波数との関係を図１に示す。上述の光学系の場合、ＯＴＦのカットオフ周波数は、波長λおよび対物レンズのＮＡから求まり、λ／ＮＡ×０．５となる。つまり、λ＝４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．８５の場合、カットオフ周期は、０．２３７μｍとなり、最短マーク長はその半分の０．１１８５μmとなる。したがって、最短マーク長が０．１１１μｍや、０．１１６μｍである場合、光学的に再生可能な記録マークのカットオフ周波数に比べ高い空間周波数の記録マークを扱うことになるため、再生および記録が非常に困難になる。

また、ＯＴＦのカットオフ周波数の限界は、光ピックアップ等の製造誤差等による特性のばらつき、記録マークの歪、マーク形状などに影響される。本実施形態の具体的数値（λ＝４０５ｎｍ、ＮＡ＝０．８５）のほかに、スポットサイズが最も大きくなる条件として、例えば、λ＝４１０ｎｍ、ＮＡ＝０．８４であり、前述のばらつき等による誤差が５％あると仮定した場合、ＯＴＦのカットオフ周期の１／２は、λ／ＮＡ×０．２６＝０．１２８μｍとなる。したがって、最短マーク長が概略０．１２８μｍ以下となるマークを記録あるいは再生する場合には、光学的な符号間干渉を無視できない。

図２（ａ）および（ｂ）は、光ビームの実効スポット径と記録マークの物理サイズの関係を模式的に示している。図２（ａ）および（ｂ）において、情報記録層上にそれぞれ長さの異なる記録マーク１３０２、１３０３、１３０４、１３０５、１３０６、１３０７が形成されており、これらの記録マークと０．３９μｍのガウシアンビーム形状を有する光スポット１３０１とのサイズを比較して示している。図２（ａ）および（ｂ）は、それぞれ、最短マーク長および最短スペース長（２Ｔ）が約０．１１１μｍである場合および約０．１４９μｍである場合において、上から順に２Ｔマーク／２Ｔスペース／２Ｔマーク、３Ｔマーク／２Ｔスペース／２Ｔマーク、４Ｔマーク／２Ｔスペース／２Ｔマークの組み合わせで記録マークが配列された様子を示している。最短マーク長および最短スペース長（２Ｔ）が約０．１１１μｍである場合および約０．１４９μｍである場合、直径１２ｃｍのＢＤでは、３３．４ＧＢおよび２５ＧＢの記録容量が得られる。

図２（ａ）に示すように、最短マーク長および最短スペース長（２Ｔ）が約０．１１１μｍである場合、光ビームの実効スポット径は、約７Ｔ分に相当する。このため、２Ｔマークと２Ｔスペースが隣接する場合、２Ｔマークを再生する光ビームの左側は、２Ｔスペースに隣接する２Ｔマーク、３Ｔマークあるいは４Ｔマークにかかる。このため再生信号は、直前のスペースに加え、直前のマークの影響も受け、光学的な符号間干渉が生じる。これに対し、最短マーク長および最短スペース長（２Ｔ）が約０．１４９μｍである場合、直前のマーク（２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマーク）は光ビームの実効スポット径の外側にあるため、前のマークの影響を受けることはない。したがって、再生時に前後のスペース長に応じた光学的な符号間干渉が生じるのみである。また、２Ｔマーク再生時、直後のスペースが２Ｔスペースのときにも同様の現象が生じる。

これらのことから、記録マークの線密度が光ビームのスポット径と最短マーク長との関係できまる一定値以上を超える場合、記録パルスのパルスエッジをマーク長およびスペース長別に応じて適応補償する従来の適応型記録補償に対して、着目したマークの前後のスペース長のみならず、さらに前後のマーク長に応じて記録補償を行う拡張型の適応型記録補償を行うことによる、高密度記録時に問題となる熱干渉だけでなく、光学的な符号間干渉をも補償することが可能となる。

（第１の実施形態）
以下、本発明による光学的情報記録媒体の実施形態を説明する。図３は、本実施形態による光学的情報記録媒体の情報記録層の平面構造を示している。光学的情報記録媒体は、内周側からインナーゾーン１００４、データ領域１００１、アウターゾーン１００５を備えている。インナーゾーン１００４内には、ＰＩＣ（Permanent Information & Control data)領域１００３、ＯＰＣおよびＤＭＡ領域（ＯＰＣ／ＤＭＡ領域と表わす）１００２を含む。

ＯＰＣ領域は、データ領域１００１に情報（データ）を記録する前に、テスト記録を行って、光学的情報記録媒体あるいは各情報記録層に最適な記録パワーや記録パルス列の条件を求めるために用いられる領域である。ＯＰＣ領域は、学習領域、テスト記録領域、パワーキャリブレーションエリアと呼ばれることもある。また、ＯＰＣ領域は、光ディスク装置の個々の特性のばらつきや、急激な温度変動、ゴミや埃などの付着等の環境変化が生じた際に、記録パワーや記録パルス列の変動分などを補正するために、テスト記録を行う領域でもある。

ＰＩＣ領域１００３は、再生専用領域であって、案内溝をトラッキング方向に高速に変調することによって、書き込みに必要な制御情報を含むディスク管理情報を記録している。ディスク管理情報は、最適記録パワーを求めるのに必要なＯＰＣパラメータや、記録パルス列のタイプであるライトストラテジタイプ、レーザパルスの発生のタイミングおよび長さ等（記録パルス条件、ライトストラテジパラメータ）の推奨値、再生パワーそれらの情報を適用する情報記録層、記録線速度および、ディスクのバージョン番号、製造者番号などメディアタイプＩＤなどを含む。

図３には図示しないが、ＰＩＣ領域のさらに内周側にはＢＣＡ（Burst Cutting Area)と呼ばれる領域が設けられている。ＢＣＡには、記録マークを同心円状に並べるように形成したバー形状のマークによって構成されるバーコードに類似した形状でデータが記録される。このデータには、メディア識別用の固有の番号が含まれ、著作権保護などに利用される。

データ領域１００１は、光ディスクにユーザーが指定する情報を記録する領域でユーザーデータ領域とも呼ばれる。

アウターゾーンは、再生専用のＰＩＣ領域を含んでおらず、テスト記録のための領域や記録データの管理情報に関するＯＰＣ／ＤＭＡ領域を含んでいる。

図４に本実施形態の光学的情報記録媒媒体の構造の一例を模式的に示す斜視図である。以降、本願明細書において、情報記録層の層番号と略称とを一致させるため、層番号を「０」から開始する。本実施形態の光学的情報記録媒体は、基板８０４と、第０の情報記録層８０１と、第１の情報記録層８０２と、第２の情報記録層８０３と、カバー層８０７とを含む。第０の情報記録層８０１、第１の情報記録層８０２および第２の情報記録層８０３は、Ｌａｙｅｒ０、Ｌａｙｅｒ１およびＬａｙｅｒ２、あるいは、単にＬ０、Ｌ１およびＬ２とも呼ばれる。

Ｌ０、Ｌ１およびＬ２のうちＬ０が最も基板８０４側に位置しており、Ｌ２がカバー層８０７側に位置している。カバー層８０７側から記録・再生に用いるレーザ光が入射する。

基板８０４の厚さは、例えば、約１．１ｍｍであり、カバー層８０７の厚さは少なくとも５３μｍ以上である。各情報記録層は、透明なスペース層８０５、８０６で隔てられている。本実施形態においては、例えば、カバー層８０７の厚さは５７μｍであり、Ｌ２−Ｌ１間のスペース層８０６の厚みさ１８μｍであり、Ｌ１−Ｌ０間のスペース層８０５の厚みさ２５μｍである。スペース層８０５、８０６で隔てられた各情報記録層の間隔は、各情報記録層からの回折光の干渉（層間干渉）が少なくなるよう設計されることが好ましい。上述のスペース層の厚さは一例であって、これらの値に限られるわけではない。

図５に本実施形の光学的情報記録媒体における各情報記録層のトラックレイアウトを示す。図５は各情報記録層の重なりも概ね正しく示しており、光学的情報記録媒体の断面におけるトラックレイアウトも示している。第０の情報記録層（Ｌ０）は、上述したＢＣＡ領域を含み、媒体固有のユニークＩＤが記録されている。第１および第２の情報記録層（Ｌ１からＬ２）にはＢＣＡに相当するエリアは設けられているが、ユニークＩＤは記録されていない。第１および第２の情報記録層（Ｌ１、Ｌ２）にユニークＩＤ等のＢＣＡ情報を新たに記録しても、信頼性のある記録ができない可能性があるからである。また、逆にいえば、Ｌ０以外にはＢＣＡ情報の記録を行わないことにより、Ｌ０のＢＣＡ情報の信頼性を高めることができる。

次のエリアがＰＩＣ領域である。上述したように、ＰＩＣ領域は、書き換え不可能な再生専用の領域であり、ディスク製造時にディスク製造者によって、ディスク管理情報がＰＩＣ領域にあらかじめ記録されている。つまりＢＣＡとＰＩＣ領域が再生専用の領域となる。ＰＩＣ領域には、ＤＩ（Disc Information）と呼ばれるディスク管理情報が記録されている。ＤＩは、バージョン番号、レイヤー番号、最大記録速度、追記型・書き換え型などディスクタイプ、各情報記録層の推奨記録パワー、ＯＰＣに必要とされる各種パラメータ、記録パルス条件、ライトストラテジ、コピープロテクションに用いる情報等を含む。

情報記録装置あるいは情報再生装置の光スポット形状にばらつきがある場合、個々の装置により最適な記録マークを形成する記録条件が異なる。管理領域に記録されている書き込み関連の制御情報は、媒体製造時における代表的な結果がＤＩとして記録されている。情報記録装置あるいは情報再生装置は、この制御情報を読み取って、記録関連のパラメータの最適化を行うための初期値として利用する。

本実施形の光学的情報記録媒体では、媒体製造時にディスク管理情報などがあらかじめ記録されている再生専用のＰＩＣ領域は、第０の情報記録層（Ｌ０）にのみ配置されている。こうすることで、情報記録装置あるいは情報再生装置は、Ｌ０〜Ｌ２までの全ての情報記録層のディスク管理情報を一括して読み出すことができ、起動時間を短縮できる。

次のエリアには、情報記録装置が記録パワーや記録パルス条件等のテスト記録を行うＯＰＣ領域およびディスクマネジメントエリア（Disc Management Area、ＤＭＡ）が設けられている。

上述したように、ＯＰＣ領域は、情報記録装置に光学的情報記録媒体が挿入された起動時や、動作中にある一定以上の温度変化が生じた際に、記録パワーや記録パルス条件の変動分をキャリブレーションするために、テスト記録を行うテスト記録領域である。

ＤＭＡはディスク管理情報やディフェクト情報を管理するための領域である。

データ領域は、実際にユーザーが希望するデータを書き込む領域である。例えば、半径２４．０ｍｍ〜５８．０ｍｍの位置に配置される。データ領域には、ＰＣユース等において、ディフェクト等により記録再生できない部分が存在した場合、記録再生できない部分（セクタ、クラスタ）を交替する交替エリアが設定される場合がある。ユーザーデータを記録再生するデータエリアの内周側に設けられる交替エリアをＩＳＡ（Inner Spare Area)、と呼び、ユーザーデータを記録再生するデータエリアの外周側に設けられる交替エリアをＯＳＡ（Outer Spare Area）と呼ぶ。ビデオ記録再生等の高転送レートが必要なリアルタイム記録では、交替エリアを設定しない場合もある。

半径５８．０ｍｍより外周部はアウターゾーンとされる。アウターゾーンは、インナーゾーンと同様のＯＰＣ領域とディスクマネジメントエリア（ＤＭＡ)を含む。また、シークの際、オーバーランしてもよいように、バッファエリアを含む。

図６は、本実施形態による光学的情報記録媒体における各情報記録層の物理フォーマットの一例を示している。図５と同様、図６は各情報記録層の構造の重なりも概ね正しく示している。図６に示すように、Ｌ０、Ｌ１およびＬ２にはそれぞれ、２つのテスト記録領域（ＯＰＣａ領域、ＯＰＣｂ領域）が設けられている。ただし、ＯＰＣａ領域、ＯＰＣｂ領域の半径方向における位置は、Ｌ０とＬ１、Ｌ２とで異なる。Ｌ１およびＬ２のＯＰＣａ領域の一部は、Ｌ０のＰＩＣ領域と重ねて配置されている。ここで「重なる」とは、２つ以上の情報記録層において半径方向の位置が等しいことを言う。また、Ｌ１およびＬ２のＯＰＣａ領域およびＯＰＣｂはそれぞれ概ね重ねて配置されている。Ｌ１およびＬ２のＯＰＣａ領域は過大な記録パワーで書き込みがなされることがあるため、過大な記録パワーによる熱によって隣接する領域に記録された情報が破壊されないよう、Ｌ１およびＬ２のＯＰＣａ領域には相当な大きさのバッファ領域が隣接して設けられている。これらのバッファ領域はＬ０のＰＩＣ領域と重なっている。

Ｌ０のＰＩＣ領域を再生する際、光ビームがＬ１およびＬ２のＯＰＣａ領域を通過することにより散乱や回折を受ける。しかし、バッファ領域と重なって配置されたＰＩＣ領域の部分は、再生信号品質の低下を抑えてＰＩＣ領域に記録された情報を再生することができる。ＰＩＣ領域には各情報記録層のディスク管理データがブロック単位で記録されており、単位ブロックをＰＩＣ領域内で複数回繰り返し記録している。したがって、ＰＩＣ領域の全ての領域のディスク管理データが読めなくても、Ｌ１およびＬ２のバッファ領域と重なった部分に記録されているＰＩＣ領域のディスク管理データが問題なく読み取れればよい。このように、Ｌ１およびＬ２のＯＰＣ領域とかさなるようにＰＩＣ領域を配置し、Ｌ１およびＬ２のＯＰＣ領域に隣接して十分大きさのバッファ領域を配置することにより、リードインゾーンのスペースを効率的に使い十分なＯＰＣ領域を確保することが可能である。

また、ＰＩＣ領域のトラックピッチ（０．３５μｍ）は、データエリアのトラックピッチ（０．３２μｍ）に比べて広い。このため、ＰＩＣ領域の手前に配置されたＬ１およびＬ２のＯＰＣａ領域において、過大な記録パワーでテスト記録がなされても、ＰＩＣ領域に記録されているディスク管理情報の読み出しは、追記されている情報あるいは書き換え可能な情報の読み出しよりに比べて、信頼性が高い。したがって、Ｌ０のＰＩＣ領域とＬ１およびＬ２のＯＰＣａ領域とを重ねるように配置させても、ＰＩＣ領域に記録されているディスク管理情報の読み出し時の信頼性を大きく損なうことがない。ＰＩＣ領域とＯＰＣａ領域を重ねて配置することによって、リードインゾーンのスペースを効率的に使え、十分なＯＰＣ領域を確保することが可能である。

以下にＰＩＣ領域内に制御情報として記録されているディスクインフォメーション（ＤＩ）について詳しく説明する。本実施形態の光学的情報記録媒体の制御情報を構成する「一つのクラスタ」は、最小記録単位を表し、５４４クラスタが集まって一つの上位記録単位としての１つのフラグメントを構成している。さらに７個のフラグメントが集まってＰＩＣ領域を形成している。ＤＩは、最初のフラグメントＩＦ０の先頭クラスタに記録される。ＤＩは、適用する記録速度ごと（２倍速、４倍速（２×、４×）など）および情報記録層ごとに複数ＤＩユニットに分かれて記録さている。ＤＩユニットは、フラグメントの残りの各先頭クラスタに繰り返して記録され、これによってディスク情報の損失に対応することができる。

１つのＤＩユニットは、そのＤＩユニットの制御情報を適用する情報記録層（Ｌ０、Ｌ１、Ｌ２用など）、記録速度（２×、４×等）を表す情報と、それらの情報記録層と記録速度に対応するライトストラテジタイプ情報（Ｎ−１型、Ｎ／２型、ＣａｓｔｌｅＡ型、ＣａｓｔｌｅＢ型、Ｌ型、Ｍｏｎｏ型等）、および記録補償タイプ情報（前スペース補償、後ろスペース補償、前マーク補償、後ろマーク補償の有無）が決められた所定のバイトに記録される。したがって、ＰＩＣ領域は、少なくとも各情報記録層と書き込み可能な記録速度の組み合わせの数に一致した数のＤＩユニットを含む。すなわち、管理領域であるＰＩＣ領域には、少なくとも１つの記録速度と少なくとも１つの情報記録層との組み合わせのうち、少なくとも１つの組み合わせに対応する制御情報を含むＤＩユニットが格納されている。

これらのＤＩユニット内に格納された制御情報は、情報記録装置によって読み出され、情報記録が光学低情報記録媒体に情報の書き込みを行う際に利用される。本実施形態では、光学的情報記録媒体が複数の情報記録層を備えている場合、１つのＤ１ユニットは、（１）そのＤＩユニットの情報が適用される情報記録層の層番号情報、（２）ディスクの種別（追記型ディスクあるいは書き換え型ディスク）情報、（３）その情報記録層においてサポートされる記録速度の情報、（４）記録速度ごとの（ａ）ライトストラテジタイプおよび（ｂ）記録補償タイプを示す情報を含む情報であるフォーマット番号、および、（５）ライトストラテジパラメータを制御情報として含む。

以下、本実施形態の光学的情報記録媒体に制御情報を記録する方法、および制御情報を格納するＤＩユニットの構成について図面を参照して以下に詳細に説明する。

図７（ａ）は本実施形態の光学的情報記録媒体の所定の領域に設けられた１つのＤＩユニットの構成の一例を示している。仕様により定義された記録速度の情報、ライトストラテジタイプおよび記録補償タイプを示す情報を含む情報であるフォーマット番号が、対応するＤＩユニット内の所定のバイトに記録されている。

図７（ａ）に示すように、ＤＩユニットの先頭のバイト番号「Ａ」には、ＤＩユニットの先頭のバイトであるということを示すＤＩユニット識別子が２バイトで記録される。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｂ」には、ライトストラテジタイプと記録補償タイプを示す情報を含む情報が１バイトで記録される。バイト番号「Ｂ」には、さらに、記録補償の最小ステップ情報を表す情報が含まれていてもよい。ライトストラテジタイプと記録補償タイプ、および、記録補償の最小ステップが決まれば、後述するライトストラテジパラメータの総バイト数とＤＩユニットのフォーマットが決定されることから、このバイトはＤＩフォーマット番号と呼ぶ。ＤＩフォーマット番号「Ｂ」の詳細な構成は後述する。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｃ」には、このＤＩユニットに記録されている制御情報がどの情報記録層に適応されるかを示すレイヤー情報（Ｌａｙｅｒ情報）が記録されている。Ｌ０に適用する制御情報であれば「００ｈ」、Ｌ１に適用する制御情報であれば「０１ｈ」、Ｌ２に適用する制御情報であれば「０２ｈ」という形式で記録されている。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｄ」には、１バイトのシーケンス番号によって、ＤＩユニットシーケンス番号が記録されている。即ち、先頭から何番目のＤＩユニットであるかを示す、シーケンシャルな１バイトの番号が記録されている。例えば、「００ｈ」は、１番目のＤＩユニットであることを示し、「０１ｈ」は、２番目のＤＩユニットであることを示す。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｌ」には、１バイトで継続フラグが記録されている。この情報は、１つのＤＩユニット内に後述するライトストラテジパラメータ情報が収まりきらない場合に、続くＤＩユニットに収まらなかったライトストラテジパラメータの情報等が引き続き記録されていることを示すビットと、分割して収められているＤＩユニットの何番目のＤＩユニットであるかを示すビットの２つ種類のビットを合わせた１バイトの情報が記録されている。例えば、８ビット（ｂ７、ｂ６、・・・、ｂ０）のうち、ｂ７が（例えばｂ７＝１）続くＤＩユニットに、残りのライトストラテジパラメータセットが記録されているということを表すビットとして使われ、ｂ６からｂ０は、分割して収められているＤＩユニットの何番目のＤＩユニットであるかを示すシーケンシャルな情報を表わすビットとして使われる。このフラグを利用することで、ライトストラテジパラメータが１つのＤＩユニットに収まらなかった場合、続くＤＩユニットにも残りの情報を記録することができる。２つ以上のＤＩユニットで、対応する１つのライトストラテジパラメータセットが完成する。これによりＤＩユニットのサイズをライトストラテジパラメータの数に応じて増減することが不要となり、ＤＩユニットサイズを一定に保つことができる。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｍ」には、光ディスク装置がテスト記録を行ってライトストラテジパラメータを学習する記録補償学習時に、どのタイプの記録補償を優先的に記録補償学習するかを示す優先順位を表す情報が１バイトで記録されている。具体的には、前スペース補償、後ろスペース補償、前マーク補償、後ろマーク補償のうち、記録補償タイプの有無だけでなく、前述の記録補償タイプを光ディスク装置で学習する優先順位をつけておくフラグを決定し、バイト番号「Ｍ」に記録する。例えば、前スペース補償、後ろスペース補償、前マーク補償、後ろマーク補償の優先順位で記録補償を行うことを促す場合、前スペース補償の１バイトに「０１ｈ」、後ろスペース補償の１バイトに「０２ｈ」、前マーク補償の１バイトに「０３ｈ」、後ろマーク補償の１バイトに「０４ｈ」を割り当てるなどである。このフラグは個別のマーク長に限定してもかまわない、例えば、２Ｔマークに関する記録補償を上述の順番で行うよう指定する場合、前スペース補償に「２１ｈ」、後ろスペース補償に「２２ｈ」、前マーク補償に「２３ｈ」、後ろマーク補償に「２４ｈ」を割り当てるなどである。この場合、上位４ビットでマーク長を指定し、下位４ビットで記録補償の優先順位を記録する。また、バイト番号「Ｍ」に「００ｈ」が記録されている場合、記録補償タイプが「無効」になっている、あるいは、あるいは優先順位を決められていないとしてもよい。このようにＤＩユニットに記録補償を行う優先順位を示すバイトを割り当てておくことで、第１の優先順位の記録補償タイプで情報記録装置が記録補償学習を行い、もし記録特性が不十分であった場合に、第２の優先順位の記録補償タイプで再度記録補償学習を行うというように、記録補償学習の優先度をもたせることが可能となる。これにより、記録学習の精度向上と、情報記録装置によっては、全ての記録補償タイプの記録補償学習を行うことなく、情報記録装置が必要とされる記録補償タイプを選択でき、記録補償学習の学習効率を向上させることが可能である。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｅ」には、光ディスクの種別を表す情報が３バイトで記録されている。例えば、書き換え可能なディスクであれば「００ ００ ００ｈ」、追記可能ディスクであれば「００ ００ ０１ｈ」等の形式で記録されている。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｆ」には、このディスクがどのバージョンの規格に対応しているかを示すバージョン番号情報が記録されている。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｇ」には、このＤＩユニットに記録されている制御情報がどの記録速度に適用されるかを示す記録速度情報が記録されている。具体的には、バイト番号「Ｇ」は次のように定義される。バイト番号「Ｇ」の情報が「０２ｈ」である場合、２倍速の記録条件が規定されたＤＩユニットであることを意味する。「０４ｈ」は４倍速の記録条件が規定されたＤＩユニットであることを意味する。あるいは基準速度（１Ｘ）に対する速度比率でなく、光ディスクの線速度あるいは回転数の値そのものを記録してもよい。例えば、記録速度が４ｍ／ｓｅｃに適用する制御情報であれば「０４ｈ」、８ｍ／ｓｅｃに適用する制御情報であれば「０８ｈ」等である。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｈ」には、このＤＩユニットが適用される条件における最大再生パワーを示す最大再生パワー情報が記録されている。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｉ」には、このＤＩユニットが適用される条件における記録パワーを示す記録パワー情報が記録されている。記録パワーは、レーザパワーの変調に応じてピークパワー、スペースパワー（または、イレースパワー）、ボトムパワー、冷却パワーの各値あるいは、ピークパワーに対するその他のパワーの比率の形式で記録されていてもよい。変調されるレーザパワーの個数や種類はライトストラテジタイプによって異なり、ライトストラテジタイプごとに異なる記録パワーのパラメータセットが用意される。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｊ」には、バイト番号「Ｂ」に記録されたＤＩフォーマット番号に応じて予め定められたライトストラテジパラメータが記録されている。図７（ａ）では、バイト番号「Ｊ」のバイト数を「ＸＸ」と示しているが、総バイト数は、ＤＩフォーマット番号に応じて容量が予め定められている。

前述したようにＤＩフォーマット番号は、ライトストラテジタイプ、記録補償タイプ、および記録補償の最小ステップ情報に基づいて定められる。

バイト番号「Ｊ」には、以下において詳細に説明するように、ライトストラテジタイプによって、記録マーク長毎に記録パルス列の可変なエッジ位置情報（ｄＴＦ１、ｄＴＦ２、ｄＴＥ１、ｄＴＥ２）あるいは記録パルス列の可変なパルス幅情報（ＴＦ２、ＴＥ３、ＴＭＰ）が記録されている。これらをライトストラテジパラメータと呼ぶ。ライトストラテジパラメータが記録パルス列のどの部分に相当するかは、フォーマット表などでライトストラテジタイプ毎にあらかじめ決められている。

ライトストラテジパラメータに含まれる記録すべきパラメータの数は、ライトストラテジタイプおよび記録補償タイプの組み合わせによって決まる。例えば、記録パルス列の第１番目の始端部ｄＴＦ１の位置に関するパラメータとして、記録マーク長が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りのマーク長に対して、１バイトずつ用意する。また、前スペース補償が有効な場合、各記録マーク長のそれぞれに対して前のスペース長が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上のスペース長に応じてパラメータを変化させることができる。したがって、合計で、４×４＝１６通りの記録補償値を始端部ｄＴＦ１に割り当てることができる。これら１６通りの記録補償値が、始端部ｄＴＦ１の位置に関するパラメータとして１バイトで記録される。その他のパラメータ（ＴＦ２、ｄＴＥ１など）についても記録補償タイプに応じて分類され、記録補償値が１バイトで記録される。一例として図８にＮ−１型ライトストラテジのライトストラテジパラメータを示す。２Ｔマーク記録時の記録パルス列のｄＴＦ１およびＴＦ２は前後ろスペース長が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上と前後ろマーク長が２Ｔ、３Ｔ以上の組み合わせに応じた記録補償を行い、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔ以上のマーク長は前のスペース長が２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の組み合わせで記録補償を行うことを表している。図８では、ｄＴＦ１は３７通り、ＴＦ２は３７通り、ＴＥ２が１２通り、ｄＴＥ１が２２通り、ＴＭＰが１通りの合計１０９通りのパラメータが各々１バイトの情報で記録され、ライトストラテジパラメータを構成している。

ライトストラテジパラメータの記録単位は、例えば、０．５ｎｓｅｃというように絶対時間で記録してもよい。あるいは、基準クロック（Ｔｗ）に対する比率や、記録補償の最小ステップ情報の整数倍単位として記録してもよい。例えば、記録補償の最小ステップが基準時間（Ｔｗ）のＴｗ／１６と規定されている場合、Ｔｗ／１６の整数倍の値をライトストラテジパラメータの値として記録する。あるいは記録補償の最小ステップが基準時間（Ｔｗ）のＴｗ／３２と規定されている場合、Ｔｗ／３２の整数倍の値をライトストラテジパラメータの値として記録する。

ＤＩユニットのバイト番号「Ｋ」には、光学的情報記録媒体の製造者番号や、メディアタイプＩＤ、製造会社名、製品番号、製造場所、製造年月日等が記録されている。

これらのＤＩユニットの各バイト番号の配置は一例であって、この並び方に限定されない。但し、バイト番号「Ｊ」に記録されるライトストラテジパラメータはバイト番号「Ｂ」に記録されるＤＩフォーマット番号によって決まる。このため、ライトストラテジパラメータは、ＤＩフォーマット番号のあとに読み出される配置にすることが好ましい。

また、複数のＤＩユニットは、優先的に記録速度順に配列され、次いで情報記録層順、さらについで、推奨されるライトストラテジタイプあるいは記録補償タイプ順に配置される。もっとも、これは一例にすぎない。情報記録層順で優先的に配列され、次に記録速度順で配列されていてもよい。

次に、図７（ｂ）を参照しながらＤＩユニットのバイト番号「Ｂ」に記録されるＤＩフォーマット番号を詳細に説明する。図７（ｂ）はＤＩフォーマット番号（バイト「Ｂ」）の構成を示している。図７（ｂ）はバイト番号「Ｂ」の１バイトに記録される情報を、ＭＳＢから（ｂ７、・・・、ｂ０）という順に合計８ビットのビット単位で表している。

図７（ｂ）に示すように、下位３ビットには、ライトストラテジタイプの設定、つまり、ライトストラテジタイプ情報が割り当てられる。本実施形態では、フォーマット表によって定義されているＮ−１型、Ｎ／２型、キャッスル１型（ＣＡ１）、キャッスル２型（ＣＡ２）のライトストラテジのタイプが使用できるものとする。ここで、例えば、下位３ビット「ｂ２、ｂ１、ｂ０」が「０００ｂ」であればＮ−１型のライトストラテジタイプであることを表し、「００１ｂ」であればＮ／２型、「０１０ｂ」であればキャッスル１型（ＣＡ１）、「０１１ｂ」であればキャッスル２型（ＣＡ２）のライトストラテジタイプであることを表す。ここでＣＡ１型とは、記録するパルスがＬ−Ｓｈａｐｅ型のストラテジタイプであると定義し、ＣＡ２型とは、ピークパワーで変調されたパルスを２つ持つキャッスル型のストラテジタイプであると定義する。あるいはＣＡ１型とは、ライトストラテジパラメータのうち、３Ｔマークを記録するパルスがＬ−Ｓｈａｐｅ型のストラテジタイプの場合と定義し、ＣＡ２型とは、３Ｔマークを記録するパルスがモノパルス型のストラテジタイプの場合と定義してもよい。つまり、キャッスルタイプのライトストラテジの場合、３ＴマークをＬ字型（Ｌ）の波形で形成するか、モノパルス型（Ｍ）の波形で形成するかによってライトストラテジのタイプがさらに分類され、この２つのストラテジタイプは、前述のビット（ｂ３）で区別すると定義してもよい。

次の４ビット「ｂ６、ｂ５、ｂ４、ｂ３」には、記録補償タイプの情報が割り当てられる。本実施形態で用いる記録補償タイプの情報とは、ある長さの記録マークを情報記録層に形成する場合において、マークを形成するための、パルス状に変調した記録パルス列のパルスエッジ位置の変化量を、（１）着目しているマーク長と前のスペース長とに応じて分類する（前スペース補償）、（２）着目しているマーク長と後ろのスペース長とに応じて分類する（後ろスペース補償）、（３）着目しているマーク長と前のマーク長とに応じて分類する（前マーク補償）、あるいは、（４）着目しているマーク長と後ろマーク長とに応じて分類する（後ろマーク補償）等、着目しているマークを記録する際に、隣接するスペースあるいは隣接するマーク、あるいはそれらの組み合わせなど、どの範囲のマークおよびスペースの組み合わせに応じて記録補償を行うかを定義する情報である。

すなわち、記録補償タイプの情報とは、例えば、着目している記録マークのマーク長と、その記録マークの直前のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う前スペース補償、もしくは、着目している記録マークのマーク長と、その記録マークの直後のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う後ろスペース補償のいずれか一方のみを行う場合を示す第１のタイプと、前スペース補償と後ろスペース補償のいずれも行う場合の第２のタイプとを示す情報であっても良い。

本実施形態の光学的情報記録媒体のように、高密度かつ多層化された情報記録媒体に情報を記録する場合、記録の品質、あるいは、記録された情報を再生する場合の再生信号の品質は、情報記録層の媒質特性に大きく影響を受ける。したがってこのような光学的情報記録媒体に適切な記録を行うためには、ライトストラテジタイプだけでなく、さまざまなタイプの記録補償方式を用いて、正確な位置にエッジを有する記録マークを形成する必要がある。具体的には記録速度や情報記録層の特性に応じて、前述の４つの記録補償タイプの全て、あるいは、いずれか２つまたは３つを組み合わせた記録補償を行うことで、記録マークの始端部あるいは終端部をより精度よく適切な位置に形成し、再生信号の品質を向上させることが可能となる。

最後の１ビット「ｂ７」には、記録補償を行うときのパルスエッジを動かす最小の単位を表す記録補償の最小ステップ情報（記録補償ステップ情報）が割り当てられる。具体的には、「ｂ７」が「０ｂ」である場合、ライトストラテジパラメータのエッジ位置変化量ｄＴＦ１を変化させるときの最小の変化ステップ量を基準時間（Ｔｗ）のＴｗ／１６と規定することを意味する。この場合、最小ステップＴｗ／１６の整数倍の値がライトストラテジパラメータのパルス変化量として記録される。また、情報記録層が、より精度よく記録補償を行わなければならない特性を備える場合には、記録補償の最小ステップをより小さくする。具体的には、「ｂ７」が「１ｂ」である場合、最小の変化ステップ量を基準時間（Ｔｗ）のＴｗ／３２と規定する。この場合、、最小ステップＴｗ／３２の整数倍の値がライトストラテジパラメータのパルス変化量として記録される。

図９は、ＤＩユニットのバイト番号「Ｂ」のＤＩフォーマット番号の構成を示している。ライトストラテジタイプ情報、記録補償タイプ情報および記録補償ステップ情報の組み合わせによって、８ビットで構成されるＤＩフォーマット番号が決定され、このＤＩフォーマット番号に応じて、後述のライトストラテジパラメータの大きさ（バイト）およびその情報が定義される。したがって、上述したように、ＤＩフォーマット番号はライトストラテジパラメータの値が記録されている位置よりも情報の記録方向に対して先行した位置に記録されていることが望ましい。

なお、ライトストラテジパラメータ（あるいは記録パルス条件）とは、ライトストラテジを構成する項目とその項目についての特定の数値を意味した情報である。したがって、ライトストラテジ情報は、ライトストラテジパラメータのほか、上述したライトストラテジタイプ、記録補償タイプを含む包括的概念を有する。

上述したＤＩフォーマット番号は、８ビットのうちの下位３ビット（ｂ０〜ｂ２）がライトストラテジタイプ情報を表し、続く４ビット（ｂ３〜ｂ６）が記録補償タイプ情報を表していた。しかし、ライトストラテジタイプおよび記録補償タイプの組み合わせが少ない場合には、ＤＩフォーマット番号のうち、下位３ビット（ｂ０〜ｂ２）がライトストラテジタイプおよび記録補償タイプについての情報を表してもよい。

図１０（ａ）は、このようなＤＩフォーマット番号の構成を示している。ライトストラテジタイプが異なるＤＩフォーマット番号０、１、２、３は、それぞれＮ−１、Ｎ／２、ＣＡ１、ＣＡ２のライトストラテジタイプ情報と、図９に示す参照番号５０１、５０２、５０３、５０４に対応する記録補償タイプ情報を意味するように定義される（第１の記録補償タイプ）。つまり、ＤＩフォーマット番号０、１、２、３は、それぞれＮ−１、Ｎ／２、ＣＡ１、ＣＡ２のライトストラテジタイプが用いられ、かつ、記録補償には、前スペースのみが用いられる（前スペース補償）。あるいは、記録補償には後ろスペースのみ（後ろスペース補償）を用いてもよい。

一方、ＤＩフォーマット番号４、５、６、７は、それぞれＮ−１、Ｎ／２、ＣＡ１、ＣＡ２のライトストラテジが用いられるが、ＤＩフォーマット番号０から３とは異なる拡張された記録補償タイプを用いるように定義される（第２の記録補償タイプ）。図では異なる記録補償タイプであることを示すため、「ＥＸ」を付している。

具体的には、ＤＩフォーマット番号４、５、６、７は、図９に示す参照番号５０５、５０６、５０７、５０８に対応する記録補償タイプの組み合わせを表すように定義される。つまり、着目するマーク長と、前スペースと、後ろスペースとに応じて記録補償を行うように定義される（前スペース補償および後ろスペース補償）。

あるいは、ＤＩフォーマット番号４、５、６、７は、図９に示す参照番号５０９、５１０、５１１、５１２に対応する記録補償タイプの組み合わせのように、着目するマーク長と、前スペースと、後ろスペースと、前マークとに応じて記録補償を行うように定義されていてもよい。さらに、図９に示すＤＩフォーマット番５１３、５１４、５１５、５１６に対応する記録補償タイプの組み合わせのように、着目するマーク長と、前スペースと、後ろスペースと、前マークと、後ろマークに応じて記録補償を行うように定義されていてもよい。
。

このようにＤＩフォーマット番号の８ビットのうちの下位３ビット（ｂ０〜ｂ２）を構成する場合、ライトストラテジタイプを下位２ビット（ｂ０、ｂ１）で識別し、記録補償タイプを続く１ビット（ｂ３）で識別することが可能となる。

この場合、図９に示すＤＩフォーマット番号の構成のうち、記録補償タイプ情報が記録されていたｂ３からｂ６のニットは、すべて「０」であってもよいし、それぞれの記録補償タイプに合わせて情報が記録されていてもよい。

また、図１０（ｂ）はさらに別なＤＩフォーマット番号の構成を示している。図１０（ａ）に示すＤＩフォーマット番号と異なる点は、ライトストラテジタイプおよび記録補償タイプの順番である。ＤＩフォーマット番号０から７は、Ｎ−１、Ｎ−１ＥＸ、Ｎ／２、Ｎ／２ＥＸ、ＣＡ１、ＣＡ１ＥＸ、ＣＡ２、ＣＡ２ＥＸに対応している。このような順番に配置することで、下位１ビット（ｂ０）で記録補償タイプを識別し、続く２ビット（ｂ２、ｂ３）でライトストラテジタイプを識別することが可能となる。

このように、図１０（ａ）および（ｂ）に示すＤＩフォーマット番号の構成によれば、ＤＩフォーマット番号は、複数のビットで表される。このうち、１つのビットが記録補償タイプを示す。具体的には、図１０（ａ）のＤＩフォーマット番号の構成ではｂ２ビットが、図１０（ｂ）のＤＩフォーマット番号の構成ではｂ０ビットが、第１の記録補償タイプであるか第２の記録補償タイプであるかを示す。つまり、着目している記録マークのマーク長と、その記録マークの直前のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う前スペース補償、もしくは、着目している記録マークのマーク長と、その記録マークの直後のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う後ろスペース補償のいずれか一方のみを行う場合を示す第１のタイプであるか、前スペース補償と後ろスペース補償のいずれも行う場合の第２のタイプであるかを示している。

なお、本実施形態におけるＤＩフォーマット番号のバイト番号「Ｂ」の構成は、上述の構成方法に限られるものでなく、記録補償タイプとライトストラテジタイプの組み合わせによって任意に番号をつけることが可能である。

また、本実施形態のＤＩユニットのライトストラテジタイプ情報は、あらかじめ決められたフォーマット表によって決められており、レーザパワーを変調する変調パワーレベルの個数あるいは記録パルス列のうちの可変なエッジ位置やパルス幅はあらかじめ定められている。したがって、異なるタイプのライトストラテジパラメータであれば、記録パルス列のエッジ位置およびパルス幅の可変できる部分が異なり、それぞれのライトストラテジタイプでは異なるライトストラテジパラメータセットを持つことになる。また、記録パルス列の時間軸方向だけでなく、レーザパワーをパルス状に変調する際の変調パワーレベルの個数が異なる場合も別のライトストラテジタイプとして割り当てることができる。例えば、２Ｔマーク記録時のピークパワーレベルを３Ｔ以上のマークを記録する時のピークパワーレベルと異なるように設定するような場合、同じピークパワーレベルで記録するタイプのライトストラテジとは、別のライトストラテジタイプと定義することができる。

また、本実施形態で用いているＮ−１型のライトストラテジタイプはピークパワーのパルスが、記録マークのマーク長Ｎに対してＮ−１個の記録パルス列で変調されているライトストラテジタイプを表している。しかし、このような記録パルス列の個数が上述に従うものが全て同一のライトストラテジパラメータに属する必要はなく、上述の例のように異なるライトパルスタイプとして定義されてもよい。

また、本実施形態における記録補償タイプは、ＤＩユニットのバイト番号「Ｂ」において、ＤＩフォーマット番号として、ライトストラテジタイプと異なるビットを使って記録されていた。しかし、ＤＩユニットに記録補償タイプを表す専用のバイトを設けてもよい。また、情報記録装置が記録補償学習を行った結果、最適な記録補償タイプがＤＩユニットに記録されている記録補償タイプと異なる場合、ＤＩユニットのバイト番号「Ｂ」の記録補償タイプを更新する情報を光情報記録媒体の内周の所定の管理領域に記録しておいてもよい。これにより、光ディスク装置が次回最適な記録条件を求めるためのテスト記録回数を減少させたり、学習時間を短縮させたりすることができる。

また、本実施の形態のバイト番号「Ｂ」のライトストラテジタイプをＮ−１型、Ｎ／２型、キャッスル型１、キャッスル型２と分けたが、これは一例に過ぎず、そのほかの分類を用いてライトストラテジタイプ情報を構成してもよい。キャッスル型を１つにしてもよい。また、キャッスル型の場合にはピークパワーで変調されるパルスが２つのキャッスル型（ＣＡ）と、ピークパワーで変調されるパルスにつづいて中間パワーで変調されるＬ字型（Ｌ）と、中間パワーのないモノパルス型（Ｍ）の３種類のライトストラテジタイプに分けてもよい。また、特定のマーク長、例えば３Ｔマークの記録パルス列がＬ型かＭ型かによって異なるライトストラテジタイプと分類してもかまわない。

また、本実施形態のバイト番号「Ｂ」に記録されている記録補償タイプは、各記録補償タイプの適用の有無を示す情報であるが、記録するマーク長単位あるいは、記録補償タイプの適用の有無を示す情報として記録してもよい。また、ｄＴＦ１、ｄＴＥ１、ＴＥ２などのライトストラテジパラメータ別に記録補償タイプの有無の情報を示す情報を記録してもよい。

また、これらの情報を情報記録装置が記録補償学習を行った結果、ＤＩユニットに記録されているライトストラテジパラメータと異なる場合、学習後の最適なライトストラテジパラメータとＤＩユニットに記載されているライトストラテジパラメータを比較し、記録補償タイプの適用の有無を更新する情報を光学的情報記録媒体の内周の所定の領域に記録してもよい。あるいは、記録補償タイプの適用の有無を示す情報等の制御情報を情報記録装置のメモリに格納しても良い。こうすることにより、次回に最適な記録条件が決定されるまでに繰り返されるテスト記録が不要になる、もしくはテスト記録の回数が減り、記録条件の最適化に要する時間をより短縮することができる。

また、本実施形態のＤＩユニットのバイト番号「Ｌ」において、継続フラッグを記録し、２つ以上のＤＩユニットのバイト番号「Ｊ」にライトストラテジパラメータを分割して記録する場合、第１のＤＩユニットにライトストラテジパラメータのうち基本情報（基準情報）を記録し、連続する第２のＤＩユニットに差分情報を記録してもよい。例えば、ＤＩユニット１に３ＴマークのｄＴＦ１のエッジ変化量をＴｗ／１６の整数倍で１バイトの情報で定義し、続くＤＩユニット２に３Ｔマークの前スペースが２Ｔスペース、３Ｔスペース、４Ｔスペース、５Ｔ以上スペースのときのエッジ変化量の差分情報それぞれ２ビットの合計１バイトで記録してもよい。この様にスペース補償の差分情報とすることで、ＤＩユニットに記録するライトストラテジパラメータの総バイト数を減らすことが可能である。

また、２つ以上のＤＩユニットのバイト番号「Ｊ」にライトストラテジパラメータを分割して記録する場合、ライトストラテジパラメータのうち前マーク補償に関連する情報を１番目のＤＩユニット、後ろマーク補償に関連する情報を２番目のＤＩユニット等、記録補償タイプ別に、複数のＤＩユニットに分割して記録してもよい。あるいは、記録パルス列の始端(ｄＴＦ１、ＴＦ２)に関する情報を１番目のＤＩユニット、記録パルス列の終端(ｄＴＥ１、ｄＴＥ２)に関する情報を２番目のＤＩユニットに分けて記録してもよい。あるいは、パルス幅に関する情報（後述するＴＦ２、ＴＥ３等）を１番目のＤＩユニットに記録し、記録パルス列のエッジ位置に関する情報（後述するｄＴＦ１、ｄＴＥ１等）を２番目のＤＩユニットに記録してもよい。あるいは、従来の光学的情報記録媒体との互換性を考えて、既に発売済みの光学的情報記録媒体の同種のＤＩフォーマットのライトストラテジパラメータに関する情報を第１番目のＤＩユニットに記録し新たに拡張されたライトストラテジパラメータを２番目のＤＩユニットに分けて記録してもよい。

また、本実施形態では、記録補償優先順位フラグであるバイト番号「Ｍ」をＤＩユニット内にあらかじめ記録しているが、記録補償優先順位フラグは、ＤＩユニットにあらかじめ記録されていなくてもよい。例えば、情報記録装置がＤＩユニット内にあるライトストラテジパラメータを初期値として記録補償学習を行った結果、ＤＩユニットに記録されたライトストラテジパラメータと異なる最適なライトストラテジパラメータが求まった場合、情報記録装置の学習アルゴリズムによって、いずれの記録補償タイプを使って学習するのが最適かを表す優先順位の制御情報を内周の所定の追記あるいは書き換えエリアに記録してもよい。こうすることにより、次回、最適な記録条件が決定されるまでに繰り返されるテスト記録が不要になる、もしくはテスト記録の回数が減り、記録条件の最適化に要する時間をより短縮することができる。

次にライトストラテジタイプとライトストラテジパラメータについて説明する。初めにＮ−１型のライトストラテジタイプの記録パルス列について図面を参照しながら説明する。

図１１（ａ）〜（ｆ）は、マーク長と後述する記録パルス信号の波形との関係を示す概略図である。図１１（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２０１を示し、基準時間信号１２０１はＴｗの周期を有する。図１１（ｂ）は、後述するカウンタによって発生するカウント信号１２０４であり、マーク先頭からの時間を基準時間信号１２０１の基準時間Ｔｗ単位で計時する。カウント信号が０に移行するタイミングはマークもしくはスペースの先頭に対応する。図１１（ｃ）〜（ｆ）は、記録マーク形成時の記録パルス信号である。記録パルス信号はレベル変調されており、最も高いレベルであるピークパワー（Ｐｗ）、スペース区間照射レベルのスペースパワー（Ｐｓ）、ピークパワーレベルとピークパワーレベルの間のボトムパワー（Ｐｂ）、最終パルスの後の冷却区間のパワーレベルの冷却パワーレベル（Ｐｃ）の４値で変調されている。

なお、ここでは記録パルス信号は４つの値のパワーレベルで変調されている。しかし、冷却パルスのパワーレベル（Ｐｃ）とボトムパワーレベル（Ｐｂ）とを互いに同じレベルとし、記録パルス信号を合計３値で変調してもよい。また、さらに、冷却パワーレベルをスペースパワーレベルと等しくして、合計２値のパワー変調によって記録パルス信号を形成してもよい。また、図１１ではボトムパワーレベルをスペースパワーレベルよりも低くしているが、スペースパワーレベルとピークパワーレベルの間のパワーレベルでもよい。また、追記型光学的情報記録媒体の場合、スペース区間照射時のパワーレベルをスペースパワーと呼ぶ。これに対して書き換え可能な光学的情報記録媒体の場合、あらかじめ記録してある記録マークをスペース区間のパワーで消去するため、スペースパワーをイレーズパワー（Ｐｅ）と呼ぶ場合がある。

また、図１１（ｃ）〜（ｆ）では、４Ｔｍマークの記録パルス信号は中間パルス(ＴＭＰ)が１つであるが、５Ｔｍ、６Ｔｍとマーク長（符号長）が１Ｔｍずつ長くなるとそれに応じて中間パルスの個数が１つずつ増えていく。つまり、記録するマーク長Ｎに対してＮ−１個のピークパワーレベルのパルスで記録マークが構成される。したがって、図１１（ｃ）〜（ｆ）の記録パルス列がＮ−１型のライトストラテジタイプの代表例である。

図１１（ｃ）は、２Ｔの記録パルス列を示す。２Ｔマークの書き込みの際に、ＴＦ２のパルス幅をもち、記録パルス列の始端部から１番目のパルスエッジの位置を、所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＦ１だけ変化させることを意味する。また冷却パルスの終了位置を、所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させることを意味する。図１１（ｄ）は、３Ｔの記録パルス列を示す。３Ｔマークの書き込みの際には、２Ｔマークに対して最終パルスが追加挿入され、最終パルスのパルス幅はＴＥ２だけ変化させることを意味する。図１１（ｅ）は、４Ｔの記録パルス列を示す。４Ｔマークの書き込みの際には、３Ｔマークに対して先頭パルスと最終パルスの間に中間パルスが挿入され、中間パルスのパルス幅をＴＭＰだけ変化させることを意味する。

図１１（ｆ）は、５Ｔの記録パルス列を示す。５Ｔマークの書き込みの際には、４Ｔマークに対して中間パルスがさらに１つ追加され、中間パルスのパルス幅をＴＭＰだけ変化させることを意味する。但し２つの中間パルスのパルス幅は同じである。図示しないが同様の手順で６Ｔ以上の記録パルス列も設定される。

ここで、２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔ以上マーク記録時の記録パルスのエッジ変化量とパルス幅のライトストラテジパラメータ（ｄＴＦ１、ＴＦ２，ｄＴＥ１等）を同じ符号で簡易的に図示しているが、２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔ以上のマーク記録時に、それぞれにおいて異なる値の記録パルスのエッジ変化量ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１等を設定できる。また、記録するマーク長だけでなく、前後のスペース長あるいは前後のマーク長、あるいはそれらの組み合わせに応じて複数のパラメータを設定できる。このようにして決められた記録パルス列のレーザ光を光学的情報記録媒体に照射して、情報記録層にマークを形成する。

ライトストラテジパラメータとは、図１１（ｃ）〜（ｆ）で図示した、各マーク長のｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ＴＥ２、ＴＭＰ等を指し、これらのパラメータは、記録するマーク長と前後のスペース長あるいは前後のマーク長との組み合わせによって定義される。これらのライトストラテジパラメータは図７（ａ）で示されるＤＩユニットのバイト番号「Ｊ」に記録される。

図１２は、各ライトストラテジパラメータの記録補償タイプに対する、取り得る値の組み合わせを示している。図１２において「○」は、該当のライトストラテジパラメータに対して設定可能な記録補償タイプを表している。一方、「ＮＡ」は該当するライトストラテジパラメータに対して設定不可な記録補償タイプを表している。ＤＩユニットに記録されている記録補償タイプ情報で有効とされている記録補償タイプが選択された場合には「○」で示された記録補償を適用したライトストラテジパラメータがＤＩユニットに準備される。

次により具体的なライトストラテジパラメータの一例を説明する。図８はＮ−１型のライトストラテジパラメータの分類の一覧を示す。ｄＴＦ１、ＴＦ２は、２Ｔマークを記録する際に前後のスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通り、前あるいは後のスペース長が２Ｔスペースの時には、さらに前あるいは後ろのマーク長を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りの合計２５通り（１〜２５）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。また、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上のマークを記録する際に前のスペース長に対して２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計１２通り（２６〜３７）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。

同様に、ｄＴＥ１は２Ｔマークを記録する際に後ろのスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通り、後ろのスペース長が２Ｔスペースの時には、さらに後のマーク長を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りの合計１０通り（１〜１０）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。また、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上のマークを記録する際に後ろスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計１２通り（１１〜２２）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。同様に、ＴＥ２は３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上のマークを記録する際に後ろスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計１２通り（１〜１２）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。つまり、図８で示されるこれらのライトストラテジパラメータを図７（ａ）で示されるＤＩユニットのバイト番号「Ｊ」に記録する。

なお、記録補償タイプ情報に応じて、前後のマークによる干渉が少ないケースや、前あるいは後ろのスペース長のいずれかの組み合わせによって記録補償を行う場合、これらのパラメータのうち不要なパラメータの分類を削除して分類を簡略化できる。これにより、ＤＩユニットのライトストラテジパラメータのバイト数を減らすことが可能である。

また、図８は、前後のスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４×４の１６通りに分類したが、前後のスペース長を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りに分類し４×２の８通りに分類することも可能である。

次にキャッスル型の記録パルスの例について図面を参照しながら説明する。図１３（ａ）〜（ｇ）は、マーク長と記録パルス信号の波形との関係を示している。図１３（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２０１を示している。基準時間信号１２０１はＴｗの周期を有する。図１３（ｂ）は、カウンタによって発生するカウント信号１２０４であり、マーク先頭からの時間を基準時間信号１２０１の基準時間Ｔｗ単位で計時する。カウント信号が０に移行するタイミングはマークもしくはスペースの先頭に対応する。図１３（ｃ）〜（ｇ）は、記録マーク形成時の記録パルス信号である。記録パルス信号はレベル変調されており、最も高いレベルであるピークパワー（Ｐｗ）、中間パワーレベルの中間パワー（Ｐｍ）、スペース区間照射レベルのスペースパワー（Ｐｓ）、最も低いレベルである冷却パワーレベル（Ｐｃ）の４値で変調されている。

なお、ここでは、中間パワーレベル（Ｐｍ）はスペースパワーレベル（Ｐｓ）よりも高いパワーレベルであるが、スペースパワーレベルより低いパワーレベルでもよい。また、追記型光学的情報記録媒体の場合、スペース区間照射時のパワーレベルをスペースパワーと呼ぶ。これに対して書き換え可能な光学的情報記録媒体の場合、あらかじめ記録してある記録マークをスペース区間のパワーで消去するため、スペースパワーをイレーズパワー（Ｐｅ）と呼ぶ場合がある。図１３（ｃ）〜（ｇ）の記録パルス列がキャッスル型のライトストラテジタイプの代表例である。

図１３（ｃ）は２Ｔマークの記録パルス列を示す。２Ｔマークの書き込みの際に、ＴＦ２のパルス幅をもち、始端から１番目のパルスエッジの位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＦ１だけ変化させることを意味する。また冷却パルスの終了位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させることを意味する。

図１３（ｄ）は３Ｔマークの記録パルス列を示す。３Ｔマークの書き込みの際には、Ｌ字形状（Ｌ−ｓｈａｐｅ）の記録パルス列のレーザ光を照射する。ＴＦ２のパルス幅をもち、始端部から１番目のパルスエッジの位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＦ１だけ変化させる。また、中間パワーの終了位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ２だけ変化させる。また、冷却パルスの終了位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させる。また、３Ｔマーク形成時の記録パルス列には、図１３（ｄ）で示したＬ字型形状の記録パルス列のほかに、図１３（ｇ）に示すように中間パワーレベルのパルス幅が無くなったモノパルス型の記録パルス形状を用いることも可能である。

図１３（ｅ）は４Ｔマークの記録パルス列を示す。４Ｔマークの書き込みの際には、図に示したとおりの凹形状（キャッスル型）の記録パルス列を有するレーザ光を光学的情報記録媒体に照射する。ＴＦ２のパルス幅をもち、始端から１番目のパルスエッジの位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＦ１だけ変化させる。また、最終パルスのパルス幅ＴＥ３、最終パルスの終了位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ２だけ変化させる。また、冷却パルスの終了位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させる。

図１３（ｆ）は５Ｔマークの記録パルス列で、５Ｔマークの書き込みの際には、凹形状（キャッスル型）の記録パルス列のレーザ光を照射する。ＴＦ２のパルス幅をもち、始端から１番目のパルスエッジの位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＦ１だけ変化させる。また、最終パルスのパルス幅ＴＥ３、最終パルスの終了位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ２だけ変化させる。また、冷却パルスの終了位置を基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させる。図示しないが同様の手順で６Ｔ以上の記録パルス列も設定される。

また、４Ｔ以上のパルスには、最終パルスが形成されているが、最終パルスのパルス幅であるＴＥ３を０と設定して、最終パルスのないＬ字型の記録パルス形状を用いることも可能である。

ここで、２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔ以上マーク記録時の記録パルス列のエッジ変化量およびパルス幅のライトストラテジパラメータ（ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１等）を同じ符号で簡易的に図示しているが、２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔ以上マークの記録時に、それぞれにおいて、ライトストラテジパラメータは異なる。また、記録するマーク長だけでなく、前後のスペース長あるいは前後のマーク長、あるいはそれらの組み合わせに応じて複数のパラメータをもつことができる。このようにして決められた記録パルス列のレーザ光を光学的情報記録媒体に照射して情報記録層にマークを形成する。

ライトストラテジパラメータとは、図１３（ｃ）〜（ｇ）で図示した、各マーク長のｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ＴＥ２、ＴＥ３を指し、これらのライトストラテジパラメータは記録するマーク長と前後のスペース長あるいは前後のマーク長との組み合わせによって定義される。これらのライトストラテジパラメータは図７（ａ）で示されるＤＩユニットのバイト番号「Ｊ」に記録される。

次により具体的なライトストラテジパラメータの一例について説明する。図１４はキャッスル型のライトストラテジパラメータの分類表の一覧を示す。ｄＴＦ１、ＴＦ２は、２Ｔマークを記録する際に前後のスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通り、前あるいは後のスペース長が２Ｔスペースの時には、さらに前あるいは後ろのマーク長を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りの合計２５通り（１〜２５）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。また、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上のマークを記録する際に前のスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計１２通り（２６〜３７）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。

同様に、ｄＴＥ１は２Ｔマークを記録する際に後ろのスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通り、後ろのスペース長が２Ｔスペースの時には、さらに後のマーク長を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りの合計１０通り（１〜１０）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。また、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上のマークを記録する際に後ろスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計１２通り（１１〜２２）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。同様に、ｄＴＥ２は３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上のマークを記録する際に後ろスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計１２通り（１〜１２）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。また、ＴＥ３は４Ｔ、５Ｔ以上のマークを記録する際に後ろスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計８通り（１〜８）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。

また、図１４では、前後のスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４×４の１６通りに分類したが、前後のスペース長を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りに分類し４×２の８通りの分類表にすることも可能である。

また、図１３（ｄ）に示すＬ字型の記録パルスの場合、後ろスペース長に応じてｄＴＥ２が左側にシフトするよう調整されると、中間パワーレベルで照射される期間が狭くなることがある。この場合、Ｌ字型からモノパルス型にタイプが変化しないよう、最小パルス間隔を設定しておくことが好ましい。例えば、中間パワーの照射区間をある一定値以上の時間幅で照射する条件となるように関連するライトストラテジパラメータを使って制限式を設ける。これにより前スペース補償、あるいは後ろスペース補償をおこなった結果、３ＴマークのライトストラテジパラメータにＬ字型とモノパルス型の２種類が混在しないようにあらかじめ制限できる。

図１５（ａ）に各ライトストラテジパラメータの記録補償タイプに対する、取り得る値の組み合わせを示している。記録補償タイプは、「前スペース補償」、「後ろスペース補償」、「前マーク補償」、「後ろマーク補償」の４つの記録補償タイプを表し、「無し」はこれら４つの記録補償を採用せず、マーク長に応じた記録補償のみ行うとこを表している。図１５（ａ）において「○」は、該当のライトストラテジパラメータに対して設定可能な記録補償タイプをあらわしている。一方、「ＮＡ」は該当するライトストラテジパラメータに対して設定不可能な記録補償タイプをあらわしている。ＤＩユニットに記録されている記録補償タイプ情報で有効とされている記録補償タイプが選択された場合には「○」で示された記録補償を適用したライトストラテジパラメータがＤＩユニットに含められる。

図１５（ｂ）は、図１５（ａ）の組み合わせにおいて、３Ｔの記録パルス列がモノパルス型のライトストラテジの場合、３Ｔマーク記録時のライトストラテジパラメータの記録補償タイプに対する、取り得る値の組み合わせを示している。３Ｔがモノパルスの場合には、前スペース補償と後ろスペース補償の「有効」「無効」の組み合わせによって、図１５（ｂ）に示すようなライトストラテジパラメータの設定を行う。つまり、ｄＴＥ２の後ろスペース補償が「有効」な場合ＴＦ２の１バイトには、「００ｈ」をいれ、後ろスペース補償が無効な場合はｄＴＥ２の１バイトに「０Ｆｈ」を設定する。詳細な説明は後述する。

図１５（ｃ）は、図１５（ａ）に示す組み合わせにおいて、３Ｔの記録パルス列がモノパルス型のライトストラテジの場合、３Ｔマーク記録時のライトストラテジパラメータの記録補償タイプに対する、取り得る値の組み合わせを示している。３Ｔがモノパルスの場合には、前スペース補償と後ろスペース補償の「有効」「無効」の組み合わせによって、図１５（ｃ）に示すようなライトストラテジパラメータの設定を行う。つまり、ＴＦ２の１バイトには、「００ｈ」をいれ、後ろスペース補償が「無効」な場合はｄＴＥ２に１バイトを用意し、後ろエッジ位置を表す値を設定する。△は、設定される記録補償を適用したライトストラテジパラメータが用意されるが、記録補償を行わず、エッジ位置情報をあらわす情報が記録されている。詳細な説明は後述する。

すなわち、図１５（ｂ）および図１５（ｃ）に示すいずれのライトストラテジの場合においても、後ろスペース補償を行う場合にはＴＦ２に「００ｈ」を設定する。

３Ｔの記録パルス列がＬ字型の場合には、図１３（ｄ）に示すｄＴＦ１とＴＦ２は、図１４におけるｄＴＦ１およびＴＦ２の表に示されるとおり、前スペース長に応じた記録補償を行うよう定義されている。図１３（ｄ）のｄＴＥ１、ｄＴＥ２は、図１４および図１５（ａ）に示す表のｄＴＥ１とｄＴＥ２の欄に示されるとおり、後ろスペース長に応じた記録補償を行うよう定義されている。

ただし、図１３（ｇ）に示すように、３Ｔの記録パルス列がモノパルスである場合でも、ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ｄＴＥ２の記録補償の適応する範囲を前述のＬ字型の場合をそのまま適用してもよい。ＴＦ２は前のスペース長に応じて変化するだけでなく、後ろのスペース長に応じても変化することとなり、ＴＦ２は、前および後ろのスペース長の双方の組み合わせに応じて変化する。ＴＦ２の変化の組み合わせが複雑になるため、記録パルス列がモノパルス型の場合、モノパルスの始端側、終端側の２つのエッジ位置情報（ｄＴＦ１、ｄＴＥ２）とモノパルスのパルス幅情報（ＴＦ２）の３つのライトストラテジパラメータのうち少なくとも２つのライトストラテジパラメータを使って記録補償が可能である。そこで本実施形態のライトストラテジパラメータは、図１５（ｂ）および図１５（ｃ）に示す記録補償の組み合わせにおいては、記録マークの始端側は、ｄＴＦ１を前のスペース長に応じて記録補償を行い、記録マークの終端側は、ｄＴＥ２を後ろのスペース長に応じて記録補償を行う。３Ｔマークの始端位置の調整は、記録パルス列の立ち上がりエッジ位置ｄＴＦ１を前スペース長に応じて記録補償を行い、３Ｔマークの終端位置を調整は、記録パルス列の立ち下がりエッジ位置ｄＴＥ２あるいは冷却パルスの終了位置ｄＴＥ１を後ろスペース長に応じて記録補償を行う。

図１５（ｂ）に示す記録補償の組み合わせでは、３Ｔマークの記録パルス列がモノパルスであり、かつ、後ろスペース補償が有効な場合、ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ２のうち、ＴＦ２に本来設定されるべき有効範囲外の値を設定する。たとえば、最小パルス幅よりも小さいパルス幅をあらわす値、もしくは、ＴＦ２のパルス幅が０となるＴＦ２＝００ｈを設定することによって、ＴＦ２を無効とし、ｄＴＦ１、ｄＴＥ２の２つのライトストラテジパラメータを使って３Ｔモノパルスの記録補償値を設定する。キャッスルタイプのライトストラテジタイプにおいて、３Ｔマークの記録パルス列のライトストラテジタイプはＬ字型、モノ型の２つのタイプが可能であるが、ＴＦ２＝００ｈを読み出すことによって、３Ｔマークの記録パルス列がモノパルスタイプであることを示すフラグとして用いることもできる。より具体的には、図１４のＴＦ２のバイト２６〜２９に「００ｈ」を設定する。

また、ＴＦ２の１バイト（８ビット）のうち上位４ビットをＴＦ２のパルス幅として設定可能な設定値として利用し、下位４ビットのうちのいずれかのビットを、ＴＦ２の設定値を無効とするビットとして使用することもできる。上述の「００ｈ」を設定するのと同様３Ｔマークの記録パルス列がモノパルスタイプであることを示すフラグとして用いることができる。

また、３Ｔマークの記録パルス列がモノパルスであり、かつ、後ろスペース補償の適用が無効である場合、記録パルス列の終端部のエッジ位置を表すｄＴＥ２に０Ｆｈなど、本来設定されるべき有効範囲外の値を設定してもよい。たとえば、移動可能なエッジ位置量を超える値をあらわす値ｄＴＥ２＝０Ｆｈを設定することによって、ｄＴＥ２を無効とし、ｄＴＦ１、ＴＦ２の２つのライトストラテジパラメータを使って３Ｔモノパルスの記録補償値を設定する。キャッスルタイプのライトストラテジタイプにおいて、３Ｔマークの記録パルス列のライトストラテジタイプはＬ字型、モノ型の２つのタイプが可能であるが、ｄＴＥ２＝０Ｆｈを読み出すことによって、３Ｔマークの記録パルス列がモノパルスタイプであることを示すフラグとして用いることもできる。より具体的には、図１４のｄＴＥ２のバイト１〜４に「０Ｆｈ」を設定する。

また、ｄＴＥ２の1バイト（８ビット）のうち上位４ビットをｄＴＥ２のエッジ位置変化量として設定可能な設定値として利用し、下位４ビットのうちのいずれかのビットを、ｄＴＥ２の設定値を無効とするビットとして使用することもできる。上述の「０Ｆｈ」を設定するのと同様３Ｔマークの記録パルス列がモノパルスタイプであることを示すフラグとして用いることができる。

さらに、３Ｔマークの記録パルス列がモノパルスであり、かつ、後ろスペース補償の適用が無効である場合、図１５（ｃ）に示す組み合わせのライトストラテジパラメータを設定することも可能である。ＴＦ２の幅が０となるＴＦ２＝００ｈを設定することによって、ＴＦ２が無効とし、図１４のＴＦ２のバイト２６〜２９に「００ｈ」を設定する。これにより、３Ｔマークの記録パルス列がモノパルスタイプであることを示すフラグとして用いることができる。

さらに３Ｔマーク記録時の記録パルス列の後ろエッジを設定するためにｄＴＥ２にエッジ位置情報をあらわす値を設定する。すべての後ろスペース長に対して同じ値を設定する。より具体的には、図１４のｄＴＥ２のバイト１〜４にすべてに同じ値を設定する。

以上説明したとおり、ＴＦ２の値に所定の値を設定すること、あるいは、ｄＴＥ２に所定の値を設定することによって、３Ｔマークがモノパルス型のライトストラテジタイプであることを判断することが可能となる。

なお、同様の理由から後述するＮ／２型のライトストラテジタイプの３Ｔマークを記録するライトストラテジパラメータにも上述の方法を適用することが可能である。

また、３Ｔがモノパルスである場合について説明したが、３Ｔマークに限らず、全てのマーク長の記録パルス列がモノパルス型のとき、同様の記録補償を適用することが可能である。

以上、説明した図１４で示されるこれらのライトストラテジパラメータが、図７（ａ）で示されるＤＩユニットのバイト番号「Ｊ」に記録される。

なお、記録補償タイプ情報に応じて、前後のマークによる干渉が少ないケースや、前あるいは後ろのスペース長のいずれかの組み合わせによって記録補償を行う場合、これらのパラメータのうち不要なパラメータの分類を削除して分類を簡略化できる。これによりＤＩユニットのライトストラテジパラメータのバイト数を減らすことが可能である。

次に、Ｎ／２型のライトストラテジタイプの記録パルス列について図面を参照しながら説明する。

図１６（ａ）〜（ｆ）は、マーク長と後述する記録パルス信号の波形との関係を示す概略図である。図１６（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２０１を示し、基準時間信号１２０１はＴｗの周期を有する。図１６（ｂ）は、後述するカウンタによって発生するカウント信号１２０４であり、マーク先頭からの時間を基準時間信号１２０１の基準時間Ｔｗ単位で計時する。カウント信号が０に移行するタイミングはマークもしくはスペースの先頭に対応する。図１６（ｃ）〜（ｆ）は、記録マーク形成時の記録パルス信号である。記録パルス信号はレベル変調されており、最も高いレベルであるピークパワー（Ｐｗ）、スペース区間照射レベルのスペースパワー（Ｐｓ）、最も低いレベルであるボトムパワーレベル（Ｐｂ）の３値で変調されている。また、最終パルスの後、冷却パルスがボトムパワーレベルで形成される。

なお、ここでは記録パル信号は３つの値のパワーレベルで変調されている。しかし、最終パルスの後の冷却パルスの冷却パワーレベル（Ｐｃ）と中間パルスの間のボトムパワーレベル（Ｐｂ）とを互いに異なるレベルとして、合計４値で変調してもよい。また、図１６ではボトムパワーレベルをスペースパワーレベルよりも低くしているが、スペースパワーレベルとピークパワーレベルの間のパワーレベルでもよい。また、追記型光ディスクの場合、スペース区間照射時のパワーレベルをスペースパワーと呼ぶ。これに対して書き換え可能な光学的情報記録媒体の場合、あらかじめ記録してある記録マークをスペース区間のパワーで消去するため、スペースパワーをイレーズパワー（Ｐｅ）と呼ぶ場合がある。

また、図１６（ｃ）〜（ｆ）では、２Ｔマークと３Ｔマークの記録パルス列はピークパワーで変調された１個パルスで形成されているが、４Ｔ、５Ｔとマーク長（符号長）の記録パルス列は、ピークパワーで変調された２個のパルスで形成されている。図示しないが、６Ｔ、７Ｔは３個、８Ｔ、９Ｔは４個のパルスで形成される。即ち、２Ｔずつ長くなるとそれに応じて中間パルスの個数が１つずつ増えていく。つまり、記録するマーク長Ｎに対してピークパワーレベルのパルス数がＮ／２個のパルスを照射することから、図１６の記録パルス信号がＮ／２型のライトストラテジタイプの代表例である。

図１６（ｃ）は２Ｔの記録パルス列を示す。２Ｔマークの書き込みの際に、ＴＦ２のパルス幅をもち、始端から１番目のパルスエッジの位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＦ１だけ変化させることを意味する。また冷却パルスの終了位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させることを意味する。

図１６（ｄ）は３Ｔの記録パルス列を示す。３Ｔマークの書き込みの際には、ＴＦ２のパルス幅をもち、始端から１番目のパルスエッジの位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＦ１だけ変化させる。また、３Ｔマーク形成時の記録パルスの終端から２番目のパルスエッジの位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ２、冷却パルスの終了位置を所定の基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させることを意味する。

図１６（ｅ）は４Ｔの記録パルス列を示す。４Ｔマークの書き込みの際には、３Ｔマークに対して最終パルスが追加挿入された形式になっており、最終パルスのパルス幅をＴＥ２、冷却パルスの終了位置を基準位置に対してエッジ変化量ｄＴＥ１だけ変化させることを意味する。

図１６（ｆ）は５Ｔの記録パルス列を示す。５Ｔマークの書き込みの際には、４Ｔマークと同じパルス個数であるが、最終パルスのパルス位置の立ち上がりの基準位置がＴｗ／２だけ右へシフトした位置から開始されている。図示しないが同様の手順で６Ｔ以上の記録パルス列も設定される。

ここで、２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔマーク記録時の記録パルスのエッジ変化量ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１等を同じ符号で簡易的に図示しているが、２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔマーク記録時に、それぞれにおいて異なる値の記録パルスのエッジ変化量ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１等を設定できる。このようにして記録パルス列を光ディスク媒体に照射してマークを形成する。

ライトストラテジパラメータとは、図１６（ｃ）〜（ｆ）で図示した、マーク長ごとのｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ＴＥ２を指し、これらのパラメータは、記録するマーク長と前後のスペース長あるいは前後のマーク長との組み合わせによって定義される。これらのライトストラテジパラメータは図７（ａ）で示されるＤＩユニットのバイト番号「Ｊ」に記録される。

図１７（ａ）に各ライトストラテジパラメータの記録補償タイプに対するとりうる値の組み合わせを示す図を示す。図１７（ａ）において「○」は、該当のライトストラテジパラメータに対して設定可能な記録補償タイプを表している。一方、「ＮＡ」は該当するライトストラテジパラメータに対して設定不可な記録補償タイプを表している。ＤＩユニットに記録されている記録補償タイプ情報で有効とされている記録補償タイプが選択された場合には「○」で示された記録補償を適用したライトストラテジパラメータがＤＩユニットに準備される。

図１７（ｂ）は、図１７（ａ）の組み合わせにおいて、３Ｔマーク記録時のライトストラテジパラメータの記録補償タイプに対する、取り得る値の組み合わせを示した別の一例を示している。図１７（ｂ）に示すように、Ｎ／２型の３Ｔマークはモノパルスであるため、前スペース補償と後ろスペース補償の「有効」「無効」の組み合わせによって、ライトストラテジパラメータの設定を行う。つまり、ＴＦ２のバイトは用意せず、後ろスペース補償が無効な場合はｄＴＥ２に１バイトを用意し、後ろエッジ位置を表す値を設定する。△は、設定される記録補償を適用したライトストラテジパラメータが用意されるが、記録補償を行わず、エッジ位置情報をあらわす情報が記録されている。また、キャッスル型のライトストラテジで説明しように、３Ｔモノパルス型を示す図１５（ｂ）、図１５（ｃ）と同様の設定も可能である。

次により具体的なライトストラテジパラメータの一例について説明する。図１８にライトストラテジパラメータの分類表の一覧を示す。ｄＴＦ１、ＴＦ２は、２Ｔマークを記録する際に前後のスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通り、前あるいは後のスペース長が２Ｔスペースの時には、さらに前あるいは後ろのマーク長を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りの合計２５通り（１〜２５）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。また、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上のマークを記録する際に前のスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計１２通り（２６〜３７）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。

同様に、ｄＴＥ１は２Ｔマークを記録する際に後ろのスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通り、後ろのスペース長が２Ｔスペースの時には、さらに後のマーク長を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りの合計１０通り（１〜１０）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。また、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上のマークを記録する際に後ろスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計１２通り（１１〜２２）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。同様に、ｄＴＥ２は３Ｔのマークを記録する際に後ろスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通り（１〜４）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。また、ＴＥ３は４Ｔ以上のマークを記録する際に後ろスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの合計８通り（１〜８）に分類し、それぞれ１バイトの情報で定義する。

つまり、図１８で示されるこれらのライトストラテジパラメータを図７（ａ）で示されるＤＩユニットのバイト番号「Ｊ」に記録する。

なお、記録補償タイプ情報に応じて、前後のマークによる干渉が少ないケースや、前あるいは後ろのスペース長のいずれかの組み合わせによって記録補償を行う場合、これらのパラメータのうち不要なパラメータの分類を削除して分類を簡略化できる。これにより、ＤＩユニットのライトストラテジパラメータのバイト数を減らすことが可能である。

また、図１８では、前後のスペース長を２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４×４の１６通りに分類したが、前後のスペース長を２Ｔ、３Ｔ以上の２通りに分類し４×２の８通りの分類表にすることも可能である。

また、ＤＩフォーマットの記録補償タイプを次のように用いることも可能である。

例えば、図７（ａ）および図７（ｂ）に示すように、「前スペース補償」が必要な記録補償タイプをＤＩユニットのＤＩフォーマット番号の所定のビットで定義しておく。ＤＩフォーマット番号で決められたライトストラテジパラメータのフォーマットを選択し、ＤＩフォーマット番号に応じた形式のライトストラテジパラメータｄＴＦ１、ＴＦ２の個々の値を、前マークに応じて同じ値を記録しておく。より具体的には、ＤＩフォーマット番号「Ｂ」のｂ５が「１」の場合、前マーク補償が適応されるＤＩフォーマットであり、ライトストラテジパラメータのバイト番号「Ｊ」には、前マーク補償に応じたバイトが図１４のｄＴＦ１、ＴＦ２ように準備される。ただし、図１４のｄＴＦ１の１と６、２と７、３と８、４と９、５と１０、ＴＦ２の１と６、２と７、３と８、４と９、５と１０、のバイトの値をそれぞれ同じにしておく。つまり、前マーク補償が「有効」の記録補償タイプがＤＩフォーマット番号で定義されているが、ＤＩユニットに記録されているライトストラテジパラメータとしては、前マーク補償を行っていないライトストラテジパラメータの値が入っていることとなる。

このような場合、情報記録装置は、以下のように記録補償タイプを利用することが可能である。例えば、前マーク補償されていない記録補償タイプで所望の光学的特性が確認できた光学的情報記録媒体を考える。このような光学的情報記録媒体であっても、市場には種々の特性の情報記録装置が存在するため、情報記録装置と光学的情報記録媒体との間の組み合わせによっては、所望の記録品質が確認できない可能性がある。この場合、情報記録装置はＤＩユニットに記載のライトストラテジパラメータを初期値として最適な記録補償値を求める記録補償学習というテスト記録が行われる。その際に、光学的情報記録媒体、情報記録層、記録速度に対応して、どの記録補償タイプを使って記録補償を行うのが効果的かあらかじめわかっていることが望ましい。そこで記録学習を行う際に有効な記録補償タイプの情報をＤＩユニットの記録補償タイプに設定する。たとえば、ライトストラテジパラメータとしては前マーク補償を行わないライトストラテジパラメータを設定し、記録補償タイプは前マーク補償が有効と設定する。

このような場合において、ＤＩユニットに記載のライトストラテジパラメータで所望の信号品質が得られなければ、ＤＩユニットに記載の有効となっている記録補償タイプを使って記録補償を優先的に行う。

このようにして情報記録装置は、記録補償タイプ情報を使って効果的に記録マークのエッジシフトを低減できる。より具体的には、光学的情報記録媒体の特性上、後ろスペース補償に効果がない光学的情報記録媒体の場合、ＤＩユニットの所定の情報記録層と記録速度の記録補償タイプに後ろスペース補償適応を「無効」と設定し、情報記録装置がＤＩユニットの記録補償タイプを読み出したときに、光学的情報記録媒体の所定の情報記録層と記録速度では後ろスペース補償の効果があまり期待できない記録媒体であるとあらかじめ判定し、テスト記録を行って記録補償を行う際に、前述の効果の期待できない記録補償タイプの記録補償学習を実施しなくすることができる。つまり、記録補償タイプで「有効」とされている効果の高い記録補償タイプの記録補償学習を優先的に実施することにより記録マークのシフト調整の精度を向上させることができる。また、効果の期待できない記録補償タイプによる記録補償学習をあらかじめ排除することができ、ＯＰＣ領域で行われるテスト記録の回数を低減することが可能である。特に、追記型光ディスクの場合には、ＯＰＣ領域のクラスタ数に限りがあるため、不要なテスト記録を何度も行うとＯＰＣ領域のクラスタを浪費してしまい、ＯＰＣ領域を全て使い切ってしまう可能性が高くなる。そこで本実施形態の記録補償タイプや記録補償タイプフラグをあらかじめＤＩユニットの所望のビットに記録しておく。これにより、ＯＰＣ領域を使い果たすことによって、光ディスクにデータを書き込みができなくなるという記録機会の逸失を低減する効果が得られる。

また、上述のように前後のスペース長だけでなく前後のマークの組み合わせに応じて拡張型の適応型記録補償を行う場合、記録補償の分類数が膨大になり、記録補償条件を求める作業を行う時間が長くなる。また、ＬＳＩの構成が複雑になるなどデメリットがある。そこで、光ディスク記録媒体の特性に応じて、必要な線速度、情報記録層の組み合わせにおいて記録補償の分類を変えることが好適的である。

また、光学的情報記録媒体によっては、直前のマークからの熱の拡散による熱干渉の影響が大きい光学的情報記録媒体もある。このような前マークの熱干渉が顕著な光学的情報記録媒体に拡張型の記録補償を適用する場合は、前後のスペース長と、さらに前のマークの長さに応じて記録補償テーブルを分類することも可能である。つまり、後ろマークのマーク長によらず分類することによって、記録補償の分類数を低減でき、ＤＩユニットのライトストラテジパラメータ数を削減でき、さらにＬＳＩを簡略化でき、効率的に熱干渉を取り除くことが可能となる。

また、直前あるいは直後のマークによる熱干渉が小さい場合においては、前あるいは後ろのマーク長に応じて記録補償テーブルの分類を行う以外に、着目したマークの前後のスペース長に応じて記録補償テーブルの分類を行ってもよい。例えば、記録パルス列の始端エッジを、着目するマークと前および後ろのスペース長によって分類することや、記録パルス列の終端エッジを、着目するマークと前および後ろのスペース長によって分類する方法も、記録補償の分類数を低減でき、ＤＩユニットのライトストラテジパラメータ数を削減できＬＳＩを簡略化することが可能となる。

（第２の実施形態）
以下、本発明による情報記録装置、情報再生装置、記録方法および再生方法の実施形態を説明する。図１９は、情報記録装置および情報再生装置として機能する情報記録再生装置の一例を示すブロック図である。図１９に示す情報記録再生装置は、第１の実施形態で説明した光学的情報記録媒体１０１に情報を記録し、記録された情報を再生する。このために、情報記録再生装置は、ピックアップ１０２、プリアンプ１０３、ＡＧＣ（Auto Gain Control）１０４、波形等化部１０５、Ａ／Ｄ変換部１０６、ＰＬＬ（Phase Locked Loop)部１０７、ＰＲＭＬ（Partial Response Maximum Likelihood)処理部１０８、シフト検出部１０９、記録パルス条件演算部１１０、記録パターン発生部１１１、記録補償部１１２、レーザ駆動部１１３および管理情報読み込み部１１４を備える。

まず、光学的情報記録媒体１０１からの情報の再生を説明する。ピックアップ１０２は、光学的情報記録媒体１０１に向けて光ビームを照射するレーザーダイオード（ＬＤ）を含む。レーザダイオードから出射した光は、光学的情報記録媒体１０１の情報記録層において反射し、反射してきた光はピックアップ１０２によって受光される。受光された光は、ピックアップ１０２のフォトディテクタによって電気信号に変換され、アナログの再生信号（ＲＦ信号）となる。アナログ再生信号は、プリアンプ１０３およびＡＧＣ１０４によって所定の振幅を有するように増幅された後、波形等化部１０５に入力される。

第１の実施形態で説明したように、光学的情報記録媒体１０１の管理領域であるＰＩＣ領域には、ＤＩユニットなどの光学的情報記録媒体１０１に関する制御情報が記録されている。この情報は、案内溝をトラッキング方向に変調することによって記録されているため、ＲＦ信号を波形等化処理することによって、管理情報読み込み部１１４がＰＩＣ領域の制御情報を読み込む。つまり、ライトストラテジタイプと記録補償タイプを示す情報を含む情報であるフォーマット番号などを含む制御情報を読み込む。この他、ＤＭＡのＯＰＣ領域管理情報も管理情報読み込み部１１４によってＲＦ信号から読み出される。

一方、ＲＦ信号に含まれるユーザデータ等を抽出するために、ＲＦ信号は、Ａ／Ｄ変換部１０６によって、アナログ信号からデジタル信号に変換される。さらにＰＬＬ部１０７によってクロック間隔でサンプリングされ、ＰＲＭＬ処理部１０８およびシフト検出部１０９に入力される。ＰＲＭＬ処理部１０８において、ビタビ復号などの最尤復号方法を用いてデジタル信号が最尤復号され、最尤復号の結果を示す２値化信号が生成する。

次に光学的情報記録媒体１０１への情報の記録を説明する。記録（書き込み）動作時には、上述したように、管理情報読み込み部１１４によって、ＤＩユニットから読み出された、ＤＩフォーマット番号、ライトストラテジパラメータ、記録パワーなどの制御情報が、記録パルス条件演算部１１０に入力され、ライトストラテジと記録パワーの条件がメモリ上に保持される。また、記録パターン発生部１１１により、任意の符号系列がＮＲＺＩ信号となり出力され、記録パルス条件演算部１１０の演算結果をもとに、記録補償部１１２で記録パルス条件を設定する。ＮＲＺＩ信号に応じて、記録パルス列に変換された信号によりレーザ駆動部１１３が、ピックアップ１０２内のレーザダイオードを駆動する。これにより、ライトストラテジタイプで定まる波形を有するレーザ光がピックアップ１０２から出射し、レーザ光の記録パワーの強弱によって、光学的情報記録媒体１０１の情報記録層の所望の位置に情報が記録される。

つまり、光学的情報記録媒体１０１に記録されていた制御情報に基づいて、記録パルス列を生成し、生成した記録パルス列の波形を有するレーザ光を光学的情報記録媒体１０１に照射して、記録マークを情報記録層に形成する。

本実施形態の情報再生装置、情報再生方法、情報記録装置、および、情報記録方法によれば、ＤＩフォーマット番号を利用することによって、ライトストラテジタイプ、記録補償タイプ、記録補償ステップ情報などが一度に判別できる。このため、記録補償などの処理を迅速に行うことが可能である。また、効果の期待できない記録補償タイプによる記録補償学習をあらかじめ排除することができ、ＯＰＣ領域で行われるテスト記録の回数を低減することが可能である。このため、ＯＰＣ領域を使い果たすことによって、光ディスクにデータを書き込みができなくなるという記録機会の逸失を低減する効果がある。

図２０（ａ）〜（ｆ）は、この光記録再生装置における記録符号列のマーク、スペースと、それを記録する記録パルス列発生動作の一例を説明する図である。図２０（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２０１を示している。基準時間信号１２０１はＴｗの周期を有するパルスクロックである。図２０（ｂ）は、記録パターン発生部１１１で発生された記録符号列のＮＲＺＩ（Non Return to Zero Inverted)信号を示している。ここでＴｗ（Ｔ）は検出窓幅であり、ＮＲＺＩ信号１２０２におけるマーク長およびスペース長の変化量の最小単位である。図２０（ｃ）は、光学的情報記録媒体上に実際に記録されるマークとスペースのイメージを示しており、レーザ光のスポットは、図２０（ｃ）を左から右へ相対的に走査する。マーク１２０７は、ＮＲＺＩ信号１２０２中の“１”レベルに１対１で対応しており、その期間に比例した長さで形成される。図２０（ｄ）は、カウント信号１２０４を示しており、マーク１２０７およびスペース１２０８の先頭からの時間をＴｗ単位で計時する。図２０（ｅ）は、パルス条件演算部１１０内における分類信号１２０５を模式的に示している。本例では各マークのマーク長の値と、各マークの前後のスペース長およびさらに前後のマーク長との５つの値の組み合わせによって分類している。例えば、図２０（ｅ）において「３−４−５−２−６」とは、マーク長が５Ｔｗのマークについて、その直前のスペース長が４Ｔｗ、さらにその前のマーク長が３Ｔｗであり、また、マーク長５Ｔｗの直後ろスペース長が２Ｔｗ、さらに直後のマーク長が６Ｔｗであることを表している。なお、Ｔｗを省略してそれぞれ２Ｔ、３Ｔとする場合がある。また、スペース長については４Ｔｓとｓであらわし、マーク長については２Ｔｍとｍであらわす場合がある。図２０（ｆ）は、図２０（ｂ）のＮＲＺＩ信号１２０２に対応した記録パルス信号を示している。実際に記録されるレーザ光が有する波形の一例である。これらの記録パルス信号１２０６は、カウント信号１２０４、ＮＲＺＩ信号１２０２、分類信号１２０５および記録パルス条件演算部１１０、管理情報読み込み部１１４から出力される記録補償テーブルデータを参照して生成される。

なお、本実施形態において、図２０（ｅ）の分類信号は、各マークのマーク長の値と、各マークの前後のスペース長およびさらに前後のマーク長との５つの値の組み合わせによって分類している。しかし、後述する例によっては、各マークのマーク長の値と、各マークの前あるいは後ろのスペース長およびさらに前あるいは後ろのマーク長との組み合わせであるが、ＤＩユニットから読み出された記録補償タイプに応じて適宜、３つあるいは４つの値の組み合わせによって分類する。

次に、本実施形態の記録再生装置における記録補償の動作について説明する。まず、上述したように、光学的情報記録媒体１０１のＰＩＣ領域から管理情報読み込み部１１４がＤＩユニットの制御情報を読み出し、ライトストラテジタイプ、記録補償タイプ、記録補償ステップ情報などをメモリに格納する。

管理情報読み取り部１１４で読み取られたライトストラテジタイプがＮ−１型の場合は図１１（ｃ）〜（ｆ）で示される記録パルス列を生成し、管理情報読み込み手段で読み出されたライトストラテジタイプがキャッスル型（ＣＡ）の場合には図１３で示される記録パルス列、Ｎ／２型のライトストラテジタイプの場合は、図１６で示される記録パルス列を生成する。

次に適応型記録補償について説明する。本実施形態の適応型記録補償は、各マークについて、記録パルス列を発生させる着目したマーク長とその直前および直後のスペース長との組み合わせによって、もしくは、直前および直後のスペース長の組み合わせと、前または後ろのマーク長との組み合わせによって、記録補償テーブルを分類する。各マークを記録する記録パルス列のエッジの位置およびパルス幅をこの分類結果に応じて変化量ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ＴＥ２だけ変化させて記録パルス信号を発生し、光学的情報記録媒体上に形成するマークの始端位置または後端位置を精密に制御する。従来のように、各マークについて、始端エッジ位置はそのマーク長と前のスペース長によって分類し、終端エッジ位置はそのマーク長と後ろのスペース長のみによって分類する場合に比べ、光学的な符号間干渉や熱干渉を考慮して、マークの始端位置や後端位置をよりいっそう精密に制御できる。

特に、着目するマークが２Ｔ（最短マーク）のときには、直前のスペース長が２Ｔ（最短スペース）であれば、さらに前のマーク長に応じて、記録補償テーブルを分類する。各マークを記録する記録パルス列のエッジの位置あるいはパルス幅をこの分類結果に応じて変化量ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ＴＥ２だけ変化させて記録パルス信号を発生し、光ディスク媒体上に形成するマークの始端位置または後端位置を精密に制御する。このため、光学的な符号間干渉や熱干渉を考慮した記録を行うことができる。

同様に、着目するマークが２Ｔ（最短マーク）のときには、直後のスペース長が２Ｔ（最短スペース）であれば、さらに後ろのマーク長に応じて、記録補償テーブルを分類する。各マークを記録する記録パルス列のエッジの位置およびパルス幅をこの分類結果に応じて変化量ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ＴＥ２だけ変化させて記録パルス信号を発生し、光ディスク媒体上に形成するマークの始端位置または後端位置を精密に制御する。このため、光学的な符号間干渉や熱干渉を考慮した記録を行うことができる。

上述したように、最短マーク（２Ｔ）および最短スペース(２Ｔ)が連続する場合に、前後のマーク長を最短マーク長(２Ｔ)とそれ以上のマーク長に分類して記録補償を行うことで、記録補償の分類数を低減でき、ＬＳＩの構成が複雑になることなく、効率的に光学的な符号間干渉あるいは熱干渉を取り除くことが可能となる。つまり、本実施形態の光学的情報記録媒体のＤＩユニット内にライトストラテジタイプと記録補償タイプを示す情報を含む情報であるＤＩフォーマット番号を記録し、もしくは、さらに記録補償ステップ情報を記録し、どのタイプのライトストラテジ、あるいは、記録補償タイプが必要であるか等のライトストラテジパラメータをディスク上の制御領域（ＰＩＣ領域）にあらかじめ記録しておくことが特に有用である。

特に、ＤＩフォーマット番号を読み出すことによって、ライトストラテジタイプ、記録補償タイプ、記録補償ステップ情報などが一度に判別できることは後段の処理を行う際に迅速に処理を実現することが可能である。

また、本実施形態の光学的情報記録媒体のＤＩユニットに記録されている記録補償タイプ情報を利用することによって、記録補償タイプで「有効」とされている効果の高い記録補償タイプの記録補償学習を優先的に実施することにより記録マークのシフト調整の精度を向上させることができる。また、効果の期待できない記録補償タイプによる記録補償学習をあらかじめ排除することができ、ＯＰＣ領域で行われるテスト記録の回数を低減することが可能である。特に、追記型光ディスクの場合には、ＯＰＣ領域のクラスタ数に限りがあるため、不要なテスト記録を何度も行うとＯＰＣ領域のクラスタを浪費してしまい、ＯＰＣ領域を全て使い切ってしまう可能性が高くなる。そこで本発明の記録補償タイプや記録補償タイプフラグをあらかじめＤＩユニットの所望のビットに記録しておく。ＯＰＣ領域を使い果たすことによって、光ディスクにデータを書き込みができなくなるという記録機会の逸失を低減する効果がある。

（第３の実施形態）
第２の実施形態で説明した記録方法における記録補償方法を、図２１に示すフローチャートを用いて、より詳細に説明する。

まず、光学的情報記録媒体上にあらかじめ記録されているＤＩユニットの制御情報（ライトストラテジタイプ情報、記録補償タイプ情報、記録補償ステップ情報等）を読み出す（Ｓ００）。

また、管理情報記録領域（ＤＭＡ）等を検索し、情報記録装置で書き込みをおこなった履歴があるかどうかをチェックする。書き込み履歴があった場合には、そのときに、記録装置が記録した制御情報を読みだす。

以降、読み出した結果、ライトストラテジタイプがＮ−１型、記録補償タイプが前後ろマーク補償および前後ろスペース補償、記録補償ステップがＴｗ／１６で場合の手順について説明する。

つぎに、記録すべき情報を符号化し、図２０（ｂ）に示すＮＲＺＩ信号１２０２のようなマークおよびスペースの組み合わせである符号化データを作成する（Ｓ０１）。

記録補償タイプ情報に基づいて、マークについて、そのマーク長と前後のスペース長と、さらに前後のマーク長の組み合わせとして分類する（Ｓ０２）。図２０（ｅ）では、２Ｔマークについては「Ｘ−２−２−３−３」であり、３Ｔマークについては「２−３−３−４−５」であり、５Ｔマークについては「３−４−５−２−６」であり、６Ｔマークについては「５−２−６−２−Ｘ」である。ここでＸは図示しきれなかった符号をあらわし、実際には、符号系列に応じて分類された数字が入る。また、それぞれ、「前マーク長」「前スペース長」、「記録補償を行うのに直目したマークのマーク長」、「後ろスペース長」、「後ろマーク長」の順で並んで表示されている。

ライトストラテジタイプ情報に基づいて、マークを形成するための記録パルス列のパルスエッジの位置を分類結果に対応して変化させ、記録パルス列を制御する（Ｓ０３）。例えば、図１１の（ｃ）〜（ｆ）では、始端側のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＦ１、パルス幅ＴＦ２だけ変化させる。さらに後端側のパルスエッジの位置をエッジ変化量ｄＴＥ１、ｄＴＥ２だけ変化させる。

記録パルス列で示される波形を有するレーザ光を光学的情報記録媒体のＯＰＣ領域に照射してテスト記録を行い、記録マークを形成する（Ｓ０４）。必要であれば、記録補償値を変えながら複数回のテスト記録を行い、テスト記録を完了する。

テスト記録完了後、最終的に決定したライトストラテジパラメータ情報と記録補償タイプ情報を管理領域に記録する（Ｓ０５）。

以下、図２２（ａ）〜（ｄ）を参照し、２Ｔのマーク長を有するマーク６０１を例にとりながら、記録補償の詳細な手順を説明する。

図２２（ａ）は、記録動作の時間基準となる基準時間信号１２０１を示しており、図２２（ｂ）はカウンタによって発生するカウント信号１２０４を示している。また、図２２（ｃ）は、記録パルス列１２０６を示しており、記録パルスエッジの位置を基準位置に対して変化量ｄＴＦ１、ｄＴＥ１だけ変化させている。またＴＦ２は記録するパルスのパルス幅をあらわす。図２２（ｄ）は、図２２（ｃ）に示す記録パルス列の波形を有するレーザ光によって記録されたマーク長２Ｔのマーク６０１を模式的に示している。マーク６０１のエッジ位置およびパルス幅の変化量ｄＴＦ１およびＴＦ２は、図８に示す分類表のように、記録するマークのマーク長と、前後のスペース長および前後のマーク長とに応じて分類した結果に基づいて規定されている。

図８は記録パルス列におけるＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１の移動量の分類を示している。例えば、図中のｄＴＦ１の６は、ｄＴＦ１の６番目のバイトを表し、この１バイトにエッジ移動を規定した値が記録されている。つまり、ｄＴＦ１の６番目のバイトには、直後のスペース長が２Ｔスペース、直後のマークが２Ｔマーク、直前のスペース長が２Ｔスペース、更に前のマーク長が３Ｔ以上のマークである場合における、２Ｔマークを記録する際の記録パルスのエッジ移動量ｄＴＦ１が記録されている。同様に、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ＴＥ２、ＴＭも、図８に示される分類にしたがって、所定のバイト位置に、エッジ移動量あるいはパルス幅変化量が１バイトの情報で記録されている。

このエッジ変化量ｄＴＦ１およびパルス幅変化量ＴＦ２は、記録するマークのマーク長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りと、前スペース長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通り、前スペースが２Ｔスペースの場合のさらに前マーク長について、２Ｔ、３Ｔ以上の２通り、また、２Ｔマークにおいては、後ろスペース長について、２Ｔ、３Ｔ、４Ｔ、５Ｔ以上の４通りの、計３５通りに分類して規定している。なお、ここでは、エッジ変化量ｄＴＦ１およびパルス変化量ＴＦ２について、マーク長について４通り、前スペース長について４通り、前マーク長について２通りに分類しているが、これはＤＩフォーマット番号であらかじめ定義されている記録補償の分類テーブルを参照し作成される。ＤＩユニットの別の記録補償タイプが選択された場合には、これらのバイトのうち不要なパラメータはライトストラテジパラメータのバイトからあらかじめ除外されていてよい。例えば、前マーク長が不要な場合には、ｄＴＦ１、ＴＦ２の１と６、２と７、３と８、４と９、５と１０番目のバイトに同じ値を入れるようにしてもよい。あるいは、これらのパラメータのバイトをどちらか一方のバイトに統合して、ライトストラテジパラメータのバイト数を減らしてもよい。

このエッジ変化量ｄＴＦ１およびＴＦ２は、記録補償ステップ情報に基づいてて０．５ｎｓｅｃのように絶対時間で規定してもよく、あるいは基準時間信号に基づいてＴｗ／１６や、Ｔｗ／３２の整数倍の値のように規定してもよい。また、Ｔｗ／３２の整数倍の値のように規定してもよい。

また、２Ｔマーク、３Ｔマーク、４Ｔマーク、５Ｔ以上マーク毎に、ｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ＴＥ２の基準となる値を１つ決定し、前後のスペース長あるいは前後のマーク長に応じた記録補償値を前述の各マーク長の基準値に対する差分情報として規定しておいてもよい。

つまり、図７（ａ）のバイト番号「Ｊ」で表わされるＤＩユニットのライトストラテジパラメータは、所定のマーク長の記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量の基準値を含んでも良い。さらに、所定のマーク長の記録マークに対して、所定のマーク長と所定のマーク長の記録マークの前後のスペース長との組み合わせにより記録補償を行なう場合の記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量の値は、基準値に対する差分情報として、ＤＩユニットのライトストラテジパラメータに含まれても良い。

例えば、図８のｄＴＦ１における「２５」つまり、記録すべきマーク長が「２Ｔ」であり、前のスペース長が「≧５Ｔ」である場合における記録パルス列の始端の変化量ｄＴＦ１を基準値として、ライトストラテジパラメータのｄＴＦ１についての２５番目のバイトに格納してもよい。

この場合、例えば、図８のｄＴＦ１における「２０」、つまり、記録すべきマーク長が「２Ｔ」であり、前のスペース長が「４Ｔ」である場合において、ｄＴＦ１の２０番目のバイトに記録される情報は、変化量ｄＴＦ１そのものではなく、上述の基準値に対する差分情報であってもよい。

このとき、「２０」に格納された値（差分情報）が０である場合は、「２０」のライトストラテジパラメータが意味する変化量は、基準値である「２５」と同じ値であることを意味する。また、「２０」に格納された値（差分情報）が「１／１６×Ｔｗ」である場合は、「２０」のライトストラテジパラメータが意味する変化量は、基準値である「２５」に格納された値に「１／１６×Ｔｗ」を加算した値であることを意味する。

このようにすることによって、特に、前後ろスペースに応じた記録補償あるいは前後ろマーク長に応じた記録補償を行わない場合には、各マーク長の基準となるｄＴＦ１、ＴＦ２、ｄＴＥ１、ＴＥ２のみを読み出し、前後ろスペース補償による差分のバイト情報を読みだすことなく高速に記録補償値を光学的情報記録媒体から読み出すことが可能となる。また、情報記録装置のメモリの節約となり、ＬＳＩの構成を簡略化することが可能である。また、差分情報を記録することによって、図７（ａ）のバイト番号「Ｊ」であらわされるＤＩユニットのライトストラテジパラメータのバイト数を削減することが可能となる。

次に記録パターンについて説明する。ユーザーデータを通常用いられる１７ＰＰ変調によって変調した記録パターンでは、変調前のユーザーデータにも依存するが、符号長が長くなるにつれて出現頻度（確率）が低下する。具体的には、例えば出現頻度は、おおよそ２Ｔが３８％、３Ｔが２５％、４Ｔが１６％・・・というように、２Ｔ＞３Ｔ＞４Ｔ＞・・・＞８Ｔの関係を満たす。

このように符号長の出現頻度の異なる記録パターンを使って記録パルス条件を変えて記録し、記録したマークを読み出して、２つの記録パルス条件の差をエッジずれ量として検出する場合、前述の変調符号の符号長別の出現頻度の影響を受け、ＰＬＬがロックする位相が特定の符号長の影響を顕著に受けて変化する。特に、１／３以上の出現確率をもつ２Ｔマークを記録した際には、２Ｔのマークのエッジ位置が変化すると、全体の記録マークの平均的な位相分布が変わり、ＰＬＬがロックする位相がシフトする。その結果、ＰＬＬクロックを使って、記録マークのエッジ位置情報を検出する場合、比較的出現頻度の少ないマーク長、特に本実施の形態では４Ｔ以上のマーク長で、エッジ位置情報あるいはマークの位相成分に関する検出誤差が顕著となる。

このため本実施形態における２Ｔ、３Ｔマーク調整用の記録パターンとしては、２Ｔから８Ｔまでの符号長の出現頻度が概略均等であり、かつＤＳＶ制御された特定パターンを用いて記録することが好ましい。前述の出現頻度が均等な特定パターンを用いることで、各符号長の出現頻度は１／７と等しくなり、２Ｔ、３Ｔはそれぞれ１／７、４Ｔ以上は５／７の出現頻度となり、４Ｔ以上のマークの出現頻度が大勢を占めることになる。この場合、２Ｔ、３Ｔマークの記録パルス条件を変化させても、変化させていない４Ｔ以上の記録マークのエッジ位置は変わらないため、全体としてＰＬＬの位相変化は少なく、ＰＬＬの位相シフトによる検出誤差を低減できる。

また記録補償の順番であるが、記録補償優先順位フラグの順番を参照して記録補償を行う。ここでは、２Ｔマーク記録時の記録補償の優先順位が、前スペース補償、後ろスペース補償、前マーク補償、後ろマーク補償の順番に優先順づけがなされていた場合について説明する。

初めに、あらかじめ記録する信号として、最短マーク長（２Ｔ）を除いた符号系列で第１の試し書きを行い、マーク長が３Ｔ以上の符号長の前後のスペース長によらない記録補償値を求めた後、第２の試し書きを行う。これにより、３Ｔ以上のマーク長の前後のスペースに応じた記録補償値を求める。さらに、第３の試し書きにおいて、２Ｔ信号を含んだ符号系列で試し書きを行って、２Ｔ信号を含めた前後のスペース長によらない記録補償値を求める。次に第４の試し書きを行い、２Ｔ信号を含んだ符号系列で前のスペース長による記録補償値を求める。次に第５の試し書きを行い、２Ｔ信号を含んだ符号系列で後ろのスペース長による記録補償値を求める。次に第６の試し書きを行い、２Ｔ信号を含んだ符号系列で前後のマーク長による記録補償値を求める。

３３．４ＧＢの記録容量を有する光学的情報記録媒体のように、再生信号中、短マーク・スペースに対応する信号の振幅が極めて小さい場合、２Ｔ信号の記録マーク位置が正確に記録できていなと、３Ｔ以上の長いマーク・スペースの位置を正しく合わせるのが困難になる場合がある。このような非常に符号間干渉の影響の大きい信号を記録する場合、初めに３Ｔ以上の符号長のマークを記録し、３Ｔ以上のマーク・スペースのエッジ位置を正確に記録補償する。その後、２Ｔ信号を含む信号を記録して、２Ｔマークとスペースとの記録位置を正確に補償することにより、より正確にかつ効率よく記録することができ、再生信号品質を向上させることができる。

また、試し記録時には、２Ｔや３Ｔマークなどの短いマークの記録マークの大きさや、シフト量が記録条件毎に異なる。そのたびごとに、適応等価フィルタのタップ係数が変化すると、記録状態の変化に加えて、再生状態の変化による読み出した信号のシフト状態が加わることになる。したがって、記録条件の違いにより生じるシフト調整を正確に行うために、記録調整を行う際には、再生イコライザのブースト値あるいは、適応等化フィルタのタップ係数をあらかじめ試し記録あるいは記録補償調整用に固定するほうが好ましい。こうすることによって、正確に各パターンのシフト位置を調整できる。

また、本実施の形態においては、光学的情報記録媒体によっては、マークの前後のスペース長に応じて熱干渉の影響が顕著に変化する光学的情報記録媒体も存在する。そのような光学的情報記録媒体に書き込みを行うときなどは、マーク長だけでなく前後のスペース長に応じても記録パルス条件を変化させる必要がある。ただし、マークの前後のスペース長を考慮した場合、記録パルス条件の組み合わせの数は、２次元的に増加するため、試し記録して調整を行うパラメータの数が多くなり、学習に要する時間や記録条件の学習領域のトラックを多数消費することとなる。追記型ディスクのように１回しか記録できない光学的情報記録媒体では記録条件の学習領域のトラック数の制限から学習できる回数に制限があり、多数のトラックを１回の学習で消費するのは好ましくない。そこで、本実施形態の記録パルス条件を最適化する方法では、マーク長毎の分類で記録パルス条件の調整を行い、マークの前後のスペース長での補償が必要のない特性をもった光学的情報記録媒体の場合には不要な調整ステップを実施することなくマーク長のみの記録パルス条件の補正を行う。このようにマーク長毎の調整に記録パルス条件の補正を限定することで、調整時間を短縮でき効率的に記録マークの信号品質を向上させることが可能となる。

一方、マークの前後のスペース長およびさらに前後ろマーク長に応じて記録パルス条件の調整が必要とされている光学的情報記録媒体や、マークおよび前後のスペース長毎の記録パルス条件の補正を実施しただけでは記録マークのずれを十分に補償できない場合などは、マークの前後ろスペース長だけでなくさらに前後のマーク長に応じた記録パルス条件の調整を行うことで記録マークの信号品質を向上させることができる。

また、ＤＩユニットから読み出された記録補償タイプ情報に基づいて、どの記録補償タイプが有効な記録補償タイプであるか、記録補償のマーク長・スペース長の分類数、前マーク補償の必要の有無、後ろマーク補償の必要の有無や分類数等の情報をＤＩから読み出して利用することが可能である。こうすることによって、光学的情報記録媒体の特性に応じて、不要な調整ステップを実施することなく記録パルス条件の補正を行うことできる。このように記録補償の分類数や前後ろマーク補償の必要の有無があらかじめわかっている場合、調整時間を短縮でき、効率的に記録マークの信号品質を向上させることが可能となる。

さらに、情報記録装置で記録補償を学習した結果、得られた記録補償値や、各記録補償タイプの有無や、記録補償のマーク長・スペース長の分類数、前マーク補償の必要の有無、後ろマーク補償の必要の有無や分類数等の情報を、ＤＭＡ領域１００２（図３）の中に記録してもよい。こうすることによって、記録速度、情報記録層ごとに異なる記録媒体の特性に応じて、次回起動時に不要な調整ステップを実施することなく記録パルス条件の補正を行うことができる。このように記録補償の分類数や前後ろマーク補償の必要の有無があらかじめわかっている場合、調整時間を短縮でき、効率的に記録マークの信号品質を向上させることが可能となる。

また、本実施形態では、追記型の光学的情報記録媒体を例に挙げて本発明を説明したが、これに限定されるわけではなく、本発明は、書き換え型の光学的情報記録媒体にも適用可能である。

（第４の実施形態）
本発明による光学的情報記録媒体の製造装置の実施形態を説明する。図２３は、光学的情報記録媒体の製造装置のうち原盤カッティング装置を模式的に示している。図２３に示すように、原盤カッティング装置は、対物レンズ１１０３、モータ１１０４、光変調器１１０５、レーザ１１０６およびターンテーブル１１０７を備える。

ターンテーブル１１０７には、無機レジスト１１０２が塗布されたガラス原盤１１０１が載置され、所定の速度で、モータ１１０４のより回転駆動される。

レーザ１１０６から出射したレーザビームは光変調器１１０５によって出力パワーの変調を受け、対物レンズ１１０３によって所定の状態に集光され、ガラスラス原盤１１０１に塗布された無機レジスト１１０２に照射される。このとき、２値記録は照射の有無により実現される。

図５に示すように、ＰＩＣ領域に記録されるＤＩフォーマット番号を含むＤＩユニットの情報は、例えば、ＨＦＭ(High Frequency Modulation)グルーブによって光学的情報記録媒体に記録される。このため、ガラス原盤１１０１を作製する際、光変調器１１０５は、第１の実施形態で詳細に説明したＤＩフォーマット番号やその他の制御情報を含むＤＩユニットの情報でレーザ光を変調する。

この後、レーザ照射された部分を溶かし、ニッケル等の金属をスパッタリングすることにより、ＨＦＭグルーブによってウォブリングされた、ＤＩユニットを含むＰＩＣ領域を有する金属スタンパが作成される。金属スタンパを金型として、光学的情報記録媒体の基板を作製し、基板に情報記録層を構成する記録膜等を形成するする。少なくとも一方に記録膜が形成されている２枚の基板を貼り合わせることにより１枚の光学的情報記録媒体が作製される。

（第５の実施形態）
本発明による光学的情報記録媒体の製造方法の実施形態を説明する。第４の実施形態で説明したように、原盤カッティング装置を用いて、ＤＩユニットを含む管理領域であるＰＩＣ領域をガラス原盤１１０１に形成する。

第１の実施形態で説明したように、記録補償タイプとライトストラテジタイプとを示す情報を含むＤＩフォーマット番号や、図７（ａ）に示すようにレイヤー情報、記録速度などの制御情報を含むＤＩユニットが設けられたＰＩＣ領域が、原盤カッティング装置を用いて、ガラス原盤１１０１に形成される。

このガラス原盤を用いて、金属スタンパを作製し、金属スタンパを金型として、光学的情報記録媒体を作製することができる。

このような製造方法によって、ＤＩフォーマット番号を含むＤＩユニットが記録された光学的情報記録媒体を作製することができる。

本発明は、追記型または書き換え型の高密度記録が可能な光学的情報記録媒体、およびその光学的情報記録媒体に適合した情報記録装置、情報再生装置、情報記録法、情報再生方法に好適に用いられる。また、これらを用いたデジタル家電機器、情報処理装置を含む電機機器産業等に利用可能である。

１０１ 光学的情報記録媒体
１０２ ピックアップ
１０３ プリアンプ部
１０５ 波形等化部
１０８ ＰＲＭＬ処理部
１０９ エッジシフト検出部
１１０ 記録パルス条件演算部
１１１ 記録パターン発生部
１１２ 記録補償部
１１３ レーザ駆動部
１１４ 管理情報読み込み部

Claims (22)

1. 少なくとも１つの情報記録層を有する光学的情報記録媒体であって、
   前記光学的情報記録媒体は、前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、
   前記制御情報は、
   ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、
   記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータと
   を含み、
   前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、
   前記記録マークの直前のスペースのスペース長である前スペース長は、第１から第ＭまでのＭ種類（Ｍは２以上の整数）に分類され、
   前記ライトストラテジパラメータは、前記第Ｍの分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報である基準値を含み、
   前記第Ｍの分類とは異なる分類である第１から第Ｍ−１の分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報は、前記基準値に対する差分情報として、前記ライトストラテジパラメータに含まれる、
   光学的情報記録媒体。
2. 前記記録補償タイプは、
   前記記録マークのマーク長と、前記記録マークの直前の第１のスペースのスペース長と、前記記録マークの直後の第２のスペースのスペース長のうち、
   前記記録マークのマーク長と前記第１のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う前スペース補償、もしくは、前記記録マークのマーク長と前記第２のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う後ろスペース補償のいずれか一方のみを行う場合を示す第１のタイプと、
   前記前スペース補償と前記後ろスペース補償のいずれも行う場合を示す第２のタイプとを含む、請求項１に記載の光学的情報記録媒体。
3. 前記フォーマット番号は、複数のビットで表され、
   前記複数のビットのうちの１つのビットの値が、前記記録補償タイプが前記第１のタイプであるか前記第２のタイプであるかを示す、
   請求項２に記載の光学的情報記録媒体。
4. 前記ライトストラテジタイプは、Ｎ−１型、Ｎ／２型、キャッスル型の少なくとも３つのライトストラテジタイプを含む請求項１に記載の光学的情報記録媒体。
5. 前記光学的情報記録媒体は、少なくとも１つの記録速度で書き込み可能であり、
   前記管理領域には、前記少なくとも１つの記録速度と前記少なくとも１つの情報記録層との組み合わせのうち、少なくとも１つの組み合わせに対応する前記制御情報を含む前記ユニットが格納される、請求項１に記載の光学的情報記録媒体。
6. 前記ユニットは、
   前記ユニットに含まれる前記制御情報が、前記少なくとも１つの情報記録層のうち、どの情報記録層に適用されるかを示すレイヤー情報と、
   前記ユニットに含まれる前記制御情報が、前記少なくとも１つの記録速度のうち、どの記録速度に適用されるかを示す記録速度情報とを含む、
   請求項５に記載の光学的情報記録媒体。
7. 光学的情報記録媒体に情報を記録する情報記録装置であって、
   前記光学的情報記録媒体は、
   少なくとも１つの情報記録層を有し、
   前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、
   前記制御情報は、
   ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、
   記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータと
   を含み、
   前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、
   前記記録マークの直前のスペースのスペース長である前スペース長は、第１から第ＭまでのＭ種類（Ｍは２以上の整数）に分類され、
   前記ライトストラテジパラメータは、前記第Ｍの分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報である基準値を含み、
   前記第Ｍの分類とは異なる分類である第１から第Ｍ−１の分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報は、前記基準値に対する差分情報として、前記ライトストラテジパラメータに含まれ、
   前記情報記録装置は、前記制御情報に基づいて前記記録パルス列を生成し、前記記録パルス列の波形を有するレーザ光を前記光学的情報記録媒体に照射して前記記録マークを形成する情報記録装置。
8. 前記記録補償タイプは、
   前記記録マークのマーク長と、前記記録マークの直前の第１のスペースのスペース長と、前記記録マークの直後の第２のスペースのスペース長のうち、
   前記記録マークのマーク長と前記第１のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う前スペース補償、もしくは、前記記録マークのマーク長と前記第２のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う後ろスペース補償のいずれか一方のみを行う場合を示す第１のタイプと、
   前記前スペース補償と前記後ろスペース補償のいずれも行う場合を示す第２のタイプとを含む、請求項７に記載の情報記録装置。
9. 前記フォーマット番号は、複数のビットで表され、
   前記複数のビットのうちの１つのビットの値が、前記記録補償タイプが前記第１のタイプであるか前記第２のタイプであるかを示す、
   請求項８に記載の情報記録装置。
10. 前記ライトストラテジタイプは、Ｎ−１型、Ｎ／２型、キャッスル型の少なくとも３つのライトストラテジタイプを含む請求項７に記載の情報記録装置。
11. 前記光学的情報記録媒体は、少なくとも１つの記録速度で書き込み可能であり、
    前記管理領域には、前記少なくとも１つの記録速度と前記少なくとも１つの情報記録層との組み合わせのうち、少なくとも１つの組み合わせに対応する前記制御情報を含む前記ユニットが格納される、請求項７に記載の情報記録装置。
12. 前記ユニットは、
    前記ユニットに含まれる前記制御情報が、前記少なくとも１つの情報記録層のうち、どの情報記録層に適用されるかを示すレイヤー情報と、
    前記ユニットに含まれる前記制御情報が、前記少なくとも１つの記録速度のうち、どの記録速度に適用されるかを示す記録速度情報とを含む、
    請求項１１に記載の情報記録装置。
13. 光学的情報記録媒体から情報を再生する情報再生装置であって、
    前記光学的情報記録媒体は、
    少なくとも１つの情報記録層を有し、
    前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、
    前記制御情報は、
    ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、
    記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータと
    を含み、
    前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、
    前記記録マークの直前のスペースのスペース長である前スペース長は、第１から第ＭまでのＭ種類（Ｍは２以上の整数）に分類され、
    前記ライトストラテジパラメータは、前記第Ｍの分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報である基準値を含み、
    前記第Ｍの分類とは異なる分類である第１から第Ｍ−１の分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報は、前記基準値に対する差分情報として、前記ライトストラテジパラメータに含まれ、
    前記情報再生装置は、前記管理領域に格納された前記ユニットから前記制御情報を読み出す情報再生装置。
14. 前記記録補償タイプは、
    前記記録マークのマーク長と、前記記録マークの直前の第１のスペースのスペース長と、前記記録マークの直後の第２のスペースのスペース長のうち、
    前記記録マークのマーク長と前記第１のスペースのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う前スペース補償、もしくは、前記記録マークのマーク長と前記第２のスペー
    スのスペース長との組み合わせにより記録補償を行う後ろスペース補償のいずれか一方のみを行う場合を示す第１のタイプと、
    前記前スペース補償と前記後ろスペース補償のいずれも行う場合を示す第２のタイプとを含む、請求項１３に記載の情報再生装置。
15. 前記フォーマット番号は、複数のビットで表され、
    前記複数のビットのうちの１つのビットの値が、前記記録補償タイプが前記第１のタイプであるか前記第２のタイプであるかを示す、
    請求項１４に記載の情報再生装置。
16. 前記ライトストラテジタイプは、Ｎ−１型、Ｎ／２型、キャッスル型の少なくとも３つのライトストラテジタイプを含む請求項１３に記載の情報再生装置。
17. 前記光学的情報記録媒体は、少なくとも１つの記録速度で書き込み可能であり、
    前記管理領域には、前記少なくとも１つの記録速度と前記少なくとも１つの情報記録層との組み合わせのうち、少なくとも１つの組み合わせに対応する前記制御情報を含む前記ユニットが格納される、請求項１３に記載の情報再生装置。
18. 前記ユニットは、
    前記ユニットに含まれる前記制御情報が、前記少なくとも１つの情報記録層のうち、どの情報記録層に適用されるかを示すレイヤー情報と、
    前記ユニットに含まれる前記制御情報が、前記少なくとも１つの記録速度のうち、どの記録速度に適用されるかを示す記録速度情報とを含む、
    請求項１７に記載の情報再生装置。
19. 光学的情報記録媒体に情報を記録するための情報記録方法であって、
    前記光学的情報記録媒体は、
    少なくとも１つの情報記録層を有し、
    前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、
    前記制御情報は、
    ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、
    記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータと
    を含み、
    前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、
    前記記録マークの直前のスペースのスペース長である前スペース長は、第１から第ＭまでのＭ種類（Ｍは２以上の整数）に分類され、
    前記ライトストラテジパラメータは、前記第Ｍの分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報である基準値を含み、
    前記第Ｍの分類とは異なる分類である第１から第Ｍ−１の分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報は、前記基準値に対する差分情報として、前記ライトストラテジパラメータに含まれ、
    前記情報記録方法は、前記制御情報に基づいて前記記録パルス列を生成し、前記記録パルス列の波形を有するレーザ光を前記光学的情報記録媒体に照射して前記記録マークを形成するステップを含む情報記録方法。
20. 光学的情報記録媒体から情報を再生する情報再生方法であって、
    前記光学的情報記録媒体は、
    少なくとも１つの情報記録層を有し、
    前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を含み、
    前記制御情報は、
    ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、
    記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータと
    を含み、
    前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、
    前記記録マークの直前のスペースのスペース長である前スペース長は、第１から第ＭまでのＭ種類（Ｍは２以上の整数）に分類され、
    前記ライトストラテジパラメータは、前記第Ｍの分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報である基準値を含み、
    前記第Ｍの分類とは異なる分類である第１から第Ｍ−１の分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報は、前記基準値に対する差分情報として、前記ライトストラテジパラメータに含まれ、
    前記情報再生方法は、前記管理領域に格納された前記ユニットから前記制御情報を読み出すステップを含む情報再生方法。
21. 少なくとも１つの情報記録層を有する光学的情報記録媒体を製造するための製造方法であって、
    前記製造方法は、
    前記光学的情報記録媒体に関する制御情報を含む少なくとも１つのユニットを格納する管理領域を形成するステップを含み、
    前記制御情報は、
    ライトストラテジタイプと記録補償タイプとを示す情報を含む情報であるフォーマット番号と、
    記録マークを形成するための記録パルス列のエッジ位置またはパルス幅の変化量を示す情報であるライトストラテジパラメータと
    を含み、
    前記フォーマット番号は、前記ライトストラテジタイプと前記記録補償タイプとの組み合わせに応じて、異なる値を持ち、
    前記記録マークの直前のスペースのスペース長である前スペース長は、第１から第ＭまでのＭ種類（Ｍは２以上の整数）に分類され、
    前記ライトストラテジパラメータは、前記第Ｍの分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報である基準値を含み、
    前記第Ｍの分類とは異なる分類である第１から第Ｍ−１の分類に対する記録パルス列の始端エッジ位置の変化量を示す情報は、前記基準値に対する差分情報として、前記ライトストラテジパラメータに含まれる、
    製造方法。
22. 前記制御情報に関連する情報を前記管理領域に形成するステップを含む、
    請求項２１に記載の製造方法。
    

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