JP5190754B2 - 波形測定装置 - Google Patents
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Description
入力された測定波形をデジタル信号に変換して記憶する入力ブロックを備え、測定波形の測定を行う波形測定装置において、
前記入力ブロックから出力された測定波形の特徴を抽出する特徴抽出部と、
この特徴抽出部で抽出された特徴に基づいて統計処理を行う統計処理部と、
この統計処理部から出力された信号に基づいて測定波形にかけるマスクを生成する検索条件生成部と、
この検索条件生成部で生成されたマスクと測定波形を比較して異常波形を検出する検索実行部とを備え、
少なくとも、前記特徴抽出部が、測定波形のディスタルライン、メシアルライン、およびプロキシマルラインを算出すると共に、これらの値に基づいて測定波形の周期に関する特徴を求め、
前記統計処理部は、前記特徴抽出部で抽出された測定波形の周期に関する特徴より平均周期(Tave)を求め、
前記検索条件生成部は、TaveとT1からTnまでの周期波形を比較し、Tn > Taveの場合は時間軸方向に圧縮してTaveと同じ周期のTn'とし、Tn < Taveの場合は時間軸方向に補間してTaveと同じ周期のTn'とし、T1'からTn'に対して同じ時間成分のデータを統計処理することにより時間成分毎に平均値と分散を求め、この平均値と分散からマスク波形を生成することを特徴とする。
前記検索実行部は、
Tn > Taveの場合、前記検索条件生成部で生成されたマスク波形を時間軸方向に補間してTnと比較し、
Tn < Taveの場合、前記検索条件生成部で生成されたマスク波形を時間軸方向に圧縮してTnと比較することを特徴とする。
(1)Tn > Taveの場合、圧縮部332を用いて、時間軸方向に圧縮し、Taveと同じ周期のTn’とする。
(2)Tn < Taveの場合、補間部331を用いて、時間軸方向に補間し、Taveと同じ周期のTn’とする。ここで、「’」は補間または圧縮後であることを意味する。
(4)averageとσを用いてマスク波形を作成する。
(1)Tn > Taveの場合、マスク波形を時間軸方向に補間し、Tnと比較する。
(2)Tn < Taveの場合、マスク波形を時間軸方向に圧縮し、Tnと比較する。
(1)検索条件生成部330は、
Tn > Taveの場合には、マスク波形を「時間軸」方向に補間する。そして、
(a)PPn > PPaveの場合には、マスク波形を「縦軸」方向に補間し、
(b)PPn < PPaveの場合には、マスク波形を「縦軸」方向に圧縮する。
検索実行部340は、このようにして生成したマスク波形をゾーンとしてTnとを比較する。
Tn < Taveの場合、マスク波形を「時間軸」方向に補間し、Tnと比較する。すなわち、上述した(1)と同様に、
(d)PPn < PPaveの場合には、マスク波形を「縦軸」方向に圧縮する。そして、このようにして生成したマスク波形をゾーンとしてTnと比較する。
50 表示部
100 入力ブロック
300 演算部
310 特徴抽出部
320 統計処理部
330 検索条件生成部
331 補間部
332 圧縮部
340 検索実行部
Claims (2)
- 入力された測定波形をデジタル信号に変換して記憶する入力ブロックを備え、測定波形の測定を行う波形測定装置において、
前記入力ブロックから出力された測定波形の特徴を抽出する特徴抽出部と、
この特徴抽出部で抽出された特徴に基づいて統計処理を行う統計処理部と、
この統計処理部から出力された信号に基づいて測定波形にかけるマスクを生成する検索条件生成部と、
この検索条件生成部で生成されたマスクと測定波形を比較して異常波形を検出する検索実行部とを備え、
少なくとも、前記特徴抽出部が、測定波形のディスタルライン、メシアルライン、およびプロキシマルラインを算出すると共に、これらの値に基づいて測定波形の周期に関する特徴を求め、
前記統計処理部は、前記特徴抽出部で抽出された測定波形の周期に関する特徴より平均周期(Tave)を求め、
前記検索条件生成部は、TaveとT1からTnまでの周期波形を比較し、Tn > Taveの場合は時間軸方向に圧縮してTaveと同じ周期のTn'とし、Tn < Taveの場合は時間軸方向に補間してTaveと同じ周期のTn'とし、T1'からTn'に対して同じ時間成分のデータを統計処理することにより時間成分毎に平均値と分散を求め、この平均値と分散からマスク波形を生成することを特徴とする波形測定装置。 - 前記検索実行部は、
Tn > Taveの場合、前記検索条件生成部で生成されたマスク波形を時間軸方向に補間してTnと比較し、
Tn < Taveの場合、前記検索条件生成部で生成されたマスク波形を時間軸方向に圧縮してTnと比較することを特徴とする請求項1記載の波形測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007227942A JP5190754B2 (ja) | 2007-09-03 | 2007-09-03 | 波形測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2007227942A JP5190754B2 (ja) | 2007-09-03 | 2007-09-03 | 波形測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JP2009058469A JP2009058469A (ja) | 2009-03-19 |
JP5190754B2 true JP5190754B2 (ja) | 2013-04-24 |
Family
ID=40554324
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2007227942A Active JP5190754B2 (ja) | 2007-09-03 | 2007-09-03 | 波形測定装置 |
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JP (1) | JP5190754B2 (ja) |
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