JP2018084557A - 波形記録装置 - Google Patents
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Abstract
Description
上記制御部は、上記入力部より入力される各測定波形につき、それらのA/D変換された測定データからヒストグラムを作成して上記記憶部に保存し、上記波形検索時に、上記操作部より上記記憶部に記憶されている測定波形の中から基準となる基本波形が選択されると、その基本波形のヒストグラムと、他の測定波形のヒストグラムとを対比して類似度を求め、上記類似度に基づいて所定の波形検索を行い、その結果を上記表示部に表示するにあたって、上記基本波形の測定データもしくは上記他の測定波形の測定データのいずれかに上記操作部により設定されたオフセット値(±α)を加算することを特徴としている。
測定波形2の「0」、測定波形3の「0.05」、測定波形1の「0.2」
の順となる。見た目による観測では、測定波形2は直流であるから、他の測定波形1,3よりも第1基本波形に似ているが、ヒストグラムの対比では最も似ていない非類似と判定されることになる。
測定波形1の「0.25」、測定波形3の「0.55」、測定波形2の「1」
の順となり、測定波形2が最もスコアがよく基本波形に似ていると判定される。
2 入力部
3 操作部
4 制御部
5 記憶部
6 表示部
Claims (4)
- 被測定対象物から測定されるアナログの被測定信号をA/D変換してデジタルの測定データとして取り込む入力部と、上記測定データを記憶する記憶部と、上記測定データによる測定波形を画面上に表示する表示部と、上記測定データを所定に処理するとともに、上記記憶部に対する上記測定データの書き込み、読み出しを制御する制御部と、上記制御部に対して波形検索指示を含む所定の指示を与える操作部とを備えている波形記録装置において、
上記制御部は、上記入力部より入力される各測定波形につき、それらのA/D変換された測定データからヒストグラムを作成して上記記憶部に保存し、
上記波形検索時に、上記操作部より上記記憶部に記憶されている測定波形の中から基準となる基本波形が選択されると、その基本波形のヒストグラムと、他の測定波形のヒストグラムとを対比して類似度を求め、上記類似度に基づいて所定の波形検索を行い、その結果を上記表示部に表示するにあたって、
上記基本波形の測定データもしくは上記他の測定波形の測定データのいずれかに上記操作部により設定されたオフセット値(±α)を加算することを特徴とする波形記録装置。 - 上記制御部は、上記基本波形と上記他の測定波形との対比による上記類似度の値が実質的に「0」であるときに、上記基本波形の測定データもしくは上記他の測定波形の測定データのいずれかに上記オフセット値(±α)を加算して上記類似度を再度算出することを特徴とする請求項1に記載の波形記録装置。
- 上記基本波形は直流波形であり、その測定データに上記オフセット値(±α)が加算されることを特徴とする請求項1または2に記載の波形記録装置。
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