JP5159951B2 - アナログユニット - Google Patents
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Description
図1は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態1の概略構成を示すブロック図である。図1において、A/D変換ユニット11には、A/D変換回路12、スケーリング部13、不揮発性メモリ14、ユーザ設定値計算部15および一時記憶メモリ16が設けられている。
Do=(Cd−Uo)/(Ug−Uo)*Sg+So ・・・(1)
図3は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態2の校正方法を示す図である。図3において、ADCコードCdの出力特性が曲線であるものとする。
図4は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態3の校正方法を示す図である。図4において、ADCコードCdの出力特性が曲線であるものとする。
図5は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態4の概略構成を示すブロック図である。図5において、A/D変換ユニット21には、図1の不揮発性メモリ14、ユーザ設定値計算部15および一時記憶メモリ16の代わりに不揮発性メモリ24、ユーザ設定値計算部25および一時記憶メモリ26が設けられている。
図6は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態5の校正方法を示す図である。図6において、ADCコードCdの出力特性が曲線であるものとする。
図7は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態6の校正方法を示す図である。図7において、ADCコードCdの出力特性が曲線であるものとする。
図8は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態7の概略構成を示すブロック図である。図8において、A/D変換ユニット31には、図5のユーザ設定値計算部25の代わりに複数のユーザ設定値計算部25a〜25cが設けられるとともに、不揮発性メモリ24にはパラメータPaが別途記憶されている。
図9は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態8の概略構成を示すブロック図である。図9において、A/D変換ユニット31には、図1の不揮発性メモリ14、ユーザ設定値計算部15および一時記憶メモリ16の代わりに不揮発性メモリ34、設定値線形補間部35およびタイマ36が設けられている。
図11は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態9の概略構成を示すブロック図である。図11において、A/D変換ユニット41には、図9の不揮発性メモリ34の代わりに不揮発性メモリ44が設けられるとともに、不揮発性メモリ44にはタイマ設定値Pbが別途記憶されている。
図12は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態10の概略構成を示すブロック図である。図12において、A/D変換ユニット51には、図9の設定値線形補間部35の代わりに設定値選択部55が設けられている。
図14は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態11の概略構成を示すブロック図である。図14において、A/D変換ユニット61には、図12のタイマ36の代わりに切り替え部62が設けられている。
図15は、本発明に係るアナログユニットの実施の形態12の校正方法を示すフローチャートである。図15において、アナログユニット(この例では、D/A変換ユニット)の使用現場において、ユーザは、アナログユニットの1点校正モード移行を指示する(ステップS11)。
12 A/D変換回路
13 スケーリング部
14、24、44 不揮発性メモリ
15、25、25a〜25c ユーザ設定値計算部
16、26 一時記憶メモリ
35 設定値線形補間部
35a オフセット値線形補間値計算部
35b ゲイン値線形補間値計算部
36 タイマ
55 設定値選択部
55a オフセット値選択部
55b ゲイン値選択部
62 切り替え部
Claims (7)
- 入力値を出力値に変換する変換回路と、
前記入力値と校正前の出力値との関係を示す工場設定値を2点分記憶する記憶部と、
前記入力値と校正前の出力値との関係を示す1点分のユーザ計測値および前記2点分の工場設定値に基づいて、前記入力値と校正後の出力値との関係を示す2点分のユーザ設定値を計算するユーザ設定値計算部とを備えることを特徴とするアナログユニット。 - 前記ユーザ設定値計算部は、前記2点分の工場設定値および前記1点分のユーザ計測値との残差の2乗和が最小になる直線上に前記2点分のユーザ設定値を設定することを特徴とする請求項1に記載のアナログユニット。
- 前記ユーザ設定値計算部は、前記2点分の工場設定値から求められる第1の直線に平行で、前記1点分のユーザ計測値を通る第2の直線上に前記2点分のユーザ設定値を設定することを特徴とする請求項1に記載のアナログユニット。
- 入力値を出力値に変換する変換回路と、
前記入力値と校正前の出力値との関係を示す工場設定値を2点分記憶する記憶部と、
前記入力値と校正前の出力値との関係を示す3点以上のユーザ計測値および前記2点分の工場設定値に基づいて、前記入力値と校正後の出力値との関係を示す2点分のユーザ設定値を計算するユーザ設定値計算部とを備えることを特徴とするアナログユニット。 - 前記ユーザ設定値計算部は、前記2点分の工場設定値および前記3点以上のユーザ計測値との残差の2乗和が最小になる直線上に前記2点分のユーザ設定値を設定することを特徴とする請求項4に記載のアナログユニット。
- 前記ユーザ設定値計算部は、前記2点分の工場設定値から求められる第1の直線に平行で、第1のユーザ計測値を通る第2の直線上および第2のユーザ計測値を通る第3の直線上に前記ユーザ設定値を設定することを特徴とする請求項4に記載のアナログユニット。
- 前記ユーザ設定値計算部は、パラメータの指定に基づいて前記ユーザ設定値の計算方法を選択することを特徴とする請求項1から6のいずれか1項に記載のアナログユニット。
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