JP5101650B2 - 半導体発光装置及びその製造方法 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体発光装置及びその製造方法に関する。
可視光及び白色光を放出可能な発光装置の用途は、照明装置、画像表示装置のバックライト光源、及びディスプレイ装置などに拡大している。
これらの用途では小型化の要求がますます強まっている。このために、リードフレーム上に発光素子チップを接着し、且つ樹脂を用いて成型したSMD(Surface−Mounted Device)型発光装置を用いることにより、電子機器などの小型化が容易となった。
また、電力損失の少ない半導体発光装置を用いた照明装置により蛍光灯や白熱電球を置き換えるには、量産性を高め価格を低減することが要求される。
さらなる小型化のための技術開示例がある(特許文献1)。この技術開示例では、透明基板に設けられた配線層と発光素子チップとがフリップチップ接続され、柱状電極及びボールを介して外部から駆動可能とされる。また、透明基板上において、発光素子チップ及び柱状電極は封止材により覆われる。
しかしながら、この例では、発光素子チップを透明基板上に位置精度よく接着するための配線層や柱状電極を必要とし、小型化及び量産性要求を満たすのに十分であるとは言えない。
また、蛍光体変換型白色LED(Light Emitting Diode)では、蛍光体によって励起光を波長変換する際に、励起光と蛍光体発光とのエネルギー差を熱として損失する(ストークス損失)が避けられない。このため、蛍光体の制御による効率改善が望まれる。
特開2006−128625号公報
本発明は、小型化が容易であり、量産性及び効率が改善された半導体発光装置及びその製造方法を提供する。
本発明の一態様によれば、基板の上に形成され前記基板が除去された半導体層であって、第1の主面とその反対側に形成された第2の主面とを有し、発光層を含む半導体層と、前記半導体層の前記第2の主面に設けられた第1の電極と、前記半導体層の前記第2の主面に設けられた第2の電極と、前記半導体層の前記第2の主面側に設けられ、前記第1の電極に達する第1の開口と、前記第2の電極に達する第2の開口とを有する絶縁膜と、前記絶縁膜における前記半導体層に対する反対側の面及び前記第1の開口内に設けられ、前記第1の電極と接続された第1の配線と、前記絶縁膜における前記半導体層に対する反対側の面及び前記第2の開口内に設けられ、前記第2の電極と接続された第2の配線と、前記第1の配線における前記第1の電極に対する反対側の面に設けられた第1の金属ピラーと、前記第2の配線における前記第2の電極に対する反対側の面に設けられた第2の金属ピラーと、前記第1の金属ピラー前記第2の金属ピラー間に設けられた樹脂と、前記半導体層の前記第1の主面に対向して設けられ、発光光のピーク波長が異なる複数種の蛍光体を含む蛍光体層と、を備えたことを特徴とする半導体発光装置が提供される。
また、本発明の他の一態様によれば、基板上に、第1の主面とその反対側に形成された第2の主面とを有し、発光層を含む半導体層を形成する工程と、前記半導体層の前記第2の主面に、第1の電極と第2の電極を形成する工程と、前記半導体層の前記第2の主面側に、前記第1の電極及び前記第2の電極を覆う絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜に、前記第1の電極に達する第1の開口と、前記第2の電極に達する第2の開口とを形成する工程と、前記絶縁膜における前記半導体層に対する反対側の面に、前記第1の開口を介して前記第1の電極と接続された第1の配線と、前記第2の開口を介して前記第2の電極と接続された第2の配線とを形成する工程と、前記第1の配線における前記第1の電極に対する反対側の面に第1の金属ピラーを、前記第2の配線における前記第2の電極に対する反対側の面に第2の金属ピラーを形成する工程と、前記第1の金属ピラー前記第2の金属ピラー間に樹脂を形成する工程と、前記基板を前記半導体層から除去する工程と、前記半導体層における前記第1の主面上に、複数種の蛍光体を含む蛍光体層を形成する工程と、を備えたことを特徴とする半導体発光装置の製造方法が提供される。
本発明によれば、小型化が容易であり、量産性及び効率が改善された半導体発光装置及びその製造方法が提供される。
実施形態に係る半導体発光装置の模式断面図。 図1における要部の拡大断面図。 ウェーハ状態での実施形態に係る半導体発光装置の製造方法を示す模式平面図。 実施形態に係る半導体発光装置の製造方法を示す模式断面図。 図4に続く工程を示す模式断面図。 図5に続く工程を示す模式断面図。 図6に続く工程を示す模式断面図。 他の実施形態に係る半導体発光装置の模式断面図。
以下、図面を参照し、実施形態について説明する。
図1は、本実施形態に係る半導体発光装置の模式断面図である。
本実施形態に係る半導体発光装置は、半導体層5と、配線、封止樹脂等を含むパッケージ構造部と、蛍光体層27とを有し、これらはウェーハ状態で一括して形成される。半導体層5は、第1の半導体層11と第2の半導体層12を有する。第1の半導体層11は、例えばn型のGaN層であり、電流の横方向経路として機能する。但し、第1の半導体層11の導電型はn型に限らず、p型であってもよい。
第1の半導体層11の第1の主面11aから主として光が外部へと放出される。第2の半導体層12は、第1の半導体層11における第1の主面11aの反対側の第2の主面11bに設けられている。
第2の半導体層12は、発光層(活性層)を含む複数の半導体層の積層構造を有する。その構造の一例を図2に示す。なお、図2は図1と上下が逆になっている。
第1の半導体層11の第2の主面11b上に、n型のGaN層31が設けられている。GaN層31上に、発光層33が設けられている。発光層33は、例えばInGaNを含む多重量子井戸構造を有する。発光層33上に、p型のGaN層34が設けられている。
図1に示すように、第1の半導体層11の第2の主面11b側には、凸部と凹部が設けられている。第2の半導体層12は凸部の表面に設けられている。したがって、凸部は、第1の半導体層11と第2の半導体層12との積層構造を含む。
凹部の底面は第1の半導体層11の第2の主面11bであり、その凹部の第2の主面11bに、第1の電極としてn側電極14が設けられている。
第2の半導体層12において第1の半導体層11と接する面の反対面には、第2の電極としてp側電極15が設けられている。
第1の半導体層11の第2の主面11bは、例えばシリコン酸化膜等の絶縁膜13で覆われている。n側電極14及びp側電極15は、絶縁膜13から露出している。n側電極14とp側電極15とは、絶縁膜13によって絶縁され、互いに電気的に独立した電極となっている。また、絶縁膜13は、第2の半導体層12を含む凸部の側面も覆っている。
絶縁膜13、n側電極14の一部およびp側電極15の一部を覆うように、第2の主面11b側に絶縁膜16が設けられている。絶縁膜16は、例えば、シリコン酸化膜あるいは樹脂である。
絶縁膜16において、第1の半導体層11及び第2の半導体層12に対する反対側の面は平坦化され、その面に第1の配線としてのn側配線17と、第2の配線としてのp側配線18が設けられている。
n側配線17は、n側電極14に達して絶縁膜16に形成された開口16a内にも設けられ、n側電極14と電気的に接続されている。p側配線18は、p側電極15に達して絶縁膜16に形成された開口16b内にも設けられ、p側電極15と電気的に接続されている。
例えば、n側配線17とp側配線18は、開口16a、16bの内壁面も含めた絶縁膜16の表面に形成されたシード金属を電流経路として利用したメッキ法によって同時に形成される。
n側電極14、p側電極15、n側配線17およびp側配線18は、いずれも第1の半導体層11の第2の主面11b側に設けられ、発光層に電流を供給するための配線層を構成する。
n側配線17においてn側電極14に対する反対側の面には、第1の金属ピラーとしてn側金属ピラー19が設けられている。p側配線18においてp側電極15に対する反対側の面には、第2の金属ピラーとしてp側金属ピラー20が設けられている。n側金属ピラー19の周囲、p側金属ピラー20の周囲、n側配線17およびp側配線18は、樹脂26で覆われている。また、樹脂26は第1の半導体層11の側面11cも覆い、第1の半導体層11の側面11cは樹脂26によって保護されている。
第1の半導体層11は、n側電極14及びn側配線17を介してn側金属ピラー19と電気的に接続されている。第2の半導体層12は、p側電極15及びp側配線18を介してp側金属ピラー20と電気的に接続されている。n側金属ピラー19及びp側金属ピラー20における樹脂26から露出する下端面には、例えばはんだボール、金属バンプなどの外部端子25が設けられ、その外部端子25を介して、半導体発光装置は外部回路と電気的に接続可能である。
n側金属ピラー19の厚み(図1において上下方向の厚み)は、半導体層5、n側電極14、p側電極15、絶縁膜13、16、n側配線17およびp側配線18を含む積層体の厚みよりも厚い。同様に、p側金属ピラー20の厚みも、上記積層体の厚みよりも厚い。この条件を満足すれば、各金属ピラー19、20のアスペクト比(平面サイズに対する厚みの比)は1以上であることに限らず、その比は1よりも小さくてもよい。すなわち、金属ピラー19、20の平面サイズよりも厚みが小さくてもよい。
本実施形態の構造によれば、半導体層5が薄くても、n側金属ピラー19、p側金属ピラー20および樹脂26を厚くすることで機械的強度を保つことが可能となる。また、回路基板等に実装した場合に、外部端子25を介して半導体層5に加わる応力をn側金属ピラー19とp側金属ピラー20が吸収することで緩和することができる。n側金属ピラー19及びp側金属ピラー20を補強する役目をする樹脂26は、回路基板等と熱膨張率が同じもしくは近いものを用いるのが望ましい。そのような樹脂26として、例えばエポキシ樹脂、シリコーン樹脂、フッ素樹脂などを一例として挙げることができる。
また、n側配線17、p側配線18、n側金属ピラー19、p側金属ピラー20の材料としては、銅、金、ニッケル、銀などを用いることができる。これらのうち、良好な熱伝導性、高いマイグレーション耐性及び絶縁膜との優れた密着性を備えた銅がより好ましい。
第1の半導体層11の第1の主面11a上には、蛍光体層27が設けられている。蛍光体層27は、第1の主面11aの面方向にわたって略均一な厚さで設けられている。発光層から発光された光は、主に、第1の半導体層11中を進んで第1の主面11aから蛍光体層27に進入し、蛍光体層27を通過して、外部に放出される。
蛍光体層27は、発光層からの光(励起光)を吸収し波長変換光を放出可能である。このため発光層からの光と、蛍光体層27における波長変換光との混合光が放出可能となる。
蛍光体層27は複数種の蛍光体を透明樹脂中に分散させた構造を有する。透明樹脂は、発光層及び蛍光体が発光する光に対する透過性を有し、例えばシリコーン樹脂などである。
複数種の蛍光体は、発光層からの光によって励起されて発光する光のピーク波長が異なるものを含み、相対的にピーク波長が長い蛍光体ほど第1の主面側に設けられている。ピーク波長が異なる蛍光体は、蛍光体層27の厚み方向に層状に分かれて存在する。
蛍光体層27は、第1の主面11a上に設けられた第1の蛍光体を含む第1の蛍光体層27aと、第1の蛍光体層27a上に設けられた第2の蛍光体層27bとを有する。第2の蛍光体層27bは、第1の蛍光体よりも発光光のピーク波長が短い第2の蛍光体を含む。なお、蛍光体層27は3層以上の積層構造であってもよい。
蛍光体層27に、発光光のピーク波長が異なる複数種の蛍光体を含有させることで、高い演色性(光源を照明として使う場合の物体の色の見え方を決める性質)を得ることができる。また、発光層として青色光を発光するものを用い、蛍光体として赤色を発光する赤色蛍光体および緑色を発光する緑色蛍光体を用いることで、青色光と赤色光と緑色光との混合として演色性の高い白色または電球色を得ることができる。
また、発光層からの光が放出される第1の主面11a側に、第1の蛍光体として赤色蛍光体を含む第1の蛍光体層27aを設け、その上に、より発光ピーク波長が短い第2の蛍光体として緑色蛍光体を含む第2の蛍光体層27bを設けた層構造にすることで、蛍光体の発光が他種の蛍光体を励起するために使われることがなく、効率の低下を抑制することができる。この結果、高効率な発光特性を実現できる。
緑色蛍光体と赤色蛍光体の密度、それらを含む蛍光体層の厚さなどをを調整することで、所望の色の発光を得ることができる。
また、蛍光体として、以下に例示するようなサイアロン系化合物に発光中心元素を添加させた蛍光体を用いることで、波長変換効率の温度特性が向上し、大電流密度領域での効率をさらに向上させることができる。また、緑色サイアロン系蛍光体、赤色サイアロン系蛍光体は、青色光で高効率に励起されるため、青色光を発光する発光層と組み合わせることで、様々な色合いを持つ高効率の発光デバイスを得ることができる。
青色の励起光に対して黄色蛍光体を組み合わせる場合よりも、青色励起光に対して赤色サイアロン系蛍光体及び緑色サイアロン系蛍光体を組み合わせる場合の方が、高い演色性を有する白色が得られ、高温での劣化も抑えられる。
また、赤色サイアロン系蛍光体は、紫外光から青色光まで広い励起帯域で高効率に励起可能であり、ブロードな発光スペクトルを有し、特に白色LEDに適している。
例えば、第1の蛍光体層27aには、第1の蛍光体(赤色蛍光体)として、波長250nm乃至500nmの光で励起した際に波長580nm乃至700nmの間に発光ピークを示し、下記の式(1)を満たす蛍光体が含まれている。
(M1−xa1AlSib1c1d1 (1)
但し、上記式(1)中、MはSiおよびAlを除く少なくとも1種の金属元素であり、特にCa若しくはSrの少なくとも一方が望ましい。Rは発光中心元素であり、特にEuが望ましい。
例えば、Mは、Mg、Ca、Sr、Ba、Y、Gd、La、Lu、Sc、Li、Na、K、B、Ga、In、およびGeからなる群から選択される少なくとも1種である。また、Rは、Eu、Ce、Mn、Tb、Yb、Dy、Sm、Tm、Pr、Nd、Pm、Ho、Er、Gd、Cr、Sn、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Ag、Cd、In、Sb、Au、Hg、Tl、Pb、Bi、およびFeからなる群から選択される少なくとも1種である。 ここで、x、a1、b1、c1、d1は、0<x≦1、0.6<a1<0.95、2<b1<3.9、0.25<c1<0.45、4<d1<5.7の関係を満たしている。
上記組成式(1)で表されるサイアロン系蛍光体を用いることで、波長変換効率の温度特性が向上し、大電流密度領域での効率をさらに向上させることができる。
また、例えば、第2の蛍光体層27bには、第2の蛍光体(緑色蛍光体)として、波長250nm乃至500nmの光で励起した際に波長490nm乃至580nmの間に発光ピークを示し、下記の式(2)を満たす蛍光体が含まれている。
(M1−xa2AlSib2c2d2 (2)
但し、上記式(2)中、MはSiおよびAlを除く少なくとも一種の金属元素であり、特にCa若しくはSrの少なくとも一方が望ましい。Rは発光中心元素であり、特にEuが望ましい。
例えば、Mは、Mg、Ca、Sr、Ba、Y、Gd、La、Lu、Sc、Li、Na、K、B、Ga、In、およびGeからなる群から選択される少なくとも1種である。また、Rは、Eu、Ce、Mn、Tb、Yb、Dy、Sm、Tm、Pr、Nd、Pm、Ho、Er、Gd、Cr、Sn、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Ag、Cd、In、Sb、Au、Hg、Tl、Pb、Bi、およびFeからなる群から選択される少なくとも1種である。 ここで、x、a2、b2、c2、d2は、0<x≦1、0.93<a2<1.3、4.0<b2<5.8、0.6<c2<1,6<d2<11の関係を満たしている。
上記組成式(2)で表されるサイアロン系蛍光体を用いることで、波長変換効率の温度特性が向上し、大電流密度領域での効率をさらに向上させることができる。
あるいは、例えば、第2の蛍光体層27bには、第2の蛍光体(緑色蛍光体)として、波長250nm乃至500nmの光で励起した際に波長490nm乃至580nmの間に発光ピークを示し、下記の式(3)を満たす蛍光体が含まれている。
(M1−xa2AlSib2c2d2 (3)
但し、上記一般式(3)中、MはSiおよびAlを除く少なくとも一種の金属元素であり、特にCa若しくはSrの少なくとも一方が望ましい。Rは発光中心元素であり、特にEuが望ましい。
例えば、Mは、Mg、Ca、Sr、Ba、Y、Gd、La、Lu、Sc、Li、Na、K、B、Ga、In、およびGeからなる群から選択される少なくとも1種である。また、Rは、Eu、Ce、Mn、Tb、Yb、Dy、Sm、Tm、Pr、Nd、Pm、Ho、Er、Gd、Cr、Sn、Cu、Zn、Ga、Ge、As、Ag、Cd、In、Sb、Au、Hg、Tl、Pb、Bi、およびFeからなる群から選択される少なくとも1種である。 ここで、x、a2、b2、c2、d2は、0<x≦1、0.94<a2<1.1、4.1<b2<4.7、0.7<c2<0.85、7<d2<9の関係を満たしている。
上記組成式(3)で表されるサイアロン系蛍光体を用いることで、波長変換効率の温度特性が向上し、大電流密度領域での効率をさらに向上させることができる。
上記組成式で表される蛍光体を用いることで、熱による劣化を抑制することができる。
また、前述した赤色蛍光体及び緑色蛍光体に対して、さらに黄色蛍光体を加えることで、さらに高い演色性を実現可能である。黄色蛍光体として、例えば、(Sr,Ca,Ba)SiO4:Euなどのシリケート系蛍光体を用いることができる。
また、赤色蛍光体としては、例えば、CaAlSiN:Euなどの窒化物系蛍光体を用いてもよい。また、緑色蛍光体としては、例えば、(Ba,Ca,Mg)10(PO・Cl:Euなどのハロ燐酸系蛍光体を用いてもよい。
また、複数種の蛍光体には青色蛍光体が含まれていてもよい。青色蛍光体として、例えば、BaMgAl1017:Euなどの酸化物系蛍光体を用いることができる。
次に、図3、図4(a)〜図7(b)を参照して、本実施形態に係る半導体発光装置の製造方法について説明する。
まず、図4(a)に示すように、基板10の主面上に第1の半導体層11を形成する。第1の半導体層11において基板10側の面が第1の主面11aに対応する。次に、基板10において第1の主面11aの反対側の第2の主面11b上に、第2の半導体層12を形成する。例えば、発光層が窒化物系半導体の場合、第1の半導体層11及び第2の半導体層12の積層体は、サファイア基板上に結晶成長させることができる。
次に、例えば図示しないレジストを用いたRIE(Reactive Ion Etching)法で、第2の半導体層12及び第1の半導体層11の一部を選択的に除去する。これにより、図4(b)に示すように、第1の半導体層11の第2の主面11b側に凹部及び凸部が形成される。第2の半導体層12及び第1の半導体層11の一部が除去された部分が凹部となり、発光層を含む第2の半導体層12が残された部分が凸部となる。凹部の底部には、第1の半導体層11の第2の主面11bが露出する。
次に、図4(c)に示すように、第1の半導体層11の第2の主面11b及び第2の半導体層12の全面を、絶縁膜13で覆う。絶縁膜13は、例えばCVD(chemical vapor deposition)法で形成される。
次に、絶縁膜13を選択的に開口し、図5(a)に示すように、凸部の第2の半導体層12上にp側電極15を、凹部における第1の半導体層11の第2の主面11b上にn側電極14を形成する。
また、絶縁膜13及び第1の半導体層11を貫通し基板10に達する溝8を形成する。溝8は、第1の半導体層11を基板10上で複数に分離する。溝8は、図3に示すように、例えばウェーハ面内で格子状に形成される。これにより、溝8によって周囲を囲まれた複数のチップ(半導体層)5が形成される。
次に、図5(b)に示すように、n側電極14、p側電極15および絶縁膜13を覆う絶縁膜16を形成する。また、絶縁層16は溝8内に埋め込まれる。
絶縁膜16を形成した後、例えばフッ酸溶液を用いて、図5(c)に示すように、n側電極14に達する開口16aと、p側電極15に達する開口16bを絶縁膜16に形成する。また、溝8内の絶縁膜16も除去する。
次に、絶縁膜16の上面、開口16a、16bの内壁(側面及び底面)に、図示しないシード金属を形成し、さらに図示しないめっきレジストを形成した後、シード金属を電流経路としたCuめっきを行う。シード金属は、例えばCuを含む。また、溝8内には図示しないめっきレジストが設けられる。
これにより、図6(a)に示すように、絶縁膜16の上面(第1の半導体層11及び第2の半導体層12に対する反対側の面)に、選択的にn側配線17とp側配線18が形成される。n側配線17は、開口16a内にも形成され、n側電極14と接続される。p側配線18は、開口16b内にも形成され、p側電極15と接続される。
次に、n側配線17及びp側配線18のめっきに使っためっきレジストを薬液で除去した後、今度は金属ピラー形成用の別のめっきレジストを形成し、前述したシード金属を電流経路とした電解めっきを行う。このときも、溝8内にはめっきレジストが設けられている。これにより、図6(b)に示すように、n側配線17の上方にn側金属ピラー19が形成され、p側配線18の上方にp側金属ピラー20が形成される。
その後、金属ピラー形成用のめっきレジストを薬液で除去し、さらにシード金属の露出している部分を除去する。これにより、n側配線17とp側配線18とのシード金属を介した電気的接続が分断される。
次に、図7(a)に示すように、n側配線17、p側配線18、n側金属ピラー19、p側金属ピラー20および絶縁膜16を、樹脂26で覆う。また、このとき、溝8内にも樹脂26の一部を埋め込む。
その後、樹脂26の表面を研削してn側金属ピラー19及びp側金属ピラー20の端面を露出させる。そして、その露出面に、必要に応じて、はんだボール、金属バンプなどの外部端子25(図1)を設ける。
次に、図7(b)に示すように、基板10を除去する。なお、図7(b)は図7(a)と上下を逆に表している。
基板10は、例えばレーザーリフトオフ法により第1の半導体層11から除去される。具体的には、基板10における第1の半導体層11が形成された主面の反対面である裏面側から第1の半導体層11に向けてレーザ光が照射される。レーザ光は、基板10に対して透過性を有し、第1の半導体層11に対しては吸収領域となる波長を有する。
レーザ光が基板10と第1の半導体層11との界面に到達すると、その界面付近の第1の半導体層11はレーザ光のエネルギーを吸収して分解する。例えば、第1の半導体層11がGaNの場合、Gaと窒素ガスに分解する。この分解反応により、基板10と第1の半導体層11との間に微小な隙間が形成され、基板10と第1の半導体層11とが分離する。レーザ光の照射を、設定された領域ごとに複数回に分けてウェーハ全体にわたって行い、基板10を除去する。
基板10の除去後、図1に示すように、第1の半導体層11の第1の主面11a上に蛍光体層27を形成する。
例えば、まず、第1の蛍光体が分散されたペースト状の透明樹脂を印刷法で第1の主面11a上に供給し、この後透明樹脂を硬化させる。これにより、第1の主面11a上に第1の蛍光体層27aが形成される。その後、第2の蛍光体が分散されたペースト状の透明樹脂を印刷法で第1の蛍光体層27a上に供給し、この後その透明樹脂を硬化させる。これにより、第1の蛍光体層27a上に第2の蛍光体層27bが形成される。すなわち、それぞれ発光ピーク波長が異なる2層構造の蛍光体層27が得られる。
蛍光体層27の形成時、図7(b)に示すように、溝8内には樹脂26が埋め込まれているため、溝8内に蛍光体層27が入り込まない。すなわち、溝8によって分断された複数の半導体層5が、溝8に埋め込まれた樹脂26を介してつながったウェーハ状態で、蛍光体層27が形成される。このため、蛍光体層27を均一な厚さで形成することができ、色度特性のばらつきを抑制できる。
ウェーハ状態の比較的広く平坦な面に対して印刷法によって一括して蛍光体層を形成することで均一な厚さの蛍光体層を容易に形成することができ、このことによって、光学設計の精度が上がり、また小型化にも有利となる。
また、第1の主面11a上から基板10を除去した後に蛍光体層27を形成することで、光取り出し面である第1の主面11aと蛍光体層27との間に基板10が存在せず、光取り出し効率の向上を図れる。
その後、溝8の位置で切断し、個片化された半導体発光装置が得られる。基板10はすでに除去され、さらに溝8内に樹脂26が埋め込まれているため、容易にダイシングでき生産性を向上できる。また、溝8には、第1の半導体層11及び第2の半導体層12が存在しないため、ダイシング時にそれら半導体層が受けるダメージを回避することができる。樹脂26が埋め込まれた溝8で切断することで、図1に示すように、個片化されたデバイスにおける第1の半導体層11の側面(または端面)11cは樹脂26で覆われ、保護される。
また、図3において1点鎖線で示すように、1つのチップ(半導体層)5を囲む位置で切断して個片化してもよいし、2点鎖線で示すように、複数のチップ(半導体層)5を囲む溝8の位置で切断して個片化してもよい。
ダイシングされる前までの前述した各工程は、ウェーハ状態で一括して行われるため、個片化された個々のデバイスごとに、配線及びパッケージングを行う必要がなく、大幅な生産コストの低減が可能になる。すなわち、個片化された状態で、すでに配線及びパッケージングが済んでいる。また、個々のデバイスの平面サイズをベアチップ(半導体層5)の平面サイズに近くした小型化が容易になる。また、ウェーハレベルで検査することが可能となる。このため、生産性を高めることができ、その結果として価格低減が容易となる。
なお、基板10をすべて除去しないで、図8に示すように、薄く研削した上で第1の半導体層11の第1の主面11a上に残してもよい。蛍光体層27は基板10上に設けられ、基板10を介して第1の主面11aに対向する。
基板10を薄層化して残すことにより、基板10をすべて除去する構造よりも機械的強度を高めることができ、信頼性の高い構造とすることができる。また、基板10が残っていることで、個片化した後の反りを抑制でき、回路基板等への実装が容易になる。
以上、具体例を参照しつつ実施形態について説明した。しかし、実施形態は、それらに限定されるものではなく、本発明の技術的思想に基づいて種々の変形が可能である。基板、半導体層、電極、配線、金属ピラー、絶縁膜、樹脂の材料、サイズ、形状、レイアウトなどに関して当業者が各種設計変更を行ったものであっても、本発明の主旨を逸脱しない限り本発明の範囲に包含される。
10…基板、5…半導体層、8…溝、11…第1の半導体層、12…第2の半導体層、13,16…絶縁膜、14…n側電極、15…p側電極、17…n側配線、18…p側配線、19…n側金属ピラー、20…p側金属ピラー、26…樹脂、27…蛍光体層、27a…第1の蛍光体層、27b…第2の蛍光体層、33…発光層

Claims (9)

  1. 基板の上に形成され前記基板が除去された半導体層であって、第1の主面とその反対側に形成された第2の主面とを有し、発光層を含む半導体層と、
    前記半導体層の前記第2の主面に設けられた第1の電極と、
    前記半導体層の前記第2の主面に設けられた第2の電極と、
    前記半導体層の前記第2の主面側に設けられ、前記第1の電極に達する第1の開口と、前記第2の電極に達する第2の開口とを有する絶縁膜と、
    前記絶縁膜における前記半導体層に対する反対側の面及び前記第1の開口内に設けられ、前記第1の電極と接続された第1の配線と、
    前記絶縁膜における前記半導体層に対する反対側の面及び前記第2の開口内に設けられ、前記第2の電極と接続された第2の配線と、
    前記第1の配線における前記第1の電極に対する反対側の面に設けられた第1の金属ピラーと、
    前記第2の配線における前記第2の電極に対する反対側の面に設けられた第2の金属ピラーと、
    前記第1の金属ピラー前記第2の金属ピラー間に設けられた樹脂と、
    前記半導体層の前記第1の主面に対向して設けられ、発光光のピーク波長が異なる複数種の蛍光体を含む蛍光体層と、
    を備えたことを特徴とする半導体発光装置。
  2. 前記発光層の側面は、前記絶縁膜及び前記樹脂の少なくともいずれかにより覆われていることを特徴とする請求項1記載の半導体発光装置。
  3. 前記複数種の蛍光体における発光光のピーク波長が長い蛍光体が、発光光のピーク波長が短い蛍光体よりも前記第1の主面側に設けられていることを特徴とする請求項1または2に記載の半導体発光装置。
  4. 前記蛍光体層は、
    前記第1の主面上に設けられた第1の蛍光体を含む第1の蛍光体層と、
    前記第1の蛍光体層上に設けられ、前記第1の蛍光体よりも発光光のピーク波長が短い第2の蛍光体を含む第2の蛍光体層と、
    を有することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1つに記載の半導体発光装置。
  5. 前記第1の蛍光体は、波長250nm乃至500nmの光で励起した際に波長580nm乃至700nmの間に発光ピークを示すサイアロン系化合物を含むことを特徴とする請求項記載の半導体発光装置。
  6. 前記第2の蛍光体は、波長250nm乃至500nmの光で励起した際に波長490nm乃至580nmの間に発光ピークを示すサイアロン系化合物を含むことを特徴とする請求項またはに記載の半導体発光装置。
  7. 基板上に、第1の主面とその反対側に形成された第2の主面とを有し、発光層を含む半導体層を形成する工程と、
    前記半導体層の前記第2の主面に、第1の電極と第2の電極を形成する工程と、
    前記半導体層の前記第2の主面側に、前記第1の電極及び前記第2の電極を覆う絶縁膜を形成する工程と、
    前記絶縁膜に、前記第1の電極に達する第1の開口と、前記第2の電極に達する第2の開口とを形成する工程と、
    前記絶縁膜における前記半導体層に対する反対側の面に、前記第1の開口を介して前記第1の電極と接続された第1の配線と、前記第2の開口を介して前記第2の電極と接続された第2の配線とを形成する工程と、
    前記第1の配線における前記第1の電極に対する反対側の面に第1の金属ピラーを、前記第2の配線における前記第2の電極に対する反対側の面に第2の金属ピラーを形成する工程と、
    前記第1の金属ピラー前記第2の金属ピラー間に樹脂を形成する工程と、
    前記基板を前記半導体層から除去する工程と、
    前記半導体層における前記第1の主面上に、複数種の蛍光体を含む蛍光体層を形成する工程と、
    を備えたことを特徴とする半導体発光装置の製造方法。
  8. 前記蛍光体層を形成する工程は、
    前記第1の主面上に、第1の蛍光体を含む第1の蛍光体層を形成する工程と、
    前記第1の蛍光体層上に、前記第1の蛍光体よりも発光光のピーク波長が短い第2の蛍光体を含む第2の蛍光体層を形成する工程と、
    を有することを特徴とする請求項記載の半導体発光装置の製造方法。
  9. 前記蛍光体層を形成する工程は、
    前記蛍光体が分散された透明樹脂を前記第1の主面上に印刷法で供給する工程と、
    前記第1の主面上に供給された前記透明樹脂を硬化させる工程と、
    を有することを特徴とする請求項またはに記載の半導体発光装置の製造方法。
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