JP5100242B2 - 磁気共鳴イメージング装置 - Google Patents
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Description
静磁場発生手段と、傾斜磁場発生手段と、傾斜磁場発生手段の電流を制御する制御手段と、を備え、制御手段は、撮像の前後において静磁場発生手段の温度変化が上昇方向となるように、非撮像中の少なくとも一部の期間に傾斜磁場発生手段に電流を流すことを特徴とする。
静磁場発生磁気回路に直接温度センサを配置して温度計測を行うのが最も簡単確実であるが、ここでは、エコー信号の周波数から静磁場発生磁気回路の温度を推定する方法を説明する。即ち、シーケンサ4は、送信系5と受信系6とを制御して、送信系5により周波数を変化させながらRFパルスを照射させ、受信系6によりエコー信号を計測させる。そして、CPU8は受信系6により受信された各エコー信号を解析してその信号強度が最大となったときの周波数を求める。この周波数が、その静磁場発生磁気回路が発生する静磁場強度に対応する共鳴周波数である。また、静磁場発生磁気回路の温度と共鳴周波数との対応データを予め測定して磁気ディスク18に記憶しておき、CPU8はその対応データを参照して、求められた共鳴周波数からそのときの静磁場発生磁気回路の温度を求める。
再度、撮像が開始されると、静磁場発生磁気回路の温度が上昇していく(304)。
非撮像時では、シーケンサ4は、傾斜磁場電源10を介して、傾斜磁場コイルに温度制御電流を供給して、その傾斜磁場コイルにおいて一定の発熱が持続するように制御する。その結果、静磁場発生磁気回路の温度は上昇を継続する(501)。その温度上昇に追従して、CPU8は、前述の静磁場発生磁気回路の温度計測法に基づいて、静磁場発生磁気回路の温度変化を推定する(511)。
撮像は、一般的には、本計測に使用する共鳴周波数やRFパルス強度の最適値を求めるための前計測と、画像用のエコー信号の計測を行う本計測とで構成される。従来では、前計測で取得された共鳴周波数やRFパルス強度の最適値を用いて本計測を行っていた。即ち、
(本計測に使用する共鳴周波数) = (前計測で取得された共鳴周波数)
とする。
一方、本実施形態では、共鳴周波数の補正精度を向上させるために、前計測で取得された共鳴周波数に対して、前回の前計測で取得された共鳴周波数との差分を引いた値とする。即ち、
(本計測に使用する共鳴周波数) = (前計測で取得された共鳴周波数)−
[(前回の前計測で取得された共鳴周波数)−
(前計測で取得された共鳴周波数)]
とする。これにより、前回の撮像時における静磁場発生磁気回路の温度に対応した共鳴周波数との差分に相当する周波数を、撮像前に取得された共鳴周波数に追加することで、その撮像時の共鳴周波数を静磁場発生磁気回路の温度に精度良く対応させることができる。以上の様にして、前計測で取得された共鳴周波数を補正して、その補正された共鳴周波数のRFパルスを照射する。
以上説明したように、本実施形態によれば、非撮像時にも傾斜磁場コイルに電流を供給することにより、静磁場発生磁気回路の温度変化を、常に一方方向にすることができるので、撮像の前後であるか否かに係わらず、静磁場発生磁気回路の温度変化に追従して、共鳴周波数の変動補正を精度良く行うことが出来るようになる。その結果、画質が向上する。
Claims (3)
- 静磁場発生手段と、傾斜磁場発生手段と、前記傾斜磁場発生手段の電流を制御する制御手段と、
前記静磁場発生手段の温度を計測する温度計測手段と、
前記計測された温度を用いて前記静磁場発生手段の温度を推定する温度推定手段と、
を備えた磁気共鳴イメージング装置において、
前記制御手段は、撮像の前後において前記静磁場発生手段の温度変化が上昇方向となるように、非撮像中の少なくとも一部の期間に前記傾斜磁場発生手段に電流を流し、
前記温度推定手段は、温度上昇中の前記静磁場発生手段の計測温度に基づいて該静磁場発生手段の温度を推定することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 請求項1記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記電流は、所定の周期で時間的に変化する電流であることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。 - 請求項1又は2記載の磁気共鳴イメージング装置において、
本計測に使用する共鳴周波数を、前計測で取得された共鳴周波数に対して、前回の前計測で取得された共鳴周波数との差分を引いた値とすることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
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JP2009034356A JP2009034356A (ja) | 2009-02-19 |
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JP3858191B2 (ja) * | 2000-10-31 | 2006-12-13 | ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー | Mri装置 |
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