JP6579908B2

JP6579908B2 - 磁気共鳴イメージング装置及び拡散強調画像計算方法

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Inventors: 康雄河田; 板垣　博幸; 博幸板垣
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Description

本発明は、磁気共鳴イメージング(以下、「MRI」という)装置に関し、特に、複数(2以上)のb値を用いてそれぞれ取得した複数の拡散強調画像を用いて、任意のb値の拡散強調画像を求める技術に関する。

MRI装置は、被検体、特に人体の組織を構成する原子核スピンが発生するNMR信号を計測し、その頭部、腹部、四肢等の形態や機能を2次元的に或いは3次元的に画像化する装置である。撮像においては、NMR信号には、傾斜磁場によって異なる位相エンコードが付与されるとともに周波数エンコードされて、時系列データとして計測される。計測されたNMR信号は、2次元又は3次元フーリエ変換されることにより画像に再構成される。

MRI装置で得られた拡散強調画像を用いた任意のb値の拡散強調画像の計算方法として、特許文献1に開示されている方法がある。ここでb値とは、拡散強調シーケンスに付加されるMPG(Motion Probing Gradient)の強さを表すパラメータであり、b値が大きいほど拡散が強調された拡散強調画像となる。なお、b値＝0とは、拡散強調画像撮像シーケンスにMPGが付加されない(つまり、MPGの振幅がゼロである)ことを意味する。

特許文献1に記載の方法は、2以上のb値を用いてそれぞれ撮像領域を撮像することにより、2以上の元画像を得て、2以上の元画像から見かけの拡散係数(ADC)を算出し、見かけの拡散係数(ADC)に基づいて任意のb値の拡散強調画像を計算する。この方法によって、SNRの低下やアーチファクトの増加のない拡散強調画像を計算することができる。以下、誤解が生じない限り、見かけの拡散係数(ADC)を、単に拡散係数(ADC)と記載する。

特開2013-255854号公報

しかしながら、特許文献1では、撮像するMRI装置の静磁場強度による計算値の違いに関して配慮がされていない。特許文献1の方法で計算された拡散強調画像では、撮像に使用するMRI装置の静磁場強度によって得られる元拡散強調画像の信号値が異なるため、計算された拡散係数(ADC)も静磁場強度に依存することになる。

そこで本発明の目的は、静磁場強度に依存することなく、見かけの拡散係数(ADC)を算出し、任意のb値で拡散強調画像を計算することのできるMRI装置及び拡散強調画像計算方法を提供することである。

上記目的を達成するために、本発明のMRI装置及び拡散強調画像計算方法は、b値＝0を含む複数のb値でそれぞれ取得した各拡散強調画像から計測拡散係数(ADC_mrs)を算出する。そして、組織毎に該計測拡散係数(ADC_mrs)を基準拡散係数(ADC_rfr)を用いて補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得、該補正拡散係数(ADC_crt)を用いて任意のb値の拡散強調画像を算出する。或いは、計測拡散係数(ADC_mrs)の修正するための情報に基づいて計測拡散係数(ADC_mrs)を補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得、該補正拡散係数(ADC_crt)を用いて任意のb値の拡散強調画像を算出する。

本発明のMRI装置及び拡散強調画像の計算方法によれば、静磁場強度に依存することなく、見かけの拡散係数(ADC)を算出し、任意のb値で拡散強調画像を計算することができる。

本発明に係るMRI装置の全体構成の一例を示す図本発明の実施例1の処理フローを示すフローチャート本発明の実施例1に用いるGUIの図本発明の実施例1の拡散係数を示す図本発明の実施例2の処理フローを示すフローチャート本発明の実施例2に用いるGUIの図本発明の実施例2の拡散係数を示す図本発明の実施例3の処理フローを示すフローチャート本発明の実施例3に用いるGUIの図画素ごとの補正値を画像化して表示する例を示す図

以下、添付図面に従って本発明のMRI装置の好ましい実施形態について詳説する。なお、発明の実施形態を説明するための全図において、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略する。

最初に、本発明に係るMRI装置の一例の全体概要を図1に基づいて説明する。図1は、本発明に係るMRI装置の一実施例の全体構成を示すブロック図である。このMRI装置は、NMR現象を利用して被検体の断層画像を得るもので、図1に示すように、MRI装置は静磁場発生系2と、傾斜磁場発生系3と、送信系5と、受信系6と、信号処理系7と、シーケンサ4と、演算処理部(CPU)8とを備えて構成される。

静磁場発生系2は、垂直磁場方式であれば被検体1の体軸と直交する方向に、水平磁場方式であれば被検体1の体軸方向に均一な静磁場を発生させるもので、被検体1の周りに永久磁石方式、常電導方式あるいは超電導方式の静磁場発生源が配置されている。

傾斜磁場発生系3は、MRI装置の座標系(静止座標系)であるX，Y，Zの3軸方向に傾斜磁場を印加する傾斜磁場コイル9と、それぞれの傾斜磁場コイルを駆動する傾斜磁場電源10とから成り、後述のシ−ケンサ4からの命令に従ってそれぞれのコイルの傾斜磁場電源10を駆動することにより、X，Y，Zの3軸方向に傾斜磁場Gx，Gy，Gzを印加する。撮像時には、スライス面(撮像断面)に直交する方向にスライス選択傾斜磁場パルス(Gs)を印加して被検体1に対するスライス面を設定し、そのスライス面に直交して且つ互いに直交する残りの2つの方向に位相エンコード傾斜磁場パルス(Gp)と周波数エンコード傾斜磁場パルス(Gf)を印加して、エコー信号にそれぞれの方向の位置情報をエンコードする。

シーケンサ4は、高周波磁場パルス(以下、「RFパルス」という)と傾斜磁場パルスをある所定のパルスシーケンスで繰り返し印加する制御手段で、演算処理部8の制御で動作し、被検体1の断層画像のデータ収集に必要な種々の命令を送信系5、傾斜磁場発生系3、および受信系6に送る。

送信系5は、被検体1の生体組織を構成する原子の原子核スピンに核磁気共鳴を起こさせるために、被検体1にRFパルスを照射するもので、高周波発振器11と変調器12と高周波増幅器13と送信側の高周波コイル(送信コイル)14aとから成る。高周波発振器11から出力されたRFパルスをシーケンサ4からの指令によるタイミングで変調器12により振幅変調し、この振幅変調されたRFパルスを高周波増幅器13で増幅した後に被検体1に近接して配置された高周波コイル14aに供給することにより、RFパルスが被検体1に照射される。

受信系6は、被検体1の生体組織を構成する原子核スピンの核磁気共鳴により放出されるエコー信号(NMR信号)を検出するもので、受信側の高周波コイル(受信コイル)14bと信号増幅器15と直交位相検波器16と、A/D変換器17とから成る。送信側の高周波コイル14aから照射された電磁波によって誘起された被検体1の応答のNMR信号が被検体1に近接して配置された高周波コイル14bで検出され、信号増幅器15で増幅された後、シーケンサ4からの指令によるタイミングで直交位相検波器16により直交する二系統の信号に分割され、それぞれがA/D変換器17でディジタル量に変換されて、信号処理系7に送られる。

信号処理系7は、各種データ処理と処理結果の表示及び保存等を行うもので、光ディスク19、磁気ディスク18等の外部記憶装置と、CRT等からなるディスプレイ20とを有する。受信系6からのデータが演算処理部(CPU)8に入力されると、演算処理部8が信号処理、画像再構成等の処理を実行し、その結果である被検体1の断層画像をディスプレイ20に表示すると共に、外部記憶装置の磁気ディスク18等に記録する。

操作部25は、MRI装置の各種制御情報や上記信号処理系7で行う処理の制御情報を入力するもので、トラックボール又はマウス23、及び、キーボード24から成る。この操作部25はディスプレイ20に近接して配置され、操作者がディスプレイ20を見ながら操作部25を通してインタラクティブにMRI装置の各種処理を制御する。

なお、図1において、送信側の高周波コイル14aと傾斜磁場コイル9は、被検体1が挿入される静磁場発生系2の静磁場空間内に、垂直磁場方式であれば被検体1に対向して、水平磁場方式であれば被検体1を取り囲むようにして設置されている。一方、受信側の高周波コイル14bは、被検体1に対向して、或いは取り囲むように設置されている。なお、上記傾斜磁場発生系3、送信系5、受信系6、及びシーケンサ4を纏めて計測制御部ともいう。

現在MRI装置の撮像対象核種は、臨床で普及しているものとしては、被検体の主たる構成物質である水素原子核(プロトン)である。プロトン密度の空間分布や、励起状態の緩和時間の空間分布に関する情報を画像化することで、人体頭部、腹部、四肢等の形態または、機能を2次元もしくは3次元的に撮像する。

以下、本発明のMRI装置及び拡散強調画像計算方法の各実施例を説明する。
本発明は、b値＝0を含む複数のb値でそれぞれ取得した拡散強調画像から計測拡散係数(ADC_mrs)を算出する。

そして、組織毎に該計測拡散係数(ADC_mrs)を基準拡散係数(ADC_rfr)を用いて補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得、該補正拡散係数(ADC_crt)を用いて任意のb値の拡散強調画像を算出する。

或いは、計測拡散係数(ADC_mrs)の修正するための情報に基づいて計測拡散係数(ADC_mrs)を補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得、該補正拡散係数(ADC_crt)を用いて任意のb値の拡散強調画像を算出する。

本発明のMRI装置及び拡散強調画像計算方法に係る実施例1を説明する。実施例1では、b値＝0を含む複数(2以上)のb値を用いてそれぞれ取得した拡散強調画像から、拡散係数(ADC)を算出し、該算出した拡散係数(ADC)をより正しい拡散係数(ADC)を用いて補正し、該補正した拡散係数(ADC)を用いて任意のb値の拡散強調画像を計算して表示する。以下、拡散強調画像から算出した拡散係数(ADC)を計測拡散係数(ADC_mrs)、該補正後の計測拡散係数(ADC_mrs)を補正拡散係数(ADC_crt)と記載する。

図2に示す実施例1の処理フローを表すフローチャートに基づいて、実施例1を詳細に説明する。本処理フローは、予めプログラムとして磁気ディスク18に記憶されており、演算処理部8が磁気ディスク18からそのプログラムを読み込んで実行することにより実施される。

(ステップS201)
操作者は、被検体を静磁場発生系2にセットアップする。そして、操作部25を介して、b値＝0を含む複数のb値の各拡散強調画像と、T1強調画像及びT2強調画像の撮像を行うための拡散強調画像撮像シーケンスの撮像条件を設定する。

(ステップS202)
MRI装置は、ステップS201で設定された撮像条件で、b値＝0を含む複数のb値の各拡散強調画像と、T1強調画像及びT2強調画像を被検体の同一断面で取得し、取得した各画像データを磁気ディスク18に記憶する。

(ステップS203)
操作者は、操作部25を介して、拡散強調画像の計算に用いる任意のb値を入力する。図3に、任意のb値の入力を受け付けるためのディスプレイ20に表示されるGUIの一例を示す。操作者は、図3に示すGUI上で入力エリア301にb値(bfactor)を直接入力するか、又は、スライダーバー302の操作によりb値(bfactor)の入力を行う。

(ステップS204)
演算処理部8は、ステップS202で取得されたb値＝0の拡散強調画像S₀と、複数のb値の内の一つのb値の拡散強調画像Sとを用いて、計測拡散係数(ADC_mrs)の算出を行う。計測拡散係数(ADC_mrs)の算出は以下の式に従う。

ここで、
ADC_mrs:計測された見かけの拡散係数(計測拡散係数)
S:b値の拡散強調画像
S₀:b値＝0の拡散強調画像
b:任意のb値
他のb値の拡散強調画像(S)についても、上記計算式に基づいて計測拡散係数(ADC_mrs)を算出する。図4に複数のb値で算出された計測拡散係数(ADC_mrs)の一例401を示す。

複数のb値を用いてADCを求める場合は、上記式に各値の組(b_i,S_i)を代入して以下の式群を作り、それらを最小二乗法で解くことで、ADCを算出する。
1n(S_l)＝1n(S₀)−ADCXb₁
1n(S₂)＝1n(S₀)−ADCXb₂
・・・

(ステップS205)
演算処理部8は、ステップS204で算出した計測拡散係数(ADC_mrs)を、より正しい拡散係数(ADC)として事前に用意しておいた基準拡散係数(ADC_rfr)を用いて補正し、補正拡散係数(ADC_crt)を得る。このように基準拡散係数(ADC_rfr)に基づいて計測拡散係数(ADC_mrs)を補正することにより、該計測拡散係数(ADC_mrs)を得たMRI装置の静磁場強度に依存しない、より適切な補正拡散係数(ADC_crt)を得ることができる。

具体的には、演算処理部8は、ステップS202で取得されたT1強調画像、T2強調画像、及び拡散強調画像の画素毎に画素値の比を求める。そして、求めた比を磁気ディスク18に事前に保存しておいた組織毎の画素値の比と比較し、比の値が最も近い組織を画素毎に決定する。

そして、決定した組織毎にステップS204で算出した計測拡散係数(ADC_mrs)の平均値を算出し、事前に用意しておいた組織毎の基準拡散係数(ADC_rfr)との差を算出する。最後に、画素毎の計測拡散係数(ADC_mrs)に対して、該画素の組織に対応する算出した拡散係数(ADC)の差を加算する。このようにして、演算処理部8は、組織毎に、基準拡散係数(ADC_rfr)を用いて計測拡散係数(ADC_mrs)を補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得る。この画素毎の拡散係数(ADC)の差を、図10に示すように、拡散係数(ADC)補正値画像1001としてディスプレイ20に表示しても良い。

なお、上記のように磁気ディスク18に事前に保存しておく組織毎の画素値の比と基準拡散係数(ADC_rfr)については後述する。

(ステップS206)
演算処理部8は、ステップS205で取得した補正拡散係数(ADC_crt)と、ステップS203で入力された任意のb値(bfactor)を用いて、任意のb値の拡散強調画像(S_bfactor)を以下の式を用いて計算する。

ここで、
ADC_crt:補正拡散係数
S₀:b値＝0の拡散強調画像
S_bfactor:任意のb値の拡散強調画像
bfactor:任意のb値

(ステップS207)
演算処理部8は、ステップ206で算出した任意のb値の拡散強調画像をディスプレイ20に表示する。

以上迄が、実施例1の処理フローの説明である。

次に、上記ステップS205で必要となる、磁気ディスク18に事前に保存しておく、T1強調画像、T2強調画像、及び拡散強調画像の組織毎の画素値の比と基準拡散係数(ADC_rfr)について説明する。実施例1では、高磁場(例えば、1.2テスラ、1.5テスラ、3テスラ、及び7テスラ等のいずれか)MRI装置で撮像した拡散強調画像から算出した計測拡散係数(ADC_mrs)を基準拡散係数(ADC_rfr)とする。図4に、事前に用意した基準拡散係数(ADC_rfr)の一例402を示す。

具体的には次の通りに求める。高磁場MRI装置で撮像されたT1強調画像とT2強調画像を用いて、画素毎に組織を判別する。この画素毎の組織の判別は、操作者が視覚的に指定しても良いし、公知のアルゴリズムを用いて演算処理部8が行っても良い。そして、演算処理部8は、上記画素毎の組織を判別したT1強調画像とT2強調画像、及び、同じ高磁場MRI装置で撮像された拡散強調画像の画素値の平均値の比を組織毎に算出し、磁気ディスク18に保存しておく。また、演算処理部8は、上記高磁場MRI装置で撮像された拡散強調画像から算出した拡散係数(ADC)の組織毎の平均値を求めて、組織毎の基準拡散係数(ADC_rfr)として磁気ディスク18に保存しておく。

以上説明したように、本発明の実施例1では、演算処理部8が、b値＝0を含む複数(2以上)のb値の拡散強調画像から計測拡散係数(ADC_mrs)を算出し、組織毎に該計測拡散係数(ADC_mrs)を基準拡散係数(ADC_rfr)を用いて補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得、該補正拡散係数(ADC_crt)を用いて任意のb値の拡散強調画像を算出する。これにより、静磁場強度に依存することなく、より正確な任意のb値の拡散強調画像を算出することができる。特に、高出力の傾斜磁場電源を備えていない低磁場MRI装置で、高いb値の拡散強調画像の撮像が困難な場合でも、高磁場MRI装置と同等の拡散強調画像を得ることが可能になる。

本発明のMRI装置及び拡散強調画像計算方法に係る実施例2を説明する。実施例2では、2以上のb値を用いて取得した拡散強調画像から計測拡散係数(ADC_mrs)を算出し、補正の基準とする基準拡散係数(ADC_rfr)を選択し、選択した基準拡散係数(ADC_rfr)を用いて計測拡散係数(ADC_mrs)を補正し、該補正により得た補正拡散係数(ADC_crc)と任意のb値とを用いて、拡散強調画像を算出する。

図5は、本発明の実施例2の処理フローを示すフローチャートである。本処理フローは、予めプログラムとして磁気ディスク18に記憶されており、演算処理部8が磁気ディスク18からそのプログラムを読み込んで実行することにより実施される。以下、図5の各ステップについて詳細に説明する。なお、実施例1と同じステップには同じステップ符号を付け、説明を省略する。

(ステップS201〜S204)
実施例1と同じである。

(ステップS301)
演算処理部8は、事前に用意しておいた複数の基準拡散係数(ADC_rfr)の中から目的とする基準拡散係数(ADC_rfr)を選択して、該選択した基準拡散係数(ADC_rfr)に基づいて、ステップS204で算出した計測拡散係数(ADC_mrs)を補正し補正拡張係数(ADC_crc)を得る。

図6に基準拡散係数(ADC_rfr)の選択に用いるGUIの一例を示す。操作者は、cDWI画像上に表示された直交2軸の内の横軸601をトラックボール又はマウス23でドラッグすることで、任意のb値を入力でき、縦軸602をトラックボール又はマウス23でドラッグすることで、任意の基準選択係数(ADC_rfr)を選択できる。

基準選択係数(ADC_rfr)としては、例えば、1.2テスラ、1.5テスラ、3テスラ、及び7テスラ等の静磁場強度のMRI装置で取得した拡散係数(ADC)を用いることができ、これらの基準拡散係数(ADC_rfr)を事前に磁気ディスク18に保存しておく。図7に各拡散係数の一例を示す。点線701が1.5テスラMRI装置で取得した拡散係数(ADC)を示し、一点鎖線702が3テスラMRI装置で取得した拡散係数(ADC)を示す。

そして、図6に示すようなGUIを介して、操作者により、複数の基準拡散係数(ADC_rfr)の中から目的とする基準拡散係数(ADC_rfr)の選択がされると、演算処理部8は、選択された基準拡散係数(ADC_rfr)に基づいて計測拡散係数(ADC_mrs)を補正し、補正拡散係数(ADC_crt)を得る。補正方法は実施例1と同じである。

なお、実施例2においても、前述の実施例1のステップS205で説明したように、上記のように選択された基準拡散件数(ADC_rfr)に基づいて定まる画素毎の拡散係数(ADC)の差を、図11に示すように、拡散係数(ADC)補正値画像1101としてディスプレイ20に表示しても良い。

(ステップS302)
演算処理部8は、ステップS301で算出した補正拡散係数(ADC_crt)と、ステップS203で設定された任意のb値とを用いて、拡散強調画像を計算する。計算方法は実施例1と同じである。

(ステップS206)
実施例1と同じである。

以上までが、実施例2の処理フローの説明である。

以上説明したように本発明の実施例2では、演算処理部8が、b値＝0を含む複数(2以上)のb値の拡散強調画像を用いて計測拡散係数(ADC_mrs)を算出し、複数の基準拡散係数(ADC_rfr)の内から選択された基準拡散係数(ADC_rfr)を用いて該計測拡散係数(ADC_mrs)を補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得、該補正拡散係数(ADC_crt)を用いて任意のb値の拡散強調画像を算出する。これにより、前述の実施例1と同様に、静磁場強度に依存することなく、より正確な任意のb値の拡散強調画像を算出することができる。特に、補正に用いる基準拡散係数(ADC_rfr)を選択することから、任意の静磁場強度の高磁場MRI装置と同等の拡散強調画像を得ることが可能になる。

本発明のMRI装置及び拡散強調画像計算方法に係る実施例3を説明する。実施例3では、2以上のb値の拡散強調画像から計測拡散係数(ADC_mrs)を算出し、操作者の入力により該計測拡散係数(ADC_mrs)を補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得、該補正により得た補正拡散係数(ADC_crc)と任意のb値とを用いて拡散強調画像を算出する。

図8は、本発明の実施例3の処理フローを示すフローチャートである。本処理フローは、予めプログラムとして磁気ディスク18に記憶されており、演算処理部8が磁気ディスク18からそのプログラムを読み込んで実行することにより実施される。以下、図8の各ステップについて詳細に説明する。

(ステップS201〜S204)
実施例1と同じである。

(ステップS401)
操作者は、S204で算出した計測拡散係数(ADC_mrs)を補正するための情報を、操作部25を介して入力する。そして、演算処理部8は、該入力情報に基づいて計測拡散係数(ADC_mrs)を補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得る。そのための、GUIの一例を図9に示す。演算処理部8は、計測拡散係数(ADC_mrs)のグラフ901をディスプレイ20に表示する。そして、操作者は、操作部25を介して、計測拡散係数(ADC_mrs)のグラフ901の形状を修正し、演算処理部8は修正されたグラフ形状902に基づいて補正拡散係数(ADC_crt)を求める。

(ステップS402)
演算処理部8は、ステップS401で算出した補正拡散係数(ADC_crt)と、ステップS203で設定された任意のb値を用いて、拡散強調画像を計算する。計算方法は実施例1と同じである。

(ステップS206)
実施例1と同じである。

以上までが、実施例3の処理フローの説明である。

以上説明したように本発明の実施例3では、計測拡散係数(ADC_mrs)を修正するための情報を受け付けるGUIを表示し、演算処理部8が、GUIを介して入力された情報に基づいて計測拡散係数(ADC_mrs)を補正して補正拡散係数(ADC_crt)を得、該補正拡散係数(ADC_crt)を用いて任意のb値の拡散強調画像を算出する。これにより、前述の実施例1，2と同様に、静磁場強度に依存することなく、拡散強調画像における拡散の程度を強調することができ、診断を容易にすることができる。

以上、本発明の実施例を述べたが、本発明はこれらに限定されるものではないことは言うまでも無い。

1 被検体、2 静磁場発生系、3 傾斜磁場発生系、4 シーケンサ、5 送信系、6 受信系、7 信号処理系、8 演算処理部(CPU)、9 傾斜磁場コイル、10 傾斜磁場電源、11 高周波発振器、12 変調器、13 高周波増幅器、14a 高周波コイル(送信コイル)、14b 高周波コイル(受信コイル)、15 信号増幅器、16 直交位相検波器、17 A/D変換器、18 磁気ディスク、19 光ディスク、20 ディスプレイ、23 トラックボール又はマウス、24 キーボード

Claims

被検体を収容する空間に均一な静磁場を発生させる静磁場発生部と、
拡散強調シーケンスに従い、前記被検体にｂ値＝０を含む任意のｂ値のＭＰＧを印加して、該被検体から発生するＮＭＲ信号を検出する計測制御部と、
前記検出されたＮＭＲ信号から前記ｂ値毎の拡散強調画像を取得する演算処理部と、
を備えた磁気共鳴イメージング装置であって、
前記演算処理部は、前記拡散強調画像から計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）を算出し、組織毎に該計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）を基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）を用いて補正して補正拡散係数（ＡＤＣ_ｃｒｔ）を得、該補正拡散係数（ＡＤＣ_ｃｒｔ）を用いて任意のｂ値の拡散強調画像を算出することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
請求項１記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）は、１．２テスラ、１．５テスラ、３テスラ、及び７テスラのいずれかの静磁場強度で得られた拡散強調画像から得られたものであることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
請求項１又は２記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記演算処理部は、組織毎の前記計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）の平均値と組織毎の前記基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）との差を求め、画素毎に該画素の組織に対応する前記差を該計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）に加算して、前記補正拡散係数（ＡＤＣ_ｃｒｔ）を求めることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
請求項３記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記組織毎の計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）の平均値と、前記組織毎の基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）との差を画像として表示することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
請求項１乃至４のいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記演算処理部は、異なる静磁場強度で得られた複数の前記基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）の内から選択された基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）を用いて前記補正拡散係数（ＡＤＣ_ｃｒｔ）を求めることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
請求項５に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記複数の基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）の内から一つの基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）の選択を受け付けるためのＧＵＩを表示することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
請求項１乃至６のいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
組織毎の前記基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）を記憶する記憶手段を備えていることを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
請求項１乃至７のいずれか一項に記載の磁気共鳴イメージング装置において、
前記任意のｂ値の入力を受け付けるためのＧＵＩを表示することを特徴とする磁気共鳴イメージング装置。
被検体を収容する空間に均一な静磁場を発生させる静磁場発生部と、
拡散強調シーケンスに従い、前記被検体にｂ値＝０を含む任意のｂ値のＭＰＧを印加して、該被検体から発生するＮＭＲ信号を検出する計測制御部と、
前記検出されたＮＭＲ信号から前記ｂ値毎の拡散強調画像を取得する演算処理部と、
を備えた磁気共鳴イメージング装置における拡散強調画像計算方法であって、
前記拡散強調画像から計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）を算出するステップと、
組織毎に前記計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）を基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）を用いて補正して補正拡散係数（ＡＤＣ_ｃｒｔ）を得るステップと、
前記補正拡散係数（ＡＤＣ_ｃｒｔ）を用いて任意のｂ値の拡散強調画像を算出するステップと
を有することを特徴とする拡散強調画像計算方法。
請求項９記載の拡散強調画像計算方法において、前記補正拡散係数（ＡＤＣ_ｃｒｔ）を得るステップは、
前記拡散強調画像の組織毎に前記計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）の平均値を求めるステップと、
組織毎の前記計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）の平均値と組織毎の前記基準拡散係数（ＡＤＣ_ｒｆｒ）との差を求めるステップと、
組織毎に前記差を前記計測拡散係数（ＡＤＣ_ｍｒｓ）に加算して、前記補正拡散係数（ＡＤＣ_ｃｒｔ）を求めるステップと
を有して成ることを特徴とする拡散強調画像計算方法。