JP5070428B2 - 電子コンパス及び方位測定方法 - Google Patents
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そして、かかる電子コンパスにおいては、地磁気ベクトルの2軸成分を検出して、方位円の中心を基準にその方位を表示する。この方位円は、被測定体の旋回によって2軸成分データが描く円であり、方位を測定するにはまず方位円の中心を求める必要がある。そして、方位円がずれた場合にこれを校正する必要がある。
しかし、これらの方法では、方位円の校正に時間がかかり、精確な方位測定を適切に行えないという問題がある。
なお、方位円の詳細については、引用文献3に記載されている。
かかる3次元的な方位測定を行うためには、3個の磁気検出部(磁気センサ)を直交する3軸方向に配置して、地磁気成分を検出するよう構成することが考えられる。
上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から上記携帯電子機器の姿勢方位を算出する方位演算手段と、
磁界の正常・異常を判定する磁界判定手段と、
該磁界判定手段が異常と判定したとき、上記携帯電子機器の姿勢変化によって上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)が描く方位球の中心を校正する校正手段と、を有し、
該校正手段は、少なくとも4つの上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から上記方位球の中心を算出する中心演算手段と、
所定数の上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から最小2乗法を用いて上記方位球を算出する最小2乗法演算手段と、を備え、
上記磁界判定手段は、所定の時間間隔を置いて取得された2つの上記3軸成分データから、その各成分の変化量の2乗の和が所定の閾値以上か否かにより、磁界の正常・異常を判定し、
上記方位演算手段は、上記磁界判定手段が正常と判定したとき、上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から算出した上記姿勢方位を出力し、上記磁界判定手段が異常と判定したとき、上記校正手段で校正された上記方位球の中心を用いて順次上記姿勢方位を算出して出力することを特徴とする電子コンパスにある(請求項1)。
上記電子コンパスにおいては、上記磁界判定手段で異常と判定され、上記方位球の中心を校正する必要があるときのみ、上記中心演算手段で少なくとも4つの3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から方位球の中心を算出し、その中心を方位球の暫定中心として上記方位演算手段で方位を求めるので、短時間に比較的誤差の少ない方位を表示することができる。
このように、上記校正手段における中心演算手段は、4つの3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から方位球の中心を算出することにより、3次元的な方位測定誤差を短時間で精確に校正して、上記方位球の中心を校正することができる。
上記3軸成分データ検出ステップで検出された上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から上記携帯電子機器の該姿勢方位を算出する方位演算ステップと、
磁界の正常・異常を判定する磁界判定ステップと、
該磁界判定ステップが異常と判定したとき、上記携帯電子機器の姿勢変化によって上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)が描く方位球の中心を校正する校正ステップと、
を有し、
該校正ステップは、少なくとも4つの上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から上記方位球の中心を算出する中心演算ステップと、
所定数の上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から最小2乗法を用いて上記方位球を算出する最小2乗法演算ステップと、を備え、
上記磁界判定ステップにおいては、所定の時間間隔を置いて取得された2つの上記3軸成分データから、その各成分の変化量の2乗の和が所定の閾値以上か否かにより、磁界の正常・異常を判定し、
上記方位演算ステップは、上記磁界判定ステップが正常と判定したとき、上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から算出された上記携帯電子機器の姿勢方位を出力し、上記磁界判定ステップが異常と判定したとき、上記校正ステップで校正された上記方位球の中心を用いて順次上記姿勢方位を算出して出力することを特徴とする方位測定方法にある(請求項5)。
この場合には、地磁気ベクトルの3軸成分を充分な精度で検出することができる。これにより、姿勢方位の測定を精確に行うことができる。また、上記中心球の中心の校正を精確に行うことができるため、精確な測定を確保することができる。
また、地磁気の大きさが300〜350mGであることを考慮すると、方位が1°ずれたときに特定方位における検出誤差が3〜4mGとなる。それ故、上記磁気検出部が±3mGの検出精度を有することにより、方位検出として、±1°の検出精度を得ることができる。
この場合には、上記校正手段において方位球の中心の校正を充分に精確に行うことができる。即ち、校正を行うに当って、4つ以上の3軸成分データを取得して、方位球の中心を求める必要があるが、方位測定を1m秒以下の間隔で行えるということは、3軸成分データを短時間で多数取得することができるということとなり、短時間で方位球の中心の校正を行うことができる。それ故、精確な校正を行うことができ、精確な3次元的な姿勢方位の検出が可能となる。
また、人間の通常の動作によって被測定体である携帯電子機器の姿勢を1°変化させるのに要する時間が約1m秒以上であることを考慮すると、方位測定を1m秒以下の間隔で行えれば、1°の姿勢変化を充分に検出できることとなる。
マグネトインピーダンス磁気センサは、超小型であり、地磁気方位検出器を小型化することができる。したがって、地磁気方位検出器を例えば携帯電子機器等に内蔵することが容易となる。また、マグネトインピーダンス磁気センサは、高感度の磁気センサとすることができるため、地磁気ベクトルの3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)を特に高精確に測定することができる。これにより、3次元的な姿勢方位を精確に検出することができると共に、上記校正手段における3次元的な方位測定誤差の校正を精確に行うことができる。
本例の電子コンパス10は、図1に示すごとく、以下の地磁気方位検出器1と方位演算手段32と磁界判定手段31と校正手段33とを有する。
磁界判定手段31は、磁界の正常・異常を判定する。
校正手段33は、磁界判定手段31が異常と判定したとき、被測定体の姿勢変化によって上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)が描く方位球(図6)の中心を校正する。なお、図6には、外乱磁場等により方位球が偏移する様子を示した図であって、実線にて表した球が偏移する前の方位球であり、破線にて表した球が偏移した後の方位球である。
上記方位演算手段32は、上記磁界判定手段31が正常と判定したとき、3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から算出した姿勢方位を出力し、磁界判定手段31が異常と判定したとき、校正手段33で校正された上記方位球の中心を用いて順次姿勢方位を算出して出力する。
また、磁気検出部11x、11y、11zは、±3mGの検出精度を有する。
マイクロコンピュータ3は、磁界の正常・異常を判定する磁界判定手段31と、被測定体の姿勢方位を算出する方位演算手段32と、磁界判定手段31が異常と判定したとき、方位円の中心を校正する校正手段33と、を有している。また、校正手段33は、中心演算手段331と、最小2乗法演算手段332と、を備えている。なお、磁界判定手段31、方位演算手段32、及び校正手段33は、ソフトウエアにより構成されている。
即ち、磁界判定手段31は、以下の不等式が成り立つか否かを判定し、成り立つ場合には以上と判断し、成り立たない場合には正常と判断する。
上記3軸成分データを、下記の(数2)に示す球の方程式に代入して4つの式を得、それらの連立方程式を解くことにより偏移後の方位球の中心(a、b、c)を求めることができる。(数2)において、Rは方位球の半径である。
これらの座標を新たに、(X1、Y1、Z1)、(X2、Y2、Z2)、(X3、Y3、Z3)、(0、0、0)と定義しなおす。そして、これらの座標を改めて、下記の(数3)に示す球の方程式に代入して、以下の(数4)に示す3個の方程式が得られる。
そして、座標原点を元に戻して、解(a、b、c)は、(a’+X4、b’+Y4、c’+Z4)により求められる。
そして、校正手段33によって、元から設定されていた方位球の中心座標(a、b、c)を、新たに求めた方位球の中心座標に設定しなおす。
その上で、方位演算を行う。
次いで、ステップS24において、上記の4つの3軸成分データから、上述した計算方法によって方位球の中心を求め、その結果をステップS25で方位演算手段32に渡す。
この平均演算手段によって、上記二つの手段によって求めた方位球の中心位置の平均を求め、この平均値を方位演算手段32において用いることにより、精確な方位演算を行うこともできる。
また、磁界判定手段31の作動条件として、例えば、所定の加速度が生じたときや、電話がかかったときなどの条件によって作動させることもできる。
即ち、地磁気方位検出器1において3軸成分データを取得し続け、そのデータをメモリ内に記憶させるが、使用しないデータは順次消去していくこととなる。そして、磁界判定手段31において、上記のような作動条件が整ったとき、所定の過去のデータまで遡ってデータを比較し、磁界の正常、異常の判定を行うことができる。なお、所定の加速度については、被測定体に加速度センサをも併設することにより、検出することができる。また、この加速度センサも、MIセンサを用いた小型、高精度のものを採用することができる。
上記電子コンパス10においては、磁界判定手段31で異常と判定され、方位球の中心を校正する必要があるときのみ、中心演算手段331で少なくとも4つの3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から方位球の中心を算出し、その中心を方位球の暫定中心として上記方位演算手段32で方位を求めるので、短時間に比較的誤差の少ない方位を表示することができる。
このように、上記校正手段33における中心演算手段331は、4つの3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から方位球の中心を算出することにより、3次元的な方位測定誤差を短時間で精確に校正して、上記方位球の中心を校正することができる。
10 電子コンパス
11a、11b、11c 磁気検出部(マグネトインピーダンス磁気センサ)
31 磁界判定手段
32 方位演算手段
33 校正手段
331 中心演算手段
332 最小2乗法演算手段
Claims (6)
- 携帯電子機器の姿勢方位と共に変化する地磁気ベクトルの3軸成分を直交する3軸成分データ(X1、Y1、Z1)、(X2、Y2、Z2)、・・・(Xi、Yi、Zi)として検出する直交配置された3つの磁気検出部をもつ地磁気方位検出器と、
上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から上記携帯電子機器の姿勢方位を算出する方位演算手段と、
磁界の正常・異常を判定する磁界判定手段と、
該磁界判定手段が異常と判定したとき、上記携帯電子機器の姿勢変化によって上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)が描く方位球の中心を校正する校正手段と、を有し、
該校正手段は、少なくとも4つの上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から上記方位球の中心を算出する中心演算手段と、
所定数の上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から最小2乗法を用いて上記方位球を算出する最小2乗法演算手段と、を備え、
上記磁界判定手段は、所定の時間間隔を置いて取得された2つの上記3軸成分データから、その各成分の変化量の2乗の和が所定の閾値以上か否かにより、磁界の正常・異常を判定し、
上記方位演算手段は、上記磁界判定手段が正常と判定したとき、上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から算出した上記姿勢方位を出力し、上記磁界判定手段が異常と判定したとき、上記校正手段で校正された上記方位球の中心を用いて順次上記姿勢方位を算出して出力することを特徴とする電子コンパス。 - 請求項1において、上記磁気検出部は、±3mGの検出精度を有することを特徴とする電子コンパス。
- 請求項1又は2において、方位測定を1m秒以下の間隔で行うことを特徴とする電子コンパス。
- 請求項1〜3のいずれか一項において、上記磁気検出部は、マグネトインピーダンス磁気センサであることを特徴とする電子コンパス。
- 携帯電子機器の姿勢方位と共に変化する地磁気ベクトルの3軸成分を直交する3軸成分データ(X1、Y1、Z1)、(X2、Y2、Z2)、・・・(Xi、Yi、Zi)として検出する3軸成分データ検出ステップと、
上記3軸成分データ検出ステップで検出された上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から上記携帯電子機器の該姿勢方位を算出する方位演算ステップと、
磁界の正常・異常を判定する磁界判定ステップと、
該磁界判定ステップが異常と判定したとき、上記携帯電子機器の姿勢変化によって上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)が描く方位球の中心を校正する校正ステップと、
を有し、
該校正ステップは、少なくとも4つの上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から上記方位球の中心を算出する中心演算ステップと、
所定数の上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から最小2乗法を用いて上記方位球を算出する最小2乗法演算ステップと、を備え、
上記磁界判定ステップにおいては、所定の時間間隔を置いて取得された2つの上記3軸成分データから、その各成分の変化量の2乗の和が所定の閾値以上か否かにより、磁界の正常・異常を判定し、
上記方位演算ステップは、上記磁界判定ステップが正常と判定したとき、上記3軸成分データ(Xi、Yi、Zi)から算出された上記携帯電子機器の姿勢方位を出力し、上記磁界判定ステップが異常と判定したとき、上記校正ステップで校正された上記方位球の中心を用いて順次上記姿勢方位を算出して出力することを特徴とする方位測定方法。 - 請求項5において、方位測定を1m秒以下の間隔で行うことを特徴とする方位測定方法。
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