JP5066056B2 - 試料観察方法、及び電子顕微鏡 - Google Patents
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Description
となるので、式(2)を代入すると次の条件式が導出できる。
2a〜2b 照射レンズ
3 試料
4a〜4e 結像レンズ系
5 蛍光板
6 撮像装置
7 試料保持及びステージ駆動部
8 ステージ位置検出器
9a〜9d インターフェース
10 入力装置
11 PC
12 メモリ
13 演算装置
14 モニタ
Claims (18)
- 電子顕微鏡にて得られる第1の画像から、当該画像より高い倍率の画像を取得する領域を設定し、当該設定に基づいて得られる第2の画像を用いて試料を観察する試料観察方法において、
前記第1の画像上にて、観察対象に輪郭線、或いは当該輪郭線上に位置する複数の点を指定する行程と、
当該輪郭線に沿って、前記第2の画像を取得するための複数の視野を、当該複数の視野の一部間が重なるように配列する行程を備えることを特徴とする試料観察方法。 - 請求項1において、
前記電子顕微鏡に設けられた試料ステージ、或いは電子線を偏向する偏向器を用いて、前記複数の視野間の移動を行うことを特徴とする試料観察方法。 - 請求項2において、
前記指定された複数点間の補間演算に基づいて、前記複数の視野を取得するときの前記試料ステージの移動量、或いは前記偏向器の偏向信号を求めることを特徴とする試料観察方法。 - 請求項2において、
前記視野間の重なり量に応じて、前記視野間の距離を調整することを特徴とする試料観察方法。 - 請求項4において、
前記視野間の距離の調整は、当該視野間の距離dが、(N−ΔN)/(M′/M)以下であるときに、行うことを特徴とする試料観察方法。
N:撮像画素数
ΔN:視野の重なり量
M′:第2の画像の倍率
M:第1の画像の倍率 - 請求項5において、
前記視野間の距離の調整は、前記視野間の距離dが、(N−ΔN)/(M′/M)以下であるときに、視野間の距離がより離間するように行われることを特徴とする試料観察方法。 - 請求項4において、
前記視野間の重なり量が、所定範囲に含まれるか否かを判定し、当該所定範囲を逸脱していると判断される場合は、当該所定範囲に含まれるように、前記視野の位置を調整することを特徴とする試料観察方法。 - 請求項1において、
前記輪郭線は、前記複数の点間を曲線補間することによって形成されることを特徴とする試料観察方法。 - 電子源と、
当該電子源から放出される電子線が照射される試料を移動させる試料ステージ、或いは試料上に照射される電子線を偏向する偏向器を制御する制御装置を備えた電子顕微鏡において、
前記制御装置は、前記電子顕微鏡によって取得される第1の画像上での輪郭線、或いは当該輪郭線上に位置する複数の点を指定に基づいて、当該輪郭線に沿って第1の画像より高倍率の第2の画像を取得するための複数の視野の位置を、当該複数の視野の一部間が重なるように決定することを特徴とする電子顕微鏡。 - 請求項9において、
前記制御装置は、前記第2の画像を取得するための視野を、所定の倍率と、予め設定された重なり量で連続視野となるように、前記試料ステージ、或いは前記偏向器を制御することを特徴とする電子顕微鏡。 - 請求項9において、
前記表示画像と同時に各撮像視野領域を重ね表示することを特徴とする電子顕微鏡。 - 請求項9において、
撮像が完了した視野領域を前記各撮像視野領域の表示と区別できるように画像の階調及び/又は色調を変えて表示または表示を点滅させることを特徴とする電子顕微鏡。 - 請求項9において、
対象とする領域全体が確認できる画像と撮像する各視野領域を重ねてモニタ表示するとともに、該重ね表示した画像を画像データとして記憶・呼出・表示することを特徴とする電子顕微鏡。 - 請求項9において、
撮像する各視野領域の画像データを記憶する際に、撮像順番を表わす数字や記号を画像データの一部としてまたは画像データ名称の一部として記憶するとともに該撮像順番を、撮像する各視野領域の表示の近傍に表示させることを特徴とする電子顕微鏡。 - 請求項9において、
撮像する各視野領域の表示領域を選択する手段、選択した視野領域を移動する手段、該手段と連動して選択された視野領域の撮像位置を移動するように制御することを特徴とする電子顕微鏡。 - 電子源と、
当該電子源から放出される電子線が照射される試料を移動させる試料ステージ、或いは試料上に照射される電子線を偏向する偏向器を制御する制御装置を備えた電子顕微鏡において、
前記制御装置は、前記電子顕微鏡によって取得される第1の画像上での複数の点を指定に基づいて、当該複数の点間の補間演算を行い、当該補間演算によって形成される輪郭線に沿って、前記第1の画像より高倍率の第2の画像を取得するための複数の視野の位置を、当該複数の視野の一部間が重なるように決定することを特徴とする電子顕微鏡。 - 電子源と、
当該電子源から放出される電子線が照射される試料を移動させる試料ステージ、或いは試料上に照射される電子線を偏向する偏向器を制御する制御装置を備えた電子顕微鏡において、
前記制御装置は、前記電子顕微鏡によって取得される第1の画像について、二値化を実施し、当該二値化によって得られる輪郭線に沿って、前記第1の画像より高倍率の第2の画像を取得するための複数の視野の位置を、当該複数の視野の一部間が重なるように決定することを特徴とする電子顕微鏡。 - 電子源と、当該電子源から放出される電子線が照射される試料を移動させる試料ステージ、或いは試料上に照射される電子線を偏向する偏向器を制御する制御装置を備えた電子顕微鏡において、
前記制御装置は、前記電子顕微鏡によって取得される第1の画像について、予め登録したパターンと一致する輪郭を抽出する手段を有し、抽出した輪郭に沿って、前記第1の画像より高倍率の第2の画像を取得するための複数の視野の位置を、当該複数の視野の一部間が重なるように決定することを特徴とする電子顕微鏡。
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