JP5009680B2 - 開閉装置 - Google Patents

開閉装置

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本発明は、ボディダイオードを有する主スイッチング素子を組合せて構成されるスイッチング回路に関する。
従来のスイッチング回路では、複数のMOSFETを直列に接続し、各々のMOSFETに構造上寄生するボディダイオードによって負荷から回生される電流を環流していた(例えば、特許文献1参照)。
また、従来のスイッチング回路では、環流用ダイオードに逆電圧印加回路を別途設けてダイオードを低電圧でリカバリさせ、損失を低減していた(例えば、特許文献2参照)。
特開2007−014059号公報(段落番号0012、0013、0033及び図1) 特開2006−141167号公報(段落番号0015及び図1)
このようなスイッチング回路では正ラインと負ラインとの間に、複数のMOSFETを含む直列回路が接続されており、負荷からの回生電流は、これらMOSFETのボディダイオードを通して環流している。通常、何れか一方のMOSFETがオフすると、他方のMOSFETのボディダイオードに電流が環流し、環流電流によって他方のボディダイオードが導通している期間にもう一方のMOSFETが再びオンすると、他方のボディダイオードにはリカバリ電流が流れることによるリカバリ損失、リカバリノイズが発生する。
MOSFETとして、そのボディダイオードのリカバリ速度が速いものを用いれば上記問題は解決されるが、ボディダイオードはMOSFETの構成上生じる寄生ダイオードであって、寄生ダイオードのリカバリ速度を速くすることは製造上、コスト上ともに困難である。
また、他方のボディダイオードが非導通の期間にもう一方のMOSFETをオンさせれば上記リカバリ電流は流れずリカバリ損失も、リカバリノイズも発生しないが、環流電流を検出するための電流センサーやMOSFETの制御回路が必要になるので、部品点数が増加しスイッチング回路の信頼性が低下するとともにスイッチング回路が大型化し、また、高コストとなる。また、オン時間の制御に制約を生じるため、スイッチング回路の効率が低下するとともに、負荷の駆動制御にも支障をきたす。
さらに、ボディダイオードのリカバリ時の逆方向印加電圧が小さければリカバリ損失も低くなるが、ボディダイオードのリカバリ直前に逆電圧を印加するためには、スイッチング回路ごとに大電流、高速応答の電源回路が必要となり、コスト高となる。
この発明は上記のような問題点を解決するためになされたものであり、大形化を招くことなく損失を低減できるスイッチング回路を得ることを目的とする。
この発明に係る開閉装置においては、
第1及び第2のスイッチング回路が直列に接続されたスイッチング直列回路と制御回路とを備えた開閉装置であって、
上記第1及び第2のスイッチング回路は、第1及び第2の主スイッチング素子がそのボディダイオードが逆直列になるようにして直列に接続された直列回路と、上記直列回路に上記第1の主スイッチング素子のボディダイオードと同じ導通方向になるようにして並列に接続された外付けダイオードとをそれぞれ有するものであり、
上記スイッチング直列回路は、上記第1のスイッチング回路と上記第2のスイッチング回路とが上記各外付けダイオードが順直列になるようにかつ上記第1のスイッチング回路の上記外付ダイオードのカソード側が上記第2のスイッチング回路と反対側になるようにして直列に接続され、上記第1のスイッチング回路の上記外付ダイオードの上記カソード側が直流電源の陽極側に接続され、上記第2のスイッチング回路側が上記直流電源の陰極側に接続されるものであり、
上記制御回路は、上記第1及び第2のスイッチング回路におけるそれぞれの上記第1及び第2の主スイッチング素子を開閉制御することにより当該スイッチング回路を開閉するとともに、上記第2のスイッチング回路の上記外付けダイオードに順方向電流が流れているときに上記第2のスイッチング回路が閉路する期間を有し、上記第1のスイッチング回路が閉路される直前に上記第2のスイッチング回路を開路するものである。
この発明に係る開閉装置においては、
第1及び第2のスイッチング回路が直列に接続されたスイッチング直列回路と制御回路とを備えた開閉装置であって、
上記第1及び第2のスイッチング回路は、第1及び第2の主スイッチング素子がそのボディダイオードが逆直列になるようにして直列に接続された直列回路と、上記直列回路に上記第1の主スイッチング素子のボディダイオードと同じ導通方向になるようにして並列に接続された外付けダイオードとをそれぞれ有するものであり、
上記スイッチング直列回路は、上記第1のスイッチング回路と上記第2のスイッチング回路とが上記各外付けダイオードが順直列になるようにかつ上記第1のスイッチング回路の上記外付ダイオードのカソード側が上記第2のスイッチング回路と反対側になるようにして直列に接続され、上記第1のスイッチング回路の上記外付ダイオードの上記カソード側が直流電源の陽極側に接続され、上記第2のスイッチング回路側が上記直流電源の陰極側に接続されるものであり、
上記制御回路は、上記第1及び第2のスイッチング回路におけるそれぞれの上記第1及び第2の主スイッチング素子を開閉制御することにより当該スイッチング回路を開閉するとともに、上記第2のスイッチング回路の上記外付けダイオードに順方向電流が流れているときに上記第2のスイッチング回路が閉路する期間を有し、上記第1のスイッチング回路が閉路される直前に上記第2のスイッチング回路を開路するものであるので、
第1の主スイッチング素子のボディダイオードに環流する電流を第2の主スイッチング素子のボディダイオードによって遮断でき、環流電流は外付けダイオードに流れ、リカバリ電流もまた外付けダイオードに流れるので、ボディダイオードよりも高性能な外付けダイオードを自由に選択でき、高性能な外付けダイオードの使用することにより大形化を招くことなく全体の損失を低減できる。さらに、上記第1のスイッチング回路が閉路される直前に上記第2のスイッチング回路を開路するようにすれば、第2のスイッチング回路に並列に接続された外付けダイオードに順方向の電流が流れて生じる損失を低減することができる。
実施の形態1.
図1及び図2は、この発明を実施するための実施の形態1を示すものであり、図1はこの発明のスイッチング回路を用いた三相インバータ回路の構成を示す構成図、図2は動作を説明するための要部抽出図である。図1において、三相インバータ回路は、本発明に係る6つのスイッチング回路8(以下、説明及び図において個別に区別を要するときは符号8a〜8fを付して区別し、共通的に表すときは単にスイッチング回路8と称する、スッイチング回路の構成要素についても同じ)を三相ブリッジに構成したものである。第1の主スイッチング素子である主MOSFET1は、主回路開閉端子であるドレイン端子dとソース端子sと、制御信号用端子であるゲート端子gと、主MOSFET1に寄生する主ボディダイオード2を有する。第2の主スイッチング素子である従MOSFET3は、主回路開閉端子であるドレイン端子dとソース端子sと、ゲート端子gと、従MOSFET3に寄生する従ボディダイオード4を有する。
スイッチング回路8は、主MOSFET1と従MOSFET3とがそのボディダイオード3とボディダイオード4とが逆極性になるようにして直列に接続されるとともに、各ソース端子s同士及びゲート端子g同士が接続されている。また、直列に接続された主及び従両MOSFET1,3の直列回路に並列に接続された外付けダイオード5を有する。外付けダイオード5は、カソードkが主MOSFET1のドレイン端子dに、アノードaが従MOSFET3のドレイン端子dに接続されて、ボディダイオード2と同極性(同じ導通方向)になるようにして接続されている。制御回路としての駆動回路6が各ソース端子sの電位を基準として各ゲート端子gに制御信号としての開閉信号を与え開閉制御する。コンデンサ7は正ラインPと負ラインNの間に接続され、主及び従MOSFET1,3のスイッチングによって生じる高周波電流をバイパスしている。
各スイッチング回路8は、正ラインPと負ラインNの間に直列に接続された3組のハーフブリッジを構成し、各ハーフブリッジの中性点Oに負荷モータ9が接続されている。
次に動作について説明する。図2は、スイッチング回路8の動作についての説明を簡素化するためにスイッチング回路8a,8dで構成される一組のハーフブリッジを抜き出したものである。図2において、今、スイッチング回路8aの主MOSFET1aと従MOSFET3aが共にオフし、また、スイッチング回路8dの主MOSFET1dと従MOSFET3dも共にオフしており、負荷からの環流電流J2が、負ライン側の外付けダイオード5dを介して流れているとする。
このとき、負ライン側のスイッチング回路8dの主MOSFET1dと従MOSFET3dはオフしているために主MOSFET1dのボディダイオード2dは導通することはない。
ここで、負荷からの順方向電流としての環流電流J2が負ライン側の外付けダイオード5dを介して流れている期間中に、主MOSFET1aと従MOSFET3aがともにオンすると、負荷への電流は環流電流J2から順電流J1に転流すると同時に外付けダイオード5dのリカバリ特性によって、外付けダイオード5の導通方向とは逆向きのリカバリ電流J3が流れる。主ボディダイオード2dには従MOSFET3dによって遮断され一切の電流が流れていないのでリカバリは生じず、従ってボディダイオードのリカバリ電流J4も流れない。主MOSFET1aの寄生ダイオードである主ボディダイオード2aに環流する電流を、従MOSFET3aの寄生ダイオードである従ボディダイオード4aによって遮断するので、環流電流は外付けダイオード5に流れ、リカバリ電流もまた外付けダイオード5に流れることになる。
外付けダイオード5を流れるリカバリ電流J3は外付けダイオード5dにリカバリ損失を生じさせるが、外付けダイオード5dに使用するダイオードの特性は主MOSFET1dの特性に関係なく設定することができ、主ボディダイオード2dと比較して高性能なすなわち十分に高速、かつ、ソフトリカバリ特性を有するダイオードを選択することが可能になり、環流電流を検出するための電流センサーやMOSFETの制御回路を必要としないので大型化を招くことなくリカバリ損失やリカバリノイズを抑制することができる。また、2つのスイッチング素子である主及び従MOSFET1d及び3dを直列に接続して使用する際に、一方はスイッチング素子である従MOSFET3dは通常の性能のものを使用することができる。
以上、スイッチング回路8dについて説明したが、スイッチング回路8a〜8c、スイッチング回路8e,8fにおいても同様の動作となる。
ここで、一般にMOSFETの寄生ダイオードはリカバリが速く特性の良いダイオードが得られないので、主MOSFET1dの主ボディダイオード2dでリカバリが発生すると、リカバリ損失は極めて大きくなる。
従MOSFET3dを使用せず、従MOSFET3dと従ボディダイオード4dの代わりにショットキーバリアダイオードの様な低損失ダイオードを用いても同様の効果が得られるが、その場合、ショットキーバリアダイオードの順方向電圧降下による損失が主MOSFET3dのオン抵抗損失と同等の大きさで生じてしまう。しかし、本実施の形態では、従MOSFET3dのオンにより従ボディダイオード4dに電流は流れず、従MOSFET3dを流れる同期整流動作となるので損失は極めて小さくなる。
また、従MOSFET3dのドレインソース間電圧は、主MOSFET1dが遮断することによってほとんど印加されない。仮に主MOSFET1dと従MOSFET3dのオンオフ動作に多少のずれを生じたとしても、外付けダイオードの順方向電圧によってクランプされるため僅少となり、回路配線のインダクタンスによるサージ電圧を考慮しても従MOSFET3dのドレインソース間耐電圧は20〜60Vもあれば十分である。
低耐圧品であれば低オン抵抗のMOSFETを安価で調達できるうえ、本実施の形態では主MOSFET1dと従MOSFET3dの各ソース端子s同士及びゲート端子g同士を接続し、ゲート端子に駆動回路6dから開閉信号を与えるようにしたので、主MOSFET1dと従MOSFET3dの駆動は同じ駆動回路6dでできるので、従MOSFET3dの追加によるコストアップは僅かですむ。
また、主MOSFET1dに600V程度のドレインソース間耐電圧のものを使用する必要がある場合には、主MOSFET1dと従MOSFET3dの耐電圧差は10倍以上となり、それぞれのオン抵抗差は20倍以上に設定することが可能である。すなわち、MOSFET3dのオン抵抗を、MOSFET1dのオン抵抗よりも十分に低いものにすることで、MOSFET1d単体の時と比較しても、MOSFET1d及び3dを合わせた全オン損失の上昇をわずかに抑えることができる。従って、従MOSFET3dの追加によるオン抵抗損失増加は5%程度に抑えることができ、従MOSFET3dの代わりにショットキーバリアダイオードを用いた場合と比較して損失を極めて小さくすることができる。
以上のように外付けダイオード5dを設け、主MOSFET1dの主ボディダイオード2dへの電流を遮断する従MOSFET3dを設けることによって、リカバリが遅く特性の悪い主ボディダイオード2dによるリカバリ損失やリカバリノイズを回避できる。
また、従MOSFET3dを主MOSFET1dよりも耐圧の低い、すなわち、オン抵抗の小さいMOSFETとすることで、従MOSFET3dの追加による損失やコストの増大を効果的に抑制することができる。すなわち、従MOSFET3dの追加による損失や外付けダイオード5dの損失があっても、主MOSFET1dの主ボディダイオード2dのリカバリ損失をなくすことにより、全体の損失を低減できる。また、高性能の外付けダイオード5dを使用することにより、リカバリノイズを低減できる。
さらに、主MOSFET1dと従MOSFET3dのソース端子同士をそれぞれ接続し、基準電位を共通にして同じ電圧で主MOSFET1dと従MOSFET3dを駆動することによって、新たに駆動回路を追加する必要がないのでスイッチング回路が小型安価になる。
なお、主MOSFET1,従MOSFET3の各ソース端子同士、各ゲート端子同士がそれぞれ接続されており、駆動回路6が各ソース端子を基準として各ゲート端子を駆動する例を示したが、駆動回路6は主MOSFET1,従MOSFET3それぞれ個別に設けてもよく、それぞれの駆動制御のタイミングに多少のずれがあってもよく、同様の効果を奏する。
また、主MOSFET1dと従MOSFET3dをオフすることで、外付けダイオード5dに環流電流J2が流れる例を示したが、外付けダイオード5dに環流電流J2を流すのは、主MOSFET1aと従MOSFET3aがオンする直前のみでよく、環流電流J2の導通時間が長い場合には、主MOSFET1aと従MOSFET3aがオンする直前まで主MOSFET1dと従MOSFET3dをオンさせておけば、外付けダイオード5dに環流電流J2が流れて生じる損失を低減することができる。
また、本実施の形態では、本発明によるスイッチング回路を6回路用いた三相インバータの1アームを例にとって動作を示したが、必ずしも6回路全てを本発明によるスイッチング回路にしなくても、MOSFETのボディダイオードによるリカバリが発生するMOSFETについてのみ本発明を適用しても良い。
また、三相インバータ以外の例であっても、例えば、バックコンバータ、ブーストコンバータのように本発明によるスイッチング回路が直列に接続されて構成されるものや、あるいは、本スイッチング回路と別途MOSFETなどのスイッチング素子が直列に接続されて構成されるものでも同様の効果を奏する。
なお、スイッチング素子は、MOSFETに限らず寄生ダイオードであるボディダイオードを有するものであれば、同様にリカバリ損失やリカバリノイズを軽減することができる。
この発明の実施の形態1であるスイッチング回路を用いた三相インバータ回路の構成図である。 スイッチング回路の動作を説明するための要部抽出図を示す。
符号の説明
1a〜1f 主MOSFET、2a〜2f 主ボディダイオード、
3a〜3f 従MOSFET、4a〜4f 従ボディダイオード、
5a〜5f 外付けダイオード、6a〜6f 駆動回路、
8,8a〜8f スイッチング回路。

Claims (2)

  1. 第1及び第2のスイッチング回路が直列に接続されたスイッチング直列回路と制御回路とを備えた開閉装置であって、
    上記第1及び第2のスイッチング回路は、第1及び第2の主スイッチング素子がそのボディダイオードが逆直列になるようにして直列に接続された直列回路と、上記直列回路に上記第1の主スイッチング素子のボディダイオードと同じ導通方向になるようにして並列に接続された外付けダイオードとをそれぞれ有するものであり、
    上記スイッチング直列回路は、上記第1のスイッチング回路と上記第2のスイッチング回路とが上記各外付けダイオードが順直列になるようにかつ上記第1のスイッチング回路の上記外付ダイオードのカソード側が上記第2のスイッチング回路と反対側になるようにして直列に接続され、上記第1のスイッチング回路の上記外付ダイオードの上記カソード側が直流電源の陽極側に接続され、上記第2のスイッチング回路側が上記直流電源の陰極側に接続されるものであり、
    上記制御回路は、上記第1及び第2のスイッチング回路におけるそれぞれの上記第1及び第2の主スイッチング素子を開閉制御することにより当該スイッチング回路を開閉するとともに、上記第2のスイッチング回路の上記外付けダイオードに順方向電流が流れているときに上記第2のスイッチング回路が閉路する期間を有し、上記第1のスイッチング回路が閉路される直前に上記第2のスイッチング回路を開路するものである
    開閉装置
  2. 上記第2の主スイッチング素子の主開閉端子間耐電圧は、上記第1の主スイッチング素子の主開閉端子間耐電圧よりも低いものである請求項1に記載のスイッチング回路。
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