JP5007721B2 - 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 - Google Patents
放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5007721B2 JP5007721B2 JP2008501526A JP2008501526A JP5007721B2 JP 5007721 B2 JP5007721 B2 JP 5007721B2 JP 2008501526 A JP2008501526 A JP 2008501526A JP 2008501526 A JP2008501526 A JP 2008501526A JP 5007721 B2 JP5007721 B2 JP 5007721B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- detection signal
- radiation detection
- radiation
- recursive
- recursive calculation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims description 268
- 230000005855 radiation Effects 0.000 title claims description 188
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 41
- 238000003672 processing method Methods 0.000 title claims description 28
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 93
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 52
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 41
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 31
- 230000014509 gene expression Effects 0.000 claims description 25
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 5
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 3
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 3
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 238000002594 fluoroscopy Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 2
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 206010047571 Visual impairment Diseases 0.000 description 1
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000007812 deficiency Effects 0.000 description 1
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/16—Measuring radiation intensity
- G01T1/17—Circuit arrangements not adapted to a particular type of detector
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Arrangements for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computed tomography [CT]
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
-
- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus or devices for radiation diagnosis; Apparatus or devices for radiation diagnosis combined with radiation therapy equipment
- A61B6/42—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis
- A61B6/4208—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector
- A61B6/4233—Arrangements for detecting radiation specially adapted for radiation diagnosis characterised by using a particular type of detector using matrix detectors
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Medical Informatics (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- Heart & Thoracic Surgery (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Radiology & Medical Imaging (AREA)
- Biomedical Technology (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Biophysics (AREA)
- Surgery (AREA)
- Animal Behavior & Ethology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Public Health (AREA)
- Veterinary Medicine (AREA)
- Pulmonology (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Description
ここで、Tn =−Δt/τn ,Snk=xk-1 +exp(Tn )・Sn(k-1),
βn =αn ・[1−exp(Tn )]
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
n:インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn :指数関数nの強度
τn :指数関数nの減衰時定数
しかしながら、発明者らが上記米国特許明細書が提案する演算処理技術を適用実施してみたところでは、時間遅れに起因するアーティファクトが回避されず、かつ、まともなX線画像も得られないという結果しか得られず、FPDの時間遅れは解消されないことが確認された(特許文献1)。
Tn =−Δt/τn …b
Snk=Xk-1 +exp(Tn )・Sn(k-1)…c
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
Yk :k番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Xk :Yk から時間遅れ分を除去した遅れ除去放射線検出信号
Xk-1 :一時点前のXk
Sn(k-1):一時点前のSnk
exp :指数関数
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
n:インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn :指数関数nの強度
τn :指数関数nの減衰時定数
Sn0=0
X0 =0
この再帰式的演算では、FPDのインパルス応答係数である、N,αn,τn を事前に求めておき、それを固定した状態で放射線検出信号Yk を式a〜cに適用し、その結果、時間遅れ分を除去したXk を算出することになる(特許文献2)。なお、上述した時間遅れ分を除去する補正は、「ラグ補正」とも呼ばれている。
すなわち、この発明の放射線撮像装置は、放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、前記放射線検出手段から放射線検出信号を所定のサンプリング時間間隔で取り出す信号サンプリング手段とを備え、被検体への放射線照射に伴って放射線検出手段からサンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に基づいて放射線画像が得られるように前記装置は構成されており、前記装置は、さらに、サンプリング時間間隔で取り出される各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を単数または減衰時定数が異なる複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして再帰的演算処理により各放射線検出信号から除去する時間遅れ除去手段と、放射線が照射される領域における前記放射線検出手段の各々の位置にそれぞれ対応した各々の検出画素からなる画素群の中から、前記再帰的演算処理を行う箇所と再帰的演算処理を行わない箇所とに区分する画素群区分手段とを備え、前記時間遅れ除去手段は、再帰的演算処理を行う箇所では再帰的演算処理により時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とするものである。
Xk =Yk −Σn=1 N [Snk]…A
Tn=−Δt/τn …B
Snk=exp(Tn) ・{αn・〔1−exp(Tn) 〕・exp(Tn)・Sn(k-1) }…C
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
Yk :k番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Xk :Yk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Xk-1 :一時点前のXk
Sn(k-1):一時点前のSnk
exp :指数関数
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
n:インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn:指数関数nの強度
τn:指数関数nの減衰時定数
により行うとともに、再起的演算処理のための初期値を式D、
X0 =0,Sn0=γn・Y0…D
但し, γn:ある減衰時定数τnの成分nの残留割合
Y0 :再帰的演算処理の基点時である放射線非照射時に残留しているラグ信号値
により行い、前記式Dにより決定された初期値での条件で、前記式A〜Cにより求められた前記インパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求め、前記再帰的演算処理を行わない箇所では、前記再帰的演算処理結果を前記式A中のΣn=1 N [Snk]として、その箇所の周辺であって、かつ再帰的演算処理が行われた箇所におけるΣn=1 N [Snk]の平均値を用いて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることである。
2 … FPD(フラットパネル型X線検出器)
3 … A/D変換器
11 … 時間遅れ除去部
12 … 画素群区分部
22 … X線検出素子
26 … ゲートバスライン
29 … データバスライン
M … 被検体
Tn=−Δt/τn …B
Snk=exp(Tn) ・{αn・〔1−exp(Tn) 〕・exp(Tn)・Sn(k-1) }…C
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
Yk :k番目のサンプリング時点で取り出されたX線検出信号
Xk :Yk から時間遅れ分を除去した補正後X線検出信号
Xk-1 :一時点前のXk
Sn(k-1):一時点前のSnk
exp :指数関数
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
n:インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn:指数関数nの強度
τn:指数関数nの減衰時定数
つまり、式Aの右辺の第2項以降、すなわち式Cでの『Snk=exp(Tn) ・{αn・〔1−exp(Tn) 〕・exp(Tn)・Sn(k-1) }が時間遅れ分に該当するので、本実施例装置では、時間遅れ分を除去した補正後X線検出信号Xk が式A〜Cという簡潔な漸化式によって速やかに求められる。
但し, γn:ある減衰時定数τnの成分nの残留割合
Y0 :再帰的演算処理の基点時であるX線非照射時に残留しているラグ信号値
例えば、図10に示すように、時間t0〜t1での撮影のラグが透視に重なると、再帰的演算処理の基点時であるX線非照射時(図10ではk=0を参照)であっても、時間t0〜t1での撮影で発生した時間遅れ分による残留ラグ(ラグ信号値)が存在する。すなわち、X線非照射時であってもX線検出信号Ykの初期値Y0は0でない。
Σn=1 N [γn]≦1,0≦γn…E
但し,Σn=1 N [γn]:成分nの残留割合γnの総和
の条件を満たすように設定するのが好ましい。
Σn=1 N [γn]=1…E´
の条件を満たすとともに、各々の残留割合γnを式F、
γ1=γ2=…=γn=…=γN-1=γN…F
の条件を満たすように設定する。
Sn0=Y0/N…D´
で表される。指数関数の数が3個(N=3)の場合は、S10,S20,S30を式DにしたがってY0/3に全てセットする。
Σn=1 N [γn]<1…E´´
の条件を満たすとともに、ある減衰時定数τmの成分mでの残留割合γM、それ以外の残留割合γNを式G、
0<γM<1,γN=0…G
の条件を満たすように設定する。指数関数の数が3個(N=3)で、減衰時定数τ2の成分2での残留割合γ2が0<γ2<1を満たし(例えばγ2=0.1)、かつそれ以外の残留割合がγ1=γ3=0を満たす場合には、S10,,S30を式Gにしたがって0にセットするとともに、S20を式Gにしたがってγ2・Y0(例えばγ2=0.1)にセットする。
Claims (16)
- 放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る放射線撮像装置であって、被検体に向けて放射線を照射する放射線照射手段と、被検体を透過した放射線を検出する放射線検出手段と、前記放射線検出手段から放射線検出信号を所定のサンプリング時間間隔で取り出す信号サンプリング手段とを備え、被検体への放射線照射に伴って放射線検出手段からサンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に基づいて放射線画像が得られるように前記装置は構成されており、前記装置は、さらに、サンプリング時間間隔で取り出される各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を単数または減衰時定数が異なる複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして再帰的演算処理により各放射線検出信号から除去する時間遅れ除去手段と、放射線が照射される領域における前記放射線検出手段の各々の位置にそれぞれ対応した各々の検出画素からなる画素群の中から、前記再帰的演算処理を行う箇所と再帰的演算処理を行わない箇所とに区分する画素群区分手段とを備え、前記時間遅れ除去手段は、再帰的演算処理を行う箇所では再帰的演算処理により時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1に記載の放射線撮像装置において、所定の一方向に並んだ画素群の一部をラインとしたときに、前記画素群区分手段は、前記再帰的演算処理を行わない箇所を所定のラインとして設定するとともに、前記再帰的演算処理を行う箇所を前記所定のライン以外のラインとして設定することを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項2に記載の放射線撮像装置において、前記放射線検出手段は、各々の画素にそれぞれ対応した複数の放射線検出素子が2次元状に配列されて構成されているとともに、前記放射線検出素子のスイッチング制御を行う複数のゲートバスラインが各々の放射線検出素子に接続され、前記放射線検出信号を放射線検出素子から読み出すデータバスラインが前記ゲートバスラインに直交して各々の放射線検出素子に接続されて構成されており、前記画素群区分手段は、前記再帰的演算処理を行わない箇所を所定のデータバスラインとして設定するとともに、前記再帰的演算処理を行う箇所を前記所定のデータバスライン以外のデータバスラインとして設定することを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項3に記載の放射線撮像装置において、前記画素群区分手段は、隣接するデータバスライン毎に前記再帰的演算処理を行わない箇所と前記再帰的演算処理を行う箇所とを交互に分けることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項1に記載の放射線撮像装置において、前記時間遅れ除去手段は、前記再帰的演算処理を行わない箇所では、その箇所の周辺であって、かつ前記再帰的演算処理が行われた箇所における再帰的演算処理で前記時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号と前記サンプリング間隔で取り出された補正前の放射線検出信号との差分値に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項5に記載の放射線撮像装置において、前記再帰的演算処理を行わない箇所では、前記差分値の統計量を用いて前記時間遅れ分を除去して、前記補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項6に記載の放射線撮像装置において、前記統計量は、再帰的演算処理結果の平均値であることを特徴とする放射線撮像装置。
- 請求項7に記載の放射線撮像装置において、前記再帰的演算処理を行う箇所では放射線検出信号から時間遅れ分を除去する再帰的演算処理を式A〜C、
Xk =Yk −Σn=1 N [Snk]…A
Tn=−Δt/τn …B
Snk=exp(Tn) ・{αn・〔1−exp(Tn) 〕・exp(Tn)・Sn(k-1) }…C
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
Yk :k番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Xk :Yk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Xk-1 :一時点前のXk
Sn(k-1):一時点前のSnk
exp :指数関数
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
n:インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn:指数関数nの強度
τn:指数関数nの減衰時定数
により行うとともに、再起的演算処理のための初期値を式D、
X0 =0,Sn0=γn・Y0…D
但し, γn:ある減衰時定数τnの成分nの残留割合
Y0 :再帰的演算処理の基点時である放射線非照射時に残留しているラグ信号値
により行い、前記式Dにより決定された初期値での条件で、前記式A〜Cにより求められた前記インパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求め、前記再帰的演算処理を行わない箇所では、前記再帰的演算処理結果を前記式A中のΣn=1 N [Snk]として、その箇所の周辺であって、かつ再帰的演算処理が行われた箇所におけるΣn=1 N [Snk]の平均値を用いて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線撮像装置。 - 被検体を照射して検出された放射線検出信号を所定のサンプリング時間間隔で取り出し、サンプリング時間間隔で出力される放射線検出信号に基づいて放射線画像を得る信号処理を行う放射線検出信号処理方法であって、サンプリング時間間隔で取り出される各放射線検出信号に含まれる時間遅れ分を単数または減衰時定数が異なる複数個の指数関数で構成されるインパルス応答によるものとして再帰的演算処理により各放射線検出信号から除去し、その際には、放射線が照射される領域における、放射線を検出して前記放射線検出信号を出力する放射線検出手段の各々の位置にそれぞれ対応した各々の検出画素からなる画素群の中から、前記再帰的演算処理を行う箇所と再帰的演算処理を行わない箇所とに区分し、再帰的演算処理を行う箇所では再帰的演算処理によって時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
- 請求項9に記載の放射線検出信号処理方法において、所定の一方向に並んだ画素群の一部をラインとしたときに、前記再帰的演算処理を行わない箇所を所定のラインとして設定するとともに、前記再帰的演算処理を行う箇所を前記所定のライン以外のラインとして設定することを特徴とする放射線検出信号処理方法。
- 請求項10に記載の放射線検出信号処理方法において、前記放射線検出手段が、各々の画素にそれぞれ対応した複数の放射線検出素子が2次元状に配列されて構成されているとともに、前記放射線検出素子のスイッチング制御を行う複数のゲートバスラインが各々の放射線検出素子に接続され、前記放射線検出信号を放射線検出素子から読み出すデータバスラインが前記ゲートバスラインに直交して各々の放射線検出素子に接続されて構成されているときに、前記再帰的演算処理を行わない箇所を所定のデータバスラインとして設定するとともに、前記再帰的演算処理を行う箇所を前記所定のデータバスライン以外のデータバスラインとして設定することを特徴とする放射線検出信号処理方法。
- 請求項11に記載の放射線検出信号処理方法において、隣接するデータバスライン毎に前記再帰的演算処理を行わない箇所と前記再帰的演算処理を行う箇所とを交互に分けることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
- 請求項9に記載の放射線検出信号処理方法において、前記再帰的演算処理を行わない箇所では、その箇所の周辺であって、かつ前記再帰的演算処理が行われた箇所における再帰的演算処理で前記時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号と前記サンプリング間隔で取り出された補正前の放射線検出信号との差分値に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
- 請求項13に記載の放射線検出信号処理方法において、前記再帰的演算処理を行わない箇所では、前記差分値の統計量を用いて前記時間遅れ分を除去して、前記補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
- 請求項14に記載の放射線検出信号処理方法において、前記統計量は、再帰的演算処理結果の平均値であることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
- 請求項15に記載の放射線検出信号処理方法において、前記再帰的演算処理を行う箇所では放射線検出信号から時間遅れ分を除去する再帰的演算処理を式A〜C、
Xk =Yk −Σn=1 N [Snk]…A
Tn=−Δt/τn …B
Snk=exp(Tn) ・{αn・〔1−exp(Tn) 〕・exp(Tn)・Sn(k-1) }…C
但し, Δt:サンプリング時間間隔
k:サンプリングした時系列内のk番目の時点を示す添字
Yk :k番目のサンプリング時点で取り出された放射線検出信号
Xk :Yk から時間遅れ分を除去した補正後放射線検出信号
Xk-1 :一時点前のXk
Sn(k-1):一時点前のSnk
exp :指数関数
N:インパルス応答を構成する時定数が異なる指数関数の個数
n:インパルス応答を構成する指数関数の中の一つを示す添字
αn:指数関数nの強度
τn:指数関数nの減衰時定数
により行うとともに、再起的演算処理のための初期値を式D、
X0 =0,Sn0=γn・Y0…D
但し, γn:ある減衰時定数τnの成分nの残留割合
Y0 :再帰的演算処理の基点時である放射線非照射時に残留しているラグ信号値
により行い、前記式Dにより決定された初期値での条件で、前記式A〜Cにより求められた前記インパルス応答に基づいて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求め、前記再帰的演算処理を行わない箇所では、前記再帰的演算処理結果を前記式A中のΣn=1 N [Snk]として、その箇所の周辺であって、かつ再帰的演算処理が行われた箇所におけるΣn=1 N [Snk]の平均値を用いて時間遅れ分を除去して、補正後放射線検出信号を求めることを特徴とする放射線検出信号処理方法。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2006/303276 WO2007096968A1 (ja) | 2006-02-23 | 2006-02-23 | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2007096968A1 JPWO2007096968A1 (ja) | 2009-07-09 |
JP5007721B2 true JP5007721B2 (ja) | 2012-08-22 |
Family
ID=38437030
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008501526A Active JP5007721B2 (ja) | 2006-02-23 | 2006-02-23 | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7787592B2 (ja) |
EP (1) | EP1990003A1 (ja) |
JP (1) | JP5007721B2 (ja) |
KR (1) | KR100987857B1 (ja) |
CN (1) | CN101389272B (ja) |
WO (1) | WO2007096968A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1987771A4 (en) * | 2006-02-20 | 2011-02-16 | Shimadzu Corp | DEVICE FOR TAKING RADIOLOGICAL IMAGES AND METHOD FOR PROCESSING RADIATION DETECTION SIGNALS |
JP5405093B2 (ja) * | 2008-12-05 | 2014-02-05 | 富士フイルム株式会社 | 画像処理装置及び画像処理方法 |
WO2013188498A2 (en) * | 2012-06-12 | 2013-12-19 | Arizona Board Of Regents Acting For And On Behalf Of Arizona State University | Imaging system and methods of manufacturing and using the same |
US9554759B2 (en) * | 2013-09-18 | 2017-01-31 | Carestream Health, Inc. | Digital radiography detector image readout process |
US9912881B2 (en) * | 2014-12-09 | 2018-03-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Apparatus, system, and method of controlling apparatus |
CN107260197B (zh) * | 2017-07-10 | 2020-11-10 | 东软医疗***股份有限公司 | 时间校正方法、装置及设备 |
Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1085207A (ja) * | 1996-08-05 | 1998-04-07 | Siemens Ag | X線診断装置 |
JP2001099944A (ja) * | 1999-07-29 | 2001-04-13 | Toshiba Medical System Co Ltd | 放射線検出器のノイズリダクション方法、放射線検出器、放射線診断装置 |
JP2002209875A (ja) * | 2000-08-01 | 2002-07-30 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 半導体x線検出器の光導線性fetによって誘引されるオフセットの簡単な測定手段 |
JP2002345798A (ja) * | 2001-03-15 | 2002-12-03 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線検出器のスクラビング又は部分的読み出しによるオーバヘッドの減少 |
JP2004000564A (ja) * | 2002-04-19 | 2004-01-08 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | デジタル検出器においてデータ収集速度を増加させる方法及び装置 |
JP2004242741A (ja) * | 2003-02-12 | 2004-09-02 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2004321346A (ja) * | 2003-04-23 | 2004-11-18 | Hitachi Medical Corp | X線画像診断装置 |
JP2004329932A (ja) * | 2003-05-02 | 2004-11-25 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 透視画像を処理するための方法及び装置 |
JP2005283422A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2006006387A (ja) * | 2004-06-22 | 2006-01-12 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4794531A (en) * | 1984-11-07 | 1988-12-27 | Hitachi, Ltd | Unsharp masking for image enhancement |
US5249123A (en) * | 1991-11-25 | 1993-09-28 | General Electric Company | Compensation of computed tomography data for detector afterglow |
US5452338A (en) * | 1994-07-07 | 1995-09-19 | General Electric Company | Method and system for real time offset correction in a large area solid state x-ray detector |
US5563421A (en) * | 1995-06-07 | 1996-10-08 | Sterling Diagnostic Imaging, Inc. | Apparatus and method for eliminating residual charges in an image capture panel |
US6496605B1 (en) * | 1996-08-02 | 2002-12-17 | United Module Corporation | Block deformation removing filter, image processing apparatus using the same, method of filtering image signal, and storage medium for storing software therefor |
US20030223539A1 (en) * | 2002-05-31 | 2003-12-04 | Granfors Paul R. | Method and apparatus for acquiring and storing multiple offset corrections for amorphous silicon flat panel detector |
US6904126B2 (en) * | 2002-06-19 | 2005-06-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Radiological imaging apparatus and method |
WO2004036738A2 (en) * | 2002-10-16 | 2004-04-29 | Varian Medical Systems Technologies, Inc. | Method and apparatus for excess signal correction in an imager |
DE10322620A1 (de) | 2003-05-20 | 2004-12-16 | Bayer Materialscience Ag | Festkörperreiche Bindemittelkombinationen für kratzfeste Decklacke |
JP4304437B2 (ja) * | 2003-06-20 | 2009-07-29 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮像装置 |
JP4483223B2 (ja) * | 2003-08-08 | 2010-06-16 | 株式会社島津製作所 | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 |
JP2006034509A (ja) * | 2004-07-26 | 2006-02-09 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 |
-
2006
- 2006-02-23 JP JP2008501526A patent/JP5007721B2/ja active Active
- 2006-02-23 KR KR1020087021332A patent/KR100987857B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2006-02-23 WO PCT/JP2006/303276 patent/WO2007096968A1/ja active Application Filing
- 2006-02-23 EP EP06714416A patent/EP1990003A1/en not_active Withdrawn
- 2006-02-23 CN CN2006800533692A patent/CN101389272B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-02-23 US US12/280,339 patent/US7787592B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1085207A (ja) * | 1996-08-05 | 1998-04-07 | Siemens Ag | X線診断装置 |
JP2001099944A (ja) * | 1999-07-29 | 2001-04-13 | Toshiba Medical System Co Ltd | 放射線検出器のノイズリダクション方法、放射線検出器、放射線診断装置 |
JP2002209875A (ja) * | 2000-08-01 | 2002-07-30 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 半導体x線検出器の光導線性fetによって誘引されるオフセットの簡単な測定手段 |
JP2002345798A (ja) * | 2001-03-15 | 2002-12-03 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線検出器のスクラビング又は部分的読み出しによるオーバヘッドの減少 |
JP2004000564A (ja) * | 2002-04-19 | 2004-01-08 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | デジタル検出器においてデータ収集速度を増加させる方法及び装置 |
JP2004242741A (ja) * | 2003-02-12 | 2004-09-02 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2004321346A (ja) * | 2003-04-23 | 2004-11-18 | Hitachi Medical Corp | X線画像診断装置 |
JP2004329932A (ja) * | 2003-05-02 | 2004-11-25 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | 透視画像を処理するための方法及び装置 |
JP2005283422A (ja) * | 2004-03-30 | 2005-10-13 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置 |
JP2006006387A (ja) * | 2004-06-22 | 2006-01-12 | Shimadzu Corp | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPWO2007096968A1 (ja) | 2009-07-09 |
KR20080090562A (ko) | 2008-10-08 |
EP1990003A1 (en) | 2008-11-12 |
WO2007096968A1 (ja) | 2007-08-30 |
KR100987857B1 (ko) | 2010-10-13 |
CN101389272B (zh) | 2011-03-23 |
CN101389272A (zh) | 2009-03-18 |
US7787592B2 (en) | 2010-08-31 |
US20090010392A1 (en) | 2009-01-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4462349B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP4882404B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP5007721B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP4893733B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP4464612B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP4483223B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP4304437B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
KR20060125480A (ko) | 방사선촬상장치 및 방사선 검출신호처리방법 | |
JP2005064706A (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP4415635B2 (ja) | 放射線撮像装置 | |
JP4706705B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP4581504B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP4924384B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP4411891B2 (ja) | 放射線撮像装置および放射線検出信号処理方法 | |
JP2003156567A (ja) | X線フラットパネル検出器の感度補正方法及びその装置並びにx線検出装置 | |
JP2005210466A (ja) | 医用画像輝度調整装置およびそれを用いた放射線透視撮影装置 | |
JP2022046189A (ja) | 放射線撮影装置及びその制御方法、並びに、プログラム | |
JP2012245141A (ja) | X線撮影装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110315 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110512 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110805 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111206 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120206 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120501 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120514 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5007721 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150608 Year of fee payment: 3 |