JP4977541B2 - ディジタル・カメラおよびその動作制御方法 - Google Patents

Description

この発明は，ディジタル・カメラおよびその動作制御方法に関する。

ＣＣＤなどの固体電子撮像素子においては，欠陥画素が発生することがあるために，欠陥画素補正が行われることがある。欠陥画素は，露光時間が長いときに目立つので露光時間にもとづいて欠陥画素補正を行うかどうかを決定するものがある（特許文献１，２）。
特許第376188号公報 特開2001-211388号公報

しかしながら，固体電子撮像素子に設けられている多数の光電変換素子はすべて一律に同じ感度のものではなく，異なる感度のものが混在することが多い。露光時間が長い場合に，すべての欠陥画素を補正すると，補正する必要の無い欠陥画素にまで補正することとなり，得られる画像の画質が低下することがある。

この発明は，補正が必要な欠陥画素について補正をすることを目的とする。

この発明によるディジタル・カメラは，受光面上に感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており，被写体を撮像することにより，被写体像を表す画像データを出力する固体電子撮像素子，感度の異なる上記光電変換素子ごとに，欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する判定手段，上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち，上記判定手段によって欠陥画素の補正を行なうと判定された上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データであって，あらかじめ定められている欠陥画素に対応する画像データを補正する補正手段，ならびに上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち，上記補正手段によって補正された画像データおよび上記補正手段によって補正されなかった画像データを，感度の異なる上記光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅する増幅回路を備え，上記判定手段が，上記異なる増幅率のうち，欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて，露光時間についての値を補正した値がしきい値を超えた場合に欠陥画素の補正を行うと判定するものである。

この発明は，上記ディジタル・カメラの動作制御方法も提供している。すなわち，この方法は，固体電子撮像素子が，受光面上に感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており，被写体を撮像することにより，被写体像を表す画像データを出力し，判定手段が，感度の異なる上記光電変換素子ごとに，欠陥画素の補正を行うかどうかを判定し，補正手段が，上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち，上記判定手段によって欠陥画素の補正を行なうと判定された上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データであって，あらかじめ定められている欠陥画素に対応する画像データを補正し，増幅回路が，上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち，上記補正手段によって補正された画像データおよび上記補正手段によって補正されなかった画像データを，感度の異なる上記光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅し，上記判定手段が，上記異なる増幅率のうち，欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて，露光時間についての値を補正した値がしきい値を超えた場合に欠陥画素の補正を行うと判定するものである。

この発明によると，固体電子撮像素子の受光面上には感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており，被写体を撮像することにより被写体像を表す画像データが得られる。欠陥画素補正を行うかどうかが，感度の異なる光電変換素子ごとに判定される。欠陥画素判定を行うと判定された光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた被写体像を表す画像データであって，あらかじめ定められた欠陥画素に対応する画像データが補正される。補正された画像データおよび補正されていない画像データが，感度の異なる光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅される。欠陥画素の補正が行われるかどうかの判定は，異なる増幅率のうち，欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた増幅率についての値を用いて，露光時間についての値を補正して得られた値がしきい値を超えた場合に行われるものと判定される。

この発明によると感度の異なる光電変換素子ごとに，欠陥画素補正が行われるかどうかが判定され，行われると判定された場合に欠陥画素補正が行われる。欠陥画素補正を行うかどうかを感度の異なる光電変換素子ごとに決定できるようになる。

感度が異なる光電変換素子から得られる画像データについては，感度に応じて増幅率を変えて画像データが増幅されることがある。増幅率を変えて画像データが増幅されると，欠陥画素補正を行う必要があると考えられる露光時間のしきい値も感度の異なる光電変換素子ごとに変わる。この発明によると，異なる増幅率のうち欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて，露光時間についての値を補正して欠陥画素の補正を行うかどうかを判定しているので，感度の異なる光電変換素子に応じて増幅率を変えて画像データを増幅しても欠陥画素を行うかどうかの判定が比較的正確に行うことができる。

感度の異なる上記光電変換素子ごとの増幅率を記憶するメモリをさらに備えてもよい。この場合，上記増幅回路は，上記メモリに記憶されている増幅率を用いて上記補正手段によって補正された画像データを補正するものとなろう。

ディジタル・カメラ周辺の温度を検出する温度検出手段，および上記温度検出手段によって検出された温度にもとづいて上記しきい値を変更する変更手段をさらに備えてもよい。

上記固体電子撮像素子は，たとえば，異なる色のカラー・フィルタが受光領域に付されている多数の光電変換素子，異なる色のカラー・フィルタもしくは透明のフィルタが受光領域に付されている多数の光電変換素子，または異なる受光領域の大きさをもつ多数の光電変換素子を備えているものである。

図１は，この発明の実施例を示すもので，ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。

ディジタル・カメラの全体の動作は，ＣＰＵ８によって統括される。

ディジタル・カメラには，電源ボタン，シャッタ・レリーズ・ボタン，モード・スイッチなどのスイッチ類を含む操作スイッチ９が設けられている。この操作スイッチ９から出力された信号は，ＣＰＵ８に入力する。また，ディジタル・カメラには露光時間その他の時間を計時するためのタイマ11およびディジタル・カメラの周辺温度を計測する温度センサ12も設けられている。

駆動回路７によって，レンズ／バリア／シャッタ／絞り１および撮像素子２が駆動させられる。レンズ／バリア／シャッタ／絞り１を通過した光線束は，撮像素子２の受光面に入射する。

図２は，撮像素子２の受光面の一部を示している。

撮像素子２の受光面20には，多数の光電変換素子21が水平方向および垂直方向に配置されている。これらの光電変換素子21が画素に対応する。光電変換素子21の受光面（受光領域）上には赤色成分の光を透過するフィルタ（Ｒで示す），緑色成分の光を透過するフィルタ（Ｇで示す）または青色成分の光を透過するフィルタ（Ｂで示す）が形成されている。露光量に応じた信号電荷が光電変換素子21に蓄積される。蓄積された信号電荷は垂直転送路および水平転送路（いずれも図示略）を介して，画像データとして撮像素子２から出力される。赤色成分の光を透過するフィルタＲ，緑色成分の光を透過するフィルタＧまたは青色成分の光を透過するフィルタＢの透過率が異なることから，赤色成分の光を透過するフィルタＲ，緑色成分の光を透過するフィルタＧまたは青色成分の光を透過するフィルタＢが形成されている光電変換素子21の感度が異なることとなる。

図１に戻って，撮像素子２から赤色成分の画像データ，緑色成分の画像データまたは青色成分の画像データが順に出力される。撮像素子２から出力された画像データはオフセット補正回路３を介して欠陥補正回路４に入力する。

欠陥補正回路４は，撮像素子２の欠陥画素（いわゆる撮像素子２の傷などのことであり，光電変換素子21に信号電荷が蓄積されているにもかかわらず，その蓄積量に応じた画像データが得られない画素）を補正する回路である。欠陥画素の位置についてはあらかじめ検出されており，その位置を示すデータがメモリ10に格納されている。この実施例によるディジタル・カメラは，あらかじめ検出されている欠陥画素のすべてについて欠陥画素補正が行われるものではなく，所定の判定式が成立する欠陥画素について欠陥画素補正が行われる。

とくに，この実施例においては，所定の判定式に用いられるパラメータが撮像素子の感度に応じて異なる。上述したように撮像素子２の光電変換素子21は，受光面に形成されているフィルタが赤色の光成分を透過するものか，緑色の光成分を透過するものか，青色の光成分を透過するものかに応じて感度が異なることから，白バランス調整が行われる。この白バランス調整におけるゲインが赤色成分の画像データか，緑色成分の画像データか，青色成分の画像データかによって異なる。これらの赤色成分の画像データ，緑色成分の画像データまたは青色成分の画像データごとに異なるゲインを用いて，上述した判定式の計算が行なわれる。

欠陥画素補正回路４から出力された画像データはゲイン補正回路５に入力し，白バランス調整が行われる。白バランス調整後に，欠陥画素の補正をしてもよい。ゲイン補正回路５から出力された画像データは信号処理回路６において，色補間，データ圧縮などの所定の信号処理が行われて画像表示装置14に入力する。画像表示装置14に，撮像により得られた被写体像が表示される。

シャッタ・レリーズ・ボタンが押されると，上述のようにして信号処理回路６から出力された画像データがメモリ・カード・インターフェイス13に接続されているメモリ・カード（図示略）に記録される。

図３は，ディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。

撮像素子２によって被写体が撮像される（ステップ31）。ＩＳＯ感度のAPEX値（たとえば，ＩＳＯ100であれば５）Ｓｖ，露光時間のAPEX値（たとえば，１秒であれば０）Ｔｖ，ゲインＧａなどが取得される（ステップ32）。ＩＳＯ感度は固定であればメモリ10に記憶されており，ユーザによる設定ができる場合には設定された値が読み取られよう。また，露光時間はタイマ11によって計時される。ゲインＧａは，白バランス・ゲインであり，例えば，赤色成分の画像データについては1.2，緑色成分の画像データについては１，青色成分の画像データについては1.8である。

つづいて，赤色成分（Ｒ画素）の画像データ，緑色成分（Ｇ画素）の画像データ，青色成分（Ｂ画素）の画像データごとに式１の判定式の計算が行われる（ステップ33）。欠陥画素の画像データについて式１が成立する場合に欠陥画素補正が行われる。しきい値Ｔｈは例えば，固定値であり，５である。この式１が，画像データの増幅率についての値を用いて，露光時間を補正するものである。

Ｓｖ＋ｌｏｇ２（Ｇａ）−Ｔｖ＞Ｔｈ・・・式１

欠陥画素補正回路４に入力した画像データであって，欠陥画素に相当する光電変換素子21から得られた画像データがＲ画素，Ｇ画素またはＢ画素のどのものかが判別される（ステップ34）。

Ｒ画素の画像データであれば，Ｒ画素のゲインＧａを用いて式１を算出した場合に，式１（判定式）が成立するかどうかが判定される。式１が成立すれば（ステップ35でＹＥＳ），欠陥画素補正が必要な時間以上露光されていたと考えられるので，そのＲ画素の欠陥画素について欠陥補正回路４において欠陥画素補正が行われる（ステップ36）。式１が成立しなければ（ステップ35でＮＯ），ステップ36の処理はスキップされ，そのＲ画素の欠陥画素について欠陥画素補正は行われない。

同様に，Ｇ画素の画像データであれば，Ｇ画素のゲインＧａを用いて式１を算出した場合に式１が成立するかどうかが判定される。式１が成立すれば（ステップ37でＹＥＳ），そのＧ画素の欠陥画素について欠陥画素補正が行われる（ステップ38）。式１が成立しなければ（ステップ37でＮＯ），ステップ38の処理はスキップされ，そのＧ画素の欠陥画素について欠陥画素補正は行われない。

さらに，Ｂ画素の画像データであれば，Ｂ画素のゲインＧａを用いて式１を算出した場合に式１が成立するかどうかが判定される。式１が成立すれば（ステップ39でＹＥＳ），そのＢ画素の欠陥画素について欠陥画素補正が行われる（ステップ40）。式１が成立しなければ（ステップ39でＮＯ），ステップ40の処理はスキップされ，そのＢ画素の欠陥画素について欠陥画素補正は行われない。

一駒分の画像のすべての画素の画像データについてステップ34から40までの処理が繰り返される（ステップ41）。一駒分の画像の画像データについてのステップ34から40までの処理が終了すると（ステップ41でＹＥＳ），その画像データについて上述した画素補間，データ圧縮などの所定の画像信号処理が行われる（ステップ42）。

撮像素子に感度の異なる光電変換素子が含まれている場合には，露光時間にもとづいて欠陥画素補正をするかしないかを決定するときに，感度をごとに露光時間を調整する必要があるが，上述した式１の判定式は，画素ごとに異なるゲインを考慮しているので（すなわち，光電変換素子の感度の相違を考慮しているので），その露光時間を調整して欠陥画素補正をするかしないかを決定できる。

図４は，温度としきい値Ｔｈとの関係を示している。

上述した式１の判定式は，しきい値Ｔｈは固定であったが，ディジタル・カメラの周辺温度に応じてしきい値Ｔｈを変えるようにしてもよい。周辺温度は上述したように，温度センサ12を用いて計測できる。

温度（℃）が０度，10度，20度，30度，40度，50度と上がるにつれて，しきい値Ｔｈが８，７，６，５，４，３と下がる。温度変化に応じて光電変換素子の感度も変わるので，温度変化を考慮して，欠陥画素補正を行うかどうかを判定できるようになる。

図５は，撮像素子の受光面22に形成されている光電変換素子21の一例である。

上述したのと同様に，撮像素子の受光面22の水平方向および垂直方向に多数の光電変換素子21が配置されている。この図においても図２に示すものと同様に，光電変換素子21の受光面に形成されているフィルタのうち赤色の光成分を透過するものについてはＲの符号が付され，緑色の光成分を透過するものについてはＧの符号が付され，青色の光成分を透過するものについてはＢの符号が付されている。上述のように，Ｒの符号が付されたフィルタが形成されている光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいてＲ画素の画像データが得られ，Ｇの符号が付されたフィルタが形成されている光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいてＧ画素の画像データが得られ，Ｂの符号が付されたフィルタが形成されている光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいてＢ画素の画像データが得られる。

この実施例における撮像素子の受光面にはカラー・フィルタが形成されていない光電変換素子21Ａが設けられている。カラー・フィルタが形成されていない光電変換素子21Ａには符号Ｙが付されている。カラー・フィルタが形成されていない光電変換素子21Ａの感度はカラー・フィルタが形成されている光電変換素子21の感度よりも高い。これらの光電変換素子21Ａに蓄積された信号電荷にもとづいて，輝度データが得られる。

図６は，図５に示す光電変換素子の配列をもつ撮像素子を用いて被写体を撮像する場合のディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。この図において図３に示す処理と同一の処理については同一符号を付して説明を省略する。

上述したように，カラー・フィルタが形成されていない光電変換素子21Ａに相当する画素をＹ画素と呼ぶことにする。Ｒ画素，Ｇ画素，Ｂ画素，Ｙ画素ごとに式１の判定式が計算される（ステップ33Ａ）。撮像素子に，カラー・フィルタが形成されていない光電変換素子が配置されている場合には，たとえば，Ｒ画素のゲインＧａは2.4，Ｇ画素のゲインＧａは２，Ｂ画素のゲインＧａは3.6，Ｙ画素のゲインＧａは１となる。それぞれのゲインＧａを用いて上述した式１の判定式が計算される。Ｒ画素，Ｇ画素，Ｂ画素，Ｙ画素のそれぞれの画像データが入力した場合に，式１の判定式が成立すると（ステップ35，37，39，43のそれぞれにおいてＹＥＳ），欠陥画素補正が行われる（ステップ36，38，40，44）。

図７は，他の撮像素子の受光面の一例である。

撮像素子の受光面上には水平方向および垂直方向に多数の光電変換素子24および25が配置されている。一方の光電変換素子（主光電変換素子）24の受光面の面積は，他方の光電変換素子（副光電変換素子）25の受光面の面積より大きい。このために，副光電変換素子25の感度は主光電変換素子24の感度の20倍となっている。奇数行奇数列に主光電変換素子24が配置され，偶数行偶数列に副光電変換素子25が配置されているが，偶数行偶数列に主光電変換素子24が配置され，奇数行奇数列に副光電変換素子25が配置されてもよい。

図８は，主光電変換素子24の感度と副光電変換素子25の感度とを示している。

上述のように，主光電変換素子24の面積は副光電変換素子25の面積よりも大きいから，同じ明るさであれば副光電変換素子25よりも主光電変換素子24の方が蓄積される信号電荷の量が多い。主光電変換素子24に蓄積される信号電荷の量は，明るさＬ０で飽和する。副光電変換素子25の方が主光電変換素子24よりも感度が高いことがわかる。

図９は，さらに他の撮像素子の受光面の一例である。

水平方向および垂直方向に多数の光電変換素子27が配置されている。これらの光電変換素子27は，主受光領域28と副受光領域29とに分けられている。主受光領域28の面積は副受光領域29の面積よりも大きい。このように，一つの光電変換素子27の受光領域が主受光領域28と副受光領域29とに分けられている場合においても，図７に示す撮像素子と同様に，副受光領域29の感度の方が主受光領域28の感度よりも高い。

光電変換素子27の主受光領域28にはＲの符号，Ｇの符号またはＢの符号が付され，光電変換素子27の副受光領域29にはｒの符号，ｇの符号またはｂの符号が付されている。Ｒの符号またはｒの符号が付されている光電変換素子27には赤色の光成分をもつ信号電荷が蓄積される。Ｇの符号またはｇの符号が付されている光電変換素子27には緑色の光成分をもつ信号電荷が蓄積される。Ｂの符号またはｂの符号が付されている光電変換素子27には青色の光成分をもつ信号電荷が蓄積される。

図10は，図７に示すように主光電変換素子24と副光電変換素子25とを有する撮像素子または図９に示すように主受光領域28と副受光領域29とが形成されている撮像素子が設けられているディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。この図において，図３に示す処理と同一の処理については同一符号を付して説明を省略する。

主光電変換素子24または主受光領域28に蓄積された信号電荷にもとづいて得られる画像データによって表される画素を主画素，副光電変換素子25または主受光領域29に蓄積された信号電荷にもとづいて得られる画像データによって表される画素を副画素とする。

主画素のゲインＧａは，たとえば１であり，副画素のゲインＧａは，たとえば20である。これらのゲインＧａを用いて，主画素，副画素ごとに上述した式１の判定式が計算される（ステップ51）。

主画素について式１の判定式が成立すれば（ステップ52でＹＥＳ），主画素の欠陥画素補正が行われる（ステップ53）。副画素について式１の判定式が成立すれば（ステップ54でＹＥＳ），副画素の欠陥画素補正が行われる（ステップ55）。

一駒分の画像データについてステップ52から55の処理が繰り返される（ステップ56）。一駒分の画像データについてステップ52から55の処理が終了すると（ステップ56でＹＥＳ），画像信号処理が行われる（ステップ57）。

上述の実施例においては，主画素と副画素とのゲインを考慮して式１の判定式を計算しているが，図９に示すように光電変換素子27の受光面にカラー・フィルタが形成されている場合にはそのカラー・フィルタのゲインおよび主画素と副画素のゲインも考慮して式１の判定式を計算するようにしてもよい。

図11から図13は，変形例を示すもので，ディジタル・カメラのブロック図を示している。これらの図において，図１に示すものと同じものについては同じ符号を付して説明を省略する。

図11に示すブロック図のディジタル・カメラには，ゲイン補正テーブル・メモリ15が設けられている。このゲイン補正テーブル・メモリ15には，画素ごとのゲインを示すデータが格納されているゲイン補正テーブルが記憶されている。ゲイン補正テーブル・メモリ15に記憶されているゲイン補正テーブルを示すデータは欠陥補正回路４およびゲイン補正回路５に与えられる。ゲイン補正テーブルを示すデータを用いて上述した欠陥補正を行うかどうかを判定する式１の判定式が計算される。また，ゲイン補正テーブルを示すデータを用いてゲイン補正回路５における白バランス調整が行われる。

図12に示すブロック図のディジタル・カメラには，オフセット／ゲイン補正テーブル・メモリ16が設けられている。このオフセット／ゲイン補正テーブル・メモリ16には，上述したゲイン補正テーブルのほかにオフセット補正テーブルが記憶されている。オフセット補正テーブルを用いてオフセット補正回路３におけるオフセット補正を実施できる。

図13に示すブロック図におけるディジタル・カメラは，上述したように欠陥補正を欠陥補正回路４において行うものではなく，ソフトウエアにより実施するものである。また，ディジタル・カメラにはストロボ65も設けられている。

ディジタル・カメラの全体の動作は，ＣＰＵ66によって統括される。

上述したように，撮像素子２から出力された画像データはディジタル信号処理回路61に入力し，オフセット補正などの所定のディジタル信号処理が行われる。ディジタル信号処理化回路61から出力された画像データはメモリ62に与えられ，一時的に記憶される。画像データは，メモリ62から読み出されて上述したように欠陥画素補正の判定処理がＣＰＵ66の制御のもとに行われる。欠陥画素補正をすると判定された欠陥画素についてはＣＰＵ66の制御により，その補正が実行される。

ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。 撮像素子の受光面の一例である。 ディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。 温度としきい値との関係を示している。 撮像素子の受光面の一例である。 ディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。 撮像素子の受光面の一例である。 明るさと蓄積された信号電荷の量とを示している。 撮像素子の受光面の一例である。 ディジタル・カメラの処理手順を示すフローチャートである。 ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。 ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。 ディジタル・カメラの電気的構成を示すブロック図である。

符号の説明

２ 撮像素子
４ 欠陥補正回路
５ ゲイン補正回路
８ ＣＰＵ
21，21Ａ，24，25，27 光電変換素子

Claims (5)

1. 受光面上に感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており，被写体を撮像することにより，被写体像を表す画像データを出力する固体電子撮像素子，
   感度の異なる上記光電変換素子ごとに，欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する判定手段，
   上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち，上記判定手段によって欠陥画素の補正を行なうと判定された上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データであって，あらかじめ定められている欠陥画素に対応する画像データを補正する補正手段，ならびに
   上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち，上記補正手段によって補正された画像データおよび上記補正手段によって補正されなかった画像データを，感度の異なる上記光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅する増幅回路を備え，
   上記判定手段が，
   上記異なる増幅率のうち，欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて露光時間についての値を補正した値が，しきい値を超えた場合に欠陥画素の補正を行うと判定するものである，
   ディジタル・カメラ。
2. 感度の異なる上記光電変換素子ごとの増幅率を記憶するメモリをさらに備え，
   上記増幅回路は，上記メモリに記憶されている増幅率を用いて上記補正手段によって補正された画像データを補正するものである，
   請求項１に記載のディジタル・カメラ。
3. ディジタル・カメラ周辺の温度を検出する温度検出手段，および
   上記温度検出手段によって検出された温度にもとづいて上記しきい値を変更する変更手段，
   をさらに備えた請求項１または２に記載のディジタル・カメラ。
4. 上記固体電子撮像素子は，異なる色のカラー・フィルタが受光領域に付されている多数の光電変換素子，異なる色のカラー・フィルタもしくは透明のフィルタが受光領域に付されている多数の光電変換素子，または異なる受光領域の大きさをもつ多数の光電変換素子を備えているものである，
   請求項１から３のうち，いずれか一項に記載のディジタル・カメラ。
5. 固体電子撮像素子が，受光面上に感度の異なる多数の光電変換素子が配置されており，被写体を撮像することにより，被写体像を表す画像データを出力し，
   判定手段が，感度の異なる上記光電変換素子ごとに，欠陥画素の補正を行うかどうかを判定し，
   補正手段が，上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち，上記判定手段によって欠陥画素の補正を行なうと判定された上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データであって，あらかじめ定められている欠陥画素に対応する画像データを補正し，
   増幅回路が，上記固体電子撮像素子から出力された画像データのうち，上記補正手段によって補正された画像データおよび上記補正手段によって補正されなかった画像データを，感度の異なる上記光電変換素子ごとに異なる増幅率で増幅し，
   上記判定手段が，上記異なる増幅率のうち，欠陥画素の補正を行うかどうかを判定する対象の上記光電変換素子に蓄積された信号電荷にもとづいて得られた画像データの増幅率についての値を用いて露光時間についての値を補正した値が，しきい値を超えた場合に欠陥画素の補正を行うと判定する，
   ディジタル・カメラの動作制御方法。
   

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