JP2003333435A

JP2003333435A - 補正処理装置、撮像装置、補正処理方法、補正処理コンピュータプログラム

Info

Publication number: JP2003333435A
Application number: JP2003063389A
Authority: JP
Inventors: Kazunari Kitani; 一成木谷
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2002-03-08
Filing date: 2003-03-10
Publication date: 2003-11-21

Abstract

(57)【要約】【課題】欠陥画素の補正不足或いは過補正に伴う画質
の低下を避けると共に欠陥画素に対する高速で高精度な
補正処理を可能とした補正処理装置、撮像装置、補正処
理方法、補正処理コンピュータプログラムを提供する。【解決手段】画像処理装置１００のシステム制御回路
５０は、撮影条件、撮影環境に応じて区分される複数の
条件に応じて、撮像素子１４の欠陥画素の出力を補正す
るための且つ欠陥画素のアドレスに関する情報を有する
複数のキズ補正データから、使用するキズ補正データを
選択し、選択したキズ補正データの順序を決定し、選択
したキズ補正データを用いて、撮像素子１４の出力に関
し欠陥画素の補正処理を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、撮像素子の画素に
関する補正を行う補正処理装置、補正処理方法、補正処
理コンピュータプログラム、撮像素子を備え静止画像や
動画像を撮像・記録・再生する撮像装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、固体メモリ素子を有するメモリカ
ードを記録媒体として、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ等の固体撮像
素子で撮像した静止画像や動画像を記録及び再生する電
子カャ遠凾フ画像処理装置は既に市販されている。

【０００３】画像処理装置において、ＣＣＤ、ＣＭＯＳ
等の固体撮像素子（以下、撮像素子）を用いて撮像する
場合、撮像素子を露光しない状態で本撮影と同様に電荷
蓄積を行った後に読み出したダーク画像データと、撮像
素子を露光した状態で電荷蓄積を行った後に読み出した
本撮影画像データとを用いて演算処理することにより、
ダークノイズ補正処理を行うことが可能である。これに
より、撮像素子の発生する暗電流ノイズや撮像素子固有
の微少なキズによる画素欠損等の画質劣化に関して、撮
影した画像データを補正して高品位な画像を撮影するこ
とができる。キズ画素（欠陥画素）に隣接する画素の画
像データを用いた補間演算処理により点キズを補正する
ことで、画質劣化を更に低減することが可能である。

【０００４】従来、これらのキズ画素の補正方法として
は、センサ（撮像素子）の工場出荷時に、所定の条件下
における標準電荷蓄積時間でのセンサ出力を評価し、評
価結果に基づきキズ画素と判定し、このキズ画素の種類
（黒キズ画素、白キズ画素等）及びキズ画素のアドレス
とそのキズレベルのデータを取得し、このデータを用い
てキズ画素を補正する方法を採っている。このデータに
は、キズの種類、キズ画素の位置データ（ｘ、ｙ）及び
そのレベルが記載されている。

【０００５】しかしながら、キズ画素、特に白キズ画素
（白点画素）については、撮影時の撮像素子における電
荷蓄積時間によって大きくその程度が異なることが知ら
れている。従って、通常の短い時間（短秒時）での一般
撮影時には問題にならないような画素でも、通常より長
い時間（長秒時）での撮影時には急激にそのキズ画素と
してのレベルが大きくなり、画質に悪影響を与えてしま
うことになる。特に前述したダークノイズ補正処理を行
わない場合には、微小なキズが補正されないために、特
に長秒での撮影時に、画素欠損による画質の低下が顕著
に現れる。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来技術においては次のような問題があった。長秒時での
キズ画素のレベルに応じてキズ画素の判定を行い、全て
の画素に対して補正処理を行うと、逆に短秒時には、本
来補正処理が不要な画素に補正処理を行うことで、逆に
過補正により画質低下を招く恐れもある。

【０００７】このような問題を避けるために、例えば特
開２００１−２８７１３号のように、撮影動作に先立っ
てダーク画像を撮影し、その画像より白キズ画素を抽出
し、抽出された白キズ画素に対してのみ補正処理を行う
技術も提案されている。しかし、その補正処理時間は、
特に長秒時撮影でキズ画素が急激に増加した場合などに
は、無視できるものではなく、レリーズタイムラグ、撮
影コマ間隔に大きな影響を与えてしまい現実的な対処方
法ではなかった。

【０００８】また、補正すべきキズ画素の個数が大きく
なると、補正すべきキズ画素のアドレス情報を格納する
ために画像処理装置のメモリを圧迫してしまうものであ
った。例えば特開平１１−１１２８７９号では、撮影動
作に先立ちダーク画像を撮影し、その画像より白キズ画
素を抽出する際にメモリ容量を越えるほどの欠陥画素が
発生する場合には、撮像素子の電源を遮断し、異常画像
が生じることを防いでいるが、この時、たとえユーザが
撮影したいと希望しても、ユーザの意に反して撮影がで
きないという事態になってしまう。

【０００９】本発明は、上述した点に鑑みなされたもの
であり、欠陥画素の補正不足或いは過補正に伴う画質の
低下を避けると共に欠陥画素に対する高速で高精度な補
正処理を可能とした補正処理装置、撮像装置、補正処理
方法、補正処理コンピュータプログラムを提供すること
を目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、複数の画素から構成される撮像素子の画
素に関する補正を行う補正処理装置であって、前記撮像
素子の欠陥画素の出力を補正するための、欠陥画素のア
ドレスに関する情報を有する複数の補正用データを記憶
する記憶手段と、前記複数の補正用データから、使用す
る補正用データを所定の条件に応じて異なる種類の選択
基準を含む所定の選択方法により選択する補正用データ
選択手段と、選択された補正用データを用いて、前記撮
像素子の出力に関し欠陥画素の補正処理を行う補正処理
手段とを有する補正処理装置とするものである。

【００１１】また、本発明は、複数の画素から構成され
る撮像素子の画素に関する補正を行う補正処理装置であ
って、前記撮像素子の欠陥画素の出力を補正するため
の、欠陥画素のアドレスに関する情報を有する複数の補
正用データを記憶する記憶手段と、前記複数の補正用デ
ータから、使用する補正用データを所定の条件に応じて
異なる種類の選択基準を含む所定の選択方法により選択
する補正用データ選択手段と、選択された補正用データ
を用いて、前記撮像素子の出力に関し欠陥画素の補正処
理を行う補正処理手段と、前記補正処理で使用する補正
用データの順序を決定する処理順序決定手段とを有する
補正処理装置とするものである。

【００１２】また、本発明は、複数の画素から構成され
る撮像素子の画素に関する補正を行う補正処理装置であ
って、前記撮像素子の欠陥画素の出力を補正するため
の、欠陥画素のアドレスに関する情報を有する複数の補
正用データを記憶する記憶手段と、前記複数の補正用デ
ータから、使用する補正用データを所定の条件に応じて
異なる種類の選択基準を含む所定の選択方法により選択
する補正用データ選択手段と、選択された補正用データ
を用いて、前記撮像素子の出力に関し欠陥画素の補正処
理を行う補正処理手段と、前記補正処理手段で使用する
補正用データの順序を決定する処理順序決定手段とを有
し、前記補正用データの少なくともひとつは、欠陥画素
を出力レベル順にソートした情報の中から、その出力レ
ベルに応じて選択された欠陥画素のアドレスに関する情
報を保持するデータであり、該データと異なる前記補正
用データの少なくともひとつは、欠陥画素を出力レベル
順にソートした情報の中から、利用可能なアドレスデー
タ数に応じて選択された欠陥画素のアドレスに関する情
報を保持するデータとするものである。

【００１３】また、本発明は、撮像素子の欠陥画素の出
力を補正するための補正用データを記憶する記憶手段
と、異なる種類の複数の選択基準に基づいて前記補正用
データを選択し、該選択した補正用データを用いて前記
撮像素子の出力に関し補正処理を行う補正処理手段とを
有する補正処理装置とするものである。

【００１４】また、本発明は、撮像素子の欠陥画素の出
力を補正するための補正用データを記憶する記憶手段
と、異なる種類の複数の選択基準に基づいて前記補正用
データを選択し、該選択した補正用データを用いて前記
撮像素子の出力に関し補正処理を行う補正処理手段とを
有する撮像装置とするものである。

【００１５】また、本発明は、複数の画素から構成され
る撮像素子の欠陥画素の出力を補正するための、欠陥画
素のアドレスに関する情報を有する複数の補正用データ
から、使用する補正用データを所定の条件に応じて異な
る種類の選択基準を含む所定の選択方法により選択し、
選択された補正用データを用いて、前記撮像素子の出力
に関し欠陥画素の補正処理を行う画素補正処理方法とす
るものである。

【００１６】また、本発明は、異なる種類の複数の選択
基準に基づいて記憶手段に記憶された撮像素子の欠陥画
素の出力を補正するための補正用データを選択し、該選
択した補正用データを用いて前記撮像素子の出力に関し
補正処理を行う補正処理方法とするものである。

【００１７】また、本発明は、複数の画素から構成され
る撮像素子の欠陥画素の出力を補正するための、欠陥画
素のアドレスに関する情報を有する複数の補正用データ
から、使用する補正用データを所定の条件に応じて異な
る種類の選択基準を含む所定の選択方法により選択する
ステップと、選択された補正用データを用いて、前記撮
像素子の出力に関し欠陥画素の補正処理を行うステップ
とを有することを特徴とする補正処理コンピュータプロ
グラムとするものである。

【００１８】また、本発明は、異なる種類の複数の選択
基準に基づいて記憶手段に記憶された撮像素子の欠陥画
素の出力を補正するための補正用データを選択し、該選
択した補正用データを用いて前記撮像素子の出力に関し
補正処理を行う補正処理コンピュータプログラムとする
ものである。

【００１９】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて詳細に説明する。

【００２０】図１は本発明の実施の形態に係る画像処理
装置の構成を示すブロック図である。画像処理装置は、
画像処理装置（本体）１００と、画像処理装置本体に対
し着脱可能に装着される記録媒体２００、記録媒体２１
０と、画像処理装置本体に対し着脱可能に装着されるレ
ンズユニット３００を備えている。

【００２１】画像処理装置の構成を詳述すると、シャッ
タ１２は、撮像素子１４への露光量を制御する。撮像素
子１４は、被写体の光学像を電気信号に変換する。レン
ズユニット３００のレンズ３１０に入射した光線は、一
眼レフ方式によって、絞り３１２、レンズマウント３０
６、及び画像処理装置１００のレンズマウント１０６、
ミラー１３０、シャッタ１２を介して導き、光学像とし
て撮像素子１４上に結像することができる。Ａ／Ｄ変換
器１６は、撮像素子１４のアナログ信号出力をディジタ
ル信号に変換する。タイミング発生回路１８は、撮像素
子１４、Ａ／Ｄ変換器１６、Ｄ／Ａ変換器２６にクロッ
ク信号や制御信号を供給するものであり、メモリ制御回
路２２及びシステム制御回路５０により制御される。

【００２２】画像処理回路２０は、Ａ／Ｄ変換器１６か
らのデータ或いはメモリ制御回路２２からのデータに対
して所定の画素補間処理や色変換処理を行う。また、画
像処理回路２０においては、必要に応じて、撮像した画
像データを用いて所定の演算処理を行い、得られた演算
結果に基づいてシステム制御回路５０がシャッタ制御手
段４０、測距制御手段４２に対して制御を行う、TTL
（スルー・ザ・レンズ）方式のAF（オートフォーカス）
処理、AE（自動露出）処理、ＥＦ（フラッシュ調光）処
理を行うことができる。更に、画像処理回路２０におい
ては、撮像した画像データを用いて所定の演算処理を行
い、得られた演算結果に基づいてTTL方式のAWB（オート
ホワイトバランス）処理も行っている。

【００２３】なお、本実施の形態においては、画像処理
装置が測距手段４２及び測光手段４６を専用に備える構
成としているため、測距手段４２及び測光手段４６を用
いてAF（オートフォーカス）処理、AE（自動露出）処
理、EF（フラッシュ調光）処理の各処理を行い、上記画
像処理回路２０を用いたAF（オートフォーカス）処理、
AE（自動露出）処理、EF（フラッシュ調光）処理の各処
理を行わない構成としてもよい。或いは、測距手段４２
及び測光手段４６を用いてAF（オートフォーカス）処
理、AE（自動露出）処理、EF（フラッシュ調光）処理の
各処理を行い、更に、上記画像処理回路２０を用いたAF
（オートフォーカス）処理、AE（自動露出）処理、EF
（フラッシュ調光）処理の各処理を行う構成としてもよ
い。

【００２４】メモリ制御回路２２は、Ａ／Ｄ変換器１
６、タイミング発生回路１８、画像処理回路２０、画像
表示メモリ２４、Ｄ／Ａ変換器２６、メモリ３０、圧縮
・伸長回路３２を制御する。Ａ／Ｄ変換器１６のデータ
が、画像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、
或いはＡ／Ｄ変換器１６のデータが直接メモリ制御回路
２２を介して、画像表示メモリ２４或いはメモリ３０に
書き込まれる。画像表示メモリ２４は、表示用の画像デ
ータを記憶する。Ｄ／Ａ変換器２６は、メモリ制御回路
２２のディジタル信号出力をアナログ信号に変換する。
画像表示部２８は、TFT LCD等から構成されるものであ
り、画像表示メモリ２４に書き込まれた表示用の画像デ
ータはＤ／Ａ変換器２６を介して画像表示部２８により
表示される。画像表示部２８を用いて、撮像した画像デ
ータを逐次表示すれば、電子ファインダ機能を実現する
ことが可能である。また、画像表示部２８は、システム
制御回路５０の指示により任意に表示をON/OFFすること
が可能であり、表示をOFFにした場合には画像処理装置
１００の電力消費を大幅に低減することができる。

【００２５】メモリ３０は、撮影した静止画像や動画像
を格納するためのメモリであり、所定枚数の静止画像や
所定時間の動画像を格納するのに十分な記憶量を備えて
いる。これにより、複数枚の静止画像を連続して撮影す
る連写撮影やパノラマ撮影の場合にも、高速かつ大量の
画像書き込みをメモリ３０に対して行うことが可能とな
る。また、メモリ３０は、システム制御回路５０の作業
領域としても使用することが可能である。圧縮・伸長回
路３２は、適応離散コサイン変換（ＡＤＣＴ）等により
画像データを圧縮伸長するものであり、メモリ３０に格
納された画像を読み込んで圧縮処理或いは伸長処理を行
い、処理を終えたデータをメモリ３０に書き込む。

【００２６】シャッタ制御手段４０は、測光手段４６か
らの測光情報に基づいて、絞り３１２を制御する絞り制
御手段３４０と連携しながら、シャッタ１２を制御す
る。測距手段４２は、AF（オートフォーカス）処理を行
うためのものであり、レンズユニット３００のレンズ３
１０に入射した光線を、一眼レフ方式によって、絞り３
１２、レンズマウント３０６、及び画像処理装置１００
のレンズマウント１０６、ミラー１３０そして不図示の
測距用サブミラーを介して、測距手段４２に入射させる
ことにより、光学像として結像された画像の合焦状態を
測定することができる。温度計４４は、撮影環境の温度
を検出することができる。温度計４４が撮像素子１４内
にある場合は撮像素子１４の暗電流をより正確に予想す
ることが可能である。

【００２７】測光手段４６は、AE（自動露出）処理を行
うためのものであり、レンズユニット３００のレンズ３
１０に入射した光線を、一眼レフ方式によって、絞り３
１２、レンズマウント３０６、及び画像処理装置１００
のレンズマウント１０６、ミラー１３０及び１３２そし
て不図示の測光用レンズを介して、測光手段４６に入射
させることにより、光学像として結像された画像の露出
状態を測定することができる。また、測光手段４６は、
フラッシュ４８と連携することによりEF（フラッシュ調
光）処理機能も有するものである。フラッシュ４８は、
AF補助光の投光機能、フラッシュ調光機能も有する。

【００２８】なお、撮像素子１４によって撮像した画像
データを画像処理回路２０によって演算した演算結果に
基づき、システム制御回路５０がシャッタ制御手段４
０、絞り制御手段３４０、測距制御手段３４２に対して
制御を行う、ビデオTTL方式を用いて露出制御及びAF
（オートフォーカス）制御をすることも可能である。更
に、測距手段４２による測定結果と、撮像素子１４によ
って撮像した画像データを画像処理回路２０によって演
算した演算結果とを共に用いてAF（オートフォーカス）
制御を行っても構わない。そして、測光手段４６による
測定結果と、撮像素子１４によって撮像した画像データ
を画像処理回路２０によって演算した演算結果とを共に
用いて露出制御を行っても構わない。

【００２９】システム制御回路５０は、画像処理装置１
００全体を制御するものであり、ャｃ鰍T２に記憶され
たプログラムに基づき後述の各フローチャートに示す処
理を実行する。メモリ５２は、システム制御回路５０の
動作用の定数、変数、プログラム等を記憶するメモリで
ある。表示部５４は、システム制御回路５０でのプログ
ラムの実行に応じて、文字、画像、音声等を用いて動作
状態やメッセージ等を表示出力、音声出力する液晶表示
装置、スピーカ等を備えており、画像処理装置１００の
操作部近辺の視認し易い位置に単数或いは複数個所設置
され、例えばＬＣＤやＬＥＤ、発音素子等の組み合わせ
により構成されている。また、表示部５４は、その一部
の機能が光学ファインダ１０４内に設置されている。

【００３０】表示部５４の表示内容のうち、ＬＣＤ等に
表示するものとしては、例えば、シングルショット/連
写撮影表示、セルフタイマ表示、圧縮率表示、ＩＳＯ
（International Organization for Standardization）
感度表示、記録画素数表示、記録枚数表示、残撮影可能
枚数表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補
正表示、フラッシュ表示、赤目緩和表示、マクロ撮影表
示、ブザー設定表示、時計用電池残量表示、電池残量表
示、エラー表示、複数桁の数字による情報表示、記録媒
体２００及び２１０の着脱状態表示、レンズユニット３
００の着脱状態表示、通信インタフェース動作表示、日
付・時刻表示、外部コンピュータとの接続状態を示す表
示、等がある。

【００３１】また、表示部５４の表示内容のうち、光学
ファインダ１０４内に表示するものとしては、例えば、
合焦表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッ
シュ充電表示、フラッシュ充電完了表示、シャッタスピ
ード表示、絞り値表示、露出補正表示、記録媒体書き込
み動作表示、等がある。更に、表示部５４の表示内容の
うち、ＬＥＤ等に表示するものとしては、例えば、合焦
表示、撮影準備完了表示、手振れ警告表示、フラッシュ
充電表示、フラッシュ充電完了表示、記録媒体書き込み
動作表示、マクロ撮影設定通知表示、二次電池充電状態
表示、等がある。更に、表示部５４の表示内容のうち、
ランプ等に表示するものとしては、例えば、セルフタイ
マ通知ランプ、等がある。このセルフタイマ通知ランプ
は、AF補助光と共用して用いてもよい。

【００３２】不揮発性メモリ５６は、電気的に消去・記
録可能なメモリであり、例えばEEPROM等が用いられる。
この不揮発性メモリ５６には、各種パラメータやＩＳＯ
感度などの設定値、設定モードのデータが格納される。
操作手段６０、６２、６４、６６、６８、６９及び７０
は、システム制御回路５０の各種の動作指示を入力する
ためのものであり、スイッチやダイアル、タッチパネ
ル、視線検知によるポインティング、音声認識装置等の
単数或いは複数の組み合わせで構成される。ここで、こ
れらの操作手段の具体的な説明を行う。

【００３３】モードダイアルスイッチ６０は、自動撮影
モード、プログラム撮影モード、シャッタ速度優先撮影
モード、絞り優先撮影モード、マニュアル撮影モード、
焦点深度優先（デプス）撮影モード、ポートレート撮影
モード、風景撮影モード、接写撮影モード、スポーツ撮
影モード、夜景撮影モード、パノラマ撮影モード等の各
機能撮影モードを切り替え設定することができる。シャ
ッタスイッチＳＷ１・６２は、不図示のシャッタボタン
の操作途中でONとなり、AF（オートフォーカス）処理、
AE（自動露出）処理、AWB（オートホワイトバランス）
処理、EF（フラッシュ調光）処理等の動作開始を指示す
る。

【００３４】シャッタスイッチＳＷ２・６４は、不図示
のシャッタボタンの操作完了でONとなり、撮像素子１４
から読み出した信号をＡ／Ｄ変換器１６、メモリ制御回
路２２を介してメモリ３０に画像データを書き込む露光
処理、画像処理回路２０やメモリ制御回路２２での演算
を用いた現像処理、メモリ３０から画像データを読み出
し、圧縮・伸長回路３２で圧縮を行い、記録媒体２００
或いは２１０に画像データを書き込む記録処理という一
連の処理の動作開始を指示する。再生スイッチ６６は、
撮影モード状態において、撮影した画像をメモリ３０或
いは記録媒体２００或いは２１０から読み出して画像表
示部２８によって表示する再生動作の開始を指示する。

【００３５】単写/連写スイッチ６８は、シャッタスイ
ッチＳＷ２・６４を押した場合に１駒の撮影を行って待
機状態とする単写モードと、シャッタスイッチＳＷ２・
６４を押している間は連続して撮影を行い続ける連写モ
ードとを設定することができる。ＩＳＯ感度設定スイッ
チ６９は、撮像素子１４或いは画像処理回路２０におけ
るゲインの設定を変更することにより、ＩＳＯ感度（撮
影感度）を設定することができる。

【００３６】操作部７０は、各種ボタンやタッチパネル
等から構成されており、メニューボタン、セットボタ
ン、マクロボタン、マルチ画面再生改ページボタン、フ
ラッシュ設定ボタン、単写/連写/セルフタイマ切り替え
ボタン、メニュー移動＋（プラス）ボタン、メニュー移
動−（マイナス）ボタン、再生画像移動＋（プラス）ボ
タン、再生画像−（マイナス）ボタン、撮影画質選択ボ
タン、露出補正ボタン、日付/時間設定ボタン、パノラ
マモード等の撮影及び再生を実行する際に各種機能の選
択及び切り替えを設定する選択/切り替えボタン、パノ
ラマモード等の撮影及び再生を実行する際に各種機能の
決定及び実行を設定する決定/実行ボタン、画像表示部
２８のON/OFFを設定する画像表示ON/OFFスイッチ、撮影
直後に撮影した画像データを自動再生するクイックレビ
ュー機能を設定するクイックレビューON/OFFスイッチを
備えている。

【００３７】また、操作部７０は、ＪＰＥＧ（Joint Ph
otographic Expert Group）圧縮の圧縮率を選択するた
め或いは撮像素子４の信号をそのままディジタル化して
記録媒体に記録するＣＣＤＲＡＷモードを選択するため
のスイッチである圧縮モードスイッチ、再生モード・マ
ルチ画面再生・消去モード、ＰＣ（パーソナルコンピュ
ータ）接続モード等の各機能モードを設定することがで
きる再生スイッチ、シャッタスイッチＳＷ１・６２を押
したならばオートフォーカス動作を開始し一旦合焦した
ならばその合焦状態を保ち続けるワンショットAFモード
と、シャッタスイッチＳＷ１を押している間は連続して
オートフォーカス動作を続けるサーボAFモードとを設定
することができるAFモード設定スイッチ等がある。な
お、上記プラスボタン及びマイナスボタンの各機能は、
回転ダイアルスイッチを備えることによって、より軽快
に数値や機能を選択することが可能となる。

【００３８】電源スイッチ７２は、画像処理装置１００
の電源オン、電源オフの各モードを切り替え設定するこ
とができる。また、電源スイッチ７２は、画像処理装置
１００に接続されたレンズユニット３００、外部ストロ
ボ、記録媒体２００、２１０等の各種付属装置の電源オ
ン、電源オフの設定も合わせて切り替え設定することが
できる。電源制御手段８０は、電池検出回路、ＤＣ−Ｄ
Ｃコンバータ、通電するブロックを切り替えるスイッチ
回路等により構成されており、電池の装着の有無、電池
の種類、電池残量の検出を行い、検出結果及びシステム
制御回路５０の指示に基づいてＤＣ−ＤＣコンバータを
制御し、必要な電圧を必要な期間、記録媒体を含む各部
へ供給する。コネクタ８２及び８４は、電源制御手段８
０と電源手段８６とを接続する。電源手段８６は、アル
カリ電池、リチウム電池等の一次電池や、NiCd電池、Ni
MH電池、Li電池等の二次電池、ACアダプタ等から構成さ
れている。

【００３９】インタフェース９０及び９４は、メモリカ
ードやハードディスク等の記録媒体２００、２１０との
インタフェースを司る。コネクタ９２及び９６は、画像
処理装置１００とメモリカードやハードディスク等の記
録媒体２００、２１０とを接続する。記録媒体着脱検知
手段９８は、コネクタ９２及びコネクタ９６、或いはコ
ネクタ９２、或いはコネクタ９６に記録媒体２００或い
は記録媒体２１０が装着されているか否かを検知する。

【００４０】なお、本実施の形態では、記録媒体を取り
付けるインタフェース及びコネクタを２系統持つものと
して説明している。勿論、記録媒体を取り付けるインタ
フェース及びコネクタは、単数或いは複数、いずれの系
統数を備える構成としても構わない。また、異なる規格
のインタフェース及びコネクタを組み合わせて備える構
成としても構わない。インタフェース及びコネクタとし
ては、PCMCIA（Personal Computer Memory Card Intern
ational Association）カードやCF（コンパクトフラッ
シュ（登録商標））カード等の規格に準拠したものを用
いて構成して構わない。

【００４１】更に、インタフェース９０及び９４、そし
てコネクタ９２及び９６をPCMCIAカードやCF（コンパク
トフラッシュ（登録商標））カード等の規格に準拠した
ものを用いて構成した場合、LANカードやモデムカー
ド、USB（Universal Serial Bus）カード、IEEE（Insti
tute of Electrical and ElectronicＳ Engineers）139
4カード、P1284カード、SCSI（Ｓmall Computer System
Interface）カード、PHS（Personal Handyphone Syste
m）等の通信カード、等の各種通信カードを接続するこ
とにより、画像処理装置と他のコンピュータやプリンタ
等の周辺機器との間で画像データや画像データに付属し
た管理情報を転送し合うことができる。

【００４２】光学ファインダ１０４は、レンズユニット
３００のレンズ３１０に入射した光線を、一眼レフ方式
によって、絞り３１２、レンズマウント３０６、及び画
像処理装置１００のレンズマウント１０６、ミラー１３
０及び１３２を介して導き、光学像として結像表示する
ことができる。これにより、画像表示部２８による電子
ファインダ機能を使用すること無しに、光学ファインダ
１０４のみを用いて撮影を行うことが可能である。ま
た、光学ファインダ１０４内には、表示部５４の一部の
機能、例えば、合焦表示、手振れ警告表示、フラッシュ
充電表示、シャッタスピード表示、絞り値表示、露出補
正表示などが設置されている。

【００４３】通信手段１１０は、RS232CやUSB、IEEE139
4、P1284、SCSI、モデム、LAN、無線通信、等の各種通
信機能を有する。コネクタ／アンテナ１１２は、通信手
段１１０により画像処理装置１００を他の機器と接続す
る場合はコネクタとして機能し、無線通信の場合はアン
テナとして機能する。インタフェース１２０は、レンズ
マウント１０６内において、画像処理装置１００をレン
ズユニット３００と接続するためのインタフェースであ
る。

【００４４】コネクタ１２２は、画像処理装置１００を
レンズユニット３００と電気的に接続する。レンズ着脱
検知手段１２４は、レンズマウント１０６及び或いはコ
ネクタ１２２にレンズユニット３００が装着されている
か否かを検知する。コネクタ１２２は、画像処理装置１
００とレンズユニット３００との間で制御信号、状態信
号、データ信号等を伝え合うと共に、各種電圧の電流を
供給する機能も備えている。また、コネクタ１２２は、
電気通信のみならず、光通信、音声通信等を伝達する構
成としてもよい。ミラー１３０、１３２は、レンズ３１
０に入射した光線を、一眼レフ方式によって光学ファイ
ンダ１０４に導くことができる。なお、ミラー１３２
は、クイックリターンミラーの構成としても、ハーフミ
ラーの構成としても、どちらでも構わない。

【００４５】記録媒体２００は、メモリカードやハード
ディスク等から構成されている。記録媒体２００は、半
導体メモリや磁気ディスク等から構成される記録部２０
２、画像処理装置１００とのインタフェース２０４、画
像処理装置１００と接続を行うコネクタ２０６を備えて
いる。記録媒体２１０は、メモリカードやハードディス
ク等から構成されている。記録媒体２１０は、半導体メ
モリや磁気ディスク等から構成される記録部２１２、画
像処理装置１００とのインタフェース２１４、画像処理
装置１００と接続を行うコネクタ２１６を備えている。

【００４６】レンズユニット３００は、交換レンズタイ
プとして構成されている。レンズマウント３０６は、レ
ンズユニット３００を画像処理装置１００と機械的に結
合する。レンズマウント３０６内には、レンズユニット
３００を画像処理装置１００と電気的に接続する各種機
能が含まれている。撮影レンズ３１０は、被写体像を取
り込む。絞り３１２は、撮影レンズ３１０から入る光量
を調節する。インタフェース３２０は、レンズマウント
３０６内において、レンズユニット３００を画像処理装
置１００と接続するためのインタフェースを司る。コネ
クタ３２２は、レンズユニット３００を画像処理装置１
００と電気的に接続する。コネクタ３２２は、画像処理
装置１００とレンズユニット３００との間で制御信号、
状態信号、データ信号等を伝え合うと共に、各種電圧の
電流を供給される或いは供給する機能も備えている。ま
た、コネクタ３２２は、電気通信のみならず、光通信、
音声通信等を伝達する構成としてもよい。

【００４７】絞り制御手段３４０は、画像処理装置１０
０の測光手段４６からの測光情報に基づいて、シャッタ
１２を制御するシャッタ制御手段４０と連携しながら、
絞り３１２を制御する。測距制御手段３４２は、撮影レ
ンズ３１０のフォーカシングを制御する。ズーム制御手
段３４４は、撮影レンズ３１０のズーミングを制御す
る。レンズシステム制御回路３５０は、レンズユニット
３００全体を制御する。レンズシステム制御回路３５０
は、動作用の定数、変数、プログラム等を記憶するメモ
リや、レンズユニット３００固有の番号等の識別情報、
管理情報、開放絞り値や最小絞り値、焦点距離等の機能
情報、現在や過去の各設定値などを保持する不揮発メモ
リの機能も備えている。

【００４８】次に、上記の如く構成された本実施の形態
に係る画像処理装置１００の動作を図１乃至図１０を参
照しながら詳細に説明する。

【００４９】＜画像処理装置１００の主ルーチン＞図２
及び図３は本実施の形態に係る画像処理装置１００の主
ルーチンのフローチャートである。図２及び図３を用い
て、画像処理装置１００の動作を説明する。画像処理装
置１００に対する電池交換等の電源投入により、システ
ム制御回路５０は、後述のフラッシュフラグ等のフラグ
や制御変数等を初期化し、画像処理装置１００の各部に
おいて必要な所定の初期設定を行う（ステップＳ１０
１）。次に、システム制御回路５０は、電源スイッチ７
２の設定位置を判断する（ステップＳ１０２）。

【００５０】電源スイッチ７２が電源OFFに設定されて
いたならば（ステップＳ１０２で「電源OFF」）、各表
示部の表示を終了状態に変更し、フラグや制御変数等を
含む必要なパラメータや設定値、設定モードを不揮発性
メモリ５６に記録し、電源制御手段８０により画像表示
部２８を含む画像処理装置１００各部の不要な電源を遮
断する等の所定の終了処理を行った後（ステップＳ１０
３）、ステップＳ１０２に戻る。電源スイッチ７２が電
源ONに設定されていたならば（ステップＳ１０２で「電
源ON」）、システム制御回路５０は、電源制御手段８０
により、電池等により構成される電源８６の残容量や動
作情況が画像処理装置１００の動作に問題があるか否か
を判断する（ステップＳ１０４）。

【００５１】電源８６に問題があるならば（ステップＳ
１０４でＮＯ）、表示部５４を用いて画像や音声により
所定の警告表示出力や警告音声出力を行った後に（ステ
ップＳ１０５）、ステップＳ１０２に戻る。電源８６に
問題が無いならば（ステップＳ１０４でＹＥＳ）、シス
テム制御回路５０は、モードダイアルスイッチ６０の設
定位置を判断する（ステップＳ１０６）。モードダイア
ルスイッチ６０が撮影モードに設定されていたならば
（ステップＳ１０６で「撮影モード」）、ステップＳ１
０８に進む。モードダイアルスイッチ６０がその他のモ
ードに設定されていたならば（ステップＳ１０６で「そ
の他のモード」）、システム制御回路５０は、選択され
たモードに応じた処理を実行し（ステップＳ１０７）、
処理を終えたならばステップＳ１０２に戻る。

【００５２】モードダイアルスイッチ６０が撮影モード
に設定されていた場合、システム制御回路５０は、画像
処理装置１００に記録媒体２００或いは２１０が装着さ
れているかどうかの判断、記録媒体２００或いは２１０
に記録された画像データの管理情報の取得、そして、記
録媒体２００或いは２１０の動作状態が画像処理装置１
００の動作、特に記録媒体に対する画像データの記録再
生動作に問題があるか否かの判断を行う（ステップＳ１
０８）。判断を行った結果、問題があるならば（ステッ
プＳ１０８でＮＯ）、表示部５４を用いて画像や音声に
より所定の警告表示出力や警告音声出力を行った後に
（ステップＳ１０５）、ステップＳ１０２に戻る。判断
を行った結果、問題が無いならば（ステップＳ１０８で
ＹＥＳ）、ステップＳ１０９に進む。

【００５３】次に、システム制御回路５０は、表示部５
４を用いて画像や音声により画像処理装置１００の各種
設定状態の表示出力や音声出力を行う（ステップＳ１０
９）。なお、画像表示部２８の画像表示がONであったな
らば、画像表示部２８も用いて画像や音声により画像処
理装置１００の各種設定状態の表示出力や音声出力を行
う。次に、システム制御回路５０は、シャッタスイッチ
ＳＷ１・６２の状態を確認する（ステップＳ１２１）。
シャッタスイッチＳＷ１・６２が押されていないならば
（ステップＳ１２１で「OFF」）、ステップＳ１０２に
戻る。シャッタスイッチＳＷ１・６２が押されたならば
（ステップＳ１２１で「ON」）、システム制御回路５０
は、測距処理を行って撮影レンズ１０の焦点を被写体に
合わせ、測光処理を行って絞り値及びシャッタ時間を決
定する測距・測光処理を行い（ステップＳ１２２）、ス
テップＳ１２３に進む。測光処理において、必要であれ
ばフラッシュの設定も行う。この測距・測光処理ステッ
プＳ１２２の詳細は図４を用いて後述する。

【００５４】次に、システム制御回路５０は、シャッタ
スイッチＳＷ２・６４の状態を確認する（ステップＳ１
３２）。シャッタスイッチＳＷ２・６４が押されていな
いならば（ステップＳ１３２で「OFF」）、システム制
御回路５０は、シャッタスイッチＳＷ１・６２の状態を
確認し（ステップＳ１３３）、シャッタスイッチＳＷ１
・６２がオンであるならば、ステップＳ１３２に戻る。
一方、シャッタスイッチＳＷ１・６２がオフであるなら
ば、ステップＳ１０２に戻る。シャッタスイッチＳＷ２
・６４が押されたならば（ステップＳ１３２で「O
N」）、システム制御回路５０は、撮影した画像データ
を記憶可能な画像記憶バッファ領域がメモリ３０にある
かどうかを判断する（ステップＳ１３４）。

【００５５】メモリ３０の画像記憶バッファ領域内に新
たな画像データを記憶可能な領域が無いならば（ステッ
プＳ１３４でＮＯ）、システム制御回路５０は、表示部
５４を用いて画像や音声により所定の警告表示出力や警
告音声出力を行った後に（ステップＳ１３５）、ステッ
プＳ１０２に戻る。例えば、メモリ３０の画像記憶バッ
ファ領域内に記憶可能な最大枚数の連写撮影を行った直
後で、メモリ３０から読み出して記憶媒体２００或いは
２１０に書き込むべき最初の画像がまだ記録媒体２００
或いは２１０に未記録な状態であり、まだ１枚の空き領
域もメモリ３０の画像記憶バッファ領域上に確保できな
い状態である場合等が、この状態の一例である。

【００５６】なお、撮影した画像データを圧縮処理して
からメモリ３０の画像記憶バッファ領域に記憶する場合
は、圧縮した後の画像データ量が圧縮モードの設定に応
じて異なることを考慮して、記憶可能な領域がメモリ３
０の画像記憶バッファ領域上にあるかどうかを上記ステ
ップＳ１３４において判断することになる。

【００５７】メモリ３０に撮影した画像データを記憶可
能な画像記憶バッファ領域があるならば（ステップＳ１
３４でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮像して所
定時間蓄積した撮像信号を撮像素子１４から読み出し
て、Ａ／Ｄ変換器１６、画像処理回路２０、メモリ制御
回路２２を介して、或いはＡ／Ｄ変換器１６から直接メ
モリ制御回路２２を介して、メモリ３０の所定領域に撮
影した画像データを書き込む撮影処理を実行する（ステ
ップＳ１３６）。この撮影処理ステップＳ１３６の詳細
は図５・図６を用いて後述する。撮影処理ステップＳ１
３６を終えたならば、欠陥画素補正処理（キズ補正処
理）ステップＳ１３９に進む。このキズ補正処理ステッ
プＳ１３９の詳細は図８を用いて後述する。

【００５８】次に、システム制御回路５０は、メモリ３
０の所定領域へ書き込まれたキズ補正処理後の画像デー
タの一部をメモリ制御回路２２を介して読み出して、現
像処理を行うために必要なWB（ホワイトバランス）積分
演算処理、OB（オプティカルブラック）積分演算処理を
行い、演算結果をシステム制御回路５０の内部メモリ或
いはメモリ５２に記憶する。次に、システム制御回路５
０は、メモリ制御回路２２そして必要に応じて画像処理
回路２０を用いて、メモリ３０の所定領域に書き込まれ
たキズ補正後の撮影画像データを読み出して、システム
制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶した
演算結果を用いて、AWB（オートホワイトバランス）処
理、ガンマ変換処理、色変換処理を含む各種現像処理を
行う（ステップＳ１４０）。

【００５９】そして、システム制御回路５０は、メモリ
３０の所定領域に書き込まれた画像データを読み出し
て、設定したモードに応じた画像圧縮処理を圧縮・伸長
回路３２により行い（ステップＳ１４１）、メモリ３０
の画像記憶バッファ領域の空き画像部分に、撮影して一
連の処理を終えた画像データの書き込みを行う。一連の
撮影の実行に伴い、システム制御回路５０は、メモリ３
０の画像記憶バッファ領域に記憶した画像データを読み
出して、インタフェース９０或いは９４、コネクタ９２
或いは９６を介して、メモリカードやコンパクトフラッ
シュ（登録商標）カード等の記録媒体２００或いは２１
０へ書き込みを行う記録処理を開始する（ステップＳ１
４２）。

【００６０】この記録媒体２００或いは２１０に対する
記録開始処理は、メモリ３０の画像記憶バッファ領域の
空き画像部分に、撮影して一連の処理を終えた画像デー
タの書き込みが新たに行われる度に、その画像データに
対して実行される。なお、記録媒体２００或いは２１０
へ画像データの書き込みを行っている間、書き込み動作
中であることを明示するために、表示部５４において例
えばＬＥＤを点滅させる等の記録媒体書き込み動作表示
を行う。

【００６１】システム制御回路５０は、シャッタスイッ
チＳＷ１・６２の状態を確認し（ステップＳ１４３）、
シャッタスイッチＳＷ１・６２が押されている間は、シ
ャッタスイッチＳＷ１・６２が離されるのを待ち、シャ
ッタスイッチＳＷ１・６２押されていない場合には、ス
テップＳ１０２へ戻る。

【００６２】＜測距・測光処理＞図４は上記図３のステ
ップＳ１２２における測距・測光処理の詳細なフローチ
ャートである。なお、測距・測光処理においては、画像
処理装置１００のシステム制御回路５０とレンズユニッ
ト３００の絞り制御手段３４０或いは測距制御手段３４
２との間の各種信号のやり取りは、インタフェース１２
０、コネクタ１２２、コネクタ３２２、インタフェース
３２０、レンズ制御手段３５０を介して行われる。シス
テム制御回路５０は、撮像素子１４、測距手段４２及び
測距制御手段３４２を用いて、AF（オートフォーカス）
処理を開始する（ステップＳ２０１）。

【００６３】次に、システム制御回路５０は、レンズユ
ニット３００のレンズ３１０に入射した光線を、絞り３
１２、レンズマウント３０６、及び画像処理装置１００
のレンズマウント１０６、ミラー１３０、不図示の測距
用サブミラーを介して、測距手段４２に入射させること
により、光学像として結像された画像の合焦状態を判断
し、測距（AF）が合焦と判断されるまで（ステップＳ２
０３）、レンズユニット３００の測距制御手段３４２を
用いてレンズ３１０を駆動しながら、画像処理装置１０
０の測距手段４２を用いて合焦状態を検出するAF制御を
実行する（ステップＳ２０２）。測距（AF）が合焦と判
断したならば（ステップＳ２０３でＹＥＳ）、システム
制御回路５０は、撮影画面内の複数の測距点の中から合
焦した測距点を決定し、決定した測距点データと共に測
距データ及び設定パラメータ（或いは測距データ、或い
は設定パラメータ）をシステム制御回路５０の内部メモ
リ或いはメモリ５２に記憶し、ステップＳ２０５に進
む。

【００６４】続いて、システム制御回路５０は、測光手
段４６を用いて、AE（自動露出）処理を開始する（ステ
ップＳ２０５）。システム制御回路５０は、レンズユニ
ット３００のレンズ３１０に入射した光線を、絞り３１
２、レンズマウント３０６、及び画像処理装置１００の
レンズマウント１０６、ミラー１３０及び１３２そして
不図示の測光用レンズを介して、測光手段４６に入射さ
せることにより、光学像として結像された画像の露出状
態を測定し、ＩＳＯ感度スイッチ６９にて事前に設定さ
れたＩＳＯ感度において、露出（AE）が適正と判断され
るまで（ステップＳ２０７）、露光制御手段４０を用い
て測光処理を行う（ステップＳ２０６）。露出（AE）が
適正と判断したならば（ステップＳ２０７でＹＥＳ）、
システム制御回路５０は、測光データ及び設定パラメー
タ（或いは測光データ、或いは設定パラメータ）をシス
テム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ５２に記憶
し、ステップＳ２０８に進む。

【００６５】なお、測光処理ステップＳ２０６で検出し
た露出（AE）結果と、モードダイアルスイッチ６０によ
って設定された撮影モードに応じて、システム制御回路
５０は、絞り値（Av値）、シャッタ速度（Tv値）を決定
する。そして、ここで決定したシャッタ速度（Tv値）に
応じて、システム制御回路５０は、撮像素子１４の電荷
蓄積時間を決定し、等しい電荷蓄積時間で撮影処理を行
う。

【００６６】測光処理ステップＳ２０６で得られた測定
データにより、システム制御回路５０は、フラッシュが
必要か否かを判断する（ステップＳ２０８）。フラッシ
ュが必要ならば、フラッシュフラグをセットし、フラッ
シュ４８の充電が完了するまで（ステップＳ２１０）、
フラッシュ４８を充電する（ステップＳ２０９）。フラ
ッシュ４８の充電が完了したならば（ステップＳ２１０
でＹＥＳ）、測距・測光処理ルーチン（上記図３のステ
ップＳ１２２）を終了する。

【００６７】＜撮影処理＞図５・図６は上記図３のステ
ップＳ１３６における撮影処理の詳細なフローチャート
である。なお、撮影処理においては、画像処理装置１０
０のシステム制御回路５０とレンズユニット３００の絞
り制御手段３４０或いは測距制御手段３４２との間の各
種信号のやり取りは、インタフェース１２０、コネクタ
１２２、コネクタ３２２、インタフェース３２０、レン
ズ制御手段３５０を介して行われる。システム制御回路
５０は、ミラー１３０を不図示のミラー駆動手段によっ
てミラーアップ位置に移動すると共に（ステップＳ３０
１）、システム制御回路５０の内部メモリ或いはメモリ
５２に記憶される測光データに従い、絞り制御手段３４
０によって絞り３１２を所定の絞り値まで駆動する（ス
テップＳ３０２）。

【００６８】次に、システム制御回路５０は、撮像素子
１４の電荷クリア動作を行った後に（ステップＳ３０
３）、撮像素子１４の電荷蓄積を開始した後（ステップ
Ｓ３０４）、シャッタ制御手段４０によってシャッタ１
２を開き（ステップＳ３０５）、撮像素子１４の露光を
開始する（ステップＳ３０６）。ここで、システム制御
回路５０は、フラッシュフラグによりフラッシュ４８が
必要か否かを判断し（ステップＳ３０７）、フラッシュ
４８が必要な場合はフラッシュ４８を発光させる（ステ
ップＳ３０８）。次に、システム制御回路５０は、測光
データに従って撮像素子１４の露光終了を待ち（ステッ
プＳ３０９）、シャッタ制御手段４０によってシャッタ
１２を閉じ（ステップＳ３１０）、撮像素子１４の露光
を終了する。

【００６９】次に、システム制御回路５０は、レンズユ
ニット３００の絞り制御手段３４０によって絞り３１２
を開放の絞り値まで駆動すると共に（ステップＳ３１
１）、ミラー１３０を不図示のミラー駆動手段によって
ミラーダウン位置に移動する（ステップＳ３１２）。設
定した電荷蓄積時間が経過したならば（ステップＳ３１
３でＹＥＳ）、システム制御回路５０は、撮像素子１４
の電荷蓄積を終了した後（ステップＳ３１４）、撮像素
子１４から電荷信号を読み出し、Ａ／Ｄ変換器１６、画
像処理回路２０、メモリ制御回路２２を介して、或いは
Ａ／Ｄ変換器１６から直接メモリ制御回路２２を介し
て、メモリ３０の所定領域への撮影画像データを書き込
む（ステップＳ３１５）。一連の処理を終えたならば、
撮影処理ルーチン（上記図３のステップＳ１３６）を終
了する。

【００７０】＜キズ補正処理＞図８は上記図３のステッ
プＳ１３９におけるキズ補正処理の詳細なフローチャー
トである。まず画像処理装置１００のシステム制御回路
５０は、キズ補正処理を行う際に使用するためのキズ補
正データの選択を行う（ステップＳ４０１）。この場
合、複数のキズ補正データが不揮発性メモリ５６もしく
はシステム制御回路５０の内蔵メモリに保存されてお
り、撮影後のキズ補正処理において実際に使用するキズ
補正データを選択する。ここで、キズ補正データの少な
くともひとつは、事前に検出された欠陥画素を出力レベ
ル順にソートした情報の中から、その出力レベルに応じ
て選択された欠陥画素のアドレスに関する情報を保持す
るデータであり、該データと異なるキズ補正データの少
なくともひとつは、事前に検出された欠陥画素を出力レ
ベル順にソートした情報の中から、利用可能なアドレス
データ数（単一のキズ補正データに記載可能なデータ数
と同じか小さい数）に応じて選択された欠陥画素のアド
レスに関する情報を保持するデータである。

【００７１】まず、図９・図１０を用いてこのキズ補正
データ選択シーケンスについて詳細に説明する。図９・
図１０は図８のステップＳ４０１におけるキズ補正のた
めの補正データ選択の詳細なフローチャートである。撮
像素子１４は、その出荷時に、所定の環境温度、所定の
電荷蓄積時間に得られた画像データより、各種のキズ画
素（欠陥画素）を抽出される。これらのキズ画素の種
別、アドレス、キズレベルが記載された出荷時データを
もとに、本画像処理装置１００内のメモリに格納するデ
ータを生成する。この処理は画像処理装置１００の外部
で行われる。

【００７２】具体的には、撮影状況に応じて補正処理が
必要な撮像素子１４の白キズの判別を行う。白キズの多
くは撮像素子１４の露光時間（電荷蓄積時間）に応じて
レベルが大きくなる傾向があり、同じレベルの白キズで
あっても、設定されたＩＳＯ感度（撮像素子１４のゲイ
ン及び画像処理回路２０のゲイン）によっても、画像と
なった場合のキズのレベルが変わってしまう。

【００７３】このため、例えば、設定されたＩＳＯ感度
と露光時間（電荷蓄積時間）によるテーブルを設け、撮
像素子１４のそれぞれの領域で補正が必要な画素を、出
荷時データにおけるキズレベルによって判別する。測光
処理（上記図４におけるステップＳ２０６）で決定され
たシャッタ速度（Tv値）に応じて、システム制御回路５
０は、撮像素子１４の電荷蓄積時間を決定するが、以下
この電荷蓄積時間に応じた処理を行う。上記テーブル
は、例えば図７に示すように、ＩＳＯ感度として１０
０、２００、４００の設定があり、上記図４におけるス
テップＳ２０６にて、電荷蓄積時間(t)の区分として、
Ｔ１秒より高速（短い）の領域、Ｔ１秒からＴ２（＞Ｔ
１）秒までの領域、更にＴ２秒よりも低速（長い）の領
域の３ゾーンに分割するテーブルとする。

【００７４】一般的に電荷蓄積時間が長くなると、白キ
ズのキズレベルは上昇し、短秒時では問題にならないレ
ベルの画素の出力が長秒時では大きなキズレベルになる
こともある。これらの秒時で撮影した場合に、補正すべ
き白キズ画素を出荷時データと照らし合わせ、撮像素子
１４のそれぞれの領域で白キズとなる画素が含まれるよ
うに、出荷時データにおけるキズレベルの値で判別する
レベルの設定が必要となる。

【００７５】例えば、ＩＳＯ１００、時間Ｔ１よりも高
速（短い）の電荷蓄積時間の範囲では（ステップＳ５０
５でＹＥＳ）、出荷時データにおいてキズレベルが100m
V以上を示す白キズのみを補正すれば、即ち、補正後の
画像から白キズが判別できなくなれば、その領域での判
別レベルは100mVと設定すればよい（ステップＳ５０
６）。ＩＳＯに関しては、ＩＳＯ２００、４００となる
につれて、ＩＳＯ１００では判別できない白キズも、そ
の画像での出力がほぼ２倍、４倍となるので、それぞれ
の判別レベルは、例えば出荷時データの50mV、25mV以上
のキズレベルを示すキズ画素を抽出するように設定すれ
ばよい。

【００７６】それぞれのテーブルで設定された判別レベ
ルに応じて、出荷時データより、該当するキズ画素のア
ドレス情報を抜き出し、画像処理回路２０が利用可能な
メモリ（例えば不揮発性メモリ５６やシステム制御回路
５０の内蔵メモリ）に対し、最適な形に変換し書き込
む。このとき、対応するテーブル領域ごとにひとつのデ
ータファイルとなるように構成する。例えば前記100mV
以上のキズのみを抽出したデータを「data1」という呼
ぶものとし、同様に50mV以上を「data2」、25mV以上を
「data3」とする。

【００７７】このように処理することで、キズ補正処理
動作を行うときには、ＩＳＯ感度と撮影時に設定された
露光時間より対応テーブルから該当する補正データを選
択し、そこに記載されたキズアドレスに関する情報に従
い、後述する方法にて、該当するキズ画素の補正処理を
行うだけで、必要なキズ補正処理が完結する。それぞれ
の補正データには、補正すべき画素のアドレスの情報の
みしか持っていないので、キズレベルの判定動作も不要
なため、高速にキズ補正処理を行うことが可能である。
このようなデータ構成にすると、例えば出荷時データに
て100mV以上のキズレベルであるキズ画素のアドレス
は、「data1」、「data2」、「data3」の全てに重複し
て記載されてしまうことになるが、高速に処理する場合
には非常に有効な方法である。

【００７８】しかしながら、時間Ｔ１から時間Ｔ２の領
域では、撮像素子１４の電荷蓄積時間が長くなる分、よ
り低いレベルのキズも見えてきてしまう。例えばＩＳＯ
１００においては（ステップＳ５０７でＹＥＳ）、出荷
時データの50mV以上のキズを補正する必要があるものと
する。この場合、ここで使用するデータは、ＩＳＯ２０
０の時間Ｔ１よりも高速（短い）の領域で使用した「da
ta2」が使用できる（ステップＳ５０８）。同様に、Ｉ
ＳＯ２００では（ステップＳ５０９でＹＥＳ）、25mV以
上のキズを補正するので「data3」を使用し（ステップ
Ｓ５１０）、ＩＳＯ４００では、12.5mV以上のキズ画素
を抽出した「data4」を使用し（ステップＳ５１１）、
補正することとなる。

【００７９】しかしながら、ひとつのキズデータに割り
当てられることが可能なメモリ領域には各種の制約があ
る。物理的なメモリの総容量から生ずる制約や、システ
ム制御回路５０が高速にアクセス可能なアドレスの制
限、更には出荷時データを検出するテスタのメモリの制
限等である。

【００８０】キズの判別レベルが下がってくると、抽出
されるキズ画素の個数は急激に大きくなる。例えば判別
レベルが25mV以上であれば、数百個程度であったもの
が、判別レベルをその半分の12.5mV以上とすることで、
数千個となることもありえる。この場合には、場合によ
っては割り当て可能なメモリの制約に達してしまい、該
当するキズ画素全てに対して補正処理を実行できない。
この場合には、出荷時データよりキズレベルの大きい順
にソートし、事前に、割り当て可能なメモリ量より算出
できる単一の補正データにて補正可能なキズ個数ｎを判
断した上で、キズレベルの上位よりｎ個を抽出し、これ
らの画素のアドレスのみを用いて補正データを生成す
る。

【００８１】この場合には、厳密には、本来補正すべき
キズ画素を全て補正していないことになるが、実際に出
荷時データから抽出された補正すべきキズの個数と、補
正可能な個数ｎとに大きな差がない限りにおいては、キ
ズ補正処理動作に要する補正時間、キズ補正処理のシー
ケンスの複雑さ、判別レベルが下がった場合に、この判
別レベル付近で補正できずに残った微小なキズ画素が画
像に与える影響を勘案すると、この判断は有効である。
万一、実際に出荷時データから抽出された補正すべきキ
ズの個数と、補正可能な個数ｎとに大きな差がある場合
には、以下に示すような動作を行うことで対応可能であ
る。

【００８２】従って、「data4」は、出荷時データより
キズレベルの大きい順にソートし、補正可能なキズ個数
ｎを判断した上で、キズレベルの上位よりｎ個を抽出
し、これらのキズ画素に関するアドレス情報を抜き出
し、画像処理回路２０が利用可能なメモリ（例えば不揮
発性メモリ５６やシステム制御回路５０の内蔵メモリ）
に最適な形に変換したデータとなる。

【００８３】電荷蓄積時間が時間Ｔ２よりも低速（長
い）領域では、補正すべきキズのレベルが更に低下す
る。この領域では、「バルブ撮影」が可能なシステムで
あれば、そこまで考慮したキズ補正処理動作が必要であ
る。そこで、この領域では、ＩＳＯ感度の設定値によら
ず、可能な限りの個数の白キズを補正するものとし、出
荷時データをよりキズレベルの大きい順にソートし、キ
ズレベルの上位よりｎ個を抽出した「data４」と、更に
上位n+1個目より更にｎ個（上位から2*n個目まで）を抽
出し、これらの画素のアドレスのみを用いた補正データ
「data5」を生成する。

【００８４】電荷蓄積時間が時間Ｔ２よりも低速（長
い）領域が選択された場合には、キズ補正処理として、
後述するように「data4」の処理を行った後、更にもう
一度「data5」を選択し、このデータを用いてキズ補正
処理を行う。より短い露光時間（及び電荷蓄積時間）の
領域では、レリーズタイムラグ、撮影コマ間隔を短くす
るために、高速に処理するために単一のデータを用いて
キズ補正処理を行ったが、この領域のように低速（長
い）露光時間の領域においては、少なくとも撮影コマ間
隔に関しては問題にならないので、撮影後のキズ補正処
理に時間がかかったとしても問題にはなり難い。

【００８５】このような処理を行うことで、電荷蓄積時
間が時間Ｔ２よりも低速（長い）領域においては最大２
ｎ個のキズ画素に対してキズ補正処理を行うことが可能
である。以上の動作をもとに、ＩＳＯ感度と電荷蓄積時
間を用いて設定したキズ補正データ選択テーブルを示し
たのが図７である。上述してきたように、現在設定され
ているＩＳＯ感度と、測光処理（上記図３のステップＳ
２０６）で決定されたシャッタ速度（Tv値）に応じて決
定された電荷蓄積時間に応じて、使用するキズ補正デー
タが図７のテーブルから選択される。

【００８６】ここで、図９・図１０のキズ補正データ選
択シーケンスを、上述した説明に対応させてステップ順
に説明すると、まず、システム制御回路５０は、ＩＳＯ
感度の設定値（例えば１００、２００、４００）を確認
し（ステップＳ５０１）、シャッタ速度を確認した後
（ステップＳ５０２）、電荷蓄積時間ｔ＞Ｔ２かどうか
を判断する（ステップＳ５０３）。電荷蓄積時間ｔ＞Ｔ
２の場合は、システム制御回路５０は、「data4」及び
「data5」を選択する（ステップＳ５０４）。電荷蓄積
時間ｔ＞Ｔ２でない場合は、システム制御回路５０は、
電荷蓄積時間ｔ＜Ｔ１且つＩＳＯ感度の設定値が１００
かどうかを判断する（ステップＳ５０５）。

【００８７】電荷蓄積時間ｔ＜Ｔ１且つＩＳＯ感度の設
定値が１００の場合は、システム制御回路５０は、「da
ta1」を選択する（ステップＳ５０６）。電荷蓄積時間
ｔ＜Ｔ１でなく且つＩＳＯ感度の設定値が１００でない
場合は、システム制御回路５０は、電荷蓄積時間ｔ＜Ｔ
１且つＩＳＯ感度の設定値が２００かどうか、またはＴ
１＜電荷蓄積時間ｔ≦Ｔ２且つＩＳＯ感度の設定値が１
００かどうかを判断する（ステップＳ５０７）。

【００８８】電荷蓄積時間ｔ＜Ｔ１且つＩＳＯ感度の設
定値が２００の場合、またはＴ１＜電荷蓄積時間ｔ≦Ｔ
２且つＩＳＯ感度の設定値が１００の場合は、システム
制御回路５０は、「data2」を選択する（ステップＳ５
０８）。電荷蓄積時間ｔ＜Ｔ１でなく且つＩＳＯ感度の
設定値が２００でない場合、またはＴ１＜電荷蓄積時間
ｔ≦Ｔ２でなく且つＩＳＯ感度の設定値が１００でない
場合は、システム制御回路５０は、電荷蓄積時間ｔ＜Ｔ
１且つＩＳＯ感度の設定値が４００かどうか、またはＴ
１＜電荷蓄積時間ｔ≦Ｔ２且つＩＳＯ感度の設定値が２
００かどうかを判断する（ステップＳ５０９）。

【００８９】電荷蓄積時間ｔ＜Ｔ１且つＩＳＯ感度の設
定値が４００の場合、またはＴ１＜電荷蓄積時間ｔ≦Ｔ
２且つＩＳＯ感度の設定値が２００の場合は、システム
制御回路５０は、「data3」を選択する（ステップＳ５
１０）。電荷蓄積時間ｔ＜Ｔ１でなく且つＩＳＯ感度の
設定値が４００でない場合、またはＴ１＜電荷蓄積時間
ｔ≦Ｔ２でなく且つＩＳＯ感度の設定値が２００でない
場合は、システム制御回路５０は、「data4」を選択す
る（ステップＳ５１１）。

【００９０】図８に戻り、システム制御回路５０は、上
記ステップＳ４０１にて使用するキズ補正データを選択
した後、撮影条件（撮像素子１４の電荷蓄積時間、ＩＳ
Ｏ感度）、撮影環境（温度）に応じて区分される複数の
条件に応じて、キズ補正処理を行うキズ補正データを指
定する（ステップＳ４０２）。これは、上記ステップＳ
４０１にて複数のキズ補正データが選択された場合に、
それぞれのキズ補正データに対して順次キズ補正処理を
行うため、どのキズ補正データを先に処理するかを指定
するものである。キズ補正処理を行う場合には、キズレ
ベルの大きい方から処理するのが適切であるので、複数
のキズ補正データ、例えばdata４とdata5が選択された
場合には、data4から先に処理を行うように、まずdata4
を指定し、data4の処理が終了した時点でdata5を指定す
ることとなる。

【００９１】システム制御回路５０は、上記ステップＳ
４０２にて使用するキズ補正データを指定した後、撮像
素子１４の白点キズを補償するために、上記ステップＳ
４０２で指定したキズ補正データに記載された白キズ画
素のアドレスを示す情報を参照しながら、メモリ３０の
所定領域に書き込まれた撮影画像の対応する画素に対
し、隣接する同色画素の撮影画像データを用いて点キズ
補正処理を行う。まず、システム制御回路５０は、選択
したキズ補正データの先頭から１画素分のキズアドレス
情報を読み込む（ステップＳ４０３）。このキズアドレ
ス情報を参照し、メモリ３０に書き込まれた撮影画像に
おける該当画素のアドレスを特定することが可能であ
る。

【００９２】次に、システム制御回路５０は、上記ステ
ップＳ４０３でアドレスを特定した該当画素に隣接する
同色画素の撮影画像データを読み込む（ステップＳ４０
４）。次に、システム制御回路５０は、上記ステップＳ
４０４で得られた隣接画素の値から、該当画素の補正量
を算出する（ステップＳ４０５）。続いて、システム制
御回路５０は、上記ステップＳ４０５で算出した該当画
素の補正量を、メモリ３０における該当画素のアドレス
に書き込む（ステップＳ４０６）。これにより、該当画
素の補正処理は完了する。

【００９３】次に、システム制御回路５０は、指定した
キズ補正データに記載されたキズ画素のキズ補正処理が
全て完了したか否かを判断する（ステップＳ４０７）。
キズ画素の補正処理がいまだ完了していないと判断した
場合には、上記ステップＳ４０３に戻り、キズ補正デー
タに記載された次のキズアドレス情報を読み出し、上記
と同様の処理を繰り返す。他方、システム制御回路５０
は、指定したキズ補正データに記載された全てのキズ補
正処理が完了したと判断した場合には、次に補正すべき
データがあるか否かを判断する（ステップＳ４０８）。

【００９４】例えば電荷蓄積時間ｔ≦Ｔ２の範囲ではキ
ズ補正処理すべきキズ補正データがひとつであるので、
ステップＳ４０８にて補正すべきデータはもう無いと判
断し、キズ補正処理を全て完了し、本処理を終了する。
一方、電荷蓄積時間ｔ＞Ｔ２の範囲で補正すべきキズ補
正データが複数指定されて、第一のキズ補正データのキ
ズ補正処理が完了したところでは、ステップＳ４０２に
戻り、次に補正すべきキズ補正データを指定し、上記と
同様にキズ補正処理を繰り返す。上記ステップＳ４０１
にて選択されたキズ補正データに記載された全てのキズ
画素に対するキズ補正処理が全て終了すると、キズ補正
処理シーケンスを全て完了する。

【００９５】本実施の形態のキズ補正処理は、バルブ撮
影以外の撮影モードで、設定可能な最大のシャッタ秒時
でのキズ判別レベルを設定したときに、そのレベルで補
正すべきキズの個数がｎ個から２ｎ個の間にある場合に
とくに有効となる。一方、上記最大シャッタ秒時でのキ
ズ判別レベルを設定したときに、そのレベルで補正すべ
きキズの個数が２ｎ個を越えるような場合も考えられ
る。このような場合には、メモリの割り当てと補正すべ
きキズレベルについての見直しが必要であり、得られる
画像の画質はかなり低下していると思われるが、これま
で説明してきたように、補正すべきデータを上位から３
ｎ個とし、補正処理を３回繰り返すことで同様に処理可
能であり、勿論それ以上の回数繰り返すことも可能であ
る。

【００９６】これらのデータの判別レベル、判別個数の
設定は、出荷時データの検出可能レベル、その検出精度
に依存し、それらと実際に得られた画像の画質を考慮し
て決定される。また、これらの判定処理は、本画像処理
装置の外部にて行われ、本画像処理装置にはそのように
して決定された判別レベル、判別個数によって抽出され
た画素のアドレスのみが与えられるので、本画像処理装
置の処理能力に大きな負荷を与えるものでは無い。

【００９７】以上説明したように本実施の形態によれ
ば、次のような効果を奏する。（１）撮影条件、撮影環境に応じて区分される複数の条
件に応じて、複数のキズ補正データから使用するキズ補
正データを選択し、選択したキズ補正データを用いて、
撮像素子の出力に関し欠陥画素の補正処理を行うため、
補間すべき欠陥画素、特に白キズ画素に対し補正する個
数を適切に選択することが可能であり、欠陥画素の補正
不足或いは過補正に伴う画質の低下を避けることができ
るという効果がある。（２）キズ補正データには、補間すべき欠陥画素のアド
レスに関する情報のみを保持しているため、従来のよう
な欠陥画素のレベルの判定動作が不要であり、ャｃ鞄凾
フシステムリソースの増大や、制御ソフトウェアの複雑
化を招くことなく、欠陥画素に対する高速で高精度な補
正処理が可能となる効果がある。（３）キズ補正データを選択する際の撮影条件は少なく
とも電荷蓄積時間、ＩＳＯ感度を含むため、電荷蓄積時
間、ＩＳＯ感度に応じて変化する補間すべき欠陥画素に
対し補正する個数を適切に選択することが可能であり、
欠陥画素の補正不足或いは過補正に伴う画質の低下を避
けることができるという効果がある。

【００９８】［他の実施の形態］なお、本実施の形態で
は、キズ補正データを選択するテーブルをＩＳＯ感度と
電荷蓄積時間を用いて設定したが、これに限るものでは
無く、ＩＳＯ感度と電荷蓄積時間に例えば温度、撮影動
作モード等、撮影条件、撮影環境に応じた条件を付加
し、テーブルを構成するようにしても勿論問題無い。

【００９９】また、本実施の形態では、ミラー１３０を
ミラーアップ位置、ミラーダウン位置に移動して撮影動
作を行うとして説明したが、ミラー１３０をハーフミラ
ーの構成として、移動せずに撮影動作を行うようにして
も勿論問題無い。

【０１００】また、本実施の形態では、記録媒体２００
及び２１０は、PCMCIAカードやコンパクトフラッシュ
（登録商標）等のメモリカード、ハードディスク等から
構成したが、これらだけでなく、マイクロDAT、光磁気
ディスク、ＣＤ−ＲやＣＤ−ＷＲ等の光ディスク、DVD
等の相変化型光ディスク等で構成されていても勿論問題
無い。また、記録媒体２００及び２１０がメモリカード
とハードディスク等が一体となった複合媒体であっても
勿論問題無い。更に、その複合媒体から一部が着脱可能
な構成としても勿論問題無い。

【０１０１】また、本実施の形態では、記録媒体２００
及び２１０は画像処理装置１００と分離していて任意に
接続可能なものとして説明したが、何れか或いは全ての
記録媒体が画像処理装置１００に固定したままとなって
いても勿論問題無い。また、画像処理装置１００に記録
媒体２００或いは２１０が、単数或いは複数の任意の個
数接続可能な構成であっても勿論問題無い。

【０１０２】また、本実施の形態では、画像処理装置１
００に記録媒体２００及び２１０を装着する構成として
説明したが、記録媒体は単数或いは複数の何れの組み合
わせの構成であっても勿論問題無い。

【０１０３】また、本実施の形態では、キズ補正データ
は画像処理装置の電源投入時に不揮発性メモリ５６から
システム制御回路５０の内蔵メモリに展開されていても
勿論問題無い。

【０１０４】また、本実施の形態では、最大異なる２つ
のキズ補正データを用いてキズ補正処理を行うような構
成にしているが、より多くのキズ補正処理の回数を実行
しても勿論問題無い。

【０１０５】また、本実施の形態では、一度に処理する
キズ補正データに、その補正に必要な画素の情報を全て
抽出するような構成としているが、処理速度に余裕があ
れば、出荷時データのキズレベルのレベルごとに分割し
たキズ補正データを用いて、複数回数キズ補正処理動作
を行うような構成にしても勿論問題無い。

【０１０６】また、本実施の形態では、補正しているキ
ズは白点画素のみであるが、他の種別のキズ画素は全て
の条件下で補正することが望ましい。その場合、これら
の他の種別のキズ画素のアドレスに関する情報も、それ
ぞれの補正データに記載する必要があり、この処理は、
画像処理装置の外部で補正データを生成する際に対応可
能である。

【０１０７】また、本発明は、複数の機器から構成され
るシステムに適用しても、１つの機器からなる装置に適
用してもよい。上述した実施形態の機能を実現するソフ
トウェアのプログラムコードを記憶した記憶媒体等の媒
体をシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは
装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ）が記憶媒
体等の媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実
行することによっても、本発明が達成されることは言う
までもない。

【０１０８】この場合、記憶媒体等の媒体から読み出さ
れたプログラムコード自体が上述した実施形態の機能を
実現することになり、そのプログラムコードを記憶した
記憶媒体等の媒体は本発明を構成することになる。プロ
グラムコードを供給するための記憶媒体等の媒体として
は、例えば、フロッピー（登録商標）ディスク、ハード
ディスク、光ディスク、光磁気ディスク、ＣＤ−ＲＯ
Ｍ、ＣＤ−Ｒ、磁気テープ、不揮発性のメモリカード、
ＲＯＭ、或いはネットワークを介したダウンロードなど
を用いることができる。

【０１０９】また、コンピュータが読み出したプログラ
ムコードを実行することにより、上述した実施形態の機
能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指
示に基づき、コンピュータ上で稼動しているＯＳなどが
実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって
上述した実施形態の機能が実現される場合も、本発明に
含まれることは言うまでもない。

【０１１０】更に、記憶媒体等の媒体から読み出された
プログラムコードが、コンピュータに挿入された機能拡
張ボードやコンピュータに接続された機能拡張ユニット
に備わるメモリに書き込まれた後、そのプログラムコー
ドの指示に基づき、その機能拡張ボードや機能拡張ユニ
ットに備わるＣＰＵなどが実際の処理の一部または全部
を行い、その処理によって上述した実施形態の機能が実
現される場合も、本発明に含まれることは言うまでもな
い。

【０１１１】

【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、次
のような効果を奏する。（１）撮影条件、撮影環境に応じて区分される複数の条
件に応じて、複数の補正用データから使用する補正用デ
ータを選択し、選択した補正用データを用いて、撮像素
子の出力に関し欠陥画素の補正処理を行うため、補間す
べき欠陥画素、特に白点画素に対し補正する個数を適切
に選択することが可能であり、欠陥画素の補正不足或い
は過補正に伴う画質の低下を避けることができるという
効果がある。（２）補正用データには、補間すべき欠陥画素のアドレ
スに関する情報を保持しているため、従来のような欠陥
画素のレベルの判定動作が不要であり、メモリ等のシス
テムリソースの増大や、制御ソフトウェアの複雑化を招
くことなく、欠陥画素に対する高速で高精度な補正処理
が可能となる効果がある。（３）補正用データを選択する際の撮影条件は少なくと
も電荷蓄積時間、撮影感度を含み、撮影環境は温度を含
むため、電荷蓄積時間及び撮影感度、もしくは電荷蓄積
時間、もしくは撮影感度、もしくは温度に応じて変化す
る補間すべき欠陥画素に対し補正する個数を適切に選択
することが可能であり、欠陥画素の補正不足或いは過補
正に伴う画質の低下を避けることができるという効果が
ある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態に係る画像処理装置の構成
を示すブロック図である。

【図２】本実施の形態に係る画像処理装置における主ル
ーチンのフローチャートである。

【図３】本実施の形態に係る画像処理装置における主ル
ーチンのフローチャートである。

【図４】本実施の形態に係る画像処理装置における測距
・測光処理ルーチンのフローチャートである。

【図５】本実施の形態に係る画像処理装置における撮影
処理ルーチンのフローチャートである。

【図６】本実施の形態に係る画像処理装置における撮影
処理ルーチンのフローチャートである。

【図７】本実施の形態に係る画像処理装置におけるキズ
補正処理で用いるキズ補正データの選択方法及びその内
容を示す図であり、（ａ）はＩＳＯ感度と電荷蓄積時間
とデータの対応関係を示す図、（ｂ）はデータと判別レ
ベルの対応関係を示す図である。

【図８】本実施の形態に係る画像処理装置におけるキズ
補正処理ルーチンのフローチャートである。

【図９】本実施の形態に係る画像処理装置におけるキズ
補正処理で使用するキズ補正データの選択方法を示すフ
ローチャートである。

【図１０】本実施の形態に係る画像処理装置におけるキ
ズ補正処理で使用するキズ補正データの選択方法を示す
フローチャートである。

【符号の説明】

１４撮像素子４４温度計５０システム制御回路（記憶手段、補正用データ選択
手段、補正処理手段、処理順序決定手段）５６不揮発性メモリ（記憶手段）６９ＩＳＯ感度スイッチ１００画像処理装置

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】複数の画素から構成される撮像素子の画
素に関する補正を行う補正処理装置であって、前記撮像
素子の欠陥画素の出力を補正するための、欠陥画素のア
ドレスに関する情報を有する複数の補正用データを記憶
する記憶手段と、前記複数の補正用データから、使用す
る補正用データを所定の条件に応じて異なる種類の選択
基準を含む所定の選択方法により選択する補正用データ
選択手段と、選択された補正用データを用いて、前記撮
像素子の出力に関し欠陥画素の補正処理を行う補正処理
手段とを有することを特徴とする補正処理装置。
【請求項２】前記補正用データの少なくともひとつ
は、欠陥画素を出力レベル順にソートした情報の中か
ら、その出力レベルに応じて選択された欠陥画素のアド
レスに関する情報を保持するデータであり、該データと
異なる前記補正用データの少なくともひとつは、欠陥画
素を出力レベル順にソートした情報の中から、利用可能
なアドレスデータ数に応じて選択された欠陥画素のアド
レスに関する情報を保持するデータであることを特徴と
する請求項１記載の補正処理装置。
【請求項３】前記所定の条件とは、撮影条件或いは撮
影環境に応じて区分される条件であり、前記撮影条件
は、前記撮像素子の電荷蓄積時間、撮影感度を含み、前
記撮影環境は、温度を含むことを特徴とする請求項１記
載の補正処理装置。
【請求項４】前記利用可能なアドレスデータ数は、単
一の補正用データに記載可能なデータ数と同じか小さい
数であることを特徴とする請求項２記載の補正処理装
置。
【請求項５】前記補正処理手段は、少なくとも電荷蓄
積時間に応じて区分される条件の中で、少なくとも電荷
蓄積時間が最も短くなる条件下では、前記出力レベルに
応じて選択された欠陥画素のアドレスに関する情報を保
持するデータを用いて補正処理を行うことを特徴とする
請求項１又は３記載の補正処理装置。
【請求項６】前記補正処理手段は、少なくともＩＳＯ
感度に応じて区分される条件の中で、ＩＳＯ感度が最も
低くなる条件のうち少なくとも一部では、前記出力レベ
ルに応じて選択された欠陥画素のアドレスに関する情報
を保持するデータを用いて補正処理を行うことを特徴と
する請求項１又は３記載の補正処理装置。
【請求項７】前記補正処理手段は、少なくとも温度に
応じて区分される条件の中で、温度が最も低くなる条件
のうち少なくとも一部では、前記出力レベルに応じて選
択された欠陥画素のアドレスに関する情報を保持するデ
ータを用いて補正処理を行うことを特徴とする請求項１
又は３記載の補正処理装置。
【請求項８】複数の画素から構成される撮像素子の画
素に関する補正を行う画素補正処理装置であって、前記
撮像素子の欠陥画素の出力を補正するための、欠陥画素
のアドレスに関する情報を有する複数の補正用データを
記憶する記憶手段と、前記複数の補正用データから、使
用する補正用データを所定の条件に応じて異なる種類の
選択基準を含む所定の選択方法により選択する補正用デ
ータ選択手段と、選択された補正用データを用いて、前
記撮像素子の出力に関し欠陥画素の補正処理を行う補正
処理手段と、前記補正処理で使用する補正用データの順
序を決定する処理順序決定手段とを有することを特徴と
する補正処理装置。
【請求項９】前記補正処理手段は、前記補正用データ
選択手段で単一の補正用データが選択された場合には、
該補正用データに基づき補正処理を実行し、前記補正デ
ータ選択手段で複数の補正用データが選択された場合に
は、前記処理順序決定手段で決定された順序に従い、補
正用データの補正処理を繰り返し実行することを特徴と
する請求項８記載の補正処理装置。
【請求項１０】前記所定の条件とは、撮影条件或いは
撮影環境に応じて区分される条件であり、前記撮影条件
は、前記撮像素子の電荷蓄積時間、撮影感度を含み、前
記撮影環境は、温度を含むことを特徴とする請求項８記
載の補正処理装置。
【請求項１１】前記補正用データ選択手段は、少なく
とも電荷蓄積時間に応じて区分される条件の中で、少な
くとも電荷蓄積時間が最も短くなる条件下では、単一の
補正用データを選択することを特徴とする請求項８又は
１０記載の補正処理装置。
【請求項１２】前記補正用データ選択手段は、少なく
ともＩＳＯ感度に応じて区分される条件の中で、ＩＳＯ
感度が最も低くなる条件の少なくとも一部では、単一の
補正用データを選択することを特徴とする請求項８又は
１０記載の補正処理装置。
【請求項１３】前記補正用データ選択手段は、少なく
とも温度に応じて区分される条件の中で、温度が最も低
くなる条件の少なくとも一部では、単一の補正用データ
を選択することを特徴とする請求項８又は１０記載の補
正処理装置。
【請求項１４】複数の画素から構成される撮像素子の
画素に関する補正を行う補正処理装置であって、前記撮
像素子の欠陥画素の出力を補正するための、欠陥画素の
アドレスに関する情報を有する複数の補正用データを記
憶する記憶手段と、前記複数の補正用データから、使用
する補正用データを所定の条件に応じて異なる種類の選
択基準を含む所定の選択方法により選択する補正用デー
タ選択手段と、選択された補正用データを用いて、前記
撮像素子の出力に関し欠陥画素の補正処理を行う補正処
理手段と、前記補正処理手段で使用する補正用データの
順序を決定する処理順序決定手段とを有し、前記補正用
データの少なくともひとつは、欠陥画素を出力レベル順
にソートした情報の中から、その出力レベルに応じて選
択された欠陥画素のアドレスに関する情報を保持するデ
ータであり、該データと異なる前記補正用データの少な
くともひとつは、欠陥画素を出力レベル順にソートした
情報の中から、利用可能なアドレスデータ数に応じて選
択された欠陥画素のアドレスに関する情報を保持するデ
ータであることを特徴とする補正処理装置。
【請求項１５】前記補正処理手段は、前記補正用デー
タ選択手段で単一の補正用データが選択された場合に
は、該補正用データに基づき補正処理を実行し、前記補
正データ選択手段で複数の補正用データが選択された場
合には、前記処理順序決定手段で決定された順序に従
い、補正用データの補正処理を繰り返し実行することを
特徴とする請求項１４記載の補正処理装置。
【請求項１６】前記所定の条件とは、撮影条件或いは
撮影環境に応じて区分される条件であり、前記撮影条件
は、前記撮像素子の電荷蓄積時間、撮影感度を含み、前
記撮影環境は、温度を含むことを特徴とする請求項１４
記載の補正処理装置。
【請求項１７】前記補正用データ選択手段は、少なく
とも電荷蓄積時間に応じて区分される条件の中で、電荷
蓄積時間が最も短くなる条件の少なくとも一部では、単
一の前記出力レベルに応じて選択された欠陥画素のアド
レスに関する情報を保持するデータを選択することを特
徴とする請求項１４又は１６記載の補正処理装置。
【請求項１８】前記補正用データ選択手段は、少なく
ともＩＳＯ感度に応じて区分される条件の中で、ＩＳＯ
感度が最も低くなる条件の少なくとも一部では、単一の
前記出力レベルに応じて選択された欠陥画素のアドレス
に関する情報を保持するデータを選択することを特徴と
する請求項１４又は１６記載の補正処理装置。
【請求項１９】前記補正用データ選択手段は、少なく
とも温度に応じて区分される条件の中で、温度が最も低
くなる条件の少なくとも一部では、単一の前記出力レベ
ルに応じて選択された欠陥画素のアドレスに関する情報
を保持するデータを選択することを特徴とする請求項１
４又は１６記載の補正処理装置。
【請求項２０】前記欠陥画素とは、白点画素を含むこ
とを特徴とする請求項１、８、１４の何れかに記載の補
正処理装置。
【請求項２１】前記請求項１乃至２０の何れかに記載
の補正処理装置を備えたことを特徴とする画像処理装
置。
【請求項２２】複数の画素から構成される撮像素子の
欠陥画素の出力を補正するための、欠陥画素のアドレス
に関する情報を有する複数の補正用データから、使用す
る補正用データを所定の条件に応じて異なる種類の選択
基準を含む所定の選択方法により選択し、選択された補
正用データを用いて、前記撮像素子の出力に関し欠陥画
素の補正処理を行うことを特徴とする補正処理方法。
【請求項２３】複数の画素から構成される撮像素子の
欠陥画素の出力を補正するための、欠陥画素のアドレス
に関する情報を有する複数の補正用データから、使用す
る補正用データを所定の条件に応じて異なる種類の選択
基準を含む所定の選択方法により選択するステップと、
選択された補正用データを用いて、前記撮像素子の出力
に関し欠陥画素の補正処理を行うステップとを有するこ
とを特徴とする補正処理コンピュータプログラム。
【請求項２４】前記請求項２３記載の補正処理コンピ
ュータプログラムを記憶したことを特徴とする記憶媒
体。
【請求項２５】撮像素子の欠陥画素の出力を補正する
ための補正用データを記憶する記憶手段と、異なる種類
の複数の選択基準に基づいて前記補正用データを選択
し、該選択した補正用データを用いて前記撮像素子の出
力に関し補正処理を行う補正処理手段とを有することを
特徴とする補正処理装置。
【請求項２６】撮像素子の欠陥画素の出力を補正する
ための補正用データを記憶する記憶手段と、異なる種類
の複数の選択基準に基づいて前記補正用データを選択
し、該選択した補正用データを用いて前記撮像素子の出
力に関し補正処理を行う補正処理手段とを有することを
特徴とする撮像装置。
【請求項２７】異なる種類の複数の選択基準に基づい
て記憶手段に記憶された撮像素子の欠陥画素の出力を補
正するための補正用データを選択し、該選択した補正用
データを用いて前記撮像素子の出力に関し補正処理を行
う補正処理方法。
【請求項２８】異なる種類の複数の選択基準に基づい
て記憶手段に記憶された撮像素子の欠陥画素の出力を補
正するための補正用データを選択し、該選択した補正用
データを用いて前記撮像素子の出力に関し補正処理を行
う補正処理コンピュータプログラム。
【請求項２９】前記補正処理コンピュータプログラム
を記憶することを特徴とする請求項２８記載の記憶媒
体。