JP4947899B2 - デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(dac) - Google Patents

デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(dac) Download PDF

Info

Publication number
JP4947899B2
JP4947899B2 JP2004539826A JP2004539826A JP4947899B2 JP 4947899 B2 JP4947899 B2 JP 4947899B2 JP 2004539826 A JP2004539826 A JP 2004539826A JP 2004539826 A JP2004539826 A JP 2004539826A JP 4947899 B2 JP4947899 B2 JP 4947899B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
digital
circuit
dac
digital correction
analog converter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2004539826A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006500866A (ja
Inventor
デンプシー、デニス、エー.
オドワイヤー、トーマス、ジー.
ウォルシュ、アラン
ビネレアーヌ、テュードー
ブレナン、オリバー、ジェームス
Original Assignee
アナログ デバイシーズ インク
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by アナログ デバイシーズ インク filed Critical アナログ デバイシーズ インク
Publication of JP2006500866A publication Critical patent/JP2006500866A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4947899B2 publication Critical patent/JP4947899B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/10Calibration or testing
    • H03M1/1009Calibration
    • H03M1/1028Calibration at two points of the transfer characteristic, i.e. by adjusting two reference values, e.g. offset and gain error
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M1/00Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
    • H03M1/66Digital/analogue converters

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Description

本発明は、DAC伝達関数のエンドポイントを調整、修正、変調、または補正するための、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(DAC)に関する。
関連する出願
本出願は、2002年11月4日(AD−332J)出願済み米国仮出願第60/413,909号、Dempseyらの表題DIGITAL−TO−ANALOG CONVERTER SYSTEM CALIBRATION、および2002年9月27日出願済み米国仮出願第60,414,166号、Dempseyらの表題DIGITAL−TO−ANALOG CONVERTER CALIBRATION ARCHITECTURE & SCHEMEに対して優先権を主張するものである。
ゼロスケール、フルスケール、またはゲインおよびオフセットなどのDACエンドポイントの調整と制御が、多くの状況において望まれている。その、より重要な用途の1つがエンドポイント誤差補正であり、これは、ゼロスケールおよびフルスケールの誤差と、ゲインおよびオフセットの誤差との補正である。
デジタルアナログコンバータ(DAC)の伝達関数エンドポイント誤差、例えば、ゼロスケールおよびフルスケールの誤差と、オフセットおよびゲインの誤差とは、これまで(DAC)精度に影響を及ぼす問題になってきた。このような誤差を低減するこれまでの試みでは、抵抗だけに適用され特殊なハードウェアとウエハー製造技術とを必要とするレーザートリミングなどが行われてきており、これが著しくコストを上げている。別のアプローチに混合信号(アナログ/デジタル)補正があるが、その結果は高リスクで、性能が制限され、信頼性が落ちる。それは極めてコスト高である。一般的なアプローチの1つは、最適で望ましい名目上の結果が得られるよう設計を行うことである。しかし、より高い精度が望まれるほどコスト高になる。すなわち、より精密な設計と生産が必要になるほど、ソフトウェアおよび/または回路の追加と、より高価な製造技術とが必要になる。また、DACと、その先行参照経路および後続回路アナログチェーン(すなわちアナログ信号チェーン)とを含むシステムにおけるこのような誤差の補正では、システムソフトウェアに追加で統合される高度に精確な集積回路または補正システムのいずれかの手順で、上記以上の複雑度と費用とが要求される。
従って、本発明の目的は、改善されたプログラム可能なデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(DAC)を提供することにより、DACの伝達関数およびエンドポイントを調整することである。
本発明の更なる目的は、低コストおよび複雑度を維持しつつ、精度および性能を提供する改善されたプログラム可能なデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(DAC)を提供することである。
本発明の更なる目的は、完全にデジタルでより廉価なアプローチを採用した、改善されたプログラム可能なデジタル補正集積回路を提供することである。
本発明の更なる目的は、DACだけでなく、それに付随するアナログ回路においてもエンドポイントを調整できる改善されたプログラム可能なデジタル補正集積回路を提供することである。
本発明の更なる目的は、マイクロコントローラ、DSP、およびCPUなど外部制御回路の需要を軽減する改善されたプログラム可能なデジタル補正集積回路を提供することである。
本発明の更なる目的は、ゼロスケールおよびフルスケールと、ゲインおよびオフセットとを調整できる改善されたプログラム可能なデジタル補正集積回路を提供することである。
本発明の更なる目的は、DACの伝達関数のエンドポイント誤差を補正する改善されたデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(DAC)を提供することである。
本発明の異なる他の目的は、低コストおよび複雑度を維持しつつ、より優れた精度および性能を提供する改善されたデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(DAC)を提供することである。
本発明の更なる目的は、完全にデジタルでより廉価なアプローチを採用した、改善されたデジタル補正集積回路を提供することである。
本発明の更なる目的は、DACだけでなく、それに付随するアナログ回路においても誤差を軽減できる改善されたデジタル補正集積回路を提供することである。
本発明の更なる目的は、マイクロコントローラ、DSP、およびCPUなど外部制御回路の需要を軽減する改善されたデジタル補正集積回路を提供することである。
本発明の更なる目的は、ゼロスケール誤差およびフルスケール誤差と、ゲイン誤差およびオフセット誤差とを補正できる改善されたデジタル補正集積回路を提供することである。
本発明は、補正ユニットをDACと一体化して、このDACの伝達関数のエンドポイント係数、例えばゲイン係数とオフセット係数、およびゼロスケール係数とフルスケール係数をデジタルでこのDACに提供することにより、単純かつ安価でありながらより精確なDACが実現できるという知見に基づいている。ここで、これらの係数は、前記補正回路上か、前記補正回路および前記DACの双方を載置するチップ上かで外部にも内部にも格納でき、前記DACのエンドポイントまたは前記DACのエンドポイントの調整用、およびこのDACに関連付けられた前記アナログ回路のエンドポイントの調整用に適用でき、さらに前記メモリは、前記DACおよび/または付随するアナログ回路を製造後に誤差補正プログラミングするためユーザーアクセス可能にすることができる。
本発明は、プログラム可能なデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、デジタル補正回路であって、前記デジタルアナログコンバータの伝達関数の所定のエンドポイント係数を格納するメモリと、前記エンドポイント係数を前記DACへの入力信号に適用して前記DACのエンドポイントを調整する算術論理演算ユニットとを含むデジタル補正回路とを含む、プログラム可能なデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを特徴とする。
好適な実施形態では、前記エンドポイント係数は、前記オフセット係数および前記ゲイン係数を含んでよい。前記算術論理演算ユニットは、演算回路であって、DAC入力を前記ゲイン係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット係数をこの入力信号に加算する加算回路とを有する演算回路を含んでよい。前記エンドポイント係数は、前記ゼロスケール係数および前記フルスケール係数を含んでよい。前記算術論理演算ユニットは、演算回路であって、代数的にゼロスケール出力および理想的な出力を使用し、これらを最下位ビット(least significant bit、略称LSB)値について正規化して前記ゼロスケール係数を取得し、フルスケール出力と理想的な出力とを加算したものをLSBについて正規化して前記フルスケール係数を取得し、前記ゼロスケール係数および前記フルスケール係数を前記DACへの入力信号へ適用する演算回路を含んでよい。前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあってよい。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあってよい。このメモリは、前記デジタル補正回路外にあってもよい。このメモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明はまた、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システムであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、前記DACに応答するアナログ信号回路とを含む、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システムを特徴とする。デジタル補正回路は、前記DACの伝達関数の所定のエンドポイント係数を格納するメモリを含み、また前記エンドポイント係数を前記DACへの入力信号に適用して前記DACおよび前記アナログ信号回路のエンドポイント係数を補正する算術論理演算ユニットを含む。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあってよい。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいは前記デジタル補正回路外にあってもよい。このメモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明はまた、プログラム可能なデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータであって、デジタルアナログコンバータと、デジタル補正回路であって、前記デジタルアナログコンバータ(DAC)の所定のオフセット係数およびゲイン係数を格納するメモリと、前記DACのゲイン誤差およびオフセット誤差を調整するための、前記DAC入力を前記ゲイン係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット係数を前記入力信号に加算する加算回路とを有する演算回路を含む算術論理演算ユニットとを含むデジタル補正回路とを含む、プログラム可能なデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを特徴とする。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあってよい。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいは前記デジタル補正回路外にあってもよい。このメモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明はまた、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システムであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、前記DACに応答するアナログ信号回路とを含む、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システムを特徴とする。デジタル補正回路は、前記DACおよび前記アナログ信号回路の所定のオフセット係数およびゲイン係数を格納するメモリを含み、また前記DACおよび前記アナログ信号回路のゲインおよびオフセットを調整するための、前記DAC入力を前記ゲイン係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット係数を前記入力信号に加算する加算回路とを有する演算回路を含む算術論理演算ユニットを含む。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあってよい。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいはその外部にあってもよい。このメモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明は、プログラム可能なデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、デジタル補正回路であって、前記デジタルアナログコンバータDACの所定のゼロスケール係数およびフルスケール係数を格納するメモリと、演算回路であって、代数的にゼロスケール出力および理想的な出力を加算し最下位ビット(LSB)値で正規化して前記ゼロスケール係数を取得し、フルスケール出力と理想的な出力とを加算したものをLSBで正規化して前記フルスケール係数を取得し、前記DACの前記ゼロスケールおよび前記フルスケールを調整するため、前記ゼロスケール係数および前記フルスケール係数を前記DACへの入力信号へ適用する演算回路を含む算術論理演算ユニットとを含むデジタル補正回路とを含むプログラム可能なデジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータも特徴とする。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にある。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいはその外部にあってもよく、このメモリはユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明はまた、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システムであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、前記DACに応答するアナログ信号回路とを含む、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システムを特徴とする。デジタル補正回路は、前記DACおよび前記アナログ信号回路の所定のゼロスケール係数およびフルスケール係数を格納するメモリと、演算回路であって、代数的にゼロスケール出力および理想的な出力を加算し最下位ビット(LSB)値で正規化して前記ゼロスケール係数を取得し、フルスケール出力と理想的な出力とを加算したものをLSBで正規化して前記フルスケール係数を取得し、前記DACおよび前記アナログ信号回路の前記ゼロスケールオフセットおよび前記フルスケールオフセットを調整するため、前記ゼロスケール係数および前記フルスケール係数を前記DACへの入力信号へ適用する演算回路を含む算術論理演算ユニットとを含む。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にある。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいはその外部にあってもよく、このメモリはユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明は、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、デジタル補正回路であって、前記デジタルアナログコンバータの伝達関数の所定のエンドポイント誤差補数を格納するメモリと、前記エンドポイント誤差補数を前記DACへの入力信号に適用して前記DACのエンドポイント誤差を補正する算術論理演算ユニットとを含むデジタル補正回路とを含む、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを特徴とする。
好適な実施形態では、前記エンドポイント誤差補数は、前記オフセット誤差および前記ゲイン誤差を含んでよい。前記算術論理演算ユニットは、演算回路であって、DAC入力を前記ゲイン誤差係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット誤差係数をこの入力信号に加算する加算回路とを有する演算回路を含んでよい。前記エンドポイント誤差補数は、ゼロスケール誤差補数およびフルスケール誤差補数を含んでよい。前記算術論理演算ユニットは、演算回路であって、代数的にゼロスケール出力および理想的な出力をカウントしたものを最下位ビット(LSB)値で正規化して前記ゼロスケール係数を取得し、フルスケール出力と理想的な出力とを加算したものをLSBで正規化して前記フルスケール誤差係数を取得し、前記ゼロスケール誤差係数および前記フルスケール誤差係数を前記DACへの入力信号へ適用する演算回路を含んでよい。前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあってよい。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあってよい。このメモリは、前記デジタル補正回路外にあってもよい。このメモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明はまた、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むデジタル補正システムであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、前記DACに応答するアナログ信号回路とを含む、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むデジタル補正システムを特徴とする。デジタル補正回路は、前記DACの伝達関数の所定のエンドポイント誤差補数を格納するメモリを含み、また前記エンドポイント誤差補数を前記DACへの入力信号に適用して前記DACおよび前記アナログ信号回路のエンドポイント誤差を補正する算術論理演算ユニットを含む。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあってよい。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいは前記デジタル補正回路外にあってもよい。このメモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明はまた、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータであって、デジタルアナログコンバータと、デジタル補正回路であって、前記デジタルアナログコンバータ(DAC)の所定のオフセット誤差係数およびゲイン誤差係数を格納するメモリと、前記DACのゲイン誤差およびオフセット誤差を補正するための、前記DAC入力を前記ゲイン誤差係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット誤差係数を前記入力信号に加算する加算回路とを有する演算回路を含む算術論理演算ユニットとを含むデジタル補正回路とを含む、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを特徴とする。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあってよい。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいは前記デジタル補正回路外にあってもよい。このメモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明はまた、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むデジタル補正システムであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、前記DACに応答するアナログ信号回路とを含む、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むデジタル補正システムを特徴とする。デジタル補正回路は、前記DACおよび前記アナログ信号回路の所定のオフセット誤差係数およびゲイン誤差係数を格納するメモリを含み、また前記DACおよび前記アナログ信号回路のゲイン誤差およびオフセット誤差を補正するための、前記DAC入力を前記ゲイン誤差係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット誤差係数を前記入力信号に加算する加算回路とを有する演算回路を含む算術論理演算ユニットを含む。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあってよい。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいはその外部にあってもよい。このメモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明は、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、デジタル補正回路であって、前記デジタルアナログコンバータDACの所定のゼロスケール誤差係数およびフルスケール誤差係数を格納するメモリと、演算回路であって、代数的にゼロスケール出力および理想的な出力を加算し最下位ビット(LSB)値で正規化して前記ゼロスケール誤差係数を取得し、フルスケール出力と理想的な出力とを加算したものをLSBで正規化して前記フルスケール誤差係数を取得し、前記DACの前記ゼロスケール誤差および前記フルスケール誤差を補正するため、前記ゼロスケール誤差係数および前記フルスケール誤差係数を前記DACへの入力信号へ適用する演算回路を含む算術論理演算ユニットとを含むデジタル補正回路とを含む、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータも特徴とする。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にある。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいはその外部にあってもよく、このメモリはユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明はまた、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むデジタル補正システムであって、デジタルアナログコンバータ(DAC)と、前記DACに応答するアナログ信号回路とを含む、デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータを含むデジタル補正システムを特徴とする。デジタル補正回路は、前記DACおよび前記アナログ信号回路の所定のゼロスケール誤差係数およびフルスケール誤差係数を格納するメモリと、演算回路であって、代数的にゼロスケール出力および理想的な出力を加算し最下位ビット(LSB)値で正規化して前記ゼロスケール誤差係数を取得し、フルスケール出力と理想的な出力とを加算したものをLSBで正規化して前記フルスケール誤差係数を取得し、前記DACおよび前記アナログ信号回路の前記ゼロスケールオフセット誤差および前記フルスケールオフセット誤差を補正するため、前記ゼロスケール誤差係数および前記フルスケール誤差係数を前記DACへの入力信号へ適用する演算回路を含む算術論理演算ユニットとを含む。
好適な実施形態では、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にある。前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあっても、あるいはその外部にあってもよく、このメモリはユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリであってよい。
本発明では、以下に開示する好適な実施形態以外の他の実施形態が可能であり、種々の方法で実施または実行することができる。このように、本発明はその用途において、以下の説明に記載され図面に例示された構造の詳細およびコンポーネントの配置に限定されるものでないことは言うまでもない。
本発明は、DACのエンドポイント調整、またはDACおよびアナログ信号電流チェーンのエンドポイント調整を制御または調整する理由について深く考察したものである。ただし、より重要な応用の1つは、ゼロスケール誤差およびフルスケール誤差、またゲイン誤差およびオフセット誤差などのエンドポイント誤差を補正することである。この誤差補正用途は、開示した具体的な実施形態の主題であるが、任意の理由によるエンドポイント調整を含む本発明の範囲を一切限定するものではない。
デジタルアナログコンバータ(DAC)伝達関数のエンドポイント誤差は、ゲイン誤差およびオフセット誤差として、またはゼロスケール誤差およびフルスケール誤差として扱うことができる。図1は、このゲイン誤差およびオフセット誤差のアプローチを示した図である。理想的なDAC伝達関数10は、ゼロ点12で始まり、所定の傾き、すなわちゲインを有する。実際の伝達関数14では、典型的にゼロから何らかのオフセット16を伴って開始することによりオフセット誤差が生じ、また傾き、すなわちゲインは、理想的な伝達関数10のゲインとは多少異なる。このゲイン誤差およびオフセット誤差の組み合わせにより生じる逸脱が、ゲイン誤差およびオフセット誤差18を形成する。典型的に、このオフセット誤差を補正するための係数は、と表され、ゲイン誤差を補正するための係数は、下線を伴うと表される。
別の図である図2では、前記エンドポイント誤差をゼロスケール誤差20およびフルスケール誤差22として捉えている。このゼロスケール誤差は、前記伝達関数24の前記ゼロ位置23が理想的でないゼロ点26で開始することにより生じ、前記フルスケール誤差は、前記フルスケールポイントが前記伝達関数24のゲインまたは傾きを左右する誤差に依存して変化するためと、前記ゼロ点23の誤差とにより生じる。
本発明に係る一実施形態では、図3のDAC30、およびデジタル補正回路32は、単一のチップ34上に一体化されている。補正システム36は、38でDAC30の出力を検出するか、または必要に応じて、DAC30と、後続するアナログ信号回路またはアナログ信号チェーン40とからの出力を出力42において検出する。これにより、前記DACを含むアナログチェーン全体の誤差の補正が可能となる。いずれの場合でも、信号が線44で補正システム36に連結され、そこからオフセット誤差係数およびゲイン誤差係数がデジタル補正回路32に配信され、そこでこれらの誤差系数値を使って(が計算される。ここで、は入力信号で、は出力信号である。簡略な表現は次のとおりである。
Figure 0004947899
ここで、は出力、はゲインすなわち傾きの誤差係数、はオフセット係数、およびは入力である。
式(1)は、デフォルトで実数を使った古典的で包括的かつ標準的な線形代数的表現である。デジタルアナログコンバータの場合、前記DACのデジタル入力は、有限な量子化された分解能を有する。そのため、量子化された有限な分解能のデジタル数値がDACの表現に適切である。この理由から、実際にはこの表現を修正したバージョンが使われる。
Figure 0004947899
ここで、c2は第2の定数デジタル項で、dは出力数値をスケールダウンするための除算器ファクターである。
具体的で好適な実施形態は、次のようになる。
Figure 0004947899
ゲインファクター(m)が分解能の効果的なビットをN個有する場合、最大(またはフルスケール)m値=2^N−1となる。式(2)では、フルスケールがm(m=2^N−1)の場合、効果的なゲイン=(2^N−1+1)/2^N=1となる。
式(2)で「+1」というファクターを選択したのは実施上の理由による。よって、M=2^N−1の場合、ゲイン=1となる。+1の代わりに任意のデジタル定数を使ってもよい。同様に、2^Nで除算した結果が、当業者に知られているとおりデジタル乗算器出力からのタップ位置に等しくなり、また異なる除算器ファクターを選択することもできる。
ゲインが1より大きい場合、m+1の範囲は、除算器ファクターより大きくなる。
およびの値は、メモリ50に格納してもよく、このメモリ50はチップ34上にあっても、デジタル補正回路32の外部にあっても、またデジタル補正回路32のメモリ50’内に含まれていても、あるいはメモリ50"に示したように、DAC30およびデジタル補正回路32と、チップ34との双方の外部にあってもよい。メモリ50"は、チップ34の外部に設けられる場合、入力信号だけでなくオフセット係数およびゲイン係数もDAC誤差か、DAC誤差および(アナログ信号)チェーン40の1若しくはそれ以上の後続アナログ信号回路が寄与する誤差かの補正用に選択できるよう、ユーザによりアクセス可能およびプログラム可能にしてよい。
デジタル補正回路32には、算術論理演算ユニット33、例えば図3の演算回路52であって、図4の乗算器54および加算器56を含む演算回路52が含まれる。これにより、演算回路52は式y=mx+cを実行する。演算回路52で受信された入力は、乗算器54で係数が乗算され、加算器56で係数が加算されて、出力になる。あるいは、図4Bの算術演算ユニット32aは、出力
Figure 0004947899
を取得するため追加の除算器55を含んでよい。すなわち、除算器55が、前記DAC入力およびゲインオフセットの積pをで除算して商を取得したのち、加算器56がこれに前記オフセットを加算する。ここで、は出力数値をスケールダウンするために使用する除算器ファクターである。図4Cの52bで示すように、係数c2、59を加算して出力
Figure 0004947899
を取得する加算器57があってもよい。この場合は、ゲインオフセットに前記DAC入力が乗算されて積が取得される前に、前記ゲインオフセットに第2の定数c2、59が加算される。
あるいは、図5に示したように、デジタル補正回路32a内の前記算術論理演算ユニット33aに含まれる演算回路52aは、ゼロスケール誤差係数zsおよびフルスケール係数fs、を生成するか、これらを入力とともにデジタル補正回路32aに提供してよい。上記と同じ方法で、メモリ50aとメモリ50’aとメモリ50"aとは、同様な方法で、ただしフルスケール係数fsおよびゼロスケール係数zsに関して動作してよい。補正システム36は、前記zs係数およびfs係数、または前記係数および係数の計算時にゼロスケール出力およびフルスケール出力を検出するため、ハードウェア回路、またはハードウェア回路とソフトウェアとの組み合わせを含んでよい。図6の補正システム36bは、係数計算用の算術演算に使えるよう、アナログ信号回路チェーンを42bでデジタル形式に変換するため、前記補正システム36bの入力場所、外部ではADC 37、または内部では37’において、ADCを含むであろう。アナログ信号回路(チェーン)40bは、Vref+回路51およびVref−回路53を含む場合もある。上記演算は、図7のソフトウェアフローチャートに示すようにzs係数およびfs係数、または係数および係数のどちらかを計算し得る3段階、1、2、および3において、図6の補正システム36b内のソフトウェアですべて行ってもよい。
この補正サイクルは、前記DAC入力をゼロに設定する(図7、工程100)ことから開始し、次に前記DACまたは前記アナログ信号回路チェーン40の電圧/電流出力が測定される(工程102)。次に、前記DACがフルスケールに設定され(工程104)、出力が再度測定される。工程106ではDAC30または前記アナログ信号回路チェーンのどちらかの出力を使って、係数および係数が計算される。LSB(least significant bit=最下位ビット)サイズは工程108で計算される。c/zsの項は工程110で計算され、その後(工程112)およびdfs(工程114)が計算される。次にc/zsおよびが工程116で、c/zsおよびfsが工程118で量子化される。fsは工程120で計算され、c/zsおよびfsが工程122で量子化される。ゼロスケールzs係数およびフルスケールfs係数を使ってエンドポイント誤差を補正する際、前記係数zsは、ゼロスケールでの電圧出力から理想的ゼロスケールでの電圧出力を減算したものを代数的に合計して正規化する、または最下位ビットサイズで除算することにより、算術的に取得できる。
フルスケール補正係数fsは、フルスケールVoutから理想的フルスケールVoutを減算したものを代数的に合計して最下位ビットサイズで正規化することにより得られる。
なお、前記補正システム36は、ソフトウェア、DSP、マイクロコントローラ、またはおよび、またはzsおよびfsを決定する他の装置を含むことができる。
例1:m係数およびc係数を計算して、ゲイン誤差およびオフセット誤差を補正する。
ref+=4.096v
ref−=0v
DAC分解能、N=12
Figure 0004947899
工程100→102→Voutzs=−10mv
工程100×106→Voutfs=4.115v
Figure 0004947899
Figure 0004947899
必要な分解能にc/zsを量子化(12b)→10
Figure 0004947899
必要なレベルにmを量子化(12b)→4086
例2:zs係数およびfs係数を計算して、ゼロスケール誤差およびフルスケール誤差を相殺する。
例1を拡張すると、同じデータを使って新しい係数を次のように計算できる。
Figure 0004947899
dfsを12b(LSB)レベルに量子化:dfs→19 LSB
Figure 0004947899
fsを12b(LSB)レベルに量子化:fs→4105
各特徴は、本発明に係る他の特徴のいずれか、またはすべてと組み合わせてよいため、図面の一部のみで本発明の具体的な特徴を示しているが、これは単に便宜上のものである。本明細書における用語「含む」、「有する」、および「伴う」は、広義かつ包括的に解釈されるべきものであり、いかなる物理的相互接続にも限定されるものではない。さらに、掲題の用途に開示したいかなる実施形態も、考えうる唯一の実施形態として解釈されるべきではない。
当業者であれば、他の実施形態も添付の請求項内であることが理解されるであろう。
当業者であれば、他の目的、特徴、および優位性が、以下の好適な実施形態の説明および添付の図面から理解されるであろう。
図1は、ゲイン誤差およびオフセット誤差としてのエンドポイント誤差を呈しているデジタルアナログコンバータ(DAC)の伝達関数を例示したグラフ。 図2は、ゼロスケール誤差およびフルスケール誤差としてのエンドポイント誤差を呈しているデジタルアナログコンバータ(DAC)の伝達関数を例示したグラフ。 図3は、本発明に従ってゲイン係数およびオフセット係数を使用したデジタル補正集積回路およびDACの、簡略化した概略ブロック図。 図4A〜Cは、ゲイン誤差およびオフセット誤差の補正用にゲイン係数およびオフセット係数を適用するための、前記デジタル補正回路の3つの異なる実施形態の一部の、より詳細な模式図。 図4A〜Cは、ゲイン誤差およびオフセット誤差の補正用にゲイン係数およびオフセット係数を適用するための、前記デジタル補正回路の3つの異なる実施形態の一部の、より詳細な模式図。 図4A〜Cは、ゲイン誤差およびオフセット誤差の補正用にゲイン係数およびオフセット係数を適用するための、前記デジタル補正回路の3つの異なる実施形態の一部の、より詳細な模式図。 図5は、本発明に従ってゼロスケール係数およびフルスケール係数を使用したデジタル補正集積回路およびDACの、図3と同様な図。 図6は、本発明に従ってソフトウェア駆動の補正システムを使用したデジタル補正集積回路およびDACの、図3と同様な図。 図7は、図6の補正システムを操作するためのソフトウェアのフローチャート。

Claims (17)

  1. 一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータであって、
    デジタルアナログコンバータ(DAC)と、
    デジタル補正回路であって、
    前記デジタルアナログコンバータ(DAC)の所定のオフセット係数およびゲイン係数を格納するメモリと、
    前記DACのゲインおよびオフセットを調整するための、前記DAC入力を前記ゲイン係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット係数を前記入力信号に加算する加算回路と、前記DAC入力と前記ゲイン係数との積を前記オフセット係数に加算する前に、前記積を除算する除算回路とを有する演算回路を含む算術論理演算ユニットと
    を含む前記デジタル補正回路と
    を有することを特徴とする一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータ。
  2. 請求項の一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあるものである。
  3. 請求項のデジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあるものである。
  4. 請求項のデジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、前記メモリは、前記デジタル補正回路外にあるものである。
  5. 請求項のデジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、前記メモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリである。
  6. 一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システムであって、
    デジタルアナログコンバータ(DAC)と、
    前記DACに応答するアナログ信号回路と、
    デジタル補正回路であって、
    前記DACおよび前記アナログ信号回路の所定のオフセット係数およびゲイン係数を格納するメモリと、
    前記DACおよび前記アナログ信号回路のゲインおよびオフセットを調整するための、前記DAC入力を前記ゲイン係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット係数を前記入力信号に加算する加算回路と、前記DAC入力と前記ゲイン係数との積を前記オフセット係数に加算する前に、前記積を除算する除算回路とを有する演算回路を含む算術論理演算ユニットと
    を含む前記デジタル補正回路と
    を有することを特徴とする一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システム。
  7. 請求項のデジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、前記デジタル補正回路および前記DACは、同じ集積回路チップ上にあるものである。
  8. 請求項のデジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、前記メモリは、前記デジタル補正回路内にあるものである。
  9. 請求項のデジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、前記メモリは、前記デジタル補正回路外にあるものである。
  10. 請求項のデジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、前記メモリは、ユーザーアクセス可能なプログラム可能メモリである。
  11. 一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータであって、
    デジタルアナログコンバータ(DAC)と、
    デジタル補正回路であって、
    前記デジタルアナログコンバータの伝達関数の所定のエンドポイント係数を格納するメモリと、
    前記エンドポイント係数を前記DACへの入力信号に適用して前記DACのエンドポイントを調整する算術論理演算ユニットと
    を含む前記デジタル補正回路と
    を有し、
    前記エンドポイント係数はオフセット係数およびゲイン係数を含むものであり、
    前記算術論理演算ユニットは、DAC入力を前記ゲイン係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット係数を前記入力信号に加算する加算回路と、前記DAC入力と前記ゲイン係数との積を前記オフセット係数に加算する前に、前記積を除算する除算回路とを有する演算回路を含むものである
    ことを特徴とする一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータ。
  12. 一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータであって、
    デジタルアナログコンバータ(DAC)と、
    デジタル補正回路であって、
    前記デジタルアナログコンバータの伝達関数の所定のエンドポイント係数を格納するメモリと、
    前記エンドポイント係数を前記DACへの入力信号に適用して前記DACのエンドポイントを調整する算術論理演算ユニットと
    を含む前記デジタル補正回路と
    を有し、
    前記エンドポイント係数はオフセット係数およびゲイン係数を含むものであり、
    前記算術論理演算ユニットは、DAC入力を前記ゲイン係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット係数を前記入力信号に加算する加算回路と、前記ゲイン係数が前記DAC入力で乗算される前に、第2の定数を前記ゲイン係数に加算する第2の加算器とを有する演算回路を含むものである
    ことを特徴とする一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータ。
  13. 一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータであって、
    デジタルアナログコンバータ(DAC)と、
    デジタル補正回路であって、
    前記デジタルアナログコンバータ(DAC)の所定のオフセット係数およびゲイン係数を格納するメモリと、
    前記DACのゲインおよびオフセットを調整するための、前記DAC入力を前記ゲイン係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット係数を前記入力信号に加算する加算回路と、前記ゲイン係数が前記DAC入力で乗算される前に、第2の定数を前記ゲイン係数に加算する第2の加算器とを有する演算回路を含む算術論理演算ユニットと
    を含む前記デジタル補正回路と
    を有することを特徴とする一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータ。
  14. 一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システムであって、
    デジタルアナログコンバータ(DAC)と、
    前記DACに応答するアナログ信号回路と、
    デジタル補正回路であって、
    前記DACおよび前記アナログ信号回路の所定のオフセット係数およびゲイン係数を格納するメモリと、
    前記DACおよび前記アナログ信号回路のゲインおよびオフセットを調整するための、前記DAC入力を前記ゲイン係数で乗算する乗算回路と、前記オフセット係数を前記入力信号に加算する加算回路と、前記ゲイン係数が前記DAC入力で乗算される前に、第2の定数を前記ゲイン係数に加算する第2の加算器とを有する演算回路を含む算術論理演算ユニットと
    を含む前記デジタル補正回路と
    を有することを特徴とする一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータを含むプログラム可能なデジタル補正システム。
  15. 請求項1記載の一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、
    前記算術論理演算ユニットは、前記ゲイン係数が前記DAC入力で乗算される前に、第2の定数を前記ゲイン係数に加算する第2の加算器を有する演算回路を含むものである
    ことを特徴とする一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータ。
  16. 請求項6記載のプログラム可能なデジタル補正システムにおいて、
    前記算術論理演算ユニットは、前記ゲイン係数が前記DAC入力で乗算される前に、第2の定数を前記ゲイン係数に加算する第2の加算器を有する演算回路を含むものである
    ことを特徴とするプログラム可能なデジタル補正システム。
  17. 請求項11記載の一体形のプログラム可能デジタル補正回路およびデジタルアナログコンバータにおいて、
    前記算術論理演算ユニットは、前記ゲイン係数が前記DAC入力で乗算される前に、第2の定数を前記ゲイン係数に加算する第2の加算器を有する演算回路を含むものである
    ことを特徴とするプログラム可能なデジタル補正システム。
JP2004539826A 2002-09-26 2003-08-07 デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(dac) Expired - Lifetime JP4947899B2 (ja)

Applications Claiming Priority (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US41390902P 2002-09-26 2002-09-26
US60/413,909 2002-09-26
US41416602P 2002-09-27 2002-09-27
US60/414,166 2002-09-27
PCT/US2003/024967 WO2004030031A2 (en) 2002-09-26 2003-08-07 Integrated digital calibration circuit and digital to analog converter (dac)

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006500866A JP2006500866A (ja) 2006-01-05
JP4947899B2 true JP4947899B2 (ja) 2012-06-06

Family

ID=32045262

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004539826A Expired - Lifetime JP4947899B2 (ja) 2002-09-26 2003-08-07 デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(dac)

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7068193B2 (ja)
JP (1) JP4947899B2 (ja)
AU (1) AU2003259710A1 (ja)
WO (1) WO2004030031A2 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7324031B1 (en) * 2006-02-15 2008-01-29 Altera Corporation Dynamic bias circuit
US7459930B2 (en) * 2006-11-14 2008-12-02 Micron Technology, Inc. Digital calibration circuits, devices and systems including same, and methods of operation
JP2010093683A (ja) * 2008-10-10 2010-04-22 Nec Electronics Corp デジタルアナログ変換回路とその出力データの補正方法
US8248281B2 (en) * 2011-01-21 2012-08-21 Advantest Corporation High speed, high resolution, high precision voltage source/AWG system for ATE
ITMI20121116A1 (it) * 2012-06-26 2013-12-27 St Microelectronics Srl Anello di conversione analogico-digitale particolarmente per sistemi psi5 e wss
US9054722B2 (en) * 2013-09-12 2015-06-09 Fujitsu Semiconductor Limited Circuitry and methods for use in mixed-signal circuitry
JP2016096204A (ja) * 2014-11-13 2016-05-26 株式会社ニューフレアテクノロジー 出力調整方法及び電子線描画装置
US9325337B1 (en) 2015-01-09 2016-04-26 Analog Devices Global Self-referenced digital to analog converter
US9692435B2 (en) * 2015-04-16 2017-06-27 Maxlinear, Inc. Digital-to-analog converter (DAC) with digital offsets
KR102373545B1 (ko) * 2015-11-23 2022-03-11 삼성전자주식회사 온도 계수에 기초하여 기준 전압을 생성하는 회로 및 방법
US10574247B1 (en) 2018-09-14 2020-02-25 Analog Devices Global Unlimited Company Digital-to-analog converter transfer function modification
EP3891565B1 (en) * 2019-01-24 2023-12-20 Siemens Aktiengesellschaft Component comprising a main module and an extension module and component calibration method
WO2023182231A1 (ja) * 2022-03-24 2023-09-28 国立大学法人大阪大学 処理装置及び出力装置
CN117612594B (zh) * 2024-01-19 2024-04-09 悦芯科技股份有限公司 一种用于提升精度的校准数据存储以及调用方法

Family Cites Families (27)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3878749A (en) 1972-12-12 1975-04-22 Allen Organ Co Walsh function tone generator and system
US4212072A (en) 1978-03-07 1980-07-08 Hughes Aircraft Company Digital scan converter with programmable transfer function
US4222107A (en) 1979-01-22 1980-09-09 Burr-Brown Research Corporation Method and apparatus for automatically calibrating a digital to analog converter
JPS58181323A (ja) 1982-04-16 1983-10-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 較正機能付きデジタルアナログ変換器
US4829236A (en) 1987-10-30 1989-05-09 Teradyne, Inc. Digital-to-analog calibration system
ATE131973T1 (de) 1988-09-30 1996-01-15 Siemens Ag Verfahren zur bestimmung und verarbeitung von korrekturwerten für selbstkalibrierende a/d- und d/a-wandler und rechenwerk zur durchführung des verfahrens
US5054039A (en) 1990-08-30 1991-10-01 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Navy Digital calibration circuit employing composite sine wave signals
WO1992014336A1 (en) 1991-02-01 1992-08-20 Analog Devices, Incorporated System for developing crt color-intensity control signals in high resolution crt display equipment
US5134401A (en) 1991-03-12 1992-07-28 Analog Device, Inc. Delta sigma modulator having programmable gain/attenuation
US5248970A (en) 1991-11-08 1993-09-28 Crystal Semiconductor Corp. Offset calibration of a dac using a calibrated adc
US5343196A (en) 1992-12-04 1994-08-30 Analog Devices, Inc. D/A converter with reduced power consumption
US5570090A (en) 1994-05-23 1996-10-29 Analog Devices, Incorporated DAC with digitally-programmable gain and sync level generation
US5583501A (en) 1994-08-24 1996-12-10 Crystal Semiconductor Corporation Digital-to-analog converter with digital linearity correction
US5594612A (en) 1994-08-24 1997-01-14 Crystal Semiconductor Corporation Analog-to-digital converter with digital linearity correction
US5642116A (en) 1995-03-06 1997-06-24 International Business Machines Corporation Self calibrating segmented digital-to-analog converter
TW294786B (en) 1995-09-11 1997-01-01 Microchip Tech Inc Digital trimming of on-chip analog components
US5703586A (en) * 1995-12-07 1997-12-30 Analog Devices, Inc. Digital-to-analog converter having programmable transfer function errors and method of programming same
US5886540A (en) 1996-05-31 1999-03-23 Hewlett-Packard Company Evaluation phase expansion for dynamic logic circuits
US5969657A (en) 1997-07-22 1999-10-19 Analog Devices, Inc. Digital to analog converter
US5995033A (en) 1998-02-02 1999-11-30 Motorola Inc. Signal conditioning circuit including a combined ADC/DAC, sensor system, and method therefor
US6226562B1 (en) 1998-09-10 2001-05-01 International Business Machines Corporation Method and system for adjusting and calibrating circuit parameters
US6191715B1 (en) * 1998-10-29 2001-02-20 Burr-Brown Corporation System for calibration of a digital-to-analog converter
US6351228B1 (en) * 1999-02-03 2002-02-26 Hitachi Electronics Engineering Co., Ltd. Digital calibration method and apparatus for A/D or D/A converters
US6208278B1 (en) 1999-05-07 2001-03-27 Infineon Technologies North America Corp. System and method for logarithmic digital to analog conversion
US6392574B1 (en) 1999-05-07 2002-05-21 Infineon Technologies North America Corp. System and method for exponential digital to analog conversion
US6292125B1 (en) 1999-09-29 2001-09-18 Lsi Logic Corporation Digital-to-analog converter using weights stored in a weight table
US6667703B1 (en) * 2002-08-30 2003-12-23 Lsi Logic Corporation Matching calibration for digital-to-analog converters

Also Published As

Publication number Publication date
WO2004030031A2 (en) 2004-04-08
JP2006500866A (ja) 2006-01-05
US7068193B2 (en) 2006-06-27
WO2004030031A9 (en) 2005-07-28
WO2004030031A8 (en) 2005-06-23
AU2003259710A8 (en) 2004-04-19
AU2003259710A1 (en) 2004-04-19
US20040085234A1 (en) 2004-05-06
WO2004030031A3 (en) 2004-07-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4947899B2 (ja) デジタル補正集積回路およびデジタルアナログコンバータ(dac)
US7378999B1 (en) Method and apparatus for digital calibration of an analog-to-digital converter
US6897794B2 (en) All-analog calibration of sting-DAC linearity: application to high voltage processes
KR101209352B1 (ko) 디지털 아날로그 변환기(dac)의 사용방법 및 디바이스
US8681026B2 (en) Digital to analog converter
JPH06104754A (ja) 梯子型抵抗をトリミングするための既埋設修正データメモリを備えた多段アナログデジタル変換器
US20030160713A1 (en) Piecewise linear calibration method and circuit to correct transfer function errors of digital to analog converters
US20130015989A1 (en) System and Method For Providing High Resolution Digital-To-Analog Conversion Using Low Resolution Digital-To-Analog Converters
EP0730794A1 (en) An efficient architecture for correcting component mismatches and circuit nonlinearities in a/d converters
US7355536B2 (en) System and method for digital compensation of digital to analog and analog to digital converters
US6624772B1 (en) Offset calibration system
US20070120720A1 (en) Analog-to-digital converter with non-linearity compensation
JP3515747B2 (ja) ディジタル・アナログ変換回路
US6489911B1 (en) Direct digital waveform synthesizer with DAC error correction
CN1703831A (zh) 集成的数字校准电路和数模转换器(dac)
US11038517B1 (en) Multiplying digital-to-analog converter (MDAC) with nonlinear calibration
JP2003032108A (ja) 直線性補償装置及び直線性補償方法
CN109687870B (zh) 电荷重分配型saradc电容失配校正方法及***
US20200162090A1 (en) TECHNIQUES TO IMPROVE LINEARITY OF R-2R LADDER DIGITAL-TO-ANALOG CONVERTERS (DACs)
JP3097346B2 (ja) アナログ−デジタル変換器
CN115664418B (zh) 基于非线性误差的sar adc的精度校准方法及装置
RU2703228C1 (ru) Способ нониусного цифроаналогового преобразования
JP4322660B2 (ja) Daコンバータ
US10382050B1 (en) Integrated multiplying successive approximation analog to digital converter
JP4317725B2 (ja) Daコンバータ

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060807

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080909

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080930

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20081209

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20081218

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090127

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090210

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20090218

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20090225

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090330

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090804

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20111022

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20111027

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111128

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120306

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150316

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4947899

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term