JP4929334B2 - 流量測定装置 - Google Patents

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Description

本発明は、流量計に係わり、特に自動車エンジンの吸気系を構成して、その吸気量を測定するのに好適な流量測定装置に関する。
空気流量を計測する流量測定装置として、発熱抵抗体を加熱制御し発熱抵抗体の放熱量によって流量を計測するものや、発熱抵抗体を加熱制御し発熱抵抗体の近傍に配置した感温抵抗体の温度変化によって流量を計測するものなどが知られている。
車両の吸気ダクト内にはエアフィルタが設けられ、流入する空気に含まれるダストを除去し、清浄された空気が流量測定装置の副通路に導入されるようになっている。
しかし、ダストの大きさによってはエアフィルタを通過してしまうものがあり、またエアフィルタ交換後の装着不具合によりダストが吸気ダクト内へ入り込んでしまったりすることがある。
吸気ダクト内に入り込んだダストは、アクセルの踏み込み量が増加すると流体とともに数十m/sにまで加速され、流量測定装置の副通路内にまで到達することがある。
副通路内に配置された流量計測素子には、非常に薄い部分があり、ダストが衝突することにより破壊される可能性が考えられる。
また、吸気ダクト内に入り込んだダストが流量測定装置の流量計測素子に付着すると、流量計測素子の放熱特性が変化して出力特性変化を引き起こす可能性が考えられる。
吸気ダクト内に進入したダストなどから流量計測素子を保護し、汚損による経時劣化を防止する構造として、渦巻き形状とした副通路の入口を通過したところから、内回り側(内周側)と外回り側(外周側)に副通路を分離し、内回り側の副通路には流量計測素子を配置し、外回り側の副通路を流れる空気は吸気ダクトに流出させ、ダストを排出する技術が知られている(特許文献1参照)。
特表2002−506528号公報
特許文献1に記載の技術は、副通路を渦巻き形状にすることにより、遠心分離作用によって外回り側の副通路にダストを押しやり、ダストが流量計測素子(センサ素子)に到達しないようにし、流量計測素子を保護している。
しかしながら、すべてのダストを外回り側の副通路に流すことは困難であり、残ったダストが内回り側の副通路に進入して、流量計測素子に衝突する可能性を排除できない。
本発明の目的は、流量計測素子が配置される副通路部にダストが進入した場合においても、ダストが流量計測素子に衝突しにくい構造を備えた流量測定装置を提供することにある。
上記目的を達成するために、本発明の流量測定装置は、主通路を流れる流体の一部を取り込む副通路と、一方の面側に流量を測定するセンサ素子が実装された板状基板とを有する流量測定装置において、前記副通路の一部に、前記板状基板におけるセンサ素子が実装されたセンサ素子実装面側と、前記板状基板における前記センサ素子実装面側とは反対側の背面側とにそれぞれ流体通路が構成されるように、前記板状基板を配置し、前記板状基板は、前記実装面と前記背面とが前記副通路を流れる流体に対して平行となるよう配置され、前記副通路は、前記板状基板に対して流れの上流側に配置され、曲線を描いて向きを変える曲線通路部を有し前記曲線通路部は、曲線通路の外周に形成され、傾斜部を有する外周壁面と、曲線通路の内周を形成する内周壁面とを備え、前記傾斜部は、前記板状基板上の前記センサ素子実装面に垂直な方向における前記外周壁面の両端部のうち、前記センサ素子実装面側の前記外周壁面の端部がもう一方の端部に対して、前記内周壁面側に位置するように傾斜した形状である
本発明の流量測定装置は、曲線通路部の外回りの壁面を傾斜させることにより、傾斜部に衝突したダストを流量計測素子が実装された板状基板の背面側に誘導することができ、流量計測素子へのダストの衝突を回避できる。
本発明の一実施例を示す流量測定装置の構成図。 本発明の一実施例を示す流量測定装置のQ−Q断面図とダストの流れ図。 本発明の一実施例を示す流量測定装置と対比したダストの流れ図。 図2に対して傾斜部の形状を変更した例でのダストの流れ図。 図2に対して傾斜部の形状を変更した例でのダストの流れ図。 図2に対して傾斜部の形状を変更した例でのダストの流れ図。 図2に対して傾斜部を分離壁に変更した例でのダストの流れ図。 本発明の他の実施例による流量測定装置の一部構成図。 図8に対して副通路の形状を変更した例。 本発明の他の実施例による流量測定装置のダストの流れ図。
以下、本発明の実施例を図面を参照して説明する。
図1,図2は本発明の流量測定装置の構成を示す図であり、図1は吸気管に配置された流量測定装置1を示す図、図2は流量測定装置のQ−Q断面図であり、同一部分は同一符号で示している。
以下、図1,図2により本実施例について説明する。
流量測定装置1は、車両の吸気管2に形成された挿入穴3に挿入され、下側部分が主通路4内に位置している。
流量測定装置1は、先端部分(図1の下側部分)が主通路4内に位置するように、片持ち状に吸気管2に取り付けられている。流量測定装置1の先端部分には、副通路10が形成されており、副通路10の内部には、平板状の回路基板5にシリコン基板上に形成されたセンサ素子6を配置して流量計測を行うようになっている。また、回路基板5は、電源,信号出力用の端子を備えたコネクタ部7に電気的に接続されている。
副通路10は、曲線を描いて向きを変える第1副通路部10Aと、曲線を描いて向きを変える第3副通路部10Cと、第1副通路部10Aと第3副通路部10Cを連通接続する第2副通路部10Bとにより構成され、第1副通路部10Aと第3副通路部10Cは階層をなすように配置されて交差することはない。
図1では、流量測定装置1の内部に構成された副通路10,回路基板5,センサ素子6及びコネクタ部7の端子等がすかして見える状態で描かれている。特に副通路10は、第1副通路部10A,第2副通路部10B及び第3副通路部10Cの全てが描かれているが、第1副通路部10Aと第3副通路部10Cとは紙面に垂直な方向に階層を成すように配置されているため、紙面に平行な断面で見た場合に、第1副通路部10Aと第3副通路部10Cとの両通路部を図1のように見ることはできない。
第1副通路部10Aの一方の端部(外端)が流体流の入口11をなし、第1副通路部10Aの他方の端部(内端)が第2副通路部10Bの一端に連通接続されている。第2副通路部10Bの他端は第3副通路部10Cの一方の端部(内端)に連通接続され、第3副通路部10Cの他方の端部(外端)が流体流の出口12をなしている。入口11と出口12は主通路5を流れる流体の流れ方向と直交する面に開口している。なお、第1副通路部10A及び第3副通路部10Cの端部において、「外端」は副通路10の端に位置する端部を意味しており、「内端」は副通路10の途中に位置する端部を意味している。
ところで、流量測定装置1が配置される主通路4の上流側には、エアフィルタ(図示していない)が配置されて、流体Faに含まれるダストを除去するようになっているが、すべてのダストを除去することはできない。
そこで、流量測定装置1では、図1に示す第1副通路部10Aの曲線部(湾曲部)10Fの遠心分離機能により、ダストを通路の外周側に押しやり、第2副通路部10Bに進入したダストがセンサ素子6に衝突する確率を低減しているが、その効果が十分であるとは限らない。
そこで、本実施例においては、第1副通路部10Aに進入し、第2副通路部10Bとの連通通路部10ABまで達したダストを、極力、センサ素子6に衝突させないようにするために、曲線を描いて向きを変える連通通路部10ABの外回り壁面(外周壁面)10Gを傾斜させて傾斜部10Mを設けている。
以下、傾斜部10Mの構成と作用,効果について説明する。
図2は、図1のQ−Q断面を示す図であり、図1と同一部分は同一符号で示してある。
図2において、連通通路部10ABと第2副通路部10Bは、ハウジング部材13とベース部材14が重ね合わされた空間に形成され、ベース部材14に配置された回路基板5は、第2副通路部10Bにおいて、センサ素子6がハウジング部材13側に面するように配置されている。また、第2副通路部10Bにおいては、回路基板5のセンサ素子6が実装された面(以下、センサ素子実装面5aという)側と、センサ素子実装面とは反対側の面(以下、背面5bという)側とに、それぞれ流体通路10BU,10BDが設けられている。
傾斜部10Mは、連通通路部10ABを構成する、ハウジング部材13側の外回り壁面(外周壁面)10Gが、傾斜することによって構成されている。その傾斜方向は、回路基板5の基板面に垂直な方向(高さ方向)における外回り壁面(外周壁面)10Gの両端部のうち、回路基板5のセンサ素子実装面5aと対向する連通通路部10ABの側壁面10K側に位置する端部が、反対側の側壁面10L側の端部に対して、側壁面10Kに沿って内周側(内回り壁面10P側)に位置するように傾斜している。この場合、外回り壁面(外周壁面)10Gの高さ方向における両端部のうち、側壁面10K側に位置する端部が、ベース部材14の外回り壁面(外周壁面)10Hに対して、側壁面10Kに沿って内周側に位置するように傾斜していることになる。これにより、本実施例では、外回り壁面(外周壁面)10Gの高さ方向における両端部のうち、側壁面10K側に位置する端部が、反対側の側壁面10L側の端部に対して、連通通路部10ABの通路断面積(流体の流れ方向に垂直な断面積)を狭くするように傾斜していることになる。
なお、内回り壁面(内周壁面)10Pは、ハウジング部材13側の内回り壁面(内周壁面)部分とベース部材14側の内回り壁面(内周壁面)部分とにより構成されている。
そして、主通路6の流体Faの一部が第1副通路部10Aに流入し、連通通路部10ABにおいて、回路基板5に配置したセンサ素子6の面とハウジング部材13の間の上部通路10BUと、回路基板5の背面5bとベース部材14の間の下部通路10BDとに分流し、センサ素子6の面側を流れる流体の流量を測定する。
ほとんどのダストDsは下部通路10BDを流れるためセンサ素子に衝突することはないが、ダストDsを含んだ流体が第1副通路部10Aに流入し、上部通路10BUに侵入しようとする場合のダストDsの飛跡を図2により説明する。
上部通路10BUに侵入しようとするダストDsは、傾斜部10Mに衝突し跳ね返されて運動エネルギーが低減し、回路基板5の背面5b側を流れる流体に搬送される。
ハウジング部材13の連通通路部10ABの傾斜部10Mは、図1に示すように、回路基板5の近傍まで連続して通路側に傾斜し、センサ素子6は、ハウジング部材13とベース部材14の分割面よりハウジング部材13側に位置している。
これにより、センサ素子6の上部通路10BUを流れる流体は、傾斜部10Mに沿って流れるので、これに含まれるダストDsは、連通通路10ABのどの位置で流れても傾斜部10Mに衝突して跳ね返され、回路基板5の下側通路10BDを流れる流体に搬送されることになる。
なお、連通通路部10ABの外回り壁面(外周壁面)10Gが傾斜していない場合のダストDsの軌跡を図3に示しているが、ダストDsはセンサ素子6の上部通路10BUを流れる流体に搬送されるので、センサ素子6に衝突する量が多くなり保護としては十分ではない。
実施例1によれば、回路基板5の背面5b側を流れる流体にダストDsの量が多く含まれ、回路基板5のセンサ素子実装面5a側を流れる流体には、ダストDsの量が少なくなるので、ダストDsがセンサ素子6に衝突する機会を低減することができる。
これにより、流量測定装置1の信頼性を向上させることができる。
図2では、連通通路部10ABの外回り壁面10Gが図2の断面で見たときに直線形状で通路側に傾斜しているが、ダストDsを反射できる形状であれば、直線形状の傾斜であることには限定されない。
図4は外回り壁面10Gを図4の断面で見たときに円弧状に形成した場合、図5は外回り壁面10Gを図5の断面で見たときに2つの直線部10G1,10G2を連続させて形成した場合であり、2つの場合とも外回り壁面10GにダストDsが衝突すると跳ね返されて、回路基板5の背面5b側通路を流れる流体に搬送されるので、図2と同等の効果を得ることができる。
実施例1の図2,図4,図5では、ハウジング部材13の連通通路部10ABの傾斜部10Gを傾斜させているが、図6に示すようにベース部材14の外回り壁面10Hから連続して傾斜させることもできる。
ダストDsが傾斜部10Gおよび外回り壁面10Hに衝突したダストDsは反射されて回路基板5の下部通路10BDを流れる流体により搬送されるので、実施例1と同じ効果を得ることができる。
さらに、ハウジング部材13の外回り壁面10Gおよびベース部材14の外回り壁面10Hにおいて、回路基板5の基板面に垂直な方向(高さ方向)における任意の位置から傾斜するようにするようにしても作用,効果は同等である。
さらに、センサ素子6の上下部に形成されている流体の流速を調整する突起部10D,10Eと回路基板5とを最適に配置し、下部通路10BDの流速を早めた形状と、傾斜部10Gとを組み合わせることで、ダストを下部通路10BDに搬送する効果を高めることができる。
上述した実施例では、次のような構成を有する。ハウジング部材13とベース部材14とで構成される副通路10の連通通路部10ABには傾斜部10Mが設けられており、その傾斜方向は、回路基板5の基板面に垂直な方向(高さ方向)における外回り壁面(外周壁面)10G及び10Hの両端部のうち、回路基板5のセンサ素子実装面5aと対向する連通通路部10ABの側壁面10K側に位置する端部が、反対側の側壁面10L側の端部に対して、側壁面10Kに沿って内周側(内回り壁面10P側)に位置するように傾斜している。
上述の実施例では、ハウジング部材13の外回り壁面10Gやベース部材14の外回り壁面10Hに傾斜を設けるようにしたが、ダストDsをセンサ素子6の反対側に搬送する他の方法を図7に示す。
図7では、ハウジング部材13から連通通路部10ABを上下に分離する分離壁10Iを設けるように形成させている。
ダストDsは、第1副通路部10Aに流入したダストDsを含んだ流体が連通通路部10ABを流れる時、ダストDsは分離壁10Iに衝突して跳ね返り、センサ素子6の反対側に搬送されるので、本実施例の効果を得ることができる。
図2から図7の実施例では、ハウジング部材13とベース部材14の分割面に回路基板5を一致させるように配置しているが、必ずしも一致する必要はなく、効果が得られる範囲で、ハウジング部材13側やベース部材14側にずらすように配置することもできる。
実施例1では、図1に示したように、第1副通路部10A,第2副通路部10B,第3
副通路部10Cで360度以上迂回する渦巻き状の副通路を構成し、第1副通路部10A
の入口11と第3副通路部10Cの出口12が主通路の流体流と直交する面に開口する
構成の熱式流量測定装置1であった。
熱式流量測定装置1の副通路は、用途によって種々の形態に形成される。図8,図9に、副通路の形態に関して、他の実施例を示す。実施例1と同一機能部分は同一符号で示している。
図8,図9は、実施例1のハウジング部材13に相当する部材に形成された副通路10の一部と、回路基板5と、センサ素子6との配置図であり、実施例1のベース部材14に相当する部材(図示していない)が図の下から重ね合わされて、副通路10が構成される熱式流量測定装置である。
図8は第1副通路10Aの入口11が主通路の流体流と直交する面に開口し、第3副通路部の10Cの出口12が主通路の流体流と平行する面に開口し、入口11から出口12までの曲線を描いて向きを変える角度が360度に満たない熱式流量測定装置。
主通路4を流れる流体Faの一部が、流体の流れ方向と直交する面の入口11から第1副通路部10A、センサ素子6が配置される第2副通路部10Bとの連通接続部10AB、第二副通路部10Bを、第三副通路10Cを流れ、主通路4の流体の流れ方向と平行な面の出口12から排出される。
第1副通路部10Aと、センサ素子6が配置される第2副通路部10Bは直線形状で構成されて連通通路部10ABで連通し、連通通路部10ABの外回り壁面(外周壁面)10Gが通路側に傾斜して傾斜部10Mが形成されている。
第2副通路部10Bの高さ方向における回路基板5の配置や、傾斜部10Mの傾斜方向および形態は、実施例1と同様である。
連通通路10ABに流れる流体にダストが含まれていると、外回り壁面10Gの傾斜部10Mに衝突したダストが跳ね返されてセンサ素子6の下側を流れる流体で搬送され、センサ素子6に衝突するダストの量を低減できるので、実施例1と同一の効果を得ることができる。
図9では、第1副通路部10Aの入口11が主通路4の流体の流れ方向と直交する面に開口し、第3副通路部10Cの出口12が主通路4の流体の流れ方向と平行な面に開口し、入口11から出口12までの曲線を描いて向きを変える角度が360度以上の副通路10が構成されている。本例では、センサ素子6が配置された第2副通路部10Bが曲線を描いて向きを変えており、実施例1(図1)に示した第2副通路部10Bの直線形状と異なっている。また、360度以上曲線を描いて向きを変える第1副通路部10A及び第2副通路部10Bが同一平面上に構成されている。
主通路4を流れる流体Faの一部が、流体の流れ方向と直交する面の入口11から第1副通路部10A、センサ素子6が配置される第2副通路部10Bとの連通通路部10AB、第2副通路部10B、第3副通路部10Cを流れ、主通路4の流体の流れ方向と平行な面の出口12から排出される。
連通通路部10ABの外回り壁面10Gが通路側に傾斜して傾斜部10Mが形成されており、この傾斜による作用,効果は実施例1と同等である。
第2副通路部10Bの高さ方向における回路基板5の配置や、傾斜部10Mの傾斜方向および形態は、実施例1と同様である。
なお、上述の説明では第3副通路部10Cの出口12が主通路4の流体の流れ方向と平行な面に開口した場合であったが、点線で示すように第1副通路部10Aの裏面側で流体の流れ方向と直交する面に開口させる熱式流量測定装置1であっても作用,効果は同等である。
また、図9では第2副通路部10Bが湾曲形状でセンサ素子6が配置されているが、第2副通路部10Bを直線形状としてセンサ素子6を配置することもできる。
さらに、ハウジング部材13とベース部材(図示しない)に実施例1で示した突起部10D,10Eを形成して、センサ素子6の上部を流れる流速を下部に比較して遅くなるように、流速を変えることもできる。
図10は、さらに他の実施例を示す図であり、図2と同一部分は同一符号で示している。
実施例1,2では、ハウジング部材13とベース部材14にはそれぞれ副通路10の外回り壁面の一部(10G,10H)と、内回り壁面10Pの一部と、外回り壁面と内回り壁面とをつなぐ側壁面(10K,10L)とが形成されており、2つの部材を重ね合わせることにより、最終形状の副通路10が構成される熱式流量測定装置1であった。
図10では、ハウジング部材13に副通路10の外回り壁面の全体10GHと内回り壁面10Pの全体とを形成し、ベース部材14は一方の側壁面突起部10Eを形成した板状として重ね合わせるようになっている。
ハウジング部材13の連通通路部10ABの外回り壁面10Gは任意の位置、あるいは全体を通路側に傾斜させることにより、実施例1の作用,効果と同等にすることができる。
なお、図示しないベース部材に副通路10を形成し、ハウジング部材は突起部10Dを形成した板状にすることもできる。
実施例1,2,3で説明したダストは、粒状物質の総称として説明したものであり、狭義のダストに限定されるものではない。
1 流量測定装置
5 回路基板
6 センサ素子
10A 第1副通路部
10B 第2副通路部
10C 第3副通路部
10AB 連通通路部
10D 第2副通路部のセンサ素子側突起
10E 第2副通路部のセンサ素子側と反対側の突起
10G,10H,10GH 連通通路部の外回り壁面
10P 連通通路部の内回り壁面
13 ハウジング部材
14 ベース部材

Claims (8)

  1. 主通路を流れる流体の一部を取り込む副通路と、一方の面側に流量を測定するセンサ素子が実装された板状基板とを有する流量測定装置において、
    前記副通路の一部に、前記板状基板におけるセンサ素子が実装されたセンサ素子実装面側と、前記板状基板における前記センサ素子実装面側とは反対側の背面側とにそれぞれ流体通路が構成されるように、前記板状基板を配置し、
    前記板状基板は、前記実装面と前記背面とが前記副通路を流れる流体に対して平行となるよう配置され、
    前記副通路は、前記板状基板に対して流れの上流側に配置され、曲線を描いて向きを変える曲線通路部を有し
    前記曲線通路部は、曲線通路の外周に形成され、傾斜部を有する外周壁面と、曲線通路の内周を形成する内周壁面とを備え、
    前記傾斜部は、前記板状基板上の前記センサ素子実装面に垂直な方向における前記外周壁面の両端部のうち、前記センサ素子実装面側の前記外周壁面の端部がもう一方の端部に対して、前記内周壁面側に位置するように傾斜した形状であることを特徴とする流量測定装置。
  2. 請求項1に記載の流量測定装置において、
    前記傾斜部は、直線形状であることを特徴とする流量測定装置。
  3. 請求項1に記載の流量測定装置において、
    前記傾斜部は、円弧形状であることを特徴とする流量測定装置。
  4. 請求項1に記載の流量測定装置において、
    前記傾斜部は、前記傾斜が複数形成されていることを特徴とする流量測定装置。
  5. 請求項1乃至4のいずれか1項に記載の流量測定装置において、
    前記曲線通路部は、第一の部材と第二の部材とを前記センサ素子実装面に垂直な方向に重ね合わせて形成され、
    前記第一の部材はセンサ素子実装面側に位置していて、前記第二の部材は前記背面側に位置しており、
    前記第一の部材の外周壁面部と前記第二の部材の外周壁面部によって前記外周壁面構成前記傾斜部が前記第一の部材の外周壁面部に構成されていることを特徴とする流量測定装置。
  6. 請求項5に記載の流量測定装置において、
    前記第二の部材の外周壁面部にも、前記傾斜部が形成されていることを特徴とする流量測定装置。
  7. 請求項1に記載の流量測定装置において、
    前記副通路は、
    曲線を描いて向きを変える第一副通路部と
    前記第一副通路に対して流体の下流側に設けられ、前記板状基板が配置された直線状の第二副通路部と、
    前記第二副通路に対して流体の下流側に設けられ、曲線を描いて向きを変える第三副通路部と、を備え、
    前記第一副通路と前記第三副通路部とは交差することなく階層状に設けられていて、
    前記曲線通路部は、前記第一副通路部と前記第二副通路部とを連通接続するように設けられていることを特徴とする空気流量測定装置。
  8. 請求項7に記載の流量測定装置において
    記センサ素子実装面側の流体通路における通路断面積は、前記背面側の流体通路における通路断面積より小さくなるように前記板状基板を配置したことを特徴とする流量測定装置。
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