JP4913408B2 - 半導体センサ - Google Patents

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Description

本発明は、半導体加速度センサ、半導体圧力センサ等の半導体センサに関するものである。
特開2002−243759号公報(特許文献1)等には、センサ本体と、該センサ本体上に形成された複数のセンサ素子とを具備する半導体センサ(半導体加速度センサ)が示されている。この半導体加速度センサのセンサ本体は、マスクパターンが形成された半導体結晶基板にエッチングが施されて、中心部に重錘固定部、外周部に筒状の支持部、そして重錘固定部と支持部との間に重錘固定部及び支持部よりも厚みが薄いダイヤフラム部が形成されて構成されている。また、複数のセンサ素子は、支持部の反対側に位置するダイヤフラム部の表面上に形成された拡散抵抗から構成されている。この種の半導体加速度センサでは、外部から加えられた力による加速度、または傾斜させた静止状態で加わる重力加速度に基づく力により重錘固定部に固定された重錘が動いてダイヤフラム部が撓むことにより、センサ素子を構成する各拡散抵抗の抵抗値が変化して歪み量に応じた1以上の軸線方向の加速度を検出する。この種の半導体加速度センサでは、通常、ダイヤフラム部の外形形状を四角形にするため、支持部の内周面は、切頭角錐形の内部空間を囲むように、実質的に同形状の4つの台形状の傾斜面が環状に組み合わされて構成されている。
しかしながら、従来の半導体加速度センサでは、重錘に作用した加速度によってダイヤフラム部に必要以上の力が加わると、ダイヤフラム部の外形形状の角部に応力が集中し、ダイヤフラム部が損傷することがある。このような問題を解決するために、特開平5−196525号公報(特許文献2)、特開平6−174571号公報(特許文献3)等では、ダイヤフラム部の外形形状を形成する正多角形を正八角形のように多角化(角の数を増やす)したものが提案されている。このように、ダイヤフラム部の正多角形の角の数を増やすと、角部に加わる力を和らげることができる。そのため、ダイヤフラム部の損傷を防ぐことができる。
特開2002−243759号公報(第18頁、図1) 特開平5−196525号公報(第6頁、図4) 特開平6−174571号公報(第9頁、図4)
しかしながら、ダイヤフラム部の正多角形の角の数を増やすと、マスクパターンの形状が複雑になる上、エッチングが面倒になるという問題があった。
本発明の目的は、ダイヤフラム部の損傷を防ぐことができ、しかも簡単にエッチングが行える半導体センサを得ることを目的とする。
本発明が改良の対象とする半導体センサは、中心部に重錘固定部、外周部に筒状の支持部、そして重錘固定部と支持部との間に重錘固定部及び支持部よりも厚みが薄いダイヤフラム部を有する半導体結晶基板からなるセンサ本体と、支持部の反対側に位置するダイヤフラム部の表面上に形成された拡散抵抗からなる複数のセンサ素子とを具備している。そして、支持部の内周面が、切頭角錐形の内部を囲むように、実質的に同形状の少なくとも4つの傾斜面が環状に組み合わされて構成されている。本発明では、少なくとも4つの傾斜面の隣接する2つの傾斜面の間に両傾斜面の境界部を延びて両傾斜面を連結する平面または曲面からなる細長い連結面をそれぞれ形成する。本発明のように、連結面を形成すれば、ダイヤフラム部の外形形状のそれぞれの角部の角度が大きくなるので、ダイヤフラム部の各角部に加わる力を和らげることができる。そのため、ダイヤフラム部の損傷を防ぐことができる。また、本発明では、連結面を形成するものの、基本的には、環状に組み合わされる傾斜面の数(ダイヤフラム部の外形形状の正多角形の角の数)は変わらないため、ダイヤフラム部の正多角形を多角化する(角の数を増やす)場合に比べて、簡単にダイヤフラム部を形成できる。
連結面は、種々の形状を有しているものを採用できる。例えば、平面形状を有していてもよいし、曲面形状を有していてもよいし、複数の平面が組み合わされた形状を有していてもよい。
ダイヤフラム部には、連結面の端部の近傍においてダイヤフラム部の裏面から突出する厚肉部を形成するのが好ましい。このような厚肉部を形成すれば、ダイヤフラム部の可撓性を大きく低下させることなく、ダイヤフラム部の強度を高めることができる。
厚肉部は、連結面の端部からダイヤフラム部の中心部に向かって徐々に厚み寸法が小さくなるように延びているのが好ましい。このようにすれば、ダイヤフラム部の可撓性を大きく低下させることなく、連結面の端部側の強度を高めることができる。
マスクパターンが形成された半導体結晶基板にエッチングを施こしてセンサ本体を形成する場合には、マスクパターンに、エッチングの進行を補正する補正パターンを含ませればよい。そして、補正パターンは、エッチングにおいてダイヤフラム部の形成が完了する時に、少なくとも4つの傾斜面の隣接する2つの傾斜面の間に連結面をそれぞれ形成する寸法及び形状にする。このようにすれば、比較的単純な形状のマスクパターンを用いてエッチングをすることにより連結面を形成することができる。
また、補正パターンを、エッチングにおいてダイヤフラム部の形成が完了する時に、厚肉部を更に形成する寸法及び形状を有しているようにすれば、比較的単純な形状のマスクパターンにより厚肉部を形成することができる。
特に、半導体結晶基板のミラー指数(100)面にエッチングを施こす場合には、少なくとも4つの傾斜面を環状に組み合わせるような形状に支持部の内周面を形成するようにエッチングを行うのが容易である。そのため、半導体結晶基板のミラー指数(100)面にエッチングを施こす場合には、本発明の効果は顕著である。
[図1]図1は、本発明の実施の形態の半導体センサの断面図である。
[図2]図2は、図1のII−II線断面図である。
[図3]図3は、図1の半導体センサに用いるセンサ本体の平面図である。
[図4]図4は、図1の半導体センサに用いるセンサ本体の裏面図である。
[図5]図5は、図4のV−V線断面図である。
[図6]図6は、図1の半導体センサに用いるセンサ本体の製造方法の説明に用いるための図である。
[図7]図7(A)及び(B)は、他の連結面の態様を示す断面図である。
以下、図面を参照して本発明の実施の形態を詳細に説明する。図1は、半導体加速度センサに適用した本発明の実施の形態の半導体センサの断面図であり、図2は、図1のII−II線断面図である。両図に示すように、本発明の実施の形態の半導体加速度センサは、センサ本体1と、センサ本体1に固定された重錘3と、センサ本体1を支持するガラス製の台座5とを有している。
図3及び図4は、センサ本体1の平面図及び裏面図である。図1〜図4に示すように、センサ本体1は、中心部に重錘固定部7が位置し、外周部に筒状の支持部9が位置し、重錘固定部7と支持部9との間にダイヤフラム部11を有している。センサ本体1は、単結晶シリコンからなる半導体結晶基板のミラー指数(100)面に異方性エッチングが施されて形成されている。支持部9の反対側に位置するダイヤフラム部11の表面上には、加速度検出用拡散抵抗からなる図示しない複数のセンサ素子が形成されている。支持部9上には、複数の電極8…が形成されている(図3)。本例の半導体加速度センサは、外部から加えられた力による加速度、または傾斜させた静止状態で加わる重力加速度に基づく力により重錘3が動いてダイヤフラム部11が撓むことにより、センサ素子を構成する各拡散抵抗の抵抗値が変化して歪み量に応じた1軸以上の方向の加速度を検出する。
重錘固定部7は、支持部9の内部空間10内にダイヤフラム部11から重錘3に向かって突出した形状を有している。重錘固定部7の先端には、重錘固定部7の中心を通りダイヤフラム部11が延びる方向と直交する方向に延びる中心線C上に重錘3の中心が位置するように、重錘3が固定されている。この重錘固定部7は、八角形の横断面を有しており、その外周面は、ダイヤフラム部11が位置する側から離れるに従って中心線Cに近づくように傾斜する傾斜面として形成されている。
支持部9は、矩形の環状を有しており、内周面は、ほぼ切頭角錐形の内部空を囲むように、実質的に同形状の4つの台形状の傾斜面13…が環状に組み合わされて構成されている。傾斜面13…は、ダイヤフラム部11が位置する側に向かうに従って中心線Cに近づくように傾斜しており、後述するストッパ構造の一部を構成している。4つの傾斜面13…の隣接する2つの傾斜面13,13の間には、両傾斜面13,13の境界部を延びて両傾斜面13,13を連結する平面状の細長い連結面15がそれぞれ形成されている。
ダイヤフラム部11は、重錘固定部7及び支持部9よりも薄い厚み寸法からなり、可撓性を有している。ダイヤフラム部11の裏面には、4つの厚肉部17…が形成されている。厚肉部17は、図4及び図5に示すように、ダイヤフラム部11の裏面から突出する形状を有しており、連結面15の端部からダイヤフラム部11の中心部に向かって徐々に厚み寸法が小さくなるように延びている。また、厚肉部17は、連結面15の端部から放射状に延びるように厚み寸法の大きな嶺部17a…を有している。
本例では、センサ本体1を次のようにして作った。まず、ほぼ平板状の半導体結晶基板のミラー指数(100)面にシリコン酸化膜、シリコン窒化膜等からなる厚み数百nmのマスクパターンを形成した。マスクパターンとしては、例えば、図6の符号23に示すように、支持部9を形成する支持部形成部25とエッチングの進行を補正する補正パターン部27とを有するものを形成することができる。補正パターン部27は、角形形状を有しており、支持部形成部25の内側角部に連結されて該内側角部から重錘固定部の角部に向かって延びている。また、このマスクパターン23と共に、重錘固定部7を形成する重錘固定部形成部を含むマスクパターンも形成する。次に、KOH等のアルカリエッチング液でエッチングを施して連結面15及び厚肉部17を備えたセンサ本体1を完成した。このように、補正パターン部(27)は、エッチングにおいてダイヤフラム部11の形成が完了する時に、連結面15をそれぞれ形成し、ダイヤフラム部11に厚肉部17を形成する寸法及び形状を有している。本例の半導体加速度センサでは、比較的単純な形状のマスクパターンを用いてエッチングをすることにより連結面15及び厚肉部17を形成することができるので、ダイヤフラム部の可撓性を大きく低下させることなく、ダイヤフラム部の強度を高めることができる。
重錘3は、円板状に近い輪郭を有するタングステンにより形成されている。この重錘3は、一端が重錘固定部7に接着剤により固定された状態で、支持部9内の内部空間10と台座5内の内部空間12とに跨って2つの内部空間内に配置されている。重錘3の環状の部分3aは、支持部9内の内部空間10に入り込んでいる。本例では、環状の部分3aは、ダイヤフラム部11に沿う方向に延びる第1の面3bと、支持部9の内周面と交差する方向に延びる第2の面3cと、第1の面3bと第2の面3cとの交差点(角部)からなる当接部3dと、ダイヤフラム部11との反対側に位置する底面3eとを有している。当接部3dは、重錘固定部7が位置する側から見た輪郭形状が円形を有するようにほぼ円形の線状に延びている。そのため、図2に示すように、当接部3dは支持部9の4つの傾斜面13…のそれぞれのほぼ中央に対向することになる。本例では、当接部3dと傾斜面13…との接触位置は、傾斜面13…の支持部9の厚み方向の中央位置よりも支持部9の底面側に位置している。また、当接部3dと前述した支持部9の4つの傾斜面13…とにより重錘のストッパ構造が構成されている。そのため、重錘3の変位量が所定の範囲を超えると、当接部3dが傾斜面13…に当接して重錘3の変位量が規制される。
なお、上記例では、連結面15は、平面形状を有しているが、図7(A)に示すように、連結面35を曲面により形成してもよいし、図7(B)に示すように、連結面45を複数の平面を組み合わせて形成してもよい。
また、上記例は、4つの傾斜面13…が組み合わされてセンサ本体の内周面が構成される半導体加速度センサに本発明を適用した例を示したが、少なくとも4つの傾斜面が組み合わされてセンサ本体の内周面が構成される半導体加速度センサに本発明は適用できる。例えば、8つの傾斜面が組み合わされる半導体加速度センサにも本発明が適用できるのは勿論である。
また、上記例は、本発明を半導体加速度センサに適用した例を示したが、圧力センサ等の他の半導体センサに本発明を適用できるのは勿論である。
本発明によれば、連結面を形成するので、ダイヤフラム部の外形形状の角部が大きくなり、ダイヤフラム部の角部に加わる力を和らげることができる。そのため、ダイヤフラム部の損傷を防ぐことができる。
特に、本発明では、連結面を形成するものの、基本的には、環状に組み合わされる傾斜面の数(ダイヤフラム部の外形形状の正多角形の角の数)は変わらないため、ダイヤフラム部の正多角形を多角化する(角の数を増やす)場合に比べて、簡単にダイヤフラム部を形成できる。

Claims (9)

  1. 中心部に重錘固定部、外周部に筒状の支持部、そして前記重錘固定部と前記支持部との間に前記重錘固定部及び前記支持部よりも厚みが薄いダイヤフラム部を有する半導体結晶基板からなるセンサ本体と、
    前記支持部の反対側に位置する前記ダイヤフラム部の表面上に形成された拡散抵抗からなる複数のセンサ素子とを具備し、
    前記支持部の内周面が、切頭角錐形の内部空間を囲むように、実質的に同形状の少なくとも4つの傾斜面が環状に組み合わされて構成されている半導体センサであって、
    前記少なくとも4つの傾斜面の隣接する2つの傾斜面の間に両傾斜面の境界部を延びて前記両傾斜面を連結する細長い連結面がそれぞれ形成されており、
    前記ダイヤフラム部には、前記連結面の端部の近傍において前記ダイヤフラム部の裏面から突出する厚肉部が形成されており、
    前記厚肉部は、連結面の端部からダイヤフラム部の中心部に向かって徐々に厚み寸法が小さくなるように延びている半導体センサ。
  2. 前記連結面は、平面形状を有している請求項1に記載の半導体センサ。
  3. 前記連結面は、曲面形状を有している請求項1に記載の半導体センサ。
  4. 前記連結面は、複数の平面が組み合わされた形状を有している請求項1に記載の半導体センサ
  5. マスクパターンが形成された半導体結晶基板にエッチングが施されて、中心部に重錘固定部、外周部に筒状の支持部、そして前記重錘固定部と前記支持部との間前記重錘固定部及び前記支持部よりも厚みが薄いダイヤフラム部が形成されてなるセンサ本体と、
    前記支持部の反対側に位置する前記ダイヤフラム部の表面上に形成された拡散抵抗からなる複数のセンサ素子とを具備し、
    前記支持部の内周面が、切頭角錐形の内部空間を囲むように、実質的に同形状の少なくとも4つの傾斜面が環状に組み合わされて構成されている半導体センサであって、
    前記マスクパターンは、前記エッチングの進行を補正する補正パターンを含んでおり、
    前記補正パターンは、前記エッチングにおいて前記ダイヤフラム部の形成が完了するときに、前記少なくとも4つの傾斜面の隣接する2つの傾斜面の間に両傾斜面の境界部を延びて前記両傾斜面を連結する細長い連結面をそれぞれ形成する寸法及び形状を有しており、
    前記補正パターンは、前記エッチングにおいて前記ダイヤフラム部の形成が完了するときに、前記連結面の端部の近傍において前記ダイヤフラム部の裏面から突出する厚肉部を更に形成する寸法及び形状を有しており、
    前記厚肉部は、連結面の端部からダイヤフラム部の中心部に向かって徐々に厚み寸法が小さくなるように延びている半導体センサ。
  6. 前記連結面は、平面形状を有している請求項に記載の半導体センサ。
  7. 前記連結面は、曲面形状を有している請求項に記載の半導体センサ。
  8. 前記連結面は、複数の平面が組み合わされた形状を有している請求項に記載の半導体センサ
  9. 前記エッチングは、前記半導体結晶基板のミラー指数(100)面に施されている請求項に記載の半導体センサ。
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